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1、目录1引言52MSC9710C光谱分析的基本操作方法52.1开机52.2接好光源62.3输入光源62.4常用设置62.5校准72.5.1功率校准72.5.2波长校准72.6保存 和输出83常用测试项目测试简介83.1光源光谱特性的测试方法83.1.1工作波长的测试方法83.1.2最小边模抑制比(SMSR)93.1.3最大-20dB谱宽113.1.4最大均方根谱宽()123.2光放性能参数的测试133.3WDM方式下光谱特性的测试143.4插损和隔离度测试153.4.1插损的测试153.4.2隔离度的测试164附录:MS9710C光谱分析仪菜单和面板快捷键说明174.1屏幕菜单说明174.1.1

2、Wavelength(F1)174.1.2Level(F2)184.1.3Res/VBW/Avg(F3)194.1.4Peak/Dip Search(F4)214.1.5Anayling Waveforms (F5)214.1.6Trace Memory(F6)234.1.7Save/Recalling(F7)保存/调出保存结果234.1.8Graph (F1)设置显示图形方式234.1.9Application (F2)244.1.10Measurement Modes (F3)254.1.10Titles(F4)设置文件名264.1.11Calibration(F5)校准功能274.1.1

3、2Conditions(F6)274.1.13Others(F7)274.2面板快捷键说明284.329MSC9710C光谱分析仪使用说明1 引言 MS9710C光谱分析仪可以测试从600nm至1750nm波长范围的光谱特性,最大分辨率达0.05nm 。在我们传输,常用MSC9710C来分析单纵膜、多纵膜、LED等光源的光谱特性;测试无源光器件的插损、隔离度;测试光放的增益、信噪比等性能参数以及分析WDM方式下光谱特性。 MS9710C光谱分析仪的前面板如图1所示,包括显示屏、软区、快捷键、测试孔、数值键、旋钮等组成。 屏幕的底部有一排菜单,有一排软键与菜单相对应,在测试过程中,可以用 F8

4、进行翻页,并用相对应的软键确认进入菜单设置,用 Prior 返回前一级菜单。图1 MS9710C光谱分析仪的前面板 在介绍各项指标测试方法之前,首先讲一下MSC9710C光谱分析仪的基本操作方法。2 MSC9710C光谱分析的基本操作方法2.1 开机w把光谱分析仪放置平稳w检查电源线、保险丝安装正确,保证仪器可靠接地、连接电源插座w打开仪器的电源开关Power Switch2.2 接好光源 在把光源输入光谱分析仪的测试口之前,最好测一下光源的光功率。如果您的输入光功率超过光谱分析仪的输入允许范围,将损坏光谱分析仪的光口。光谱分析仪内置有光衰减器,当关闭衰减功能时,允许输入的最大光功率为10dB

5、;当开启衰减器时,允许最大的输入光功率为+23dB。 光谱分析仪内部衰减的设置方法为: Level ScaleAtt Off/On ,Att Off/On表示没有开启内部误减器,Att Off/On表示加了衰减。 在保证您的光源强度不会损坏光谱分析仪的前提下,您可以将光源输入MSC9710C的测试口。2.3 输入光源 按一下面板右下角的“Auto Measure”或者“Single”、“Repeat”可以把光源扫入光谱分析仪中。用“Auto Measure”扫入光源时,光谱分析仪自动根据输入光谱的波长和功率调整调节横坐标比例Span等选项,并把光谱主纵模放置在屏幕中间; Single、Repe

6、at只是把光谱扫入仪器,不改变设置,Single是单步扫描,Repeat是重复扫描方式。扫描的时候都可以按“STOP”键停止。2.4 常用设置扫入光源后,应该调节Wavelength下面的Span以及 Level Scale下面的 Log(/Div) ,在屏幕上清晰显示被测光谱,一般光谱放置在屏幕正中间,仪器分辨率Res设置为0.1nm ,视频分辨率VBW设为1KHZ 。常用设置说明如下: w设置屏幕中心显示波长:WavelegthCenter WL,然后用Knob或数值键输入数值。 w设置横坐标比例Span: WavelegthSpan,然后用Knob或数值键输入数值或者直接用功能键选择。

