GJB65B-1999有可靠性指标的电磁继电器总规范

1、1范围1.1主题内容本规范规定了有可靠性指标的气密式密封电磁继电器的通用要求。1. 2适用范围本规范适用于电子和通信设备用气密式密封电磁继电器，这些继电器的触点负载从低电 平至额定值5A交流或直流人1. 3军用零件号军用零件号由字母详细规范号、给定的序号（见3 1）和表示失效率等级（见表军用标志详细规范号序号失效率等级1）的尾标字母组成，示例如下JXXX/ 10-001LGB/T 12626 2- 90硕质纤维板技术要求GB/T 12626 2- 90硕质纤维板技术要求1. 4失效率等级失效率等级是按本规范规定的额定负载条件，在12克下循环105次來确定的，鉴定置 信水平为9%鉴定的维持置信水

2、平为6盹。失效率等级如表1所示（见4此表1失效率等级最大失效率%10000次L3 0ML 0Pa 1Ra oi2引用文件GB 19 90包装储运图示标憑GB/T 12626 2- 90硕质纤维板技术要求GB/T 472a 7- 84GB/T 5048- 85GB/T 6388- 86GB/T 6543- 86GB/T 9846 4- 88GB/T 340- 76有色金属及合金产品牌号表示方法GB/T 290Q 17- 94电工术语电气继电器电气用图形符号开关、控制和保护装置 防潮包装运输包装收发货标,忐瓦楞纸箱胶合板普通胶合板通用技术条件GB/T 12626 2- 90硕质纤维板技术要求GJB

3、/ Z 105- 98电子产品防静电放电控制手册GJB128A- 97半导体分立器件试验方法GJB145A 93防护包装规范GJB182- 86军用物资直方体运输包装尺寸系列GJB360A- 96电子及电气元件试验方法GJB546A- 96电子元器件质量保证大纲GJB548A- 96微电子器件试验方法和程序GJB678- 89军事电子设备用密封电磁继电器系列GJB1437- 92电子元器件引线GJB1649 93电子产品防静电放电控制大纲GJB1941 94金电镀层规范GJB2118- 94军用电气和电子元器件的标志GJB2649- 96军用电子元件失效率抽样方案和程序GJB2712- 96测

4、崑设备的质駅保证耍求计鼠确定体系GJB3014- 97电子元器件统计过程控制体系SJ 20454- 94电子设备可靠性设计方法指南YB/T 025- 1992包装用钢带要求详细规范产品耍求应符合本规范和相应详细规范的规定.若本规范的要求与详细规范的要求相低 触，则应以详细规范为准.3. 2鉴定按本规范提交的继电器，应是经鉴定合格的产甜（见4 4。3. 3可靠性和统计过程控制3. 3. 1可靠性按本规范提交的继电器的可靠性，应按4 L 2 4 4 4和4 5规定的耍求和程序进彳j：鉴 定和维持。3. 3. 2统计过程控制（SPO承制方在生产符合本规范产品的过程中应贯彻和使用统计过程控制技术.SP

5、C程序应 按GJB 3014編制和执行.按GJB 546A规定，作为整个产品质最保证大纲的一部分，STC程 序应编制成文件并加以保持.a 4材料材料应符合本规范的要求.当材料未明确规定时，所使用的材料应能使继电器符合本 规范规定的性能要求.外部使用的材料不应长霉，应能自熄，不助燃，不应散发出达到有害 程度的有害气体。内部使用的材料不应散发出大量足以使密封外壳爆炸的气体，不应使继电 器的触点或其它零部件被污染而对继电器寿命和可靠性产生有害影响。在经受本规范规定的 任何试验时应形成载流通道.不得使用棉纤维或水粉填充材料。外露的陶瓷表面应上釉。不 论任何用途均禁止使用硅酮或硅酮化合物.选用材料时应考

6、虑能提供最长的贮存寿命.任何 所用材料的接收和认可，均不应理解为对成甜的保证接收.a 4.1金属金属应耐腐蚀，也可经过电镀或加工处理达到耐腐蚀耍求。禁止使用汞或汞化合物。 禁止使用镁或镁合金（触点例外）。a 4.1.1电镀层a内外部零件表而不得镀锡.只有铅的含吊：至少为 眺时才可使用锡一铅镀层；h继电器的内外部零件不得镀锌；U继电器的内外部零件不得镀银。a 4 1.2不同的金属当不同的金属相互直接接触使用时，应具有防止电解和腐蚀的措施.能导致活性电解 腐蚀（特别是黄铜、紫铜或钢与铝或铝合金的接触使用）的不同金属不允许接触使用，但允 许对不同的基体金属进彳金属喷涂或电镀，以提供相同或合适的接触表

7、面各种不同金属的 使用应符合附录c（参考件）的规定。在气密式密封的情况下，底座与罩壳之间的电位差应 小于a 25Va 4 2电磁线使用的电磁线应能使继电器满足本规范规定的耍求.a 5设计和结构继电器的设计和结构，例如接口、尺寸和重量等应符合规定（见3叽3 5 1外壳若无其它规定（见3 1）,外壳与触点或线圈之间不应有电气连接。3 5 1. 1外壳接地当规定时（见3 1）,应配有继电器外壳接地的装宣。a 5 2密封方法继电器应经过干燥、排气、再充人保护气体，采用熔焊进行密封，如果采用附加密封剂 （见6 5 1）,则必须符合下列特性要求：a不能超出玻璃绝缘子表面之上引出端外露长度的2%：h允许存在

