WI-MOP09-01SPC作业指导书

1、wi-mop09-01spc作业指导书 完善介绍spc的制作及管制图的判定,难得的学习教材及培训资料。 上海市嘉定区安亭大众工业园区 上海楹裕电子有限公司 文件名称 文件编号 制作单位1.目的： tel: 86fax: 86web: / spc 作业指导书 wi-mop09-01 品管部 版本/版次 页 次 b 版/1 次 第 1 页 共 10 页 2021-11-5 发行日期 通过对 x -r、i-mr、p、np、过程力量等作描述，以便本公司实际操作。 2.范围： 使用于楹裕公司统计过程管制。 3.作业时必备条件： 无 4.作业要领：

2、4.1 术语 4.1.1.spc:统计过程管制 4.1.2.cpk:长期(稳定)过程力量指数 4.1.3.ppk:短期过程力量指数 4.1.4.cmk:设备力量指数 4.1.5. x -r chart:均值极差管制图 4.1.6.i-mr chart:单值和移动极差管制图 4.1.7. p chart:不良率管制图 4.1.8.np chart:不良数管制图 4.2.内容： 4.2.1.偶然缘由、特别缘由 偶然缘由指的是造成随着时间的推移具有稳定的且可重复的分布过程中的很多变异的缘由，有 时被称为一般缘由。在 管制图分析中，它表现为随机过程变异的一部分。 特别缘由：一种间断性的，不行估计的，不

3、稳定的变异来源。有时被称为可查明缘由，存 在它的信号是：存在超过管制线的点或存在管制线之内的链或其他非随机性的情形。 4.3.均值极差图 4.3.1. 确定品质特性 完善介绍spc的制作及管制图的判定,难得的学习教材及培训资料。 上海市嘉定区安亭大众工业园区 上海楹裕电子有限公司 文件名称 文件编号 制作单位 tel: 86fax: 86web: / spc 作业指导书 wi-mop09-01 品管部 版本/版次 页 次 b 版/1 次 第 2 页 共 10 页 2021-11-5 发行日期 顾客需要和关注的品质特性； 对产品质量有重大影

4、响的关键因子 常常消失问题的品质特性 便于度量的品质特性 4.3.2 管制图选择 确定品质特性后，依据品质特性的数据类型及抽样方案确定管制图的类型。 4.3.3.收集资料 (1) 选择子组大小频率和数据 a. 子组大小 合理子组 一个子组内的变差代表很短时间内的零件的变差。 特别相像的生产条件下生产出来的,相互间不存在其他的系统的关系。 每个子组内的变差主要应是偶然缘由造成。 实际作业时采纳连续取样 完善介绍spc的制作及管制图的判定,难得的学习教材及培训资料。 上海市嘉定区安亭大众工业园区 上海楹裕电子有限公司 文件名称 文件编号 制作单位b. 子组频率 在适当的时间收集足够的子组来反映过程

5、中的变化。 tel: 86fax: 86web: / spc 作业指导书 wi-mop09-01 品管部 版本/版次 页 次 b 版/1 次 第 3 页 共 10 页 2021-11-5 发行日期 过程的初期讨论，很短的时间间隔进行分组，以便发觉短时间的不稳定因子。 当证明过程已处于稳定状态下(或已对过程进行改善),子组间的时间间隔可以 增加。 c. 子组数的大小 子组数越多，可确保变差的主要缘由有机会消失。 一般状况为了产品检测的时效性， 故抽样较少， 对 x-r chart 通常取 25 个子组， 每个子组取 25 个。 4.3.4

6、管制图制作 计算平均值 计算管制界限 在管制图上作出平均值和极差管制 4.3.5.管制图解释 1.管制图上的点子如属正常，其点子的动态是： 多数(2/3)的点子集中在中心线四周； 少数(1/3)的点子落在管制界限四周； 点子之分布呈随机状态，无任何规律可循； 没有点子超出管制界限外。 完善介绍spc的制作及管制图的判定,难得的学习教材及培训资料。 上海市嘉定区安亭大众工业园区 上海楹裕电子有限公司 文件名称 文件编号 制作单位2.管制图特别状态解析 第一类：点出界就判异； 其次类：界内点排列不随机判异。 tel: 86fax: 86web

