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文档简介
注意安全倡议书。有一定的差距,这也与中国led行业缺乏规模龙头企业有关,缺乏有___、有计划的规模性的研发设计投入。led封装工艺包括固晶参数工艺、焊线参数工艺、封胶参数工艺、烘烤参数工艺、分光分色工艺等。我国led封装企业这几年快速发展,led封装工艺已经上升到一个较好的水平,不过我国大功率封装工艺水平还有待进一步完善。小芯片的亮度已与国外最高亮度产品接近;在光衰方面我国led封装工艺经过多年的发展和积累,已有较好的基础,在光衰的控制上已与国外一些产品匹敌;失效率与芯片质量、封装辅助材料、生产工艺、设计水平和管理水平相关,中国封装企业的led失效率整体水平有待提高,不过也有少量中国优秀封装企业的失效率已达到世界水平。led的光效___%取决于芯片的发光效率。中国led封装企业对封装环节的光效提高技术也有大量研究。如果中国在大尺寸瓦级芯片的研发生产上取得突破及量产,将会极大促进功率型封装器件光效的提高。在固晶前我们首先要确定我们加工的这批产品是l型(垂直型)还是v型(水平型)封装,因为如果我们选择l型封装那么我们就要对应选择能够导电的银胶,相反我们选择v型封装就要选择绝缘胶。除此之外我们要根据客户的要求,这一批产品是聚光还是散光,不同要求我们就要选取不同的支架。当确定芯片、胶水和支架时,那么我们就可以开始固晶了。以下以聚光、垂直型封装为例,首先是往支架的聚光杯里面注入适量的银胶,然后再往里面放进芯片,这一道工序的最后一步是烘烤。就我个人认为这一到工艺最重要的有三步,如果不做好一定会影响led光效率。其一,注入银胶量的多少。采用银胶的目的是粘著芯片和支架,还有就是利用银胶导电性。胶量最好控制在芯片高度的2/3~1/2,如果胶量过多(超过芯片高度1/2),会造成pn结短路,最终而无法正常发光,还有银片间的结合层阻值还会增大。另外银胶量少或者缺胶,那就无法起到粘着芯片的作用。其二,芯片放置的位置及放置时的力度。在固晶中我们最理想的状态是把芯片放置在聚光杯的正中央,这样方便我们更好的采光,如果我们把芯片的位置放偏了,一方面在下一步自动焊线机中有可能找不到芯片的电机进行焊接,最后会造成死灯。另外就算焊接好了,那么聚光杯无法最大化的采集光线,光效率大减折扣。出现不良品的原因有:芯片悬浮在银胶上、芯片倾斜超过5°(焊线就找不到位置)、晶粒表面破损1/4、晶粒翻转和芯片表面粘胶。其三,烘烤温度及时间的控制。温度过低我们就无法使银胶固化,芯片与支架粘附不好,芯片可能会脱离。另外温度过高,产生应力大,体积电阻也相应发生变化。进一步影响焊线工艺。完成固晶这一步工序之后,接下来我们就要进行焊线工作。焊线的目的是在压力、热量和超声波能量的共同作用下,使金线在芯片电极和外引线键合区之间形成良好的欧姆接触,完成内外引线的连接。a.金丝与芯片电极、引线框架键合区间的连接牢固b.金丝拉力的测试。第一焊点金丝拉力以最高点测试,从焊丝的最高点垂直引线框架表面在显微镜观察下向上拉,测试拉力。如果我们抽取的样品拉力不够,就要改变金线弧度,长度等参数,否则下一道工艺灌胶会把金线拉断,造成死灯现象。因此这是led焊线工序参考是否合格的一个参数。c.焊点的要求。第一焊点是金球与芯片电极的键合,如果没有选择好正确的参数,那么我们就会造成偏焊,虚焊。偏焊和虚焊都会影响电气连接,会出现漏电的现象,影响led的发光及其寿命。第二焊点要增大表面积牢固的把它焊在支架的另一边上。d.焊线的要求。焊线的检测也作为焊线工序合格的一个参数。合格的焊线要求各条金丝键合拱丝高度合适,无塌丝,无多余焊丝。焊丝的弧度不对,就会有可能造成阴阳极接触,出现短路现象。焊线多余除开会出现短路现象,还会出现漏电,影响led正常发光及寿命。由于不同机台的参数设置都不一样,所以就没有对参数进行统一。在这过程中主要的参数有键合温度、第一第二焊点的焊接时间、焊接压力、焊接功率、拱丝高度、烧球电流、丝尾长度等等。焊接时间影响它的牢固性,焊接压力和功率过大会损坏芯片,高度不当会造成短路,烧球电流过小满足不了焊点要求。要做好焊线这一步工序就要严格控制,哪一步也不能麻烦,否则会影响产品质量。a.不得用手直接接触支架上的芯片以及键合区域。b.操作人员需要佩戴静电手环,穿防静电工作服,避免静电对芯片造成伤害。c.材料在搬运过程中须小心轻放,避免静电的产生及碰撞,需防倒丝、塌丝、断线及粘附杂物。2.2.4问题讨论:___要金线焊接,铜线可不可以。丝球焊广泛采用金引线,金丝具有电导率大、耐腐蚀、韧性好等优点,广泛应用于集成电铝丝由于存在形球非常困难等问题,只能采用楔键合,主要应用在功率器件、微波器件和光电器件。但是金的价格昂贵,成本较高。很多研究结果表明铜是金的最佳代替品。铜丝球焊具有很多优势:a.价格优势。成本只有金丝的1/3~1/10。b.电学性能和热学性能。铜的导电率比金的导电率大,铜的热导率也高于金。c.机械性能。铜引线相对金引线的高刚度使得其更适合细小引线键合。d.焊点金属间化合物。对于金引线键合到铝金属化焊盘,会出现“紫斑”和“白斑”问题,并且因金和铝两种元素的扩散速率不同,导致界面处形成柯肯德尔孔洞及裂纹。降低了焊点力学性能和电学性能,对于铜引线键合到铝金属化焊盘,研究较少,不过有些人认为较好。因此,铜丝球焊焊点的可靠___高于金丝球焊焊点。但是目前铜丝球焊所占引线键合的比例依然很少,主要是因此铜丝球焊技术面临着一些难点:(1)铜容易被氧化,键合工艺不稳定;(2)铜的硬度、屈服强度等物理参数高于金和铝。键合时需要施加更大的超声能量和键合压力,因此容易对硅芯片
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