工艺管道类检测工艺（完整版）

1、无损检测通用工艺工艺管道类无损检测南京金鑫检测工程有限责任公司2011年4月5日一、主题内容：1.1本工艺规定了工艺管道类工程无损检测的基本要求。1.2本工艺编制依据：压力管道安全技术监察规程SH3501-2002石油化工有毒、可燃介质管道工程施工及验收规范 GB50235-201工业金属管道工程施工及验收规范JB/T4730-2005承压设备无损检测特种设备无损检测人员资格考试规则特种设备无损检测人员资格考试规则 无损检测工艺规程一一射线检测工艺规程、超声波检测工艺规程磁粉检测工艺规程、渗透检测工艺规程1.3工程概况：二、检测项目、数量及工艺准备：三、现场安全管理3.1项目经理和责任工程师要

2、高度重视检测现场的安全工作，要以身作则，学习贯彻各项安全规章制度；在进入现场前，必须对现场检测人员进行安全教育，向 检测人员详细介绍现场情况，使检测人员检测前做到心中有数，然后按照部署， 有步骤地进入检测现场。3.2检测人员必须严格遵守各项安全操作规程， 进入现场前，必须穿戴好防护用 品，不准喝酒，不准打闹，做到安全检测。3.3注意用电安全。四、射线安全管理规定4.1从事射线检测人员必须经过防护培训，并取得环保部门颁发的放射性工作 人员培训证，操作前应佩带好个人计量牌。4.2注意用电安全。4.3射线检测前，必须先与甲方取得联系，通知射线探伤时间。4.4每次检测前，必须划定警戒区域，悬挂警告标志

3、（夜间挂红灯、出入路口设 置明显的警戒标志）。4.5确认警戒区内无其他人员后才可开机作业。4.6操作人员应尽量利用现场建筑物屏蔽射线，使所受的辐射剂量尽可能达到最 小。五、设备、器材和人员配备5.1设备、器材配备射线机（或管道爬行器）、移动式发电机、超声波探伤仪、磁粉探伤仪、工 业用X光胶片、显定影药品、电脑、合格套装渗透剂、超声波探头、超声波探伤 耦合剂、磁膏、射线探伤用观片灯、暗室设备、射线检测警示标志、底片密度计、 超声波探伤试块、磁粉探伤灵敏度试片、渗透探伤灵敏度试片及射线探伤辅助物 品（铅字、透度计等）等。5.2人员配备检测责任师（至少项目中每项检测项目有一人，可兼项）、项目负责人、

4、检 测责任人（至少项目中每项检测项目有一人，可兼项）、操作（辅助）人员等。六、射线检测6.1适用范围：适用于工程钢制管道对接焊缝射线检测。6.2透照方法及技术参数选择：621透照方法：钢制管道采用 X射线检测。公称直径大于100mn管道：管径大 于或等于800mm寸采用单壁单投影法，管径小于800mm寸采用双壁单投影法；公 称直径小于或等于100mm管道：一般情况下采用双壁双投影法，无法透照时可采 用垂直透照的方法，当壁厚与管径之比大于 0.12或者壁厚大于8mm以及焊缝 宽度大于管径的四分之一时，采用垂直透照的方式进行透照。最少透照次数及一次有效长度序号规格mm厚度mm焊缝长度mm最少透照次

5、数一次透照有效长度mm备注1 108/340657X射线2 114/358660X射线3 129/405668X射线4 159/500684X射线5 219/6886115X射线6 273/8586143X射线7 325/10216171X射线8 377/11846198X射线9 426/13386223X射线10 457/143510144X射线11 508/159610160X射线计 算 公 式丫射线X射线9 =arcCos1+(K*K-1)*T/Do/K a =2 9、K=1.1N=180/a =90/ 9L3= n *Do/N9 =arcCos1+(K*K-1)*T/Do/Ka = 9