8、密封剂操作过程中自然形成的痕迹颜色；C继电器经处理后，应形成在允许的使用环境下持久的不导电不脆裂的密封层。3. 5. 3触点触点负载额定值和触点组合型式应符合规定（见3 1）.若无其它规定（见3 1）,触点 在规范规定的各种环境条件下，应能连续承受最大额定电流，并应能在规定的电流下闭合和 开.3. 5. 4线圈线圈与触点及外壳之间应具有足够的电气绝缘.线圈电阻和线圈额定电压应符合规（见3 1）.若无其它规定（见3 D线圈的设计应保证在最大额定电压和最高温度下能连续 作。3.5. 4.1引出端标志当规定时（见3 1）,应采用一个颜色易丁辨认的玻璃绝缘子作乂（正极，若适用）引 出端标志（见图1）.

9、X】X2单线圈引出端Y1Y2双线圈引出端图1引出端符号和标志3. 5. 4. 2自保持继电器双线圈自保持继电器的设计应保证在两个线圈同时激励时,其触点不应处中位状态即 常闭和常开触点均断开）。继电器应按3 12 7和4 & & 7规定进行筛选.规定的释放值（电 压）和释放时间不适用丁自保持继电器（见6 0。3. 5. 5电路图规定（见3】）的电路图应是引出端视图。电路图符号应符合CB/T 4728 7规定。如呆 继电器无方位标志，应使继电器上标有电路图的正面保持向上，然后围绕一条通过电路图的 水平轴线向离开观察者的方向旋转继电器，直至底座引出端面对观察者，这时每个引出端即 处丁电路图所示的位置

10、上.3. 5. 6 安装件3. 5. 6. 1 支架安装支架应是继电器整体的一部分，应牢固地装接在继电器上，以防止继电器与安装支 架之间产生任何移动。3. 5. 7引出端引出端应符合规定（见a 1）.当焊料热浸渍工艺经鉴定机构批准时，承制方可提供热 浸焊料引出端。热浸焊料引出瑞可比规定最大尺寸大Q 05nre3. 5. 7. 1焊钩式引出端焊钩式引出端应设计为能容纳两根导线，每根导线应能承受与其端接的触点或线圈的最 大额定电流。3. 5. 7. 2线状引出端线状引出端应符合规定（见3 1）.3. 5. 7. 2. 1焊针式引出端焊针式引出端应符合规定（见3 1）.3. 5. 7. 3插入式引出

11、端插人式引出端应符合规定的排列和尺寸耍求.继电器的安装结构：应由一辅助安装件來 承受继电器的全部重量并提供安装稳定性，而不应用电气引出端作固定装置.插入式引出端 应镀L 3至3印im厚的線之后再按GJB 1941规定的2型A级规定镀金。3. 5. 7. 4焊料浸渍/再覆锡引出端当熄料浸渍工艺经鉴定机构批准时，承制方可对按本规范提供的产砧的引出端进行焊料 浸渍/再覆锡处理。3. 5. 7. 4. 1鉴定机构的批准焊料浸渍工艺的批准应以下列方案之一为依据（镀金插入式引出端不允许进行焊料浸 渍）。所有外观检查判据应符合CJB 360A中的方法208规定.a当鉴定合格的原始引线表而涂层是GJB 143

12、7中为52的焊料热浸渍涂层时，承制方应 采用与原始的产品加工方法相同的焊料浸渍工艺；h当鉴定合格的原始引线表而涂层不是如上述为52的焊料热浸渍涂层时，所用焊料浸 渍工艺的批准应以如下试验程序为依据：程序】一每种类型和引线涂层应有6只样品经受承制方的焊料浸渍工艺.焊料浸渍后， 继电器应经受A2和皿分组的检验。程序只样品中应有3只再经受可焊性试验（见3缜不允许有外观缺陷。程序3剩下的3只样品经受耐焊接热试验（见3 2氛程序4一所有6只样品均应经受A2和A4分组的检验。由丁插入试验插座而造成引出端 的轻微擦痕不应作为拒收的条件。3. 5. 7. 4. 2焊料浸渍唐覆锡的选择承制方在下列情况下可进行焊

13、料浸渍/再覆锡：a在A1分组筛选试验后，但在A2分组电气试验前；h当一批A3分组可焊性试验不合格时，作为纠正措酒.在4 7 2 2 2 2进行焊料浸渍 丿再覆锡工艺之后，至少应经受绝缘电阻（所有引出端与外壳间）测试，并且进行A4分组 试验；g经受并通过A组检验的继电器，在焊料浸渍/再覆锡工艺后，至少应进行绝缘电阻 （所有引出端与外壳间）测试，并且应对焊料涂覆面积和加工质量进行外观检查.由插入 试验插座而造成引出端轻微的擦痕不应作为拒收的条件。3. 5. 8二极管内部装有二极管的继电器不考虑其静电放电的敏感度。但当二极管不作为线圈回路的一 部分或内接到线圈时，则二极管可能対静电放电敏感.在这种情

