2007双通道TOFD扫描导波B扫描智能超声检测系统

1、ISONIC 2007双通道 TOFD 扫描/ 导波（ CB ）/B 扫描智能超声检测系统 ISONIC 2007 电子部分 包括 : IInternal PC （P-MMX-S - 300 MHz, RAM-128M, Quazi-HDD闪存卡 2G, active TFT sVGA LCD 高亮光下可读触屏 , 连接仪器内部 : 2XUSB; Ethernet; PS/2; 键盘以及鼠标连接前置面板 ; sVGA 输出 ） 100 . 250 VAC AC/DC 转换器 SE 248000 - UDS 3-5 脉冲发射以及接收卡 X 2:结合“尖峰脉冲 选择能量” / “方波 可调宽度”

2、可调脉冲激励能量 ; 单 / 双探头操作模式 ; 阻尼 : 17 个不连续阻抗值 / 最小 25W 到最大 1000W;内部匹配线圈 探头阻抗匹配 : 16 个不连续电感值 / 最小 2 mH 到 最大 78 mH; 特殊探头保护线路作用于没有正确调节脉冲宽度时预防探头损坏增益: 0.120 dB范围内可调， 步进为 0.5 dB;高级低噪声设计 : 93mV点对点输入指的是 80 dB gain / 35 MHz 带 宽; 频率带为 : 0.35 35 MHz 带宽 / 34 子带宽建立附加编码器界面软件部分 包括 : ISONIC 2007 多功能软件包 （SWA 99C07200） Sc

3、an、 B Scan 检测以及连续线性扫查记录 全面设置以及扫查报告，通过任一类型的USB 或者 LAN 直接连接系统打印机；一、单通道仪器及软件部分 ;1、 A 扫：A 扫 （全波 / 负半波 / 正半波调整 ; 射频 ）；A- 扫颜色可选择目录； DAC, DGS, TCG ； 直探头以及斜探头的自动校验； 面板曲线 / 厚度 / 步进 - 斜探头检测更正 闸门信号的自动测量 - 波峰 / 波前沿 /顶点 / 第一个最高点 ;在扫界面里自动标记测量点； FFT （频率范围代表当前信号 ） - 缺陷评定的特点以及 / 模式识别 /探头特性； 双声速多回波测量模式；2、直探头对材料测厚 B 扫

4、描成像以及记录软件：厚度方向成象以及记录 （ 典型运用 : 腐蚀类壁厚深度记录 ）沿着探头轨迹，连续厚度测量值时基 （实时 ） 以及 实际位置 （ 基于附加编码器界面 ） 的数据记录模式 根据厚度曲线的完整次序的扫记录 厚度截面成象的脱机分析的特点如下 : 根据存储的图像对厚度截面的缺陷定量 - 剩余厚度 , 厚度减薄量 , 以及缺陷的长度 返回厚度截面成象记录的扫评定动态回波分析 根据不同的增益以及闸门的设置，重新形成厚度截面图象3、对于纵波以及横波探头检测，缺陷的扫切面成象以及记录软件： （典型运用 : 焊缝/母材，腐蚀 /夹层，脉冲回波深度 /长度记录 ） 根据扫缺陷成象的完整次序的扫记

5、录；扫缺陷成象的脱机分析的特点如下 :1、在图象的任意位置缺陷的定量 坐标以及反射体尺寸。2、返回扫截面成象记录的扫评定。3、动态回波分析。4、根据扫分析，对于缺陷成形以及分析。5、根据不同的增益以及抑制等级的设置，重新形成扫缺陷图象。6、DAC / DGS B 扫归一化。全面设置以及扫查报告，通过任一类型的USB或者 LAN直接连接系统打印机。4、对金属材料及焊缝进行时差衍射模式深度成像软件：TOFD 检测 RF 射频 B-Scan and D-Scan 成橡 （典型运用 : 焊缝检测 / 依据 TOFD 标准 ） 时基（实时）以及实际位置（基于附加编码器界面）的数据记录模式； 记录过程中均

6、化 A 扫信号作为每个操作者的选择；TOFD图象的脱机分析的特点如下 :1、通过移除侧向波 , 从而增强近表面分辨力。2、线性化或拉直 TOFD图象。3、通过设置不同的增益以及修改值增加TOFD图象的对比度。4、A 扫界面分析。5、缺陷模式分析以及定量。 全面设置以及扫查报告，通过任一类型的USB或者 LAN直接连接系统打印机。5、导波 CB 扫查软件：CB 扫描水平视图成像和剪切 /表面损伤的记录和导波探测记录 （典型应用： 长范围脉冲回波和环形盘 /管的 CHIME 探测， 压力腐蚀等的探测；焊接探测，表面波探测）平面横向 / 纵向及管道环向 /径向内外壁缺陷的成像记录 , 对于剪切波 ,

