基于水果介电特性的无损伤成熟度检测仪的设计_图文(精)

1、Mt 千木果介电肖性第无H5伤处科It检謂仪的设计xt理!eVAV : W7W. “ MMMI审1*. */UMHMBMMIXAA4ter tfMtA*W ox VVAMf AIM4g4|AA4I *JOW a44tUMIM，UM0N*“2yx H JLMb4BB*itL X0*XBMYL -ew ii a.& MTH*. * tM HirW*.VAMra 9A4(iflBM4VrCIS4 f fit .y 、AM. iiMnAMarMAaVX 1 .H.AdHUlHf. 冲 ! 994 ， 、 MM WAf. MAtlfMaHAA* * MUBV. HA.wuiiv 卿 yK康外 A

2、lfDi. FT 疋 liMtMt/，9.c-K八咗二i.4 , 9 MKAfmra WR八gQ*zw漣 .emnw*VBM AH*CA .1 IPQ 幕gq % iH4HHhW*0 0gMMT*w 4 dty “ ” MVWM X MAKflll代.V”“，sx4tw*ae見円.QXWW 翘 鼠Mi n mi vrtM4*M aM 511 QS an,AAR*n Ah4csMVBbtK. RbMMU=*WU*.JW 气二s sranvi*tt CMtkaaftte“ MHL尸nMau i ：4EH sniaz。入*片鼻 a94M.“ EHrIInn “OMVKVtt*DMm刃 I iMtll

3、&M, !QQ 爼34。；e .！wU M M JB V. y RVithfeitW wmMai.”yQ ”製 lrtAA4人14二1Alli! | -4 IWl ill Mal.F !t L F fl iiI* -增刊宋文龙等：基于水果介电特性的无损伤成熟度检测仪的设计147 第四部分是通过测量三个成熟度不同的苹果在同一并画出曲线，如图 14所示。 1 红线、 2 粉线和 3 黄线分别为逐渐成熟的水果的阻 抗频率特性曲线，对应的频率分别为70K、30K、13K。4蓝色为未放入苹果时水的阻抗频率曲线。图中进一步说 明的曲线交点与水果的内部品质有关。3 4 57 89图 14 三个苹果的

4、阻抗频率图 Fig.14 Diagram of resista nee freque ncy of three apples10通过比较上面的四个图，发现放置水果的电极间阻抗在交点处有一明显的下降，两侧较为平缓，两曲线的交点可作 0 的代表。此交点反映0处水果阻抗特性和水 阻抗特性一致，且 0 只反映水果材质的特性一水果的特性 阻抗频率。水果的特性阻抗频率会由于驰豫时间的不同而发生偏移的现象，得出的四次水果的特性阻抗频 率不一致，这也正说明该水果的成熟程度不同，因此 可以通过该特性阻抗频率的位置来判断该水果的成熟情况，越往左移的成熟情况越好，越往右移的越不成熟。11 12 13 14 5 结语

5、15通过以上的原理分析 和试验表i i T - - .= ? i年石IR曲im审 AMWH W. * 电Iflu .山 B I 1| fit榔释況 T血曲*!0寸什|事事 ；世.TP. Ai f4 # hii-1 n ii wIJ i iirqi i.|14 lUhtt 1H t M 9hM3r .) )uL-& auTu -枫 ita 召V4 Id-MMWpiMW-JHKrWMV tiHRMiWB!BV a jEi.nppVg*t# ：養 和I-.画LJM即刊】v vriPit.!i H!町. 冲Alli! | -4 IWl ill Mal.F !t L F fl iiI* -明，利

6、用水果的阻抗 频率特性来衡量水果的成熟情况是可行的，并且在 适当频率的交变电场作用下，水果的阻抗特性参数随频率按一定规律变化，并且该装置具有检测速度快、结构简单、可靠性高等优点。验证了成熟度检测装置能方便准确地 检测出水果的成熟度，为水果的分级、保鲜及存储提供了有价值的数据。水果的外形尺寸和生理变化的复杂性使得确定水果成熟度受到很大限制，温度、湿度等气候 条件和极板直径的大小对试验结果有一定的影响，硬件电路、软件和机械分选系统等还需要不断完善，使之推广到其他农作物成熟度的动态分析 和检测，最终为农业 自动化分级保鲜良好的技术保证。1参考文献Kato K.Non destructive meas

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16、ic property of fruit Song Wenlong, Jia ng Yon gtao(College of Mecha ni cal andElectro nic Engin eeri ng, Northeast Forestry Uni versity, Harbi n 150040, Chi na Abstract:According to the insufficiency of traditional destructive inspection in fruit ripe process, basedon the theory of dielectrical prop

17、erty, the equivale nt model of the fruit macroscopical impedanee property was established, the relati on ships betwee n fruit impeda nce-freque ncyproperty and fruit ripe ness was elicited the non destructive in specti on device of fruit ripeness was developed. The paper in troduced the compositi on

18、 of non destructive in specti ondevice, the prin ciple of hardware circuit, the software flow and the an alyzed experime ntaldata. Experime ntal results show that un der the function of alter nati ng electric field forproper freque ncy, the parameters of fruit impeda nee property varied with freque ncy,