14、况下，二极管应按4】.4规 定的要求进行处理。承制方也可自行决定，按CJB 548A中的方法3015把电压变更为 16000V对内部使用的二极管进行试验，则不必执行4 L4规定。3.6生产过程检验3. 6. 1二极管筛选按4 7, L 1规定进行生产过程中的筛选。3. 6. 2洁净处理和微粒检査当规定时（见3D,在继电器底座与罩壳进行封焊之前，应按4 & 2规定对继电器进 行洁净处理，并进行微粒污染物检查。3. 7筛选当继电器按4 & 3规定进彳r试验时，在循环过程中，触点失效检测仪监测水平为，接触 电阻应不大J- 100Q，断开触点间的电压应不小开路电压的9%。若无其它规定（见 3 1）,任

15、何继电器的最小绝缘电阻测量值不应小J： 1000M.3. 8可焊性当继电器按4 & 4规定进彳r试验时，线状和插针式引出瑞关键部分的表而，至少应有9%的而积被覆盖上一层连续的新焊料层.対直径大J- 1. 2nn的焊钩式引出端，处标 准缠绕线与引出端之间的焊缝，其总长度的9%应由焊料与被试引出端的表面相切，且不 允许有针孔、空白点等.若在被试引出端与焊缝之间的焊料相切处是一条不规则或间断的线 条，则认为是失效3. 9密封当继电器按4 & 5规定进行试验时，空气漏率不得超过1 X IO? pa. an7 S3. 10绝缘电阻当继电器技4 & 6规定进行试验时，若无其它规定（见3 D,绝缘电阻不应小

16、于10000NQ。在高电平寿命试验后，绝缘电阻不应小J- 1OOCND3 11介质耐电压当继电器按4 & 7规定进行试验时，漏电流不得超过1001 A高电平寿命试验后，在 正常大气压或低气压下的介质耐电压测量值至少应为初始值（见3 ）的7%。3. 12 电性能3. 12. 1线圈电阻或线圈电流a 12 l 1线圈电阻当继电器按4 & & L且规定进行测试时，线圈电阻应符合规定（见3九a 12 L 2线圈电流当继电器按4 & &】.2规定进行测试时，带有线圈瞬态抑制和反向保护二极管的继电 器，其线圈电流应符合规定（见3 1）.3. U 2静态接触电阻当继电器按4 & 8 2规定进行测试时，若无其

17、它规定（见3 1）,静态接触电阻不得超 过 Q 050。3. 12. 3规定的动作或自保持復归、保持和释放值（电压）当继电器按4 & & 3规定进行测试时，规定的动作或自保持丿复归、保持和释放值（电 压）应符合规定（见3 1）。3. 12. 4动作和释放时间当继电器按4 & 84规定进行测试时，动作和释放时间应符合规定（见3 1）。对丁具 有多组触点的继电器，在测駅每组的动作和释放时间时，从初始动触点闭合到最终动触点闭 合之间的时间差应不超过1HK动作和释放时间不包括触点回跳时间。3. 1Z 4. 1先断后合当继电器按4 & & 4 1规定进行测试时，多组触点的继电器，不应呈现动触点在所有闭

18、合触点断开前与任何断开触点闭合的现象（见3 1）.此规定适用J：继电器任一状态.3. 12. 5触点动态特性3. 12. 5 1触点回跳（适用“亡级失效率）当继电器按4 & 8 5 1规定进行测试时，若无其它规定（见3 1）,触点回跳时间不得 超过L盼3. 12. 5. 2触点稳定时间（适用于“&、“卩和“ R级失效率）当继电器按4 & 8 5 2规定进行测试时，若无其它规定（见3 ）,达到并保持静态接 触电阻状态的时间不得超过2 Oms.3. 12. 6线圈瞬态抑制和二极管阻断完好性3. 12. 6 1线圈瞬态抑制（适用丁带有线圈瞬态抑制二极管直流工作的继电器）当继电器按4 & & 6 1规

19、定进行测试时，直流工作的继电器，其线圈产生的反电动势不 应大干规定值（见33. 12. 6 2二极管阻断完好性（适用于带有反向保护二极管直流工作的继电器） 当继电器按4 & & 6 2规定进行测试时，漏电流不应超过规定值（见3 1）。3. 12. 7中位筛选（仅适用J：自保持继电器）自保持继电器应按4 8 & 7的规定进行试验，并应符合规定。3. 13温度冲击当继电器按4 & 9规定进行试验时，在每个极限温度下，绝缘电阻、规定的动作或自保 持丿复归、保持和释放值（电压），及动作和释放时间应分别符合3 1Q 3 12 3和3 12 4 的耍求.温度冲击后，应无破裂、脱皮或镀层剥落现彖，介质耐电压

20、应符合3 11的要求。3. 14 冲击（规定脉冲）当继电器按4 8 10规定进行试验时，若无其它规定（见3 1）,闭合触点的断开不得超 过101 S断开触点的闭合或桥接不得超过$也不允许有机械或电气损坏现象。3. 15振动当继电器控4 8 11规定进行试验时，若无其它规定（见3 1）,闭会触点的断开不得超 过KU s断开触点的闭合或桥接不得超过U s也不允许有机械或电气损坏现象。3. 16稳态加速度当继电器按4 8 12规定进行试验时，若无其它规定（见3 1）,当线圈两端无电压时， 继电器触点应保持在去激励状态；当线圈加电压时，继电器触点应保持在激励状态.自保持 继电器无线圈电爪时，应保持在各

