单板硬件调试报告

xxx有限公司文档中心产品版本密级、▲1—rZ--r*/产品名称：共18页XX单板硬件调试和单元测试报告拟制审核审核批准拟制审核审核批准日期：yyyy-mm-dd日期：^^yyy-mm-dd日期：~yyyy-mm-dd日期：yyyy-mm-dd日期版本描述作者2001-06-081.00初稿完成作者名yyyy-mm-d(『1.01修改XXX作者名yyyy-mm-d(11.02修改XXX作者名IccC—w*异.———yyyy-mm-d(12.00修改XXX作者名TOC\o"1-5"\h\z1概述61.1基本情况介绍61.2单板模块划分61.3调试测试组网图61.4调试时间、地点及人员62调试测试用例记录62.1功能部分调试62.1.1模块16\o"CurrentDocument"2.1.1.1调试用例162.1.1.2调试用例26\o"CurrentDocument"2.1.2模块262.1.3问题列表72.2信号质量测试用例72.2.1电源82.2.1.1测试数据82.2.1.2测试波形及分析82.2.1.3问题列表82.2.2逻辑信号9\o"CurrentDocument"2.2.2.1测试结果92.2.2.2测试波形及分析92.2.2.3问题列表92.2.3时钟信号102.2.3.1测试结果102.2.3.2实测波形及分析102.2.3.3问题列表102.3时序测试用例10\o"CurrentDocument"2.3.1CPU接口部分时序11\o"CurrentDocument"2.3.1.1测试结果112.3.1.2测试时序及分析112.3.2业务接口部分时序112.3.2.1测试结果112.3.2.2测试时序及分析122.3.3问题列表122.4失效器件原因分析123调试测试总结123.1调试测试结果123.2遗留问题报告133.3调试测试经验总结144其他145评审报告14表目录TOC\o"1-5"\h\z表1有问题信号记录表格9表2有问题信号记录表格10表3有问题信号记录表格10表4时序测试遗留问题12表5调试测试结果统计一12表6调试测试结果统计二12表7调试测试问题列表13表8信号质量遗留问题统计表13表9时序遗留问题统计表13表10功能遗留问题统计表13图目录图1XX图6文档名称关键词：调试测试、计划、其它关键词摘要：缩略语清单：对本文所用缩略语进行说明，要求提供每个缩略语的英文全名和中文解释。概述（本章节内容在计划模板中都有体现，在确保内容没有改变的情况下，可以直接拷贝）1.1基本情况介绍简单介绍产品，并说明单板正式名称PCB版本号。1.2单板模块划分从调试测试的角度简要说明单板硬件功能模块的划分情况，以及各个模块的功能和相互关系。1.3调试测试组网图简单描述调试测试的组网图。可以配以插图进行说明。1.4调试时间、地点及人员描述本次调试的时间，地点和开发调试人员。2调试测试用例记录2.1功能部分调试2.1.1模块12.1.1.1调试用例1|调试用例编号：AAA-UT-CCC-NNN调试项目：可以用模块名或者调试大项命名调试子顼目：具体的调试描述检查点、应达到的要求、指标和预期结果：执行中的其他说明:调试人员:rWM实测结果:差异说明:说明以下差异及每个差异的原因：被测对象与其规格说明、总体详细设计文档之间的任何差异；实际调试活动与调试计划之间的任何差异。调试测试是否通过：(OK,POK,NGNT)1.1.1.1调试用例21.1.2模块21.1.3问题列表1.2信号质量测试用例信号质量测试要保证全面性，即单板上的每个信号都要保证测试到，为了保证测试不遗漏，可以先将单板按照功能模块划分，并列举出每个功能模块中的器件，每个器件涉及到的信号再按照实现的功能分类，要列出每类信号的的判断标准，随后给出测试记录的表格。功能模块的划分可以为：电源模块、时钟模块、交又模块、业务处理模块、接口模块、CPU控制模块、主备倒换模块等等，或者参照前面.单板硬件功能模块划分。对于不同的模块，包含或涉及到不同类型的信号，芯片对不同信号的质量要求是不一样的，例如对电源的质量要求是幅度、上电时间、上电顺序、纹波等；对时钟信号的质量要求是边沿单调性、上升时间、下降时间、占空比、上冲、下冲、回冲、时钟频率、抖动等；对控制信号的质量要求则是电平幅度、有效宽度、上冲、下冲、回冲等；对业务信号的质量要求则是电平幅度、上冲、下冲、回冲、眼图等。信号质量的测试点要选在信号的终端。