6、 +n、K=1.1、管径为 100-400mm时取1.2，为方便操作适当提咼K值n =arcSinDo/(2F-Do)*Sin9F=Do+L1(L1取 210mm)N=180/a =180/( 9 +n )L3= n *Do/N一次有效长度大于250mm寸透照次数增加6.2.2技术参数选择：622.1曝光量的选择：焦距为700mm寸，曝光量应不小于15mAmin，焦距变化 时应进行折算，具体参数参照射线检测工艺卡规定。 采用丫源透照时，曝光时间 不小于输送源往返所需时间的10倍。6.2.2.2管电压的选择：X射线照相在保证穿透能力的情况下应尽量选用较低管 电压，每台X射线机应制作曝光曲线，根据

7、曝光曲线选择管电压曝光参数。6.2.2.3 最少透照次数及一次有效长度的选择：根据标准及横向裂纹检出角要 求，计算各种规格管口的最少透照次数及一次有效长度。公称直径小于250mm的管道环向焊缝双壁单影透照时，K值和一次透照长度可适当放宽，但整圈焊缝 的透照次数应符合下列要求：a. 当射线源在钢管外表面的距离小于或等于15mnW，可分为不少于三段透照，互成120;b. 当射线源在钢管外表面的距离大于 15mm寸，可按照上表要求进行透照。 6.3受检部位表面要求及检测时机受检部位外观须经项目施工方质检人员确认合格后，方可进行射线检测，有 延迟裂纹倾向的应在焊后24小时后进行。6.4射线照相质量等级

8、：射线照相质量等级为AB级，像质应达到标准及工艺规程规定的要求。6.5底片标识、像质计摆放及选用按作业指导书（射线检测工艺规程）规定放置像质计及做好底片标识，在焊 缝上部摆放管线号，下部摆放管口号、中心标记、底片序号以及搭接标记。6.5.26.5.1分段透照底片示意图：X R O N H1丄.1 一山丄丄11/4处B）.）)f十G HNo RXTI双壁双透底片示意图:6.5.3识别标记位于底片下半部由左至右（按其顺序依次排列）为： 年、月、日：为拍片日期：G:工程编号：H:焊缝代号；N:为拍片序号FX返修标记及次数T:特殊注标通常为板厚、扩拍（K）或管子规格。6.5.4定位标记6.5.4.1

9、底片两端T - T有效评定长度（搭接标记）T离底片端部10mm也可用阿拉伯数字替代。6.5.4.2 中部“ ”中心标记（定位方向）。6.5.5专用沟槽对比试块位于底片上半部中间：视需要时加放。6.5.6专用沟槽对比试块，平行放置在距焊缝边缘5mm处，6.5.7识别、定位标记均离焊缝熔合线外大于5mm以外。6.5.8像质计的选型及放置6.5.8.1 不同线型像质计适用的材料范围一览表：像质材料Fe碳素钢、不锈 钢Ti钛合金Al铝合金Cu铜合金适用材料范围黑色金属钛及钛合铝及铝合金铜及铜合金6.5.8.2 透照厚度（TA）与像质的选型一览表:透照厚度TA（ mm）16-8080-250像质计丝号1

10、0/166/122/86.5.8.3 像质计放置在射源侧被检工作表面，Fe-其中Z=*对正底片有效长度1/4处钢丝垂直于焊缝，细丝向底片外端；当壁 厚小于20mm寸的和件或无法以放置在射源侧被检工作表面时，一般可放置在胶 片与管表面之间但像质计应附加“ F”以示区别。6.5.8.4 一次性的周向曝光透照整条环焊缝：必须在圆周每隔90各放一个像质计。6.5.9透照方法示意图：6.5.9.1双壁单投影分段透照示意图：6.5.9.26.5.9.3AnPOF=R）透照示意图:环（曲）焊缝内透中心法（环（曲）焊缝单壁内投影（BFR）透照示意图:6.5.9.4环（曲）焊缝单壁内投影（Fv R）透照示意图:

11、6.5.9.5环（曲）焊缝单壁外投影透照示意图:6.5.9.6环（曲）焊缝双壁单投影透照示意图:sAB6.5.9.7 双壁双投影示意图S09a bD6.6现场检测操作原始记录：现场操作人员应根据公司程序文件要求，对检测部 位及时记录，确保检测的可追溯性。6.7具体透照参数的选用及暗室条件要求见检测工艺卡。6.8胶片的裁装和冲洗由暗室操作人员按照暗室操作规程执行。6.9评片条件评片应在评片室内进行，室内光线应暗淡，室内照明不得在底片表面产生反 光。观片灯最大亮度不得小于100000cd/cm?，黑度小于或等于2.5时透过底片的 亮度不得小于30cd/cm2，并配有不同大小的遮光板。6.10底片质

12、量底片上标记应标记齐全、无误，底片黑度范围应在2.04.0之间；底片上必 须能清晰地观察到热影响区或母材部位 Z=X像质计钢线大于10mm影像显示；在 有效评定区不得有划痕、静电感光、跑光、双色灰雾、发黄、污染、水迹、脱膜 等缺陷；底片不得出现较淡的“ B字。6.11底片的评定与审核底片评定工作，必需持RT-II级或II级以上资格证人员承担，分别进行焊接 接头质量级别的初评、复评后，经审核签发完整的射线探伤报告；底片应按合同 约定的标准，相关质量要求进行评定；底片评定前应将检测的有关记录， 拍片部 位图、透照、暗室等情况交评片人员；底片评定中评片人员发现有异议或疑难的 底片，应及时向有关人员了

13、解情况，必要时可进行复验检查；审核人员对缺陷性 质定性、级别应逐张进行复核，确认无误后还应检查报告项目填写是否规范。6.12检测报告报告包括：总体报告、单张底片评定结果、拍片位置，在必要时还应附返修 处理单；报告要认真填写字迹清楚、不得涂改，表格中不得有空项；报告在初评 和复评表格中必须由本人签字，不得代签或盖章；无损检测综合表及报告首页必 须由项目技术负责人签发，项目技术负责人不在时，可书面委托相关资格人员签 发；报告一式三份（可根据委托方需要）；报告加盖检测专用章后，一份（可根 据委托方需要）交委托人或委托单位，一份自存，一份和底片交资料室存档签收 存档资料期限不少于7年。七、渗透检测专用

14、工艺7.1检测部位和检测要领：检测部位一一焊缝及热影响区或者原材料渗透检测。检测准备一一编制渗透检测工艺卡，选用合格的套装溶剂去除型渗透剂（如大铜 锣牌 DPT-5）。检测要求一一坡口部位、焊缝及两侧 25mm范围内打磨至呈金属光泽。检测实施检测实施按所编制的渗透检测工艺卡执行；操作步骤为：预清洗-渗透-清洗-显像-观察-记录-后处理-结果通知委托方。7.2适用范围：适用于工程工艺管道焊接接头及原材料渗透检测。7.3检测准备7.3.1检验人员接到检测委托后，确认表面质量合格，方可进行渗透检测。7.3.2检测人员应了解被检工件的材质和焊接工艺等。7.3.3表面影响检测的受检工件表面应进行打磨，呈

15、金属光泽。7.3.4打磨范围为所有可检查到的部位，如焊缝及其两侧30mn范围内。7.3.5检测材料准备：备有足够量的合格溶剂清洗型渗透剂（如DPT-5型大铜锣牌），对于钛金属及其合金材料和奥氏体钢材料的工件应选用低氯低氟渗透剂， 对于镍及其合金材料选用含硫低的渗透剂。7.3.6作业前应在与环境条件一样的情况下进行灵敏度试验， 一般情况下要求灵 敏度等级为中等灵敏度，即要求灵敏度试块上三处放射状裂纹都能显示，且1#、2#裂纹为清晰显示。7.4检测操作7.4.1预清洗：在喷涂渗透剂前，用干净棉布浸湿清洗液将工件表面被检部位擦 洗干净。清洗后，检测面上遗留的溶剂、水等必须干燥，且应保证在施加渗透剂

