SENSE-TGY2-2002钢制对接焊缝超声波检验工艺规程

1、深圳市神视检验有限公司标题：钢制对接焊缝超声波检验工艺规程版本号：第 1 版日期：日期：日期：文件编号： SENSE/TGY2-2002编制：审核：批准：深圳市神视检验有限公司工艺规程标题：钢制对接焊缝超声波检验工艺规程文件编号：SENSE/TG Y2-2002版号：第1版，页码：5/5修改记录修改位置修改内容修改人批准人生效日期1. 适用范围本规程适用于母材厚度为8-300mm全焊透熔化焊钢对接焊缝的超声检验。 不适用于铸钢及奥氏体钢焊缝，外径小于159mm的钢管对接焊缝，内径小于或等于200mm的管座角焊缝，也不适用于外径小于250mm或内外径之比小于 80%的纵向焊缝检验。2. 探伤器材

2、2.1. 探伤仪1）.要求用A型脉冲反射式超声波探伤仪，其工作频率范围为1-5MHz水平线性误差不大于1%垂直线性误差不大于5%2）仪器型号有 USN52R EPOCH III 2300，CTS-2000, ECHOPE-220 CTS-22, CTS-22A 或 CTS-22B2.2. 探头米用单晶或双晶斜探头，其声束轴线水平偏离角不大于2o，主声束垂直方向不应有明显的双峰。探头 K值选择应符合下表的规定：母材厚度（mmK值（折射角）8-253.0-2.0(72 o-60o)25-462.5-1.0(68 o-56o)462.0-1.0(60 o-45 o)2.3 .试块1）.标准试块：CS

3、K-IA; V-2。2）.对比试块：CSK-IIA; CSK-IIIA ; CSK-IVA; RB-1; RB-2或 RB-3。3）.当施工验收规范或设计文件另有规定时，也可以采用验收规范或设计文件要求的其他形式的标准试块和对比试块。2.4.耦合剂：化学浆糊、机油3. 工艺参数3.1. 检验频率一般采用2.5MHz薄壁探伤时，可采用5MHz3.2. 扫描时基线调节壁厚小于或等于20mm时，一般采用水平1： 1调节，壁厚大于20mm时，一 般采用深度1： 1调节，也可采用声程调节，比例根据具体情况选定。3.3. 探伤灵敏度：不低于评定线灵敏度。3.4. 表面补偿：一般为3dB （当表面粗糙度Ra

4、6.3 m时应实测）。3.5. 检测面1）.工件厚度小于或等于46mm检测面应为单面双侧；探头移动范围为：2TK+30（mm。2）.工件厚度大于 46mm时，检测面应为双面双侧：探头移动范围为：KT+30（mm） 其中K=tg （3（3探头折射角T工件厚度3.6. 验收标准：应采用符合规范要求和设计图纸规定的验收标准。3.7. 距离一一波幅曲线（DAC的绘制。1）.探头前沿长度的测量将探头置于CSK-IA试块上，利用R100曲面测量探头的前沿长度，测 量三次取平均值作为探头的前沿长度。2）. K值的测量将探头置于CSK-IIA、CSK-IIIA或RB-3试块上，利用深度为20mm和 40mm的

5、孔测定K值，测量三次平均值作为探头 K值。3）.扫描时基线的调节将探头置于CSK-IIA、CSK-IIIA或RB-3试块上，探头声束对准深度为 20mm孔，前后移动探头找到的最大反射波，调节深度微调旋钮和水平调节 旋钮，使反射波前沿对准荧光屏刻度的20mm处（水平1:1调节时，对准荧光屏刻度20Kmn处）。再将探头声束对准深度为 40mm孔，前后移动探头 找到的最大反射波，调节深度微调旋钮和水平调节旋钮，使反射波前沿对 准荧光屏刻度的40mm处（水平1： 1调节时对准荧光屏刻度40Kmn处）。如 此反复调节直至反射波前沿在荧光屏上位置准确，然后将两旋钮锁定。按声程调节，预定适当比例，采用 CS