21、自的保持状态.不允许有结构损坏或其它会损害继电器工 作的损坏现象。a 17引出端强度当继电器按4 & 13规定进行试验时，不应有引出端松动或断裂现象，也不应有其它对 继电器正常工作会产生有害影响的任何损坏现象。引出端弯曲不应视为损坏.3 30的玻璃 绝缘子判据木适用本条.3. 18磁干扰当规定时（见3 D,继电器技4 8 14规定进行试验时，规定的动作或自保持丿复归、 保持和释放值（电压）应符合3 12 3规定。3. 19线圈寿命当继电器按4 a 15规定进行试验时，应无损坏现象。3. 19. 1线圈耐久性当继电器按4 &】5 1规定进彳J：试验时，线圈电阻应符合规定（见3 1）.3. 20耐

22、焊接热当继电器按4 & 16规定进行试验时，应无对继电器的正常工作会产生有害影响的损坏 现彖.试验后，绝缘电阻、静态接触电阻、规定的动作或自保持瓜归、保持和释放值（电压） 及线圈电阻，应分别符合3 1Q 3 12 2 3 12 3及3】2 1. 1或3 12 1. 2的耍求。3.21盐雾或盐气（腐蚀）当继电器按4 & 17规定进行试验时，应无因腐蚀而引起对继电器的应用或性能会产生 有害影响的开裂、掉片、镀涂层剥落或基体金属的裸需现象。3 22过负载（只适用丁高电平继电器）当继电器按4 & 18规定进行试验时，闭会触点间的电压降不应大所加负载电压的 眺；断开触点间的电压不应小于所加负载电压的 9

23、%.外壳对地的熔断器应保持电气连 续性.3. 23寿命当继电器按4 a 19规定进行试验时，触点失效监测仪的监测水平，对丁低电子试验不 应大J- 1000若无其它规定,见a D,对丁高电子试验不应大F所加负载电压的昭断 开触点间的电压不应小丁所加负载电压的9珈。若无其它规定（见3D,循环之后的静态 接触电阻值木得大r规定的初始接触电阻数值的两倍.不得有机械或电气失效触点熔接， 接通、承载或断开负载欠效或连接外壳与负载系统接地端或中线的熔断器失效均构成一次失 效.未按鉴定机构批准的失效确认程序而显示失效的继电器可以垂新进行试验.在此后的寿 命试验中，二极管的失效应构成失效。3. 24中等电流当继

24、电器按4 8 20规定进行试验时，在循环过程中，若无其它规定（见3 1）,闭合触 点的接触电阻不应大于3Q,断开触点间的电压不应小于所加负载电爪的9吆。循环后在 室温下测量静态接触电阻，其值不得超过规定的极限值（见3 1）.中等电流不应视为一种 低电平或高电平的触点负载额定值（见6 2.不应有机械或电气失效。触点熔接，接通、 承载或断开负载失效或连接外壳与负载系统接地端或中线的熔断器失效均构成一次失效。未 按鉴定机构批准的失效确认程序而显示失效的继电器可以重新进行试验.在此后的试验中， 二极管的失效应构成失效.3. 25机械寿命当继电器按4 a 21规定进行试验时，循环之后，绝缘电阻和介质耐电

25、压不应超过规定 的极限值（见3 1）,动作和释放时间不应超过规定极限值（见3 1）的12%。在循环期间 及其后，不应有机械或电气失效.连接外壳与负载系统接地端或中线的熔断器失效均构成一 次失效.带有二极管的继电器，二极管的失效应构成失效.承制方的试验设备应有确保完成 所耍求的循环次数的能力。3. 26耐溶剂当继电器按4 & 22规定进行试验时，标志应保持清晰。3. 27微粒碰撞噪声检测（PIND）当规定时（见3 1）,继电器按4 8 23规定进行试验时，不应存在自由活动的微粒污染 物3. 28标志3. 2& 1认证标志军用电子元器件质量认证标志“卜应标在零件号之上或之下的第一行，虫J 也可以与

26、日期代号标在一起，例如 903Q3. 2& 2完整的识别标志继电器应按GJB 2118中的方法1进行标，忐，应包括如下内容：a军用零:件号（见1. 3和3 1）：h “ g标志；C日期代号（见4 L 2 1）；d承制方名称或商标；巳批次代号；E线圈额定电压（见3 1）,工作频率（当适用时）：g线圈电阻；h触点额定值（应标出最大直流阻性负载额定值）（见3 1）；i. 电路图（见3 5弘j.引出端标志（当适用时，见3 L 3 5 4 1和3 5 Z3. 2& 3最少标志当规定时（见3 1）,由标恵部位太小，不可能按3 2& 2规定进行标,忐时，则至少应 标有军用霎件号，日期代号，电路图，承制方名称