16、前不被污染。7.4.2 施加渗透剂7.4.2.1 渗透剂施加方法施加方法应根据工件大小、 形状、数量和检测部位来选择。 所选方法应保证 被检部位完全被渗透剂覆盖，并在整个渗透时间内保持润湿状态。7.4.2.2 渗透时间及温度在1050 r的温度条件下，渗透剂的渗透时间一般不得少于10mi n。当温度条件不能满足上述条件时， 应使用铝合金对比试块进行对比试验来确定渗透时 间。7.4.3 清洗多余的渗透剂7.4.3.1 在清洗工件被检表面多余的渗透剂时， 应注意防止过度清洗而使检测质 量下降，同时也应注意防止清洗不足而造成对缺陷显示识别困难。7.4.3.2 水洗型渗透剂可用水清洗。冲洗时，水束与被

17、检面的夹角以 30为宜。 采用冲洗方法时，如特殊规定，冲洗装置喷嘴处的水压不超过 0.34Mpa。在无冲 洗装置时，可采用干净的棉布蘸水依次擦洗。7.4.4 干燥处理7.4.4.1 施加快干式显像剂之前，检测面应自然干燥。7.4.4.2 干燥时间一般为 510min。7.4.5 施加显像剂7.4.5.1 使用快干式显像剂时，经自然干燥后，再将显像剂喷洒到被检面上。7.4.5.2 显像剂在使用前应充分搅拌均匀， 显像剂施加应薄而均匀， 不可在同一 地点反复多次施加。7.4.5.3 喷施显像剂时，喷嘴离被检面距离为300400mm喷洒方向与被检面夹角为 30 40。7.4.5.4 禁止在被检面上倾

18、倒快干式显像剂，以免冲洗掉缺陷内的渗透剂。7.4.5.5 显像时间不应少于 7min。7.4.6 观察7.4.6.1 观察显示迹痕应在显像剂施加后 760min 内进行。7.4.6.2 着色渗透检测时，观察应在被检面可见光照度大于 1000lx 的条件下进 行，条件限制可放宽到 500lx 。7.4.6.3 当出现显示迹痕时，必须确定迹痕是真缺陷还是假缺陷。辨认细小显示 时可用 510倍放大镜进行观察或进行复验。7.4.7 复验7.4.7.1 当出现下列情况之一时，需进行复验：a 检测结束时，用对比试块验证检测灵敏度不符合要求； b 发现检测过程中操作方法有误或技术条件改变时；c. 合同各方有

19、争议或认为有必要时。7.4.7.2 当决定进行复验时，必须对被检面进行彻底清洗。7.4.8 后处理检测结束后，为防止残留的显像剂腐蚀被检工件表面或影响其使用，应清 除残余显像剂。7.5 缺陷显示迹痕分类7.5.1 除确认显示迹痕是由外界因素或操作不当造成的之外， 其他任何大于或等 于0.5mm的显示迹痕均应作为缺陷显示迹痕处理。7.5.2 长度与宽度之比大于 3 的缺陷显示迹痕， 按线性缺陷处理； 长度与宽度之 比小于或等于3的缺陷显示迹痕，按圆形缺陷处理。7.5.3缺陷显示迹痕轴方向与工件轴线或母线的夹角大于或等于30时，按横向缺陷处理，其他按纵向缺陷处理。7.5.4两条或两条以上缺陷显示迹

20、痕在同一直线上间距小于或等于2mnW,按一条缺陷处理，其长度为显示迹痕长度之和加间距。7.5.5缺陷记录必须附有标示缺陷位置的草图，并以带尺寸显示的照片或者录 像，也可以采用可剥性塑料薄膜记录。7.6缺陷显示迹痕等级评定7.6.1下列缺陷不允许存在：任何裂纹和白点；7.6.2焊接接头的渗透检测质量分级。等级线性缺陷迹痕圆形缺陷迹痕（评疋框尺寸为35mm 100mmI不允许d 1.5，且在评定框内不大于1个n不允许d4.5，且在评定框内不大于4个川LW 4d8,且在评定框内不大于6个IV大于川级注：L表示线性缺陷长度，mm d表示圆形缺陷长径，mm7.7报告7.7.1报告至少应包括下列内容：a