7、w选择波长的单位: WavelegthMkrvalue W1/Freq是以nm为波长的单位;頦avelegthMkrvalue W1/Freq是以THZ为波长的单位。 w把光谱主纵模显示在屏幕中间:按面板上的快捷键 CENTER w选择光功率的单位:设置以dB为单位: Level Scale Log(/Div);设置以uw为单位 Level ScaleLinear Level ,如果要调节纵坐标的比例,则用Knob或数值键输入数值或者直接用功能键选择。 w设置仪器分辨率: Res/VBW/AvgRes,然后用屏幕右边的功能键选择数值,光谱分析仪屏幕右边显示的可供选择Res的值(Res的值只能设

8、置成下表显示的值): F1 f2 f3 f4 f5 f6 1nm 0.5nm 0.2nm 0.1nm 0.07nm 0.05nm 在测试过程中,当测试比较窄的光谱时(如LD),应把分辨率打小一些,当测试光谱比较宽的光谱时(如LED),Res应设大一大些。 w设置视频分辨率: Res/VBW/Avg VBW,或按快捷键VBW ,则会显示当前的VBW,可用屏幕右边的功能键选择数值,光谱分析仪屏幕右边显示的可供选择VBW的值为: F1 f2 f3 f4 f5 f6 1MHZ 100KHZ 10KHZ 1KHZ 100HZ 10HZ w寻找主纵模峰值点并显示峰值点的参数: 按面板上的快捷键 ,光标自动

9、移到主纵模峰值点并在屏幕上显示峰值点的参数。2.5 校准 为了保证测试结果的正确性,您可以先校准一下光谱分析仪。校准包括波长和功率,校准时最好用波长与功率比较稳定的可调光源发出的1.3um或1.55um的单纵模光源进行。2.5.1 功率校准 w调节可调光源输出的1.3um或1.55um的单纵模光源,并经可调衰减器衰减到-23dB,用光纤接入光谱仪测试孔。 wCalAuto Align进行光坐标自动对准 w按“Repeat”重复扫描参考光源,并按显示峰值功率。 w然后进入“CaL”,选择“Level Offset”,用Knob或数值键调整功率补偿值,直到屏幕上显示的峰值功率为-23dB为至。校准

10、完成后,光谱分析仪能自动保存校准结果。2.5.2 波长校准 校准波长时可用光谱分析仪本身的校准光源,也可用外部光源进行校准,用外部的光源进行波长校准时,校准时最好用波长与功率比较稳定的可调光源发出的1.3um或1.55um的单纵模光源进行。 a、利用光谱分析仪内部校准源进行校准: w 用光纤把MS9710C光谱分析仪后面板上的校准光源接入测试孔 wCalAuto Align进行光坐标自动对准 w按一下面板上的(Output)打开光谱分析仪的参考光源 w然后选择“CaL”选项,按下“W1 Cal (Ref)”,按一下“Execute”校准就开始了。 b、利用光谱分析仪外部校准源进行校准: w利用

11、外部校准源进行校准时,必需选择比较稳定的1.3um或1.55um单纵膜光源,并用多波长计等测试波长比较精确的仪表测出光源的波长。 w用光纤把参考光源接入测试孔 wCalAuto Align进行光坐标自动对准 w然后选择“CaL”选项,按下“W1 Cal (Ext)”,按一下“Execute”校准就开始了。 w按“Repeat”重复扫描参考光源,并按显示峰值波长。 w然后进入“CaL”,选择“W1 Offset”,用Knob或数值键调整波长补偿值,直到屏幕上显示的峰值波长等于参考光源的波长为至。校准完成后,光谱分析仪能自动保存校准结果。2.6 保存 和输出 Save/Recall 进入保存/调出

12、保存内容的菜单界面,首先进入File Option选择文件的保存形式(一般选BMP形式)和磁盘的类型,然后Save保存文件。界面如图2 所示。 图2 保存文件的操作界面 如果您想把波形打印出来,按一下COPY键即可(在仪表的左手边)。3 常用测试项目测试简介 看到这里,您应该对MSC9710C光谱分析仪的基本操作有所了解了,下面就介绍一下使用MSC9710C进行光谱特性指标测试的方法。3.1 光源光谱特性的测试方法 主要测试项目: 工作波长、最大-20dB带宽、最小边模抑制比(SMSR)和平均发送光功率等。3.1.1 工作波长的测试方法 工作波长指的是主纵模最大功率跌落3dB处的中心波长。 测