27、或商标。3. 2& 4失效率等级替代经订购方同意，较高的失效率等级的继电器可以替代较低的失效率等级的继电器.例如： 失效率等级“3 （ Q 10000次）的继电器可以替代失效率等级“NT 10000次）的 继电器.除在合同中有规定者外，继电器不再重新进行标志。3. 2& 5互换性同一军用零件号的所有继电器在安装和性能方面应能直接和完全互换.3. 29加工质量继电器应采用能保证质駅一致的方浓进行加工，零件应无碎裂或错位，无锋利的棱边或 毛刺，也无其它会影响寿命、使用性及外观的缺陷。3. 30玻璃绝缘子玻璃绝缘子可以有轻微的缺陷，如气泡、掉片和裂纹.这些缺陷能否被接受，应以图2 和下列条件为依据：

28、a表面气泡，其直径不超过引出端与相应的底座金属间径向距离的一半（対丁气泡群， 应采用气泡群轮廓直径），则认为合格：h环形裂纹，在玻璃中起始至终的弧度范围不超过13F ,则认为合格（见图2a）；g径向裂纹，长度不超过引出端与环绕的底座金属间距离的四分之三，则认为合格（见 图2D；d横切向裂纹，若局限J：单一环带区内，则认为合格（见图20.巳新月形裂纹和掉片，完全环绕引出瑞，并符合下述条件，则认为合格；新月形裂纹和掉片不超出引出端与环绕的底座金属间距离的二分之一的范围；或者新月 形裂纹和掉片不超出引出端与环绕的底座金属间距离的四分之一，另有部分新月形裂纹和掉 片没有超出引出端与环绕的底座金属间距离

29、的四分之三，且它的跨度乂未超过18CT （见图内部气泡，其直径不超过引出端与环绕的底座金属间距离的三分之一，则认为合格。以上各项，应放大倍数不超过10倍进行检査.在有争议的情况下，所有继电器应符合 相应的绝缘电阻、介质耐电压和密封性能耍求，而不考虑玻璃绝缘是否合格.以上耍求不适用B组和购1检验后的继电器，也不适用引出端成形后加分离隔板的 继电器.拒收接收接收ffl2d拒收接收ffl 2b拒收接收里2C拒收图2d注：断开线表示将引出端与环绕的底座金属间径向距离等分所形成的同轴环带区。图2检验辅助图4质量保证规定4. 1检验责任除合同或订单中另有规定外，承制方应负责完成本规范规定的所有检验.必耍时

30、，订购 方或鉴定机构有权按本规范规定进行任何项目的复验。4. 1. 1合格责任所有产品应符合本规范第3章和第5章的所有要求。本规范中规定的检验应成为承制方 整个检验体系或质量大纲的一个组成部分。若合同中包括本规范本规定的检验要求，承制方 还应保证所提交验收的产品符合合同要求.质量一致性抽样不允许提交明知有缺陷的产品， 也不能要求订购方接收有缺陷的产品.4. 1. 2质量保证大纲应按GJB 546A规定建立和维持质量保证大纲.符合这样耍求的合格证明应由鉴定机构 审查，并作为鉴定合格和鉴定合格资格保持的前提条件。4. 1. 2. 1可追溯性耍求承制方应向鉴定机构提交一份给定批次日或代号进彳J：追溯

31、的方法，至少下面列出的原材 料、元器件和零部件具有可追溯性。4. 1. 2. 1. 1带批号的底座、触点部件a触点；h带批号、玻璃绝缘子与引出端已封接的底座；C复原弹赞（当适用时）：d带批号的二极管（当适用时）：巳磁钢（当适用时）。4. 1. 2. 1. 2带批号的驱动部件a带批号的线圈：h衔铁部件（包括驱动机构，当适用时）：C带批号的二极管（当适用时）；d磁钢（当适用时）。4. 1. 3统计过程控制（SK）统计过程控制程序应按GJB 3014有关规定制定和执行.符合这样要求的证明资料应由 鉴定机构审査，并作为鉴定和鉴定合格资格保持的前提条件。4. 1. 4静电放电（ESI）控制大纲承制方在继

32、电器的生产制造和（或）试验过程中，应对静电放电敏感的元器件和（或） 材料进行处理.承制方应按GJB 1649和GJB/ Z 105规定制定和执行砂控制大纲。符合 这样要求的证明资料应由本规范的鉴定机构审查，并作为鉴定和鉴定合格资格保持的前提条 件。此大纲至少应注明ESDSyc器件和最终产品、设备、训练、结构保护、操作程序、标志、 洁净处理、贮存、包装和质量保证等。4. 1. 5试验设备和检验设施承制方应具有足够准确度、质量和数量的试验设备、测量设备和检验设池以便进彳J：所要 求的检验，应按GJB 2712规定建立并维持计量校准系统以控制测量和试验设备的准确度。 4. 2检验分类本规范规定的检验

33、分类如下：a材料检验（见4 0b鉴定检验（见4弘C生产过程检验和质量一致性检验（见4 7）。4. 2 1检验数据保存试验和生产记录文件至少应按下列规定进行保存：a鉴定检验报告做据和样品应保存至鉴定合格资格保持周期；hA组检验数据和生产记录，从最后检验的日期计起3年；g B组和C组检验报告和数据，从提交日期起5年，试验样胡应保存至收到鉴定机构的 批准证书或一个报告周期，以时间较长者为准。4. 3检验条件除本规范另有规定外，所有检验都可以在符合生产实际的环境条件下进行。当有争议时, 应在CJB 360A第4章中所规定的仲裁试验的标准大气条件下进行。4. 3. 1电源除本规范另有规定外，在1】的规定