7、: / spc 作业指导书 wi-mop09-01 品管部 版本/版次 页 次 b 版/1 次 第 4 页 共 10 页 2021-11-5 发行日期 国标 gb/t 40912021常规管制图中规定了的 8 种判异准则： 1.有一个点超出管制线 2.连续消失9个点消失在中心线的单侧 3.连续6点上升或下降 4.连续14个点上下一次轮番消失 5.连续三点中有两点消失在zone b之外(同侧) 6.连续五点中有四个点消失在zone c之外(同侧) 7.连续15点消失在zone c内 8. 连续8点消失在zone c之外 完善介绍spc的制作及管制图的判定,难得的学习教材及培训资料。 上海市嘉定区

8、安亭大众工业园区 上海楹裕电子有限公司 文件名称 文件编号 制作单位 spc 作业指导书 wi-mop09-01 品管部 版本/版次 页 次 tel: 86fax: 86web: / b 版/1 次 第 5 页 共 10 页 2021-11-5 发行日期 4.3.6 点子出界或违反其他准则的处理 若点子出界或界内非随机，需按“20 字方针”去做，即查出异因、实行措施、加以消退、不再出 现、纳入标准。 4.3.7 管制图的重新制定 管制图是稳定状态下的条件(5m1e)来制定的。假如上述条件变化，例如操作人员更换或通过学 习操作水平显著提高，

9、设备更新，采纳新型原材料或更换其他原材料，转变工艺参数或采纳新工艺 等，这是管制图必需重新制定。 4.3.8 管制图保管问题 管制图的计算以及日常的记录应作为技术资料加以妥当保管。对于点子出界或界内点排列非随机的 特别状况以及当时的处理记录状况都应予以记录，由于这些都是以后消失特别时查找缘由的重要参 考资料。 4.4 平均数极差管制图( x-r chart) 4.4.1 数据收集及初步分析 (1) 一般状况为了产品检测的时效性，故抽样较少，即取 25 个子组，每个子组取 25 个。 (2) 建立管制图及记录原始数据，记录日期/时间读数和 x r。 (3)计算每个子组的均值( x )和极差(r)

10、 x x 2 x n x = 1 r= x m ax x m in n (4) 选择管制图的宽度 a. x 图上，坐标上之 max-min 为 x (max-min)之两倍。 b. r 图上，坐标上之最大刻度值为 r m ax 之两倍。 (5)将均值和极差画到管制图上 4.4.2.计算管制限 (1)计算平均极差( r )及过程平均值 x 完善介绍spc的制作及管制图的判定,难得的学习教材及培训资料。 上海市嘉定区安亭大众工业园区 上海楹裕电子有限公司 文件名称 文件编号 制作单位r 1 r 2 r k k (2)计算管制限 ucl r d 4r r tel: 86f

11、ax: 86web: / spc 作业指导书 wi-mop09-01 品管部x x 1 x 2 x k k 版本/版次 页 次 b 版/1 次 第 6 页 共 10 页 2021-11-5 发行日期k 为子组的数量 ucl x x a 2r lcl x x a 2r lcl r d 3rn d4 d3 a2 2 3.27 0 1.88 3 2.57 0 1.02 4 2.28 0 0.73 5 2.11 0 0.58 6 2.00 0 0.48 7 1.92 0.08 0.42 8 1.86 0.14 0.37 9 1.82 0.18 0.34 10 1.78 0.

12、22 0.31 (3)在管制图上作出平均值和极差管制限的管制线。 4.5.单值和移动极差图(i-mr) 4.5.1.在下列数种状况下,使用个别值与移动全距管制图 (i-mr chart) (1)分析或测试一件产品之质量特性，手续较为麻烦，需花费许多时间，而有误工作时效者。 (2)所选取之样本，系属于一种极为匀称全都之产品，如像液体或气体，几个测定值没有意义， 只要一点就可以时。 (3)有些产品需要经过一段很长之时间,才能制造完成,如此才获得一个测定值。 (4)产品系特别珍贵之物品，测试一个样本即损失许多金钱者。 (5)破坏性之试验，每检验一个产品，即损失一个。 (6)管制制造条件如：温度压力湿

13、度等。 单值管制图，要留意下面四点: 单值管制在检查过程变化时不如 x bar-r 图敏感； 假如过程的分布不是对称的，则在解释单值管制图时要特别当心； 单值管制图不能区分过程的零件间重复性,因此,在许多状况下，最好还是使用常规的子组样本容量 较小(2 到 4)的 x r 管制图，尽管在子组间都要求较长的时间； 完善介绍spc的制作及管制图的判定,难得的学习教材及培训资料。 上海市嘉定区安亭大众工业园区 上海楹裕电子有限公司 文件名称 文件编号 制作单位 spc 作业指导书 wi-mop09-01 品管部 版本/版次 页 次 tel: 86fax: 86-021-3