13、试步骤: w打开仪表,接上光纤,按下“Auto Measure”按钮,让仪表自动扫入光谱。(在测试工作波长之前,最好对光谱分析仪进行波长校准)。 w调节 Wavelength下面的Span以及 Level Scale下面的 Log(/Div) ,在屏幕上清晰显示被测光谱。 w选择波长的单位: WavelegthMkrvalue W1/Freq是以nm为波长的单位;WavelegthMkrvalue W1/Freq是以THZ为波长的单位。 w选择“Analysis”选项(如果没有,可以不断地按下界面上返回图标对应的按钮 F8 进行翻页,直至它出现为止。如果您按“Analysis”对应的按键,仪表

14、发出“咚”的提示声,并不能进入Analysis界面时,不要奇怪,MSC9710C光谱分析仪处在“Application”界面时,不能同时进入“Analysis”,此时您只要返回“Application”界面,按一下仪表右下角“off ”,关闭Application窗口即可。),进入“Analysis”界面后,按下“Threshold”对应的按钮,选择3dB,屏幕上显示的对应的值是工作波长。 测试界面如图3 所示。如果您觉得屏幕上显示的光谱不够清晰,可以进入WavelengthSpan和LevelLog(/div)界面,调节横坐标和纵坐标的比例,使波形放大。如果您需要保存或打印结果,按照MSC9

15、710C光谱分析仪的基本操作方法中的“保存和输出”中所提示操作即可。 图3 工作波长测试界面3.1.2 最小边模抑制比(SMSR) SMSR定义为主纵模(M1)的平均光功率与最显著的边模(M2)的光功率之比的最小值,用公式表示为 测试步骤: w打开仪表,接上光纤,按下“Auto Measure”按钮,让仪表自动扫入光谱。 w调节 Wavelength下面的Span以及 Level Scale下面的 Log(/Div) ,在屏幕上清晰显示被测光谱。 w选择“Analysis”选项,进入“Analysis”界面后,选择“SMSR”对应的按键,进入SMSR测试界面,然后选择屏幕右边选项“2nd”对应

16、的按键f1。屏幕上显示的对应的值就是最小边模抑制比(SMSR)。 测试界面如图4 所示。如果您需要保存或输出结果,按照MSC9710C光谱分析仪的基本操作方法中的“保存和输出”中所提示操作即可。 图4 最小边模抑制比测试界面 w最小边模抑制比(SMSR)的测试还可以这样:选择“Application”选项,按下界面下的DFB-LD Test对应的按钮,此时可以直接从屏幕上读出SMSR。如图5所示。 图5 最小边模抑制测试界面3.1.3 最大-20dB谱宽 主纵模中心波长的最大峰值功率跌落-20dB时的光谱最大全宽。测试步骤: w打开仪表,接上光纤,按下“Auto Measure”按钮,让仪表自

17、动扫入光谱。 w调节 Wavelength下面的Span以及 Level Scale下面的 Log(/Div) ,在屏幕上清晰显示被测光谱。 w选择“Application”选项,按下界面下的DFB-LD Test对应的按钮,然后按下nB Width,用数值键或Knob输入20,-20dB Width后面对应的数值就是-20dB谱宽,如图6所示。 图6 -20dB谱宽测试界面3.1.4 最大均方根谱宽() 最大均方根谱宽是度量光脉冲能量的集中程度,对于多纵模激光器和发光二极管这样光能量比较分散的光源的,采用最大均方根谱宽()来表征其光谱宽度。(有时会用FWHM来表征此指标,FWHM=2.35

18、)测试步骤: w打开仪表,接上光纤,按下“Auto Measure”按钮,让仪表自动扫入光谱。 w选择波长的单位: WavelegthMkrvalue W1/Freq是以nm为波长的单位;頦avelegthMkrvalue W1/Freq是以THZ为波长的单位。 w选择“Analysis”选项,这时出现测量参数的界面,按下界面上的“RMS”对应的按钮,按界面上的“=1.00 ”对应的按钮,界面上会出现“k:”的文 字,它后面跟着的就是光源的最大方均根谱宽。 图7 均方根谱宽测试界面3.2 光放性能参数的测试 光放需用光谱分析仪的测试项目有:增益Gain、噪声系数NF、增益平坦度。 测试步骤:

