2007级半导体性能测试试验安排精

20072007级半导体性能测试实验安排表面势垒二极管的伏安特性TTL电路直流特性1静态参数测试2电压传输特性测试JT-1图示仪的使用晶 体 管(BJT)直流参数的测量口口□结口垒电容的测量光电器件性能测试与应MOS管静态参数测试8月17日下午5-6节12345678月17日下午7-8节71234568月18日上午1-2节67123458月18日上午3-4节56712348月18日下午5-6节45671238月18日下午7-8节34567128月20日上午1-2节23456718月20日上午3-4节8910111213148月20日下午5-6节1489101112138月20日下午7-8节1314891011128月23日上午1-2节1213148910118月23日上午3-4节1112131489108月24日下午5-6节1011121314898月24日下午7-8节9101112131488月25日上午1-2节151617181920218月25日上午3-4节211516171819208月25日下午5-6节202115161718198月25日下午7-8节192021151617188月27日上午1-2节181920211516178月27日上午3-4节171819202115168月27日下午5-6节161718192021158月27日下午7-8节222324252627288月30日上午1-2节28222324252627实验地点理化楼新楼5楼新楼5楼新楼5楼新楼5楼新楼5楼新楼5楼新楼5楼指导教师郭文滨郭文滨沈亮纪永成高彦军刘奎学刘奎学

;表面势垒二极管的伏安特性TTL电路的直流特性1静态参数测试2电压传输特性测试JT-1图示仪的使用晶体管（BJT）直流参数的测量口口□结口垒电容的测量光电器件性能测试与应用MOS管静态参数测试8月30日上午3-4节272822232425268月31日下午5-6节262728222324258月31日下午7-8节252627282223249月1日上午1-2节242526272822239月1日上午3-4节232425262728229月1日下午5-6节293031323334359月1日下午7-8节352930313233349月3日上午1-2节343529303132339月3日上午3-4节333435293031329月3日下午5-6节323334352930319月3日下午7-8节313233343529309月6日上午1-2节303132333435299月6日上午3-4节363738399月7日下午5-6节363738399月7日下午7-8节363738399月8日上午1-2节363738399月8日上午3-4节393637389月8日下午5-6节383936379月8日下午7-8节37383936考试考试考试考试考试考试考试实验地点理化楼新楼5楼新楼5楼新楼5楼新楼5楼新楼5楼新楼5楼新楼5楼指导教师郭文滨郭文滨沈亮纪永成高彦军刘奎学刘奎学半导体性能测试实验分组：1.吕兴东高东李一龙刘聪聪2.李宝龙曲禄成郑辰聂延凯3.刘天照王墨崔耕王烁4.白旭高永祥王学会张宇鹏5.张贺刘东旭李海玉戴建功6.严萍瑞武健陈宁宋甲坤7.王宏博杨先辉鞠大伟杜炎8.