操作规范(HZ4832晶体管测试仪)

1、APOKIN 禹动电源方麴决商深圳市博劲恒科技有限公司文件编码BJH-一阶二阶三阶晶体管测试仪操作指引版本版次B页码页次P8-2保密重要传阅制定部门品质部制定日期2013-9-3一、目的为使晶体管检测仪有一定的操作方法，标准与步骤依循。二、范围适用于:HZ4832o三、注意事项1在测量三极管的输出特性时，阶梯电流就不能太小，否则，不能显示出三极管的输出特性。阶梯电流更不能过大，这样容易损坏管子，应根据实际测量三极管的参数來确定其大小。2“集电极功耗电阻”的选用当测量晶体管的正向特性时，选用低阻档；当测星反向特性时，选用高阻档。集电极功耗电阻过小时，集电极电流就过大：若集电极功耗电阻过大，就达不

2、到应该有的功耗。3仪器工作电压超过36V,注意用电安全。4. 在使用过程中一定要先确定待测元件的特性参数，以免损坏元件和实验仪器。5. 在显示调节聚焦和辉度时以屏幕显示适中为佳，过焦过亮会缩短示波管寿命。6. 元件测试过程中切勿用手接触裸露带电部位.以免造成数据失真和人身安全柿7. 元件测试参照测试实例调节相应参数。1 仪器使用前准备工作1.1确认输入电源电床并可靠接通仪器，确认仪器电源开关未被拉岀，确认测试台和转换座可靠连接在实验仪上。1.2开机预热2-3分钟，调整显示屏聚焦和辉度，以显示适中为佳。1. 3对应测试元件选择合适的转换座接入测试台。2 使用仪器测试2.1按元件极性接入相应的测试

3、台或转换座，调整仪器，以特性曲线正确显示在屏幕中央为准。2. 2记录曲线参数并绘制元件特性曲线（注意曲线单位）。AFOKIN 移动關方瓢麵深圳市博劲恒科技有限公司文件编码BJH-一阶二阶三阶晶体管测试仪操作指引版本版次B页码页次P8-3保密重要传阅制定部门品质部制定日期2013-9-33.测试工作结束3. 1仪器面板上所有开关置OFF位，关掉仪器电源开关。3. 2取下被测元件，整理实验仪器和实验平台。3. 3分析实验数据和特性曲线，填写测试报告。4.仪器重要参数（详细参数见仪器说明书）集电极扫描信号输出电压范鬧及电流容量05V/10A；010V/5A ；050V/1A ； 0100V/0. 5

4、A；0500V/0. 1A基极阶梯信号阶梯电流：0. 2 u A/级100mA/级，分18档阶梯电压:0. IV级2V/级，分5档X轴偏转系数集电极电压：0. 05V/div50V/div,分0档基极电压：0. 05V/divlV/div,分 5 档Y轴偏转系数集电极电流：10 UA/divlA/div,分16档二极管电流：0. 2 u A/div5 P A/div,分吕档偏转倍率X10一般性能适应电源：AC220V ±10%50Hz±4%视在功率：约50VA （非测试 状态）约80VA （最大功率）二族显示二簇曲线左右分列显示并可左右位移深圳市博劲恒科技有限公司文件编码B

5、JH-一阶二阶三阶晶体管测试仪操作指引版本版次B页码页次P8-4保密觅要传阅制定部门品质部制定R期2013-9-3五、晶体管图示仪按键说明聚焦和辅助聚焦相互配合调节，使图象清晰辉度调节器改变示波管栅阴极之间的电丿玉，改变发射电子的多少来控制辉度，适中 即可。Y轴选 择开关电流/度开 关集电极电流Ic： 10 P A/div'lA/div共16档二极管漏电流 IR： 0. 2 u A/div'5 u A/div 共 5 档电流/度开 关拉出 X10倍开 关配合上面开关，通过放大增益扩展10倍，以达到改变电流偏转的倍率作 用位移电位器通过分差平衡直流放大器的前级发大管中射极百流电路

6、的改变，以达到 被测信号或集电极扫描线在Y轴方向移动显水部 分转换通过开关变换使放大器分差输入端二线相互对换，达到图象在(I、II 象限)相互转换，便于NPN管转测PNP时简化测试操作。丄放大器输入接地，表示输入为零的基准点。校准稳压后分压，分别接如X、Y放大器，以达到10度校正目的。集电极 电源峰值电压范 围开关通过集电极变圧器50T2的不同输出电圧的选择而分出四档 0、10V(5A)、O、5OV(1A)、0'100V(0. 5A)和0、500V(0. 1A)。由低 档改换高档时，必须先将峰值电压50T1调到0值，换档后再按盂要的电 压逐渐增加，否则容易击穿被测晶体管。AC档的设置是