19、w 按下Application 鐿pt.Amp Test 进入光放测试程序, w接着把未经光放的光源插入光谱分析仪的测试孔,选择Memory Pin/Pout ,按下把光源扫入光谱分析仪中; w 然后把经光放放大后的光源插入测试孔,选择Memory Pin/Pout ,按下Single扫入光谱,调整光谱分析仪的显示波长范围和纵坐标比例,将需要测试的波长显示在屏幕的中间, w 此时屏幕上就会显示测试数据,NF(S-ASE)后面跟随的数据是噪声系数(Noise Figure) ,Gain后面跟随的数据是增益(Gain)(如图8所示)。当输入光放有多个波长时,所有波长中增益最大值与最小值的差就是增益

20、平坦度。图8 光放测试界面3.3 WDM方式下光谱特性的测试 在DWDM方式下需测试的项目有:波长、功率、平坦度和信噪比,测试步骤: w调整光谱分析仪的显示波长范围和纵坐标比例,将需要测试的波长显示在屏幕中间 w选择ApplicationWDMSingle ,把被测光谱扫入光谱分析仪 w Display ModeSNR选择信噪比显示方式(在屏幕上显示峰值波长、功率和信噪比), 每一波长的波长、功率和信噪比SNR分别显示在屏幕上。 w平坦度是指每通道最大功率与最小功率的差值。 图9 WDM方式下光谱特性的测试3.4 插损和隔离度测试3.4.1 插损的测试 测试插损一般用到Traces 和Mark

21、er功能。有两种测试方法,方法一比较简单,一般可以用方法一;如果经无源光器件后,光谱形状没改变,也可以用方法二进行测试。(1)方法一的测试步骤: w把未经器件的光源输入光谱分析仪的测试孔,选择TracesActive A Signle,把光源扫入光谱分析仪,调整光谱分析仪的显示波长范围和纵坐标比例,将需要测试的波长显示在屏幕中间,并按Memory A对应的键把光谱保存在Memory A中。 w 把经过无源光器件输出的光输入光谱分析仪的测试孔,选择 Memory B w选择Trace A-B,按Signle扫入光谱,此时屏幕上就会一条两者差值的光谱 w 选择MarkerTMKr,输入被测光谱的波

22、长,屏幕左上角TMKr下面显示的就是插损。 (2)方法二的测试步骤: w把未经器件的光源输入光谱分析仪的测试孔,选择TracesActive A Signle,把光源扫入光谱分析仪,调整光谱分析仪的显示波长范围和纵坐标比例,将需要测试的波长显示在屏幕中间,并按Memory A对应的键把光谱保存在Memory A中。 w 把经过无源光器件输出的光输入光谱分析仪的测试孔,选择 Memory B w选择Trace AB,按Signle扫入光谱,此时屏幕上就会二条光谱(如图10所示),一是光源,二是经无源光器件后的输出光谱。 w 选择Marker,然后移动LMkr_C和LMkr_D,使 LMkr_C

23、和LMkr_D分别对齐两光谱的顶点,如图8所示,屏幕上显示的C-D的值是插损。 图10 插损测试界面 3.4.2 隔离度的测试 测试隔离度(串扰)一般用到Trace、Overlap和Marker功能。这里以测试分波器的相邻两通道的隔离度为例,介绍一下隔离度的测试方法。 测试步骤 w选择GraphOverlap,使光谱分析仪工作在Overlap(重叠)方式下。 w把宽谱光源输入分波器的IN口。 w把分波器一通道的输出光谱输入光谱分析仪的测试孔,选择Signal ,把光源扫入光谱分析仪。 w把分波器另一个相邻通道的输出光谱输入光谱分析仪的测试孔,选择Signal ,把光源扫入光谱分析仪。 w调节

24、Wavelength下面的Span以及 Level Scale下面的 Log(/Div) ,在屏幕上清晰显示被测光谱。 w选择Marker,移动Mkr_A 和 Mkr_B,使其对准两波长峰值的中心,如图11所示。 w移动LMkr_C到第一个峰值处与Mkr_A相交 ,LMkr_D移到第一通道串入第二通道处,并与Mkr_B相交,如图8所示的位置,屏幕上显示的C-D的值就是分波器一通道到另一通道的后向隔离度(即一通道串入相邻通道的串抗)。 w 移动LMkr_C到第二个峰值处与Mkr_A相交 ,LMkr_D移到第二通道串入第一通道处,并与Mkr_B相交,屏幕上显示的C-D的值就是分波器一通道到另一通道