6、K-IA R50, R100圆弧面，也可采 用V-2试块R25, R50圆弧面调节，使最大反射波前沿分别在50, 100或25, 100 或 50, 125。4）.绘制曲线将探头置于CSK-IIA , CSK-IIIA或RB-1, 2或3试块上，调节探头位 置和仪器衰减旋钮，使深度为10mm孔的反射波高度为满刻度的80%在荧 光屏上标出反射波波峰所在的点：固定衰减器不变，分别探测不同深度的 孑L,在荧光屏上标出相应孔最高反射波所在的点，用光滑曲线连接这些点， 即得到面板距离一一波幅曲线。并记录此时衰减器读数。按所采用的验收标准的规定，为便于操作，也可以绘制其他形式的距 离一一波幅曲线。3.8.

7、 仪器的调整和校验1）.每次检验前和检验结束后，应在对比试块上对扫描时基比例和距离波幅曲线进行校验，校验点不小于 2点。2）.扫描比例校验时，如发现校验点反射波在扫描线上偏移超过原校验点刻度读数的10%或满刻度的5% （两者较小值），则扫描比例应重新校正，前次校验后的记录缺陷，位置参数应重新测定。3) .距离波幅曲线校验时，如发现校验点的反射波比曲线降低20%或2dB以上，则仪器灵敏度应重新调整，并对上次校正后检验的全部焊缝 重新检验。如发现校验点的反射波比曲线增加 20%或 2dB以上，仪器灵 敏度应重新调整，而上次校正后已经记录的缺陷，应对缺陷尺寸参数重 新测定，并予以重新评定。3.9.

8、检验操作1) .接通电源，连接仪器与探头，调节衰减器将探伤灵敏度调整为评定线灵敏度。(记住表面补偿是否加上，如未加上，至U定缺陷反射波波幅时应 加上。)2) .将探头置于焊缝两侧作锯齿型扫查，探头的移动速度不得大于150mm/s探头沿焊缝方向的位移应有 15%勺重叠。为了检查出横向缺 陷，还应在焊缝两侧进行平行或斜平行扫查，此时的检验灵敏度应提高 6dB。3) .曲面工件对接焊缝的检验a. 检测面为曲面时，可尽量按平板对接焊缝的检验方法进行检验。对 于受几何形状限制，无法检验的部位应予记录。b. 纵缝检验时，对比试块的曲率半径与受检面的曲率半径之差应小于 10% 根据工件的曲率半径和材料厚度选

9、择探头K值，并考虑几何临界角的限制，确保声束能扫查到整个焊缝。 探头接触面修磨后，应注意探头入射点和K值的变化，并用曲率试块作实际测定。 当检测面曲率半径R大于 W 且采用平面对比试块调节仪器时， 应注意荧光屏指示的缺陷深度或水平距离弧长的差异，必要时应进行 修整。c. 环缝检测时，对比试块的曲率半径应为受检面曲率半径的0.9-1.5倍。4) .锯齿型扫查发现缺陷反射回波后，应找出回波波幅的最高点，从荧光屏上读出回波前沿所在的位置，根据扫描时基线的调节方式，确定入射点 至缺陷的水平距离和埋藏深度，判断是缺陷回波还是干扰回波。5) .缺陷定量当发现缺陷回波后，调节衰减器，确定缺陷最大反射波波幅与距离一波幅曲线的相对位置。当缺陷反射波幅位于 山 区时，应予判废；当缺 陷反射波只有一个高点且位于II区时，用6dB法测量缺陷的指示长度；当 缺陷反射波有多个高点且位于II区时，用端点6dB法测量缺陷的指示长度。6) .缺陷定位当缺陷反射波幅在II区及II区以上时，应确定缺陷的水平位置和埋藏深度。7) .缺陷记录对反射波幅在II区及II区以上的缺陷，均应记录缺陷的位置、埋藏深度、指示长度和最高反射波波幅。对反射波幅虽未达到II区，但达到I区并被认为是危害性缺陷的，也应记录上述参数。3.10. 缺陷评定缺陷评定应按规范、施工图纸规定的验收标准进行评定。3.11. 报告及资