21、委托单位、工件名称、编号、形状、尺寸、材质及热处理状态；b检测部位、检测比例、渗透剂、清洗剂、显像剂牌号；c. 检测方法；d. 操作条件，包括渗透温度、渗透时间、显像时间等；e 检测结果及缺陷等级评定、检测标准名称；f 缺陷示意图；g 检测人员、责任人员签字及其技术资格；h检测日期。7.7.2报告要认真填写、字迹要清楚、不得涂改，表格中不得有空项。7.7.3报告中在报告人和审核栏目中必须本人签字，不得代签或盖章。7.7.4报告一式三份（可根据委托方需求）。7.7.5报告加盖检测专用章后，二份（可根据委托方需求）交委托人或委托单位， 一份自存，工程结束后交档案室存档，存档期限不少于7年。八、磁粉

22、检测8.1检测部位和检测要领：检测部位一一焊缝及热影响区检测。检测准备一一编制磁粉检测工艺卡，选用 CYD-II或者CJE-220型磁力探伤机， 采用黑磁粉水悬液（，检测前对所选用磁悬液进行灵敏度试验， 合格后方可使用。检测要求一一焊缝及焊缝两侧各 120mm范围内打磨至呈金属光泽，工卡具焊点 应打磨平整，且均不应有影响评定沟槽等存在。检测实施检测实施按所编制的磁粉检测工艺卡执行；操作步骤为：预清洗-通电磁化-施加磁悬液-观察-停止通电-记录-检测结果通知委托方。8.2适用范围：适用于工艺管道焊接接头及原材料磁粉检测。8.3检测设备和磁粉（或磁膏）8.3.1 检测设备8.3.1.1 使用设备C

23、YD-II或者CJE-220型磁粉探伤仪。8.3.1.2 磁粉探伤仪必须符合 JB/T8290-1998 的规定： 当电磁轭极间距为 200mm时，交流电磁轭至少应有45N的提升力，直流电磁轭至少应有177 N的提升力，交叉电磁轭至少应有118N的提升力。8.3.1.3 为保证磁粉检测工作的顺利进行， 应配备有下列辅助设备及器材： 磁场 指示器、A型试片、C型试片、磁悬液浓度测定管、2-10倍放大镜等。8.3.2 磁粉及磁悬液：采用合格的黑色磁膏配制合格灵敏度的水悬液。8.4 表面准备和检测时机8.4.1 表面准备。8.4.1.1 被检工件的表面粗糙度 Ra不大于12.5卩m8.4.1.2 被

24、检工件表面不得有油脂或其他粘附磁粉的物质。8.4.1.3 被检工件上的空隙在检测后难以清除磁粉时，则应在检测前用无害物质堵塞。8.4.1.4 为了防止电弧烧伤工件表面和提咼导电性能，必须将工件和电极接触部分清除干净，必要时应在电极上安装接触垫。8.4.2 检测时机8.4.2.1 磁粉检测应安排在焊接工序完成之后进行。8.4.2.2 检测单位质量检验人员接到检测委托后， 确认表面质量合格， 方可进行 磁粉检测。8.4.2.3 检测人员应了解被检工件的材质和焊接工艺等。8.5 检测操作8.5.1 灵敏度试验：磁粉检测开始时，应进行灵敏度试验，方法：将 A 型试片（A-15/100 为咼灵敏度试片，

