XRF分析技术的国内外研究现状

1、XRF 分析技术的国内外研究现状19131514年莫塞莱(H GJ.Maseley)首先系统地研究了各种兀素的标识构 射一一特征X时战，发现斑个元素特征X时线的波长或频数与其原子序数之间 存在一定的关系,从而建立了著名的T莫嘉菜定律: 这为XRF方法的应用与无 素成分的定性”定fit分析莫定理论I同基础，便X射线臾光分析方法在实际 段用中迈进了一大步,我国从20世纪究年代开始对X射线荧光方法进行研究.1959年中国. 院地质研究所试制成我国第一台X射线光谱仪,在20世纪60年代,龙国首次 成功册制出了适用于野外使用的便携式X射线荧光分析仪实现了元素的现场 酒。能量色散x射线荧光分析技术比波长色

2、散x荧光技术的发展要晚r多年， 1966年劳伦斯铀射实验室的Browman等人研制出什钻,匕导体探测器与”】Am和 S7Co放射源结合使用的放射性同位素XRF分析仪,这是世界上第台高分辨率 能量色歌又射线分析仪。到20世纪70；|代,波氏色散的XRF分析仪开始应用 在我国钢铁工业。划了 9。年代.波氏色敢X时线荧光仪已成为我国钢铁工工 程控制分析和质量校验的必备仪器。在学术研究上面,鞫XRF分析技术运HJ到铁矿石中铁兀素品位检测的研究 方法有；王必山发去的X射线荧光光谱法测定铁田石中的含铁量儿 栗用熔融法制 徉，川内标法建立曲线校正模式，仪器的精确度和准确度都能满足生产的需求.柳新能发表的X射

3、线荧光光谱法测定铁矿石中化学成分瓦一用玻璃烙片 法制样，采用经验系数法建立工作曲线对共存元素进行校正，取得了很好的效果.1.12几种先进的XRF分析仪(1)荷兰帕纳科公司生产的AziosmAX台式波长色放X射线荧光仪图l-3Ax皿mAX台式波长色散X射线荧光仪图片帕纳科公司是全环X射线衍射分析仪器和X射线荧光光谱分析仪器及软件 的主要供应商,分析仪器主要应用于科学研究、匚业过程控制以及华导体材料的 物性测S:领域。A-osmAX光谱仪具仃快速、稳定和灵活多功能等杰明性能，其采用高压发 生器,先进的超尖锐端窗X光管(S5T),高效分光晶体，直接光学定位控制的测用仪(DOPS),以多道分析湍高速计

4、数电路(DMCA).集成的门动速祥瑞可以扩展 到168位.仪罂设仃粘密稳定的温度控制系统,确保测量结果的长期稳定性.由 干栗用Hi-Per固定通道明!J改善了超找元素和微盘元素的分析灵敏度.(2)德国斯派克分析仪器公.-生产的SPEC TR C xSORT f抒式X荧光仪图L4SPECTROxSORT手持大X荧光憧图片SPECTRO xSORT尸持式X荧光仪采用鬲性能X衬线吊叫 潦移(SDD) 探剿器,具仃独特的适应性及灭活性。FWHM170cV,坡人管电压和管电流分 别为MW, 50g.可分析从S到U的所仃兀奈,可以住几秒仲装得分析结果， 适用地质，矿物.环境.等杼品中各种元素的检测及现场分析.(3)国产ED2OO0T型多元素快速分析仪图1-SIED100叮理多元去快速分析仪图片成都微f科技有限公司生户的IED2000T型多兀都快速分析仪取用X射线管 作为激发源、.斫式电致冷S1-PIN r 9体探测器(FWHM h 186eV5.9keV)和32 位ARM7处理控制器.该仪器在100-400slip可分析出近20种元素的含量,表 1列出了该仪器的主要技术指标.表L2IEDSOOT型多元案快速分析仪的主要技末指依可分析元素实险室分析原位