14、9578106 web: / b 版/1 次 第 7 页 共 10 页 2021-11-5 发行日期 由于每一子组仅有一个单值， x 和 值会有较大的变异性(即使过程是稳定的)直到子组数达到 100 以上为止。在本公司取 25 组，但计算长期的过程力量可以子组达到 100 个数据再计算 过程力量。 (若生产量较少，不足于取 100 个子组就取 25 个子组) 。 4.5.2.收集资料 在数据图上从左至右记录单值读数(x)。 单值图(x 图)的刻度可为最大单值读数与最小单值读数之差 的 1.5 到 2 倍。 移动极差(mr)图的刻度间隔应与 x 图全都。 4.5.3.计算管制限 管制界限之计算:

15、 x xk x 1 x 2 x 3 x k k r m 每组之最大值-每组之最小值 r m , rm:移动极差. rm k n 1k:样本组数. n:一次取用的测定值个数. x 管制图: clx x(其中 e2=2.659) r 管制图： ucl x x e 2r m lcl x x e 2r m clr r4.6 p 管制图 ucl r d4 r lcl r d 3r (其中 d4=3.27 d3=0)若制程不良率未知 ， 则 p 值需从观测数据中估量。一般的作法是初步选取 k 组样本容量为 n 的样本， 完善介绍spc的制作及管制图的判定,难得的学习教材及培训资料。 上海市嘉定区安亭大众工

16、业园区 上海楹裕电子有限公司 文件名称 文件编号 制作单位 spc 作业指导书 wi-mop09-01 品管部 版本/版次 页 次 tel: 86fax: 86web: / b 版/1 次 第 8 页 共 10 页 2021-11-5di i=1, 2, k ni 发行日期 通常 k 为 2025,假设第一组样本含有 di 个不合格品，则不良率为： pi 其中 k 是子组个数，ni 是第 i 个子组大小 全体样本之平均不良率为： p p 管制图：ucl p 3 ( p 1 - p) ni d n i i cl p ucl p -3 ( p

17、 1 - p) ni 注：样本大小可相等可不相等。 关于 ni 的两点说明： a. 若每个子组大小 ni 都相等，都记为 n,若 p 很小，则要选择样本量充分大，使得每个子组平均 有一个不合格品，通常取 1 5 n 。 p p b. 若 ni 不全相等，则 p 管制图的 ucl 和 lcl 是凹凸状；假如 ni 变化不大，则实行单一的等于平 均子组大小的一组管制限，实际上，当 ni 变化在其目标值 25%之内，可采纳该方法。 4.7 np 管制图 一般的作法是初步选取 k 组样本容量为 n 的样本，通常 k 为 2025, 则全体样本平均不良个数： 为np。 np 管制图： uclnp n p

18、+3 n p (1- p) clnp n p lclnp n p-3 n p (1- p) 完善介绍spc的制作及管制图的判定,难得的学习教材及培训资料。 上海市嘉定区安亭大众工业园区 上海楹裕电子有限公司 文件名称 文件编号 制作单位注：样本大小肯定要相等。 tel: 86fax: 86web: / spc 作业指导书 wi-mop09-01 品管部 版本/版次 页 次 b 版/1 次 第 9 页 共 10 页 2021-11-5 发行日期 4.8.过度调整：过度调整是把每一个偏离目标当作过程中特别缘由处理的做法。假如依据每一次所 作的

19、测量来调整一个稳定的过程，则调整就成了另外一个变异源。 4.8.过程力量解析 (1)进行过程力量分析,须满意以下条件下方可: 收集数据的制程处于稳定状态； 制程输出特性的单个测量值近似听从正态分布； 充分了解顾客对制程输出特性的要求(规格限); 抽取的样本应尽可能仅受随机因素的影响(随机抽样) (2)过程固有变异(一般变异)仅由一般 缘由产生的部分过程变异。如 r s 或 d2 c 4 过程总变异一般变异+特别变异 ( x i x )2 s s n 1 i 1n (3)cpk=min( x lsl u sl x , 3 r d 3 r d2 2 )为稳定过程的力量指数; ppk=min( (4)cp= x lsl u