25、 A-30/100 为中灵敏度试片， A-60/100 为低灵敏度 试片，如无特殊要求，一般选用中灵敏度试片，当检测焊缝坡口等狭小部位，由 于尺寸关系，A型灵敏度试片使用不便时，可用C型灵敏度试片。）贴在焊缝热影响区，刻槽的一面向里，从相互垂直的方向进行磁化，同时施加磁悬液，应能 得到清晰的十字显示。8.5.2 通电时间及有关注意事项8.5.2.1 使用连续法磁化时， 确定的通电时间必须保证磁粉能在通电状态下施加 完毕，一般为 13秒，为保证磁化效果，至少反复磁化两次，停施磁悬液至少 1 秒后才可停止磁化。8.5.2.3 被检工件的每一区域至少应进行两次独立的检测， 两次检测的磁力线方 向应大

26、致相互垂直，条件许可时，可使用旋转磁场以及交直流复合磁化方法。8.5.3 磁化方法：选用磁轭法纵向磁化。8.5.3.1 采用磁轭法磁化工件时， 其磁化电流应根据灵敏度试片或提升力校验来 确定。8.5.3.2 磁轭的磁极间距应控制在50200mm之间，检测的有效区域为两极连线 两侧各50mm的范围内，磁化区域每次应有15mm的重叠。8.5.4 磁粉的施加：当工件被磁化后，可用下述方法施加磁粉。8.5.4.1 湿法8.5.4.1.1 采用湿磁粉法时， 应确认整个检测面能被磁悬液良好地润湿后， 再施 加磁悬液。8.5.4.1.2 磁悬液的施加可采用喷、浇、涂等方法，不可采用刷涂法，无论采用 哪种方法

27、，均不应使检测面上磁悬液的流速过快。8.5.4.2注意事项：在连续法中，磁粉或磁悬液的施加必须在磁化过程中完成。 必须注意，已形成的磁痕不要被流动的悬浮液所破坏。8.6磁痕评定与记录8.6.1除能确认磁痕是由于工件材料局部磁性不均匀或操作不当造成的之外，其它任意一切磁痕显示均应作为缺陷显示磁痕处理。8.6.2长度与宽度之比大于3的缺陷磁痕，按线性缺陷处理；长度与宽度之比小 于或等于3的缺陷显示迹痕，按圆形缺陷处理。8.6.3缺陷磁痕长轴方向与工件轴线或母线的夹角大于或等于30时，按横向缺陷处理，其它按纵向缺陷处理。8.6.4两条或两条以上缺陷磁痕在同一直线上间距小于或等于2mm寸，按一条缺陷处

28、理，其长度为显示迹痕长度之和加间距。8.6.5长度小于0.5mm的缺陷磁痕不计。8.6.6所有磁痕的尺寸、数量和产生部位均应记录，并图示。8.6.7磁痕的永久记录可采用胶带法、照相法以及其它适当的方法。8.6.8磁粉产生的磁痕的观察和评定应在可见光下进行，工件被检面处可见光照度应不小于1000lx，条件限制可放宽到500lx。8.6.9当辨认细小缺陷磁痕时，应用 2-10倍放大镜进行观察。 8.7复验及记录8.7.1当出现下列情况之一时，需进行复验：a. 检测结束时，用标准试片验证检测灵敏度不符合要求时；b. 发现检测过程中操作方法有误或技术条件改变时；c. 供需双方有争议或认为有必要时；8.

29、7.2复验按5、6中有关条文进行。8.7.3缺陷磁痕的显示记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录，同 时应用草图标示。8.8缺陷等级评定8.8.1下列缺陷不允许存在：任何裂纹和白点；8.8.2焊接接头的磁粉检测质量分级。等级线性缺陷磁痕圆形缺陷磁痕（评疋框尺寸为35mm 100mmI不允许d 1.5，且在评定框内不大于1个n不允许d 3.0，且在评定框内不大于 2个川LW 3.0d4.5，且在评定框内不大于4个IV大于川级注：L表示线性缺陷磁痕长度，mm d表示圆形缺陷磁痕长径，mm8.9报告8.9.1报告至少应包括下列内容:a. 委托单位、工件名称、编号、表面状态、材质及热处理状态;