34、试验负载电流下，电源的调整率不得大J; 1（. 直流电源的纹波电压不得人干珑.交流电源的频率变化应在规定频率的1%之内，并且应 是正弦波，波形系数在Q 95至1. 25之间。4. 3. 2接地若无其它规定（见3 1）,直流电源的负极应接地，单相交流电源的一极应接地。4. 3. 3试验时的负载条件被试继电器的线圈所接电源应与负载电源相隔离.被试继电器的负载应分别与每个静触 点相连接.负载电源的极性可以任选。被试继电器的动触点可以与负载电源的正板或负极相 连接。除介质耐电压外，凡触点加负载并进行循环的所有试验，都应在继电器的外壳与电源 的接地端或中线之间连接一通用熔断器的条件下进行。熔断器的额定值

35、最大为触点负载的 眺，但不得小J- loom如果继电器的触点负载规定为外壳不接地的额定值时，其额定植 试验可在外壳与电源接地端之间电气绝缘的情况下进行.4. 3.4测试设备除本规范另有规定外，测试继电器所使用的设备加到触点的负载，在6V （直流或交流 峰值）最大开路电压下不得超过10n讹阻性）。4. 3. 5环境温度试验时继电器的安装当继电器按4 K 20和4 8 15（分别为中等电流和线圈寿命）规定进行试验时，可按下 列规定安装在一块散热板上：a按正常安装方法，将每只继电器安装在一块厚度至少为L WfJ铝质散热平板上，散 热乎板的设计应能使每只继电器位其正方形手面的中心.该正方形平面的总面积

36、（两面） 为继电器外表而积（扣除安装部分）的8倍。无安装件的继电器，采用一条宽度为6如 厚度最大为Q岔m的金属带固定在散热平板上应采用麻线或其它非导热材料，将散热平板 组合件悬挂在箱内。引出线不得构成散热器：h控制箱内温度应保持在规定的极限环境温度下（见3 1）。4. 3. 6检查和试验方法对被试继电器加线圈电源，应将正极加到有色标的引出瑞（当适用时），或加到编号较 小的引出端（当不采用色标时人对双线圈继电器，应将每一个线圈作为工作线圈分别进 行试验；对丁自保持继电器，应在每一个工作状态下分别进行试验。4. 3. 7可靠性要求本规范规定的可靠性要求符合GJB 2649规定。鉴定置信水平为9%,

37、鉴定的维持置信 水平为 6%。4. 3. 8替代的测试设备承制方应优先采用本规范规定的测试电路和测试设备.使用任何替代的测试电路和（或） 测试设备，应经鉴定机构批准.4. 4材料检验材料检验由验证数据所支持的材料合格证书组成，以证明制造继电器所用材料符合3 4 的要求.4. 5鉴定检验鉴定检验应在鉴定机构批准的试验室中讲彳表2鉴定检验组别检验项目要求章条号试验方法 章条号受检的样品数允许的失效数1组”洁净处理和微粒检査（当规定时）362482所有样品2组内部目检和机械检査 筛选可焊性（3只样品严 介质耐电压。绝缘电阻小电性能o外部目检和机械检査（仅对2只样品进行尺寸检査） 密封3.5,3.29

38、3.73.83.113.103.123.5,3.283.293303.94.8.14&34.8.44&74.8.64.8.84.8.14.8.5所有样品03组温度冲击耐溶剂冲击（规定脉冲） 振动（正弦） 振动（随机）3.133.263.143.153.154&94.8.224.8.104.8.11.14.8.11.241续表2鉴定检验组别检验项目要求章条号试验方法 章条号受检的样品数允许的失效数微粒碰撞噪声检测3.274.8.233组（PIND,当规定时） 稳态加速度3.164.8.1241引出端强度3.174.8.13介质耐电压。3.114.8.7绝缘电阻3.104.8.6电性能刃3.124

39、&8密封3.94.8.5磁干扰（当规定时）3.184.8.14线圈寿命3.194.8.15耐焊接热3.204.8.164组盐雾或盐气（腐蚀）3.214.&1741介质耐电压。3.114&7绝缘电阻4）3.104&6电性能皿3.124.8.8密封3.94.8.5过负載（最大直流阻性负载）3.224.&185组寿命（最大直流额定值负载，備环5 x 10,次）3.234.8.1941介质耐电压3.114.8.7绝缘电阻。3.10486电性能3.124&8寿命3.234.8.196组介质耐电压3.114&7见表3见表3绝缘电阻。3.104&6电性能3.12488中等电流3.244.8.207组介质耐电

40、压。3.114.8.7A1绝缘电阻3.10486n1电性能心3.124.8.8机械寿命3.254.8.21介质耐电压3.114878组绝缘电阻3.104&6A1动作和释放时间3.12.448&41外部目检353.28,3.294.&1注：0对鉴定检验.洁净处理和微粒检查项11不应提供任何失效数。洁净处理和微粒检査结束麻鼻在进行2组至8组检验Z前鉴定样品应继续进行全部制造加1上承制方应选择一个足够大的样木厦以保证在2组至8组中规定的试验开始前在全部制造工序结束后能得到6组中规定的样本大小所需的继电器3 一只未封罩的样品应经受内部检査町焊性试验样品不经受介质耐电压、绝缘电阻、电性能和密封试验。4）

