标准解读

《JJF 1254-2010 数显测高仪校准规范》是一项针对数显测高仪的校准标准，由国家质量监督检验检疫总局于2010年发布。该标准详细规定了数显测高仪在进行校准时所需遵循的技术要求、校准条件、校准项目及方法等内容。

根据标准内容，首先明确了适用范围，即适用于新制造、使用中以及修理后的数显测高仪的首次校准、后续校准和使用中的检查。它不包括机械式或其他非数显类型的测高设备。

对于校准环境条件有具体要求，如温度应在(20±2)℃范围内，相对湿度不超过80%，并且需要确保无明显振动影响测量结果准确性的地方进行校准工作。

在校准过程中，标准还指定了几种关键参数作为主要校准对象，其中包括但不限于示值误差、重复性误差等。对于每项指标，都给出了具体的测试步骤与合格判定依据。例如，在检测示值误差时，需选取至少五个不同高度点进行测量，并记录下每次读数；然后计算出最大偏差值是否符合规定的允许误差范围来判断其是否满足要求。

此外，《JJF 1254-2010》还对校准所用到的标准器提出了明确的要求，比如推荐使用的量块或长度比较仪等应具有足够高的精度等级，以保证校准结果的有效性和可靠性。


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  • 现行
  • 正在执行有效
  • 2010-05-11 颁布
  • 2010-11-11 实施
©正版授权
JJF 1254-2010数显测高仪校准规范_第1页
JJF 1254-2010数显测高仪校准规范_第2页
JJF 1254-2010数显测高仪校准规范_第3页
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文档简介

中华人民共和国国家计量技术规范

JJF1254—2010

数显测高仪校准规范

CalibrationSpecificationforHeightMeasuringInstrument

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2010-05-11发布2010-11-11实施

国家质量监督检验检疫总局发布

JJF1254—2010

数显测高仪校准规范

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本规范经国家质量监督检验检疫总局于年月日批准并自

2010511,

年月日起施行

20101111。

归口单位全国几何量工程参量计量技术委员会

:

主要起草单位中国科学院光电技术研究所

:

参加起草单位中国测试技术研究院

:

本规范由全国几何量工程参量计量技术委员会负责解释

JJF1254—2010

本规范主要起草人

:

匡龙中国科学院光电技术研究所

()

耿丽红中国科学院光电技术研究所

()

曹学东中国科学院光电技术研究所

()

参加起草人

:

冉庆中国测试技术研究院

()

JJF1254—2010

目录

范围……………………

1(1)

引用文献………………

2(1)

概述……………………

3(1)

计量特性………………

4(2)

测量力………………

4.1(2)

垂直度………………

4.2(2)

示值变动性…………

4.3(2)

示值误差……………

4.4(2)

校准条件………………

5(2)

环境条件……………

5.1(2)

测量标准器及其他设备……………

5.2(3)

校准项目和校准方法…………………

6(3)

测量力………………

6.1(3)

垂直度………………

6.2(3)

示值变动性…………

6.3(4)

示值误差……………

6.4(4)

校准结果表达…………

7(4)

复校时间间隔…………

8(4)

附录数显测高仪示值误差测量结果不确定度评定………………

A(5)

附录校准证书内容…………………

B(8)

JJF1254—2010

数显测高仪校准规范

1范围

本规范适用于分辨力为和量程至

0.1μm、0.2μm、0.5μm1μm,0mm1000mm

的数显测高仪的校准

。

2引用文献

本规范引用下列文献

:

通用计量术语及定义

JJF1001—1998

测量仪器特性评定

JJF1094—2002

几何量测量设备校准中的不确定度评定指南

JJF1130—2005

电子数显测高仪

GB/T22094—2008

使用本规范时应注意使用上述引用文献的现行有效版本

,。

3概述

数显测高仪是基于精密机械现代传感技术和电子技术的立式单坐标数字化几何量

、

测量仪器用来测量平行平面之间距离孔和轴直径中心距以及相关形位误差等其

,、、。

外形结构见图

1。

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