30、b. 检测设备或装置的名称、型号；c. 磁粉种类及磁悬液浓度；d. 施加磁粉的方法；e. 检测灵敏度校验及试片名称；f. 缺陷示意图；g. 检测人员、责任人员签字及其技术资格；h. 测定日期。8.9.2报告要认真填写、字迹要清楚、不得涂改、表格中不得有空白项。8.9.3报告中在操作和审核项目栏目中必须本人签字，不得代签或盖章。8.9.4报告一式三份（可根据委托方需要）。8.9.5报告加盖检测专用章后，两份（可根据委托方需要）交委托人或委托单位， 一份自存，待工程（制造）项目结束后交档案室存档，存档期不少于7年。九、超声波检测专用工艺9.1适用范围：适用于 工程钢制工艺管道焊接接头超声波检测9.

31、2人员要求9.2.1检测人员必须经技术培训，按特种设备无损检测人员资格考核规则取 得与其工作相适应的合格人员，方可参加检测工作。9.2.2操作人员的矫正视力不得低于1.0。9.3检测设备和器材采用PXUT-27型数显超声波探伤仪，2.5MHZ2.5斜探头。 采用CSK-I A CSK-IH A以及GS系列试块。耦合剂采用化学浆糊。9.4检测一般规定9.4.1表面耦合补偿取4dB。9.4.2每次检测前均应对扫描线、灵敏度进行复核，遇有下述情况应随时对其进 行重新核查，校验应在与检测前调试使用相同的CSK-IHA或者GS系列试块上进行，效验点不少于2点：a. 校准后的探头、耦合剂和仪器调节旋纽发生

32、改变时；b. 开路电压波动或者检测者怀疑灵敏度有变化时；c. 连续工作4h以上时；d. 工作结束时。9.4.3扫描量程的复核如果距离-波幅曲线上任意一点在扫描线上的偏移超过扫描线读数的10%或满刻度的5% （两者取较小值），则扫描量程应予修正，前次效验后已经记录的缺 陷，位置应重新测定，并予以更正。9.4.4距离-波幅曲线的复核复核时，如曲线上任何一点幅度下降 20%或2dB以上，则应对上一次以来 所有的检测结果进行复核；如幅度上升 20%或2dB以上，则应对所有的记录信 号进行重新测定并评定。9.4.5注意事项：校准、复核和线性检验时，任何影响仪器线性的控制器（如抑 制或滤波开关等）都应放在

33、“关”的位置或最低水平上。9.5对接焊缝的检测：根据检测对象依据 JB/T4730-2005选择相应的检测方法、 检测技术等级，并选用相应的标准试块或者对比试块进行扫描线调整。9.5.1灵敏度调节：依照JB/T4730-2005标准，调节距离-波幅曲线，扫描线按 声程、水平或者深度调节，基准波高为 60%满刻度，扫查灵敏度不低于评定线灵 敏度。9.5.2检测比例：按照委托要求。9.5.3检测方法9.5.3.1 缺陷检测a. 为检测纵向缺陷，采用一种 K值探头在焊缝的单面双侧进行检测。探头前后 移动的范围应保证扫查到全部焊缝截面。在保持探头垂直焊缝作前后移动的扫 查，还应作100-150的左右转动。b. 为检测焊缝及热影响区的横向缺陷应进行平行和斜平行扫查。检测时，可在焊缝两侧边缘使探头与焊缝中心线成1020作斜平行扫查。9.5.3.2 为确定缺陷的位置、方向和形状，观察缺陷动态波形和区分缺陷信号或 伪缺陷信号，可采用前后、左右、转角、环绕等四种探头基本扫查方式。9.5.4缺陷的定量检测9.5.4.1灵敏度应调到定量线灵敏度。9.5.4.2对所有反射波幅超过定量线的缺陷，均应确定其位置、最大反射波幅和 缺陷当量。9.5.4.3缺陷定量应根据缺陷最大反射波幅确定缺陷指示长度。a.缺陷指示长度的测定采用以下方法： 当缺陷反射波只有一个