使JTAG边界扫描与功能测试相结合

1、使jtag边界扫描与功能测试相结合集合功能与边界扫描测试于一个系统带来大量的和重要的益处。两个办法互相补充，在于弥补每个技术可能的缺陷，以带来更高的牢靠性与有效性。两个一起用法可能制造其它方式不行能取得的、良好的测试条件。例如，通过用于功能测试的探针的激发，可能生成能被边界扫描链所验证的模式，然后可以激活电路中可以被功能测试所验证的部分。集成办法的有效性意味着您不仅可以从一个设备中运行两种测试类型，还意味着这些测试为板卡的设计与生产提供了更大的掌握。这些好处可以从一个测试挺直与相连的的容易例子中看到。用法边界扫描可以恰当地驱动fpga的i/o来为dac的模拟输出编程，从而可以通过功能测试被捕捉

2、板测量到。另一方面，假如我们考虑一个与fpga挺直相交互的，在功能测试中可以用法一个生成卡来激活前者，然后用法边界扫描来检测被adc读数所编译的位元。以上的集成办法允许工程师们达到：被测设备（模拟与数字）上和全部网的全部电路所有或者临近所有的笼罩率更短的测试时光-除了边界扫描与功能测试序列被并行执行的事实，考虑在测试台上装载与卸载被测试设备的时光也是必需。很显然它在用法两个工作台的时候是双倍的高性能在线烧录更快，更精确的故障诊断目前有可用的强大的工具来允许您拥有交互的硬件以及执行测试序列的开发环境，以用于集成测试系统的开发。只要容易地把 jtag模块装进pxi架里，它就能允许与边界扫描链的交互

3、。它可以和适用于详细应用的功能测试的几个硬件装备在一起。尽管边界扫描测试序列的开发应当用专业的工具（一个jtag开发环境）来举行，生成的序列不仅可以与为功能测试所开发的序列相关联，您还可以共同管理序列中提供两类测试交互的部分。这样，一旦功能和边界扫描序列开发完成，并且集成一起，操作员接口将会被独专门定制。通过挑选一个可以允许不同类型硬件简单的结合模块测试系统，包括第三方所开发的，您就有一个可以轻松升级与配置的、集胜利能和边界扫描测试的单一工作台，不仅可以提供测试的牢靠性，而且削减他们的成本与时光。什么是边界扫描？硅设计方面的长进，例如增强器件密度和最近的bga封装，使传统测试办法的功效大打折扣

4、。为了克服这些问题，一些世界率先的硅生产商联合起来成立了联合测试小组。这个小组的讨论发觉和建议被用来作为ieee 1149.1标准，即标准测试拜访端口和边界扫描结构的基础。这个标准保留了和这个小组的联系并且以缩写jtag被大家所俗知。jtag边界扫描是一项被设计用来克服通常与复杂的、高密度的板相关联之类的测试拜访问题的测试技术。通过激发位于例如fpga与部件上的边界扫描单元，工程师们可以用一个jtag控制器对电路举行数码地测试，并且用法强大的软件套装来精确地找到故障的位置与缘由。由于不再需要测试点，与itc和功能测试相关的物理拜访问题不再是一个问题。测试系统与边界扫描单元只通过一个4-5线测试相连。这必需在板卡设计中被考虑进来以确保可测性。许多率先的jtag边界扫描系统销售商提供可测性设计指南来鼓舞设计工程师们去这样做。它是如何工作的？全部器件核心规律与针脚间的信号都被一个称为边界扫描寄存器（boundary scan register - bsr）的串联扫描路径所截获。在正常工作模式下，边界扫描单元是隐形的