7、专为二极管或其 它测试，需要的双向扫描，可以方便的同时显示器件正反方向的特性曲 线极性开关极性开关可以转换正、负集电极电压极性，在NPN型与PNP型半导体管 的测试时，极性可以按而板指示的极性选择。峰值电压峰值电压控制旋钮可以在010V、0、50V、0、100V或0、500V之间连续可 变，而板上的标称值是做近似值使用，精确的读数应由X轴偏转灵敏度 读测功耗限制电 阻它是串联在被测管的集电极电路上限制超过功耗，亦可作被测半导体管 集电极负载的电阻。通过图示仪的特性曲线簇的斜率，可选择合适的负 载电阻值。电容平衡电 位器为了尽量减少电容性电流，测试前应调节电容平衡，使容性电流减至最 小状态。辅助

8、电容平衡电位器针对集电极变压器50T2次级绕组对电容的不对称，后再次进行电容半 衡。AFOKIN 移动戦朝游深圳市博劲恒科技有限公司文件编码BJH-一阶二阶三阶晶体管测试仪操作指引版本版次B页码页次P8-5保密重要传阅制定部门品质部制定日期2013-9-3阶梯信号极型开关取决与半导体管的特性级/簇电位器级/簇控制用来调节阶梯信号的级数在00的范围内，连续可调。调零电位器未测试前，应首先调整阶梯信号起始级，零电位的位置。当荧光器上己 观察到基极阶梯信号后70S1置与零电压，观察光点停留在荧光屏的位 置，复位后调节“阶梯调零”控制器使阶梯信号的起始级光点仍在该处， 这样阶梯信号的零点位即被准确校正

9、了。阶梯选择开关 电压-电流/级开关基极电流0. 2 u A/级0. 1A/级共18档，通过改变开关的不同档级的电阻 值使基极所在档内的电流通过被测半导体。基极电压源0. IV/级、2V/级共5档重复、关开关重复：使阶梯信号重复出现，做正常测试：关：阶梯信号处于待触发状 态。单簇按开关单簇的按动使预先调整好的电圧（电流）/级，出现一次阶梯信号后回 到等待触发位置，可以利用它的瞬间作用的特性來观察被测管的乞种极 限特性。串联电阻开关当阶梯选择开关置于“电床/级”的位置时，串联电阻将被串联在被测管的输入电路中。极性极性的选择取决于被测晶体管的特性。测试选择开关测试选择开关可以在测试时选择左右两个被

10、测管的特性，当置于二簇时，即开通电子 开关自动地交替显示左右二簇特性曲线。一 簇特性曲线比较时勿用单簇 按。零点压被测管未测之前，应首先调整阶梯信号的起始级在零电位的位置。当屏 幕上己经观察到基极阶梯信号后，再按下“零电位”观察光点停留在荧 光屏上的位置，复位后调节“阶梯调零”控制器，使阶梯信号的起始级 光点仍在该处，这样阶梯信号的零电压即被准确地校准。零点流使被测半导体管的基极处于开路状态，即能测量ICO特性。AFOKIN 移动电源方鵜决商深圳市博劲恒科技有限公司文件编码B.TH-一阶二阶三阶晶体管测试仪操作指引版本版次B页码页次P8-6保密重要传阅制定部门品质部制定口期2013-9-3测试

11、实例说明NPN型3DK2半导体管特性曲线。XPN熨3DK2半导体管hFE测试曲线。N沟道耗尽型半导体管3DJ7的特性曲线。硅整流二极管2CZ82C的特性曲线。稳斥二极管2CW19特性曲线。整流二极管2DP5C反向漏电流测试。NPN型3DG8半导体管二簇特性曲线比较。6.便用芯创6. 1 ZPZ 刊 3OK2 半导彳聿百f内特性IHJ线兄禺1S o 1 ov * 正C + > 2SOur 1V/XT I ImV/JJCs 览宼.疋C + » NQu A /绒1OV $ JEX +X W規电扱也压：Y羽打 集电极电流二 I介禅佶号t 恨性X阶悌迪择：G. 2 Z0Z 型 SDK 2

12、 峰値电= 助举t限制电阴L二X铀 幕擁电流= Y勻自 築电檄晅说21mAi皱車，阶悴透痒二2 Ou人/级AFOKIN 移动电源方魏决商深圳市博劲恒科技有限公司文件编码BJH-一阶二阶三阶晶体管测试仪操作指引版本版次B页码页次P8-7保密重要传阅制定部门品质部制定口期2013-9-3O G1& 3Z沏崔尽型管3DJ?的特性1111线亠也图17. 01 Ov ； 正 + " 1KQ；】”/度；0. 5mAV 度 <气怕电匝范悶： 嘏性三功耗:闹制电阻票X 5«1樂电IS电圧' Y轴集屯绘屯流! 附梯倍号二 极性：析样迭择二6, l硅整曲二礙借2CZM2C的特性曲线，见图18.绦值电压范ttsh0lQVf械也正(+ ”功耗限制电阻】25(X2$AFOKIN 移动电源方勰决商深圳市博劲恒科技有限公司文件编码BJH-一阶二阶三阶晶体管测试仪操作指引版本版次B页码页次P8-8保密重要传阅制定部门品质部制定口期2013-9-301 vv度匸 lC&