光缆测试报告

1、MLC 项目通信传输系统光缆测试报告北京建谊建筑工程有限公司2010 年 7 月 21 日一、光缆测试说明1、通信系统说明MLC目配套工程包括通信传输系统，由 MLCETCC!信机房、小营/西直门 MLCM 房分别新设一套传输设备， 三套传输设备通过光缆组成 4 芯复用段保护环网， 通过 TCm 有配线架与各线 OC3TCCS 置的传输设备业务层互联。MLC设的传输设备通过 TCC 既有 ODFtMLO 房新设ODF!过光缆连接，实现各线 LC 业务接入 MLC2、光纤使用说明1）西直门 8 层 MLCM 房（灾备中心）至京投大厦西辅楼一层 MLCM 房（生产中心），占用南环 4 芯光纤；2）

2、西直门 8 层 MLCM 房（灾备中心）至京投大厦东辅楼三层 TCCM房MLC!信设备，占用北环 4 芯光纤；3）京投大厦西辅楼一层 MLCM 房（生产中心）至京投大厦东辅楼三层 TCCM 房 MLC 通信设备，新敷设 1 根 24 芯光纤；4）西直门 8 层 MLCM 房（灾备中心 9 至西直门 7 层通信机房（南环、北环均在此处上光纤配线架），新敷设 1 根 24 芯光纤；5）京投大厦西辅楼一层 MLCM 房（生产中心）至京投大厦西辅楼 B1 层通信配线问（南环在此处上光纤配线架），新敷设 1 根 24 芯光纤；6）京投大厦西辅楼一层 MLCM 房（生产中心）至京投大厦西辅楼 7 层配线间

3、，新敷设 2根 4 芯多模光缆。（此处的 2 根 4 芯多模光缆不属于通信传输系统，是连接服务器与工作站交换机之间的多模光缆）；此次测试针对以上 6 部分进行。3、测试仪器采用信维牌 OTDR（光时域反射仪），具体型号为 S20o4、相关图纸ML 颂目通信系统光纤传输路由图二、光缆测试内容光缆测试包括以下内容：光缆熔接损耗（MLC目中的光缆熔接点）；3 处 MLC信设备之间光纤传输链路的光衰减；具体说明如下：光缆熔接损耗：西直门本项目敷设的 1 根 24 芯光缆；京投大厦本项目敷设的 2 根 24芯光缆；京投大厦本项目敷设的 2 根 4 芯多模光缆；3 处 MLC信设备之间光纤传输链路的光衰减

4、： 西直门 8 层 MLCffi 信设备与京投大厦西辅楼一层 MLC!信设备之间的链品&衰减；西直门 8 层 MLC!信设备与京投大厦东辅楼三层 TCCt/l房 MLC信设备之间的链路衰减；京投大厦西辅楼一层 MLC!信设备与京投大厦东辅楼三层 TCCW 房 MLC!信设备之间的链路衰减；三、测试目的序号测试内容测试目的合格标准备注1 1光缆熔接损耗检查光纤熔接质量每个熔接点损耗光纤熔接规范2 2西直门8 8层MLC!MLC!信设备与京投大厦四辅楼一层 MLCMLC 通信设备之间的链路衰减检查光纤链路质里25dB25dB通信设备对光衰减的要求3 3西直门 8 8 层 MLC!MLC!信

5、设备与京投大厦东辅楼三层 TCCTCC 机房MLC!MLC!信设备之间的链路衰减检查光纤链路质里25dB25dB通信设备对光衰减的要求4 4东投大厦四辅楼一层 MLCMLC 通信设备与京投大厦东辅楼二层TCCTCCM M房MLC!MLC!信设备之间的链路衰减检查光纤链路质里v15dBv15dB通信设备对光衰减的要求四、光缆测试记录1、西直门新敷设 1 根 24 芯光纤熔接质量测试记录在西直门 8 层 MLCM 房，对本项目敷设的 24 芯光纤进行测试；然后在西直门 7 层通信配线问，对本项目敷设的 24 芯光纤进行反向测试；测试结果如下:光纤芯数合格标准（双向测试平均值）测试地点：8 8 层

