硬件测试笔试题V附答案汇编

1、学习-好资料硬件测试工程师笔试题（本试卷满分100分，请将答案写在答题卡上与试卷一并上交）姓名：日期：分数：判断题：本题共10小题，每题2分，共20分1. 发现错误多的模块，残留在模块中的错误也多。（）2. 测试人员在测试过程中发现一处问题，如果问题影响不大，而自己又可以修改，应立即将此问题正确修改，以加快、提高开发的进程。（）3. 功能测试是系统测试的主要内容，检查系统的功能、性能是否与需求规格说 明相同。（）4. 编写测试计划的目的是：使测试工作顺利进行，使项目参与人员沟通更舒畅 使测试工作更加系统化。（）5. 硬件测试目的是杜绝产品硬件上无任何问题。（）6. 验收测试是由最终用户来实施的

2、。（）7. 钽电容最适合用来滤除高频噪音。（）8. 负载测试是验证要检验的系统的能力最高能达到什么程度。（）9. 无线电监测中，常用一些单位有 dBuv、dBm等，dBm是功率单位。（）10.10W功率可由40dBm表示。（）二. 选择题（不定向选择）：本题共10小题，每题4分，共40分。1. 常见的信号完整性问题有：（）A, 过冲B,反射C,震荡D,环绕2. 下列属于产品可靠性指标的是：（）A, 失效率B,平均寿命C,直通率D,可靠度E,维修度3. SRAM中文名称是：（）A,动态随机存储器B,动态C,静态D,静态随机存储器4. 以下几种可以做为硬件测试标准的输入：（）A,用户需求B,国标C

3、,产品规格D,硬件测试工程师经验5. 稳压管通常工作于（），来稳定直流输出电压A,截止区B,正向导通区C,反向击穿区6. 已知如图所示放大电路中的 RB=100kQ, RC=1.5kQ, Vcc=12V ,晶体管的B=80， UBE=0.6V。则可以判定，该晶体管处于（）A,放大状态B,饱和状态C,截止状态7. 场效应管是一种（）控制型的电子器件A,电流B,光C,电压D,功率8. 数字示波器双踪显示时，触发源选择短周期信号、或是幅度稍小的信号。（）A,对B,错9. 半导体三极管的放大条件是（）。A. 发射结正偏，集电结反偏B. 发射结正偏，集电结正偏C. 发射结反偏，集电结正偏D. 发射结反偏

4、，集电结反偏10. 手机适配器选购时主要考虑的因素有（ ）A. 输入电压B. 输出电压C. 接口外形D. 输出电流E. 外形三. 简答题：本题共6小题，每题5分，共30分。1. 请你描述什么是硬件测试，测试目的，项目开发过程中硬件测试流程？2. 请列举出你使用过的测试仪器，并简单表述各测试设备作用。3. 请描述负反馈种类及其优点。4. 基尔霍夫定理的内容是什么？5. 晶体管基本放大电路有共射、共集、共基三种接法，请简述这三种基本放大 电路的特点。6. IC设计中同步复位与异步复位的区别。四. 附加题：本题10分画出CMO电路的晶体管级电路图，实现 Y=A*B+C（D+E）（提示：首先将表达式全

5、部用与非门和非门表示，然后将用CMOS电路实现的非门和与非门代入即可。）硬件测试工程师笔试题答案五.判断题：本题共10小题，每题2分，共20分。11. V12. X13. V14. V15. X16. X17. X18. X19. V20. V六. 选择题（不定向选择）：本题共10小题，每题4分，共40分。11. ABCD12. ABDE13. D14. ABC15. C16. B17. C18. B19. A20.20. ABCD七.七. 简答题：本题共6小题，每题5分，共30分7.7. 略8. 略9. 电压并联反馈，电流串联反馈，电压串联反馈和电流并联反馈降低放大器的增益灵敏度，改变输入电

6、阻和输出电阻，改善放大器的线性和 非线性失真，有效地扩展，放大器的通频带，自动调节作用11.12. 基尔霍夫定律包括电流定律和电压定律。电流定律：在集总电路中，任何时刻，对任一节点，所有流出节点的支路电 流代数和恒等于零。电压定律：在集总电路中，任何时刻，沿任一回路，所有支路电压的代数和 恒等于零13. 共射：共射放大电路具有放大电流和电压的作用，输入电阻大小居中，输出 电阻较大，频带较窄，适用于一般放大。共集：共集放大电路只有电流放大作用，输入电阻高，输出电阻低，具有电 压跟随的特点，常做多级放大电路的输入级和输出级。共基：共基电路只有电压放大作用，输入电阻小，输出电阻和电压放大倍数 与共射电路相当，高频特性好，适用于宽频带放大电路。14.14. 同步复位在时钟沿采集复位信号，完成复位动作。异步复位不管时钟，只要 复位信号满足条件，就完成复位动作。异步复位对复位信