在表格中结果判断一栏中，注iOK、POK、NGNT，其中：OK：测试结果全部正确POK：测试结果大部分正确NG测试结果不通过NT：由于各种原因本次无法测试以下的测试结果记录中，对测试通过的信号，只要求提供其列表；测试不通过的信号，要求提供测试波形记录、原因分析、解决措施和解决计划。以下提供的表格为通用的信号质量规范要求和一些通用的电平信号的标准，可作为信号质量判断的标准，同时需要参考器件手册；以下给出的标准与芯片要求不符的，以芯片要求为准，并要求在芯片的测试实测记录前，列出其特殊要求。信号标准特性I信号类型[vCC[voh[vihivTTIL、ABT52.421.5LVIIL、LVI、LVC、ALVC、LV3.32.421.5CMOS54.443.52.5PEcL54.19CAC3.873.7lvpecl3.32.422.062cGTL1.20.860.8gTL+1.51.051NLetl52.41.61.54LLBTL（低电平为1V）2.11.621.55通用信号规范信号类求Tft|正向、L、—负向正向回负向正向毛刺负向毛边沿特性实测VIH要型pecl过冲<0.2V过冲<0.2V冲>3.87V回冲<3.52<3.52V刺>3.87V①必须单调>3.87TTI，1V，1V、24VV，08V，08V、24V必须单调、3VIILTTL(3V<1V<0.6V<1V<0.6V>2.4V>2.4V<0.8V<0.8V<0.8V<0.8V>2.4V>2.4V必'须调必须单调>3V>2.8V)CMOS<1V<1V>35V<15V<15V>35V必须单调>35Vx—1VIv-zOgti+<1V<04V<1V<04V>J.JV>12V<1.JV<03V<1.JV<03V>J.JV>12Vy俱必须单调>J.JV>14V1L+GTL<V.^TV<0.3V<V.^TV<0.3V>I.£LV>0.95V<U.UV<0.25Lv<w.JV<0.25V>I.£LV>0.95V绊须斗L调必须单调>I.^TV>1.15V①边沿特性：对通用信号中的控制信号一般要求边沿必须单调；对数据、地址等信号可结合时序的测试结果来作相应的要求。*通用时钟信号规范信号类型pecl占空比40%-60%上升单调性必须单调上升时间下降单调性必须单调下降时间抖动特性待定。建议：对于存在指标规定的信号，应满足指标；无指标规定或无法明确界定的情况下，应满足可靠性要TTL40%-60%必须单调必须单调求、。TTL(3V)40%-60%必须单调必须单调CMOS40%-60%必须单调必须单调GTL+40%-60%必须单调必须单调*:通用时钟信号规范描述了时钟信号要特殊关注的特性，测试中要注意，时钟信号必须同时满足信号标准特性和通用信号规范。第8页，共18页幅度允许变化范围噪VCC1推荐电源电压*纹波地线要求指标-±5%±5%±12%实测值*:单电源工作的不分VCC1、VCC2等1.1.1.1测试波形及分析在此粘贴上测试的所有波形，实测数据，并加以简单分析。所有的波形都做为以后问题跟踪和质量回溯的依据。如果波形文件比较大可以压缩后粘贴或者做为单独的附件提供。1.1.1.2问题列表在此需要提供有问题信号的波形、问题产生的原因分析、改进措施和修改计划。也可以用表格形式记录，在问题描述栏中说明是信号的哪个特性不满足要求，具体波形见由X。参考表格如下：1.1.1.1测试结果1.接口模块U1：汕［、_（x1（乍勺pj-rt、々信号名/网络名测试点（管脚）结果判断备注如：CLKU1—1OK可以在此填写为了产生第9页，共18页这些信号，采取了什么样的的激励方式或方法U2信号名/网络名测试点（管脚）结果判断备注——r［、［如：CLKU1—1OK可以在此填写为了产生这些信号，采取了什么样的的激励方式或方法业务处理模块XXX模块1.1.1.1测试波形及分析在此粘贴上测试的所有波形、实测数据，并加以简单分析。所有的波形都做为以后问题跟踪和质量回溯的依据。如果波形文件比较大可以压缩后粘贴或者做为单独的附件提供。1.1.1.2问题列表在此需要提供有问题信号的波形、问题产生的原因分析、改进措施和修改计划。也可以用表格形式记录，在问题描述栏中说明是信号的哪个特性不满足要求，具体波形见XX。参考表格如下：士，有问题信号记录表格信号名/网络名测试点问题描述原因分析改进措施是否填写了缺陷跟踪电子流1.1.1时钟信号1.1.1.1测试结果信号名/网络名测试点（管脚）结果判断备注如：CLKU1-1OK可以在此填写为了产生这些信号，采取了什么样的的激励方式或方法1.1.1.1实测波形及分析在此粘贴上测试的所有波形、实测数据，并加以简单分析。所有的波形都做为以后问题跟踪和质量回溯的依据。