6、MLCMMLCM 房测试地点：7 7 层通信配线间双向测试取平均值是否合格8 8 层熔接点损耗7 7 层熔接点损耗8 8层熔接点损耗7 7层熔接点损耗8 8 层熔接点损耗7 7 层熔接点损耗每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口光纤芯数合格标准（双向测试平均值）测试地点：8 8 层 MLCMMLCM 房测试地点：7 7 层通信配线间双向测试取平均值是否合格8 8 层熔接点损耗7 7 层熔接点损耗8 8层熔接点损耗7 7层熔接点损耗8 8 层熔接点损耗7 7

7、层熔接点损耗每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口光纤芯数合格标准（双向测试平均值）测试地点：8 8 层 MLCMMLCM 房测试地点：7 7 层通信配线间双向测试取平均值是否合格8 8 层熔接点损耗7 7 层熔接点损耗8 8层熔接点损耗7 7层熔接点损耗8 8 层熔接点损耗7 7 层熔接点损耗每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损

8、耗是口含口测试结论：通过口不通过口施工单位（签字）：监理单位（签字）：日期：日期：2、京投大厦新敷设 2 根 24 芯光纤熔接质量测试记录在京投大厦西辅楼一层 MLCM 房，对本项目敷设的 24 芯光纤进行测试；然后在京投大厦西辅楼 B1 层通信配线问，对本项目敷设的 24芯光纤进行反向测试；测试结果如下：光纤芯数合格标准（双向测试平均值）测试地点：1 1 层 MLCMMLCM 房测试地点：B1B1 层通信配线间双向测试取平均值是否合格1 1 层熔接点损耗B1B1 层熔接点损耗1 1层熔接点损耗 B1B1 层熔接点损耗 1 1 层熔接点损耗B1B1 层熔接点损耗每个熔接点损耗是口含口每个熔接点

9、损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口光纤芯数合格标准（双向测试平均值）测试地点：1 1 层 MLCMMLCM 房测试地点：B1B1 层通信配线间双向测试取平均值是否合格1 1 层熔接点损耗B1B1 层熔接点损耗1 1层熔接点损耗 B1B1 层熔接点损耗 1 1 层熔接点损耗B1B1 层熔接点损耗每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含

10、口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口光纤芯数合格标准（双向测试平均值）测试地点：1 1 层 MLCMMLCM 房测试地点：B1B1 层通信配线间双向测试取平均值是否合格1 1 层熔接点损耗B1B1 层熔接点损耗1 1层熔接点损耗 B1B1 层熔接点损耗 1 1 层熔接点损耗B1B1 层熔接点损耗每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口测试结论:通过口不通过口施工单位（签字）：监理单位（签字）：日期：日期：在京投大厦西辅楼一层 MLCM 房，对本项目敷设的 24 芯光纤进行测试；然后在京投大厦东辅楼 3 层通信配线问

11、，对本项目敷设的24 芯光纤进行反向测试；测试结果如下：光纤芯数合格标准（双向测试平均值）测试地点：1 1 层 MLCMMLCM 房测试地点：3 3 层通信配线间双向测试取平均值是否合格1 1 层熔接点损耗3 3 层熔接点损耗1 1层熔接点损耗 3 3 层熔接点损耗1 1 层熔接点损耗3 3 层熔接点损耗每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口光纤芯数合格标准（双向测试平均值）测试地点：1 1 层 MLCMMLCM 房测试地点：3 3 层通信配线间双向测试取平均值是否合格1 1 层熔接点损耗3 3 层熔接点损耗1 1层熔接点损耗 3 3 层熔接点损耗 1 1 层熔接点

12、损耗3 3 层熔接点损耗每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口光纤合格标准测试地点： 1 1 层 MLCMMLCM 房测试地点： 3 3 层通信配线间双向测试取平均值是否合格芯数（双向测试平均值）1 1 层熔接点损耗3 3 层熔接点损耗1 1层熔接点损耗 3 3 层熔接点损耗 1 1 层熔接点损耗3 3 层熔接点损耗每个熔接点损耗是谷口每个熔接点损耗是谷口每个熔接点损耗是谷口每个熔接点损耗是谷