41、线因电阻和线圈电流测试可在介质耐电压和绝缘电阻试验之前进行。在电性能测试之前的绝缘电阻和介质耐电压的试验顺序町以任意。5）线因电流测试仅适用丁有线圈瞬态抑制和带有反向保护二极管的继电器.6）过负载后的寿命试验不适用T to- 5和引出瑞间距为2 5伽1的继电器.7）样本大小应在规定的触点额定值之间平均分配且样木大小应有足够数蛍，以保证每种触点额定值 至少有一只继电器在所有触点上都加额定负载的条件下经受试验肖样品数多丁 负载种类时，剩余样品应 从最大额定直流负载开始按顺序分配口4. 5. 1鉴定初始按“亡或“川级欠效率进行鉴定，以表2中规定的鉴定检验的结果为依据，対34 和3 5要求的说明资料应

42、同鉴定检验结果一起送交鉴定机构.4. 5. 1. 1抽样方案经受鉴定检验的继电器样品数应符合表2规定。样品应从生产线上抽取，并应是生产线 上正常使用的设备和工艺所生产出的。4. 5. 2检验程序样品应按表2中列出的项目和顺序经受鉴定检验，但3组至8组可以同时进行。所有样 品都应经受2组的检验.然后按表2规定将样品分成6个组，分别经受各组规定的检验。4. 5. 3失效数失效数超过表2允许的数目，则鉴定检验不合格.4. 5. 4失效率等级的鉴定失效率鉴定应符合CJB 2649中的通用和详细耍求和GJB 546A的全部要求，并应符合 下列细则：a程序1 一失效率等级的初始鉴定初始，承制方可按“亡级或

43、 5 级对其产品进行初始鉴定（见表3。h程序2失效率等级的升级鉴定失效率等级的升级鉴定（见表軻可以将两种或多种结构相似的继电器所获得的数据 进行累积。C程序3失效率等级鉴定的维持应采用表4中的维持周期.不管在维持周期内所生产的产品批数多少，对J：鉴定的维持 來说，寿命试验规定的元件循环次数应进行累积，如果生产线没有生产（见45,承制 方应从表4中预先选定在维持周期内所使用的抽样方案。如果失效数超过了选定的抽样方案 中的数目（C的数目），则产品的失效率等级应降低一级，或将该产品从合格产品目录中注 销.不合格时的纠正措沌应符合4 Z 3 3的要求.表3失效率等级初始鉴定和升级鉴定抽样方案（置信水平

44、90%）失效率等级鉴定的最大失效率（%/10000 次）累积的元件循环次数106次C = 0C = 1C = 2C = 3C = 4C = 5L3.00.7671.301.772.232.663.09M1.02.303.895.326.687.999.27P0.123.038.953.266.879.992.7R0.01230.0389.0532.0668.0799.0927.0注：1）C为合格判定数或允许的失效数。C值大于5时须经鉴定机构批准。表4失效率等级鉴定的维持抽样方案（置信水平60%）失效率等级鉴定的最大失效率（/10000 次）最长的鉴定维持周期累积的元件循环次数106次C = 1

45、C = 2C = 30 = 4C = 5L3.06个月0.6371.031.391.752.10M1.06个月2.023.104.185.256.30P0.112个月20.231.041.852.563.0R0.0124个月202310418525630注：1）C为合裕判定数或允许的失效数。C tft大于5时须经鉴定机构批准。4. 5. 5鉴定合格资格的保持在表4规定的所有失效率等级及其维持周期内，承制方应编制一份质量一致性检验结果 和欠效率升级试验数据（当适用时）的摘要，以鉴定合格资格保持报告的形式，提交给鉴定 机构作为每6个月周期保持鉴定批准的依据。承制方除定期提交失效率试验数据外，当失效

46、 率数据表明不能维持其鉴定合格的失效率等级时，则应立即报告鉴定机构.保持鉴定批准应 以在6个月周期内符合下列要求作为依据：a由鉴定机构核査承制方符合CJB 546A的要求；h承制方未更改产甜的设计；C详细规范要求未作过会影响产品性能的更改；d A组检验的拒收批未超过1%或1批（以较大者为准）：e B组和C组检验均合格：f累积所有失效率试验数据，证明承制方已经维持了或“卩级欠效率等级，或能继续符合已经鉴定合格的“用级失效率等级，即使到本周期结束时，试验的总元件循 环次数还未符合4 5 4的耍求（见表血。如果不符合C组检验耍求，但承制方已经采取了鉴定机构满意的纠正措施，则鉴定合格 资格保持报告可延

47、期至C组检验的重新试验结束之后的60d内提交.在此情况下，在原鉴定 合格资格保持报告到期的时间内，应将这种情况报告鉴定机构。所有报告都应由承制方负责 人和政府检验员签证。如杲在6个月报告周期内生产线上没有生产，承制方应向鉴定机构送 交一份鉴定合格产品的证明书，以证明承制方仍貝有生产该继电器所需要的能力和条件。如 杲在连续两个报告周期内生产线没有生产，鉴定机构可要求承制方生产检验样胡进行所有B 组和C组检验。4. 6失效率等级的确定失效率等级的确定应以所有已完成的寿命试验数据作依据。应累积下列试验数据确定失 效率等级：a鉴定试验的样吊；h对已提交B组质量一致性检验的每个生产批的试验G结构相似继电