7、表面波 ,及导波检测 回波波幅的连续测量以及沿探头轨迹反射体的坐标时基（实时）以及实际位置（基于附加编码器界面）的数据记录模式 根据 CB扫缺陷成象的完整次序的 A 扫记录CB扫缺陷成象的脱机分析的特点如下 : 在图象的任意位置缺陷的定量 坐标以及反射体尺寸 返回 CB扫截面成象记录的扫评定动态回波分析 根据扫分析，对于缺陷成形以及分析 根据不同的增益以及抑制等级的设置，重新形成CB扫缺陷图象DAC / DGS CB 扫归一化二、 双通道 A-Scan、 B Scan扫检测以及连续线性扫查记录1、 A 扫A扫 （全波 / 负半波 / 正半波调整; 射频） A-扫颜色可选择目录DAC, DGS,

8、 TCG 直探头以及斜探头的自动校验 面板曲线 / 厚度 / 步进 - 斜探头检测更正 闸门信号的自动测量 - 波峰 / 波前沿 / 顶点 / 第一个最高点 ; 在扫界面里自动标记测量点FFT （ 频率范围代表当前信号 ） - 缺陷评定的特点以及 / 模式识别 / 探头特性 对于活动以及冻结界面，放大信号的评定，包括在冻结模式下增益的调整 双声速多回波测量模式2、双通道厚度截面成象以及记录时基（ 实时） 以及 实际位置 （ 基于附加编码器界面 ） 的数据记录模式 根据厚度曲线的完整次序的扫记录厚度截面成象的脱机分析的特点如下 : 根据存储的图像对厚度截面的缺陷定量 - 剩余厚度 , 厚度减薄量

9、 , 以及缺陷的长度 返回厚度截面成象记录的扫评定动态回波分析 根据不同的增益以及闸门的设置，重新形成厚度截面图象3、双通道 CB扫查缺陷的水平面成象以及记录 ,对于剪切波 ,表面波 ,以及导波检测 回波波幅的连续测量以及沿探头轨迹反射体的坐标 时基（实时）以及实际位置（基于附加编码器界面）的数据记录模式 根据 CB扫缺陷成象的完整次序的 A 扫记录CB扫缺陷成象的脱机分析的特点如下 : 在图象的任意位置缺陷的定量 坐标以及反射体尺寸 返回 CB扫截面成象记录的扫评定 动态回波分析根据扫分析，对于缺陷成形以及分析 根据不同的增益以及抑制等级的设置，重新形成 CB扫缺陷图象 DAC / DGS

10、CB 扫归一化4 、双通道 TOFD 检测 RF B-Scan and D-Scan 成象 时基（实时）以及实际位置（基于附加编码器界面）的数据记录模式 TOFD图象的脱机分析的特点如下 : 通过移除侧向波 , 从而增强近表面分辨力 线性化或拉直 TOFD图象 通过设置不同的增益以及修改值增加 TOFD图象的对比度 A 扫界面分析 缺陷模式分析以及定量电脑实时快速生成检测报告软件（分析检测数据、编制报告）仪器自带时间记录功能可选配导波滑轮步进定位编码记录器仪器自带时间记录功能可选配 B 扫描滑轮步进定位编码记录器仪器自带时间记录功能可选配 TOFD 滑轮步进定位编码记录器大范围的管壁检测所用的

11、特殊探头-环向曲面导波 , 厚度范围 4 - 12 mmS544006CUC-V大范围的管壁检测所用的特殊探头-环向曲面导波 , 厚度范围 6-16 mmS544007CUC-V大范围的管壁检测所用的特殊探头-环向曲面导波 , 厚度范围 16-30 mmS544008CUC-V大范围的管壁检测所用的特殊探头-纵向导波 , 厚度范围 4 - 12 mmS544006CU-V大范围的管壁检测所用的特殊探头-纵向导波 , 厚度范围 6-16 mmS544006CU-V大范围的管壁检测所用的特殊探头 -纵向导波 , 厚度范围 16-30mmS544006CU-V导波专用平面探头厚度范围 4-12mmS 544006导波专用平面探头厚度范围 6-16mmS 544007导波专用平面探头厚度范围 16-30mmS 544008TOFD 探头 /对 3MMTOFD 契块/对6MM（45、60