25、的前向隔离度。 图11 隔离度测试界面 4 附录:MS9710C光谱分析仪菜单和面板快捷键说明4.1 屏幕菜单说明 屏幕的底部有一排菜单,有一排软键与菜单相对应,在测试过程中,可以用 F8 进行翻页,并用相对应的软键确认进入菜单设置,用 Prior 返回前一级菜单。下面简单介绍一下常用菜单的含义。4.1.1 Wavelength(F1) Wavelength用来设置波长,Wavelength界面下有如下功能键: wCenter (f1)设置中心波长 中心波长指的是显示在屏幕中央的波长,当中心波长设置改变时,屏幕上显示的起始波长和截止波长也会自动根据Span值作相应改变 。设置中心波长的操作方法

26、:Press F1选中Wavelength 鑀ress f1选中Center , 然后用Knob选择值或直接按数字键键入数值。中心波长的可设置范围是600nm1750nm。 在测试过程中,可以把主纵膜波长作为中心波长,设置方法:按一下快捷键Center 就自动把输入光谱的峰值波长显示在屏幕中央。 w Span (f2) Span是用来设置横坐标的比例,设置方法:Press F1选中Wavelength 鑀ress f2选中Span , 或者直接按快捷键 Span ,然后用Knob选择值或直接按数字键键入数值或者从屏幕右边的功能键选择数值。光谱分析仪屏幕右边显示的可供选择的Span值: F1 f

27、2 f3 f4 f5 f6Page1 1200nm 1000nm 500nm 200nm 100nm 50nmPage2 20nm 10nm 5nm 2nm 1nm 0nm Span的可设范围是0nm(或0.2nm)1200nm 。 Span的值必需满足以下公式: Span(Span Width)Res(Resolution)Number of Sampling Points 否则,会导致测试结果不正确,屏幕右下角会显示“Res_uncal的信息。 w Start (f4) 设置起始波长 起始波长指在屏幕上显示的起始波长,值显示在屏幕左下角,当起始波长改变时,截止波长不会改变,而是自动改变Sp

28、an值。 此功能在Trace AB、Trace AB 、Trace BA的应用方式下无效。 设置方法: Press F1选中Wavelength 鑀ress f4选中Start ,然后用Knob选择值或直接按数字键键入数值。 起始波长可设范围从600nm至截止波长。 w Stop ( f5)设置截止波长 截止波长指在屏幕上显示的截止波长,值显示在屏幕右下角,当截止波长改变时,起始波长不会改变,而是自动改变Span值。 此功能在Trace AB、Trace AB 、Trace BA的应用方式下无效。 设置方法: Press F1选中Wavelength 鑀ress f5选中Stop ,然后用Kn

29、ob选择值或直接按数字键键入数值。截止波长可设范围从起始波长至1800nm,但实际可测试的最大波长是1750nm。 w Value in Air/Vac (f7)切换波长显示方式 设置方法: Press F1选中Wavelength 鑀ress f7,Air或 Vac下面有_表示选中,Air表示显示在空气中的波长值,Vac表示显示在真空中的值。4.1.2 Level(F2) w Log(/div)(f1)设置以dB为单位的纵坐标的比例 选中此键,表示纵坐标以dB为单位。 设置方法:Press F2选中Level 鑀ress f1,或者直接按快捷键 Log(div) , 然后用Knob选择值或直

30、接按数字键键入数值或者从屏幕右边的功能键选择数值。光谱分析仪屏幕右边显示的可供选择的Log(/div)值: F1 f2 f3 f4 f5 f6 f7 10dB 5dB 2dB 1dB 0.5dB 0.2dB 0.1dB Log(div)可设置范围:0.1dB10dB。 w Ref Level (f2)设置参考线的位置 当纵坐标以dB为单位时,Ref Level可以用来设置功率参考线的位置,当纵坐标以Watts为单位时,纵坐标从0开始,不能改变0起始点。设置方法:Press F2选中Level 鑀ress f2,或者直接按快捷键 Ref ,然后用Knob选择值或直接按数字键键入数值。利用快捷键R

