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文档简介

半导体材料吸收光谱测试分析一、实验目的.掌握半导体材料的能带结构与特点、半导体材料禁带宽度的测量原理与方法。.掌握紫外可见分光光度计的构造、使用方法和光吸收定律。二、实验仪器及材料紫外可见分光光度计及其消耗品如笊灯、鸨灯，玻璃基 ZnO薄膜。三、实验原理1.紫外可见分光光度计的构造、光吸收定律（1）仪器构造：光源、单色器、吸收池、检测器、显示记录系统。a.光源：鸨灯或卤鸨灯 可见光源，3501000nm；氢灯或笊灯紫外光源，200360nm, b.单色器：包括狭缝、准直镜、色散元件色散元件：棱镜一一对不同波长的光折射率不同分出光波长不等距；光栅一一衍射和干涉分出光波长等距。c.吸收池：玻璃一一能吸收UV光，仅适用于可见光区；石英 一一不能吸收紫外光，适 用于紫外和可见光区。要求：匹配性（对光的吸收和反射应一致）d.检测器：将光信号转变为电信号的装置。如：光电池、光电管（红敏和蓝敏）、光电倍增管、二极管阵列检测器。紫外可见分光光度计的工作流程如下：单色器双光束紫外可见分光光度计则为:双光束双光束紫外可见分光光度计的光路图如下:(2)光吸收定律透射光It单色光垂直入射到半导体表面时，进入到半导体内的光强遵照吸收定律:Ix IexIt I0edIt:透过膜薄的光强；a：材料吸收系数，与材料、入I0 :入射光强；I x：透过厚度X的光

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