48、器的试验结果。这些型号的继电器与鉴定合格继电器具有相似的内部 设计和结构，相同的生产工艺，相同或更高的环境适应性能以及相同的电性能，并已按B组 质量一致性检验条件进行了试验。这些型号继电器用作获得失效率数据的继电器之前，必须 由鉴定机构审查和批准。4. 6. 1记录应保存从4 6的规定中得到的各种试验数据的记录。GJB 2649的（附录日给出了最少 内容的失效率试验记录示例和推荐格式。试验记录应包括提交质屋一致性检验的每个生产批 的试验数据。4. 6. 2失效率等级的计算采用类似GJB 2649中失效率记录示例（附录日的失效率记录卡保存数据，根据试验记 录的数据计算样品的观测失效率。对这种计算

49、，在任何给定的循环中失效的样品，对其以 后所有的测试來说，均应算作失效品。但承制方可自行决定，从试验中剔除失效的样品.如 杲未剔除失效的样品，则在其失效之后所累积的循环数不应计人记录卡上所示的累积元件循 环次数中。4. 6. 2. 1触点失效率计算试验数据应以这样的方式进行记录，即当需耍时，通过数据分析能够计算出触点失效率。4. 6. 3数据的删除数据的删除应符合GJB 2649的规定。4. 6. 4较低的失效率等级的批准对某一较高的失效率等级鉴定的批准，也包括了对所有低J：此失效率等级的鉴定的批 准.例如，对“用级失效率鉴定的批准，也包括了对“卩、5 和“巴级失效率鉴定的批 准。4. 7生产

50、过程检验和质量一致性检验4. 7. 1生产过程检验4. 7. 1. 1二极管的筛选每个承制方应制定一个经鉴定机构批准的二极管筛选工序。至少这个工序应包括在不低 J- 12KC下进行不少J： 24h的老炼，可以GJB 128A为指导.此工序应在运行试验 （见4 & 3 N之前进行。4. 7. 1. 2洁净处理和微粒检查本项检验应按照3 6 2和4 & 2规定在生产过程中10%进彳f检验.4. 7. 2逐批检验产胡的逐批检验由A组检验组成。逐批检验即为产品交货检验。4. 7. 2. 1检验批和生产批4. 7. 2. 1. 1检验批一个检验批应由符合同一详细规范要求，在不超过一个月的生产周期内且在相

51、同工艺和 条件下生产出的所有继电器组成.对检验批的组成來说，各种引出端型式的产品可包括在 同一批内；但同一批中的各种线状引出端与底座的固定方法应相同代表检验批中各种引线, 检验用的样品应具有相同的比例。4. 7. 2. 1. 2生产批一个生产批应由同一军用寒件号的产品组成.同一批的所有产品应一同开始加工、组装 和检验，应在整个生产制造周期中保持生产批的一致性.4. 7. 2. 2 A组检验A组检验应由表5中规定的试验项目组成。4. 7. 2. 2. 1 M A2： M分组检验Ak偲 和A4分组检验应对按本规范提交的产晶生产批10吆检验，剔除所有不合格表5 A组检验组别检验项目要求章条号试验方法

52、章条号受检样品数A1分组”振动（正弦）振动（随机）（当规定时） 微粒碰撞噪声检测 （FIND当规定时） 筛选，内部潮湿筛选，运行3.153.153.273.73.74.611.14.8.11.24 .8.234.63.14.8.3.2100%A2分组介质耐电压“绝缘电阻2 电性能皿3.113.103.124874.8.64.8.8100%A3分组可焊性3.84.8.42只样品A4分组咏袖目检和机械检査亠密封3.5,3.28,3.29,3.303.94.&14&5100%注：1）试验应按所示顺序进行。2）线88电阻和线圈电液测试可在介质耐电压和绝缘电阳之前进行。电性能测试之前的绝缘电琨和介质附电

53、压试 验醮序可以任愆。3）线圈电流测试仅适用于有线圈瞬态抑制和借刈反向保护二极管的继电器。4）谥如标志之类的轻不合格品可以返工。5）除由于罩壳类別、外部附件等按规泄外，毎种继电器类电应抽取2只样品进行检査。4. 7. 2 2. 1. 1抽样方案除另有规定外，Al、A2和A4分组的检验应在提交检验的每只继电器上进行。当可能时, 在承制方进行这些试验时应有订购方监督检查。4. 7. 2.2. 1.2 拒收批不符合A1和A4分组检验耍求的继电器应被拒收，并应从该检验批中剔除，如A2分组 检验中被剔除的继电器超过，则该批应拒收且不得再次提交检验。4. 7. 2.2. 2 A3分组检验4. 7. 2 2. 2. 1抽样方案从每个检验批中随机抽取2只样品进行A3分组可焊性试验。如出现失效样品，则认为 该批不合格.A2分组电气失效的或由J：其它性能判据而被拒收的继电器，如不影响可焊性， 可以用作可焊性试验。上述用作样品的被拒收的继电器，必须同合格的继电器一起经受过所 有工艺环境试验