13、口每个熔接点损耗是谷口每个熔接点损耗是谷口每个熔接点损耗是谷口每个熔接点损耗是谷口每个熔接点损耗是谷口每个熔接点损耗是谷口测试结论：通过口施工单位（签字）：日期：不通过口监理单位（签字）：日期：3、京投大厦新敷设 2 根 4 芯多模光纤熔接质量测试记录在京投大厦西辅楼一层 MLCM 房，对本项目敷设的 2 根 4 芯多模光纤进行测试；然后在京投大厦西辅楼 7 层通信配线问，对本项目敷设的 4 芯多模光纤进行反向测试；多模光缆 1 测试结果如下：光纤芯数合格标准（双向测试平均值）测试地点：1 1 层 MLCMMLCM 房测试地点：7 7 层通信配线间双向测试取平均值是否合格1 1 层熔接点损耗7

14、 7 层熔接点损耗1 1层熔接点损耗 7 7 层熔接点损耗 1 1 层熔接点损耗7 7 层熔接点损耗每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口测试结论：通过口不通过口施工单位（签字）：监理单位（签字）：日期：日期：多模光缆 2 测试结果如下:光纤芯数合格标准（双向测试平均值）测试地点：1 1 层 MLCMMLCM 房测试地点：7 7 层通信配线间双向测试取平均值是否合格1 1 层熔接点损耗7 7 层熔接点损耗1 1层熔接点损耗 7 7 层熔接点损耗1 1 层熔接点损耗7 7层熔接点损耗每个熔接点损耗是口含口光纤芯数合格标准（双向测试平均值）测试地点

15、：1 1 层 MLCMMLCM 房测试地点：7 7 层通信配线间双向测试取平均值是否合格1 1 层熔接点损耗7 7 层熔接点损耗1 1层熔接点损耗 7 7 层熔接点损耗 1 1 层熔接点损耗7 7层熔接点损耗每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口每个熔接点损耗是口含口测试结论：通过口不通过口施工单位（签字）：监理单位（签字）：日期：日期：4、西直门 8 层 MLC!信设备与京投大厦西辅楼一层 MLC!信设备之间的链路衰减在西直门 8 层 MLCM 房，对本项目南环的 4 根光纤进行测试；然后在京投大厦西辅楼一层 MLCM 房，对本项目的南环光纤进行反向测试；测试结果如下：光纤芯数合格标准

16、（双向测试平均值）测试地点：西直门 8 8 层 MLCMMLCM 房测试地点：东投大厦四辅楼 1 1 层双向测试取平均值是否合格链路损耗链路损耗链路损耗链路损耗 v25dB25dB是口含口链路损耗 v25dB25dB是口含口链路损耗 v25dB25dB是口含口链路损耗 v25dB25dB是口含口测试结论：通过口不通过口施工单位（签字）：监理单位（签字）：日期：日期：5、西直门 8 层 MLC!信设备与京投大厦东辅楼三层 TCCt/l房MLCffi 信设备之间的链路衰减在西直门 8 层 MLCM 房，对本项目北环的 4 根光纤进行测试；然后在京投大厦东辅楼三层 TCC 机房 MLC信设备，对本项

17、目的北环光纤进行反向测试；测试结果如下：光纤合格标准测试地点：西直门 8 8 层 MLCMMLCM 房测试地点：东投大厦东辅楼 3 3 层双向测试取平均值是否合格芯数（双向测试平均值）链路损耗链路损耗链路损耗链路损耗 v25dB25dB是口含口链路损耗 v25dB25dB是口含口链路损耗 v25dB25dB是口含口链路损耗 v25dB25dB是口含口测试结论：通过口施工单位（签字）：日期：不通过口监理单位（签字）：日期：6、京投大厦西辅楼一层 MLC!信设备与京投大厦东辅楼三层 TOCS 房 MLC 通信设备之间的链路衰减在京投大厦西辅楼一层 MLCm 房，对本项目新增的 1 根 24 芯光纤进行测试；然后在京投大厦东辅楼三层 TOOM 房的 MLC!信设备,对本项目的 24 芯光纤进行反向测试；测试结果如下：光纤芯数合格标准（双