如果波形文件比较大可以压缩后粘贴或者做为单独的附件提供。1.1.1.2问题列表在此需要提供有问题信号的波形、问题产生的原因分析、改进措施和修改计划。也可以用表格形式记录，在问题描述栏中说明是信号的哪个特性不满足要求，具体波形见XX。参考表格如下：士，有问题信号记录表格信号名/网络名测试点问题描述原因分析改进措施是否填写了缺陷跟踪电子流1.1时序测试用例时序测试包括了CPU的读写时序、存储器的操作时序、业务处理器件的数据输入输出时序等。具体应按单板实际设计进行划分。在时序测试之前要列出涉及到时序要求的器件如U3,U4-••…；然后可按照,器件分别来记录时序测试结果，在记录每个器件的测试结果之前，与信号质量测试类似，也要先列出器件对时序的要求。表中标识符应与器件手册对应。在表格中结果判断一栏中，注ok、POK、NG、NT，其中：OK：测试结果全部正确POK：测试结果大部分正确NG测试结果有较大的错误NT：由于各种原因本次无法测试1.1.1CPU接口部分时序1.1.1.1测试结果

(下面表形式供参考使用，也可直接分别给出设计要求和实际测试得到的时序图，但必须明确给出测试结论和修改措施、计划)参数标识符最小值要求(ns)最大值要求(ns)实测值(ns)结论改进措施修改计划命令(/CS,/RAS，/CAS，/WE，DQM)的建立时间tCS修改计划中需写明本板解决、下一板解决或给出明确的修改完成日期。命令(/CS,/RAS，/CAS，/WE，DQM)的保持时间tCH地址建立时间tAS地址保持时间tAH数据数据建立时间tDS数据数据保持时间tDH1.1.1.1测试时序及分析在此粘贴上测试的所有波形、实测数据，并加以简单分析。所有的波形都做为以后问题跟踪和质量回溯的依据。如果波形文件比较大可以压缩后粘贴或者做为单独的附件提供。1.1.2业务接口部分时序1.1.2.1测试结果(下面表形式供参考使用，也可分别直接给出设计要求和实际测试得到的时序图，但必须明确给出测试结论和修改措施、计划)参数标识符最小值要求(ns)最大值要求(ns)实测值(ns)结论改进措施修改计划时钟周期tCK修改计划中需写明本板解决、下一板解决或给出明确的修改完74<!/TJ目J1次Lj成日期。数据数据建tDS立时间第13页，共18页在此粘贴上测试的所有波形、实测数据，并加以简单分析。所有的波形都做为以后问题跟踪和质量回溯的依据。如果波形文件比较大可以压缩后粘贴或者做为单独的附件提供。1.1.2问题列表将有问题的信号列举出来，如果完全满足情况，填写£”。±（1时序测试遗留问题描述对关键器件的失效分析结果和可靠性改进和预防措施。2调试测试总结2.1调试测试结果对本次调试的项目进行总结，包括完成总项数，通过多少项，失败多少项，部分通过多少项及百分比等，详细的调试项目通过情况清单应放在附件部分，并在此处说明该附件的位置。此处的总结一般用以下表格进行表现：±11调试测试结果统计一计划测试项新增测试项实际测试项计划花费时间（人时）实际花费时间（人时）

±门调试测试结果统计二OK：测试结果全部正确POK：测试结果大部分正确NG测试结果有较大的错误NT：由于各种原因本次无法测试总结调试的结果，确定所有已解决了的问题，并对解决结果进行总结，确定未解决的问题。为每个被测对象给出总结性的评价，包括其局限性，评价必须基于调试结果和被测对象的通/失败准则。对失败风险的估计应包括在内。总结主要的调试活动和事件。总结资源消耗数据，如总人员、总机时，每个主要调试活动花费的时间。1.1遗留问题报告遗留问题是指调试过程中发生的并且在调试报告时仍没有得到解决需要投下一版PCB回归测试验证的问题。建立遗留问题统计表格，可对遗留问题数和级别进行统计，包括问题总数，致命，严重，一般和提示问题的数目及百分比等，遗留问题统计一般可用以下表格描述，其中的字段可根据实际情况进行设计和裁剪。±壮调试测试问题列表总共发现问题总数致命问题严重问题一般问题提示问题问题分四个级别来定义，各级别含义如下：致命：引起系统死机或系统崩溃的问题严重：引起系统某一功能失效且不能简单恢复（如插拔单板）的问题一般：引起系统某一功能失效但可简单恢复或较难重现的问题提示：从操作或维护的角度发现的问题或建议±门信号质量遗留问题统计表问题总数致命问题严重问题般问题提示问题其他统计项数目白分比±门时序遗留问题统计表问题总数致命问题严重问题般问题提示问题其他统计项数目白分比±门功能遗留问题统计表问题总数致命问题严重问题一般问题提示问题其他统计项数目白分比问题分四个级别来定义，