31、ef Lv1时,可以把主纵膜峰值点设置为功率参考线。 Ref Level可设置范围:-90dB30dB。 w Linear Level (f4)设置以Watts为单位的纵坐标的比例 选中此键,表示纵坐标以Watts为单位。设置方法:Press F2选中Level 鑀ress f4, 然后用Knob选择值或直接按数字键键入数值或者从屏幕右边的功能键选择数值。光谱分析仪屏幕右边显示的可供选择Linear Level的值: F1 f2 f3 f4 f5 f6Page1 500 200 100 50 20 10Page2 5 2 1 可设置范围:1pW1W。 w Opt. Att Off/On (f6

32、)设置光谱分析仪内部衰减 此键可用来设置是否开启内部衰减器,Att Off/On表示没有开启内部误减器,Att Off/On表示加了衰减。屏幕上显示的功率值是输入测试孔的光源的光功率,并未加衰减值。 Press F2选中Level 鑀ress f6,Att Off/On表示没有开启内部误减器,Att Off/On表示加了衰减。 注意:当未加衰减时,输入的最大光功率为10dB;当加了衰减器时,最大的输入光功率为+23dB,如输入兴功率超过此范围,将损坏光谱分析仪,如输入光功率的值小于+5dB,此时如加了衰减器,则测试结果将不太精确,所以在使用过程中,一定在注意输入光功率的值。4.1.3 Res/

33、VBW/Avg(F3) w Res (f1)设置分辨率 Res是用来设置分辨率。当测试比较窄的光谱时(如LD),应把分辨率打小一些,当测试光谱比较宽的光谱时(如LED),Res应设大一大些。设置方法:Press F3鑀ress f1,可用屏幕右边的功能键选择数值,光谱分析仪屏幕右边显示的可供选择Res的值: F1 f2 f3 f4 f5 f6 1nm 0.5nm 0.2nm 0.1nm 0.07nm 0.05nm 可设范围:Res的值只能设置成上表显示的值。 注:要显示当前实际分辨,把Act-Res Off/On(f7)功能打开。 w VBW (f2)设置视频带宽 Video Width VB

34、W用来设置视频带宽。当视频带宽设置地比较宽时,扫描时间很快;反之,扫描时间会变慢,但提高灵敏度。设置 VBW:Press F3鑀ress f2,或按快捷键VBW ,则会显示当前的VBW,可用屏幕右边的功能键选择数值,光谱分析仪屏幕右边显示的可供选择VBW的值: F1 f2 f3 f4 f5 f6 1MHZ 100KHZ 10KHZ 1KHZ 100HZ 10HZ 可设范围:VBW的值只能设置成上表显示的6个值。 w Point Average (f3)设置点平均功能 此键用来激活点平均功能,所谓点平均指的是每点采样多次,取平均值,然后才在屏幕上显示。采样的次数由用户设置,在采样过程中,是点璧阒

35、鸬悴裳斯茉谏杵骄芟挛扌 (1) 开启点平均功能:Press F3鑀ress f3,然后选择ON。 (2)设置采样次数:Press F3鑀ress f3,此时会显示当前的采样次数,然后用Knob选择值或直接按数字键键入数值。 (3)关闭点平均功能:Press F3鑀ress f3,然后选择OFF。 (4)采样次数可设范围:采样次数可设范围从21000次。 wSweep Average(f4)设置扫描平均功能 此键用来激活扫描平均功能,所谓扫描平均指的是每一波形采样多次,取平均值,然后才在屏幕上显示。采样的次数由用户设置,在采样过程中,是Sweep鑃weep逐波采样。此功能在点平均功能下无效。 (

36、1)开启扫描平均功能 Press F3鑀ress f4,然后选择ON。 (2)设置采样次数 Press F3鑀ress f4,此时会显示当前的采样次数,然后用Knob选择值或直接按数字键键入数值。 (3)关闭扫描平均功能 Press F3鑀ress f4,然后选择OFF。 (4)采样次数可设范围 采样次数可设范围从21000次。 wSmoothing(f5) 此功能是用来对采样到的波形进行平滑处理。 (1)开启Smoothing功能 Press F3鑀ress f5,然后从屏幕右边的功能键选择数值。光谱分析仪屏幕右边显示的可供选择Smoothing的值: F1 f2 f3 f4 f5 f6 O

37、ff 3pt 5pt 7pt 9pt 11pt (2)关闭Smoothing功能 Press F3鑀ress f5,然后从功能键盘中选取中Off。 (3)可设范围 平滑点数只能取上表中的5个数值。 wSampling Point( f6 )设置采样点数 此键可设置采样点数。当采样点数设较小时,扫描速度很快,但在测试过程中想要一个较高的分辨率和较宽的扫描范围,采样点数应设的高一些。采样点数与分辨率、Span有关。假如在这些设置下测试不到正确地结果,则屏幕右下角会显示“Res_uncal”。 (1)设置采样点数 Press F3鑀ress f6,然后从屏幕右边的功能键选择数值。光谱分析仪屏幕右边显

38、示的可供选择Sampling Point 的值: f1 f2 f3 f4 f5 f6 f7 51pt 101pt 251pt 501pt 1001pt 2001pt 5001pt (2)可设范围 采样点数只能取上表中的7个数值。 wAct-Res Off/On(f7)开/关显示实际分辨率功能 Press F3鑀ress f7 , Act-Res Off/On(f7)表示此功能打开,Act-Res Off/On表示此功能关闭。4.1.4 Peak/Dip Search(F4) wSearching for Peak Points(f1)寻找峰值点 设置方法: Press F4鑀ress f1 w

39、Searching for Dip Points(f2)寻找最低点 设置方法: Press F4鑀ress f2 w(Peak/Dip)寻找下一个峰值点/最低点 设置方法:Press f4 (辏篘ext) w(Peak/Dip)寻找上一个峰值点/最低点 设置方法:Press f5 (椋篖ast) w(Peak/Dip)寻找左边一个峰值点/最低点 设置方法:Press f6 ( :Left) w(Peak/Dip)寻找右边一个峰值点/最低点 设置方法:Press f7 (: right) w关闭Peak/Dip Search功能 按快捷键Marker Select ,然后按Off(f7)。4.1

40、.5 Anayling Waveforms (F5) w Threshold Threshold指的是从最大峰值跌落值(xxdB),分析单纵模谱宽时用到。设置方法:Press F5鑀ress f1,然后从屏幕右边的功能键选择数值。光谱分析仪屏幕右边显示的可供选择Threshold 的值: f1 f2 f3 f4 3dB 6dB 10dB 20dB w ndB-Loss(f2) ndB-Loss在分析多模光谱谱宽时用到,指的是从最大峰值跌落值(xxdB)。 设置方法:Press F5鑀ress f2,然后从屏幕右边的功能键选择数值。光谱分析仪屏幕右边显示的可供选择ndB-Loss 的值: f1

41、f2 f3 f4 3dB 6dB 10dB 20dB w SMSR(f3) 边膜抑制比Side Mode Suppression Ration是指主纵膜的平均光功率与边膜的光功率之比。边膜可以是整个光谱中最显著的边膜,也可是主纵膜左边的最显著边膜,或是主纵膜右边的最显著边膜。 设置方法: Press F5鑀ress f3,然后从屏幕右边的功能键选择数值。光谱分析仪屏幕右边显示的可供选择的键: 功能键 边膜 f1:2nd边膜可以是整个光谱中最显著的边膜 f2:left主纵膜左边的最显著边膜 f3:right主纵膜右边的最显著边膜 wEnvelope Envelope功能下的界面如图12所示,光谱

42、分析仪在Cut Level值及左、右点分别显示直线标记,Cut Level值可以通过Knob、数值键或功能键选择,这样可以更直观地分析光谱特性。 图12 Envelope界面 wRMS(f5)均方根谱宽 设置方法:Press F5鑀ress f5,然后从屏幕右边的功能键选择数值。光谱分析仪屏幕右边显示的可供选择的键: f1 f2 f3 f4 1 2 2.35 3 wSpetrum Power 光谱功率 Press F5鑀ress f6 ,显示光谱积分总功率。 w删除测试结果(Off功能键f7) Press F5鑀ress f7(Off),就会清除屏幕上显示的测试结果 。4.1.6 Trace Memory(F6) wMemory A(f1): 把测试波形保存入Memory A wMemory B (f2):把测试波形保存入Memory B wTrace A (f3):从Memory A中调出波形 wTrace B (f4): 从Memory B中调出波形 wTrace AB (f5):同时显示A、B wTrace A-B (f6):显示A-B的结果 wTrace B-A (f7): 显示B-A的结果4.1.7 Save/Recalling(F7)保存/调出保存结果 wSave保存 winsert 在光标所示位置插入字符 wDelect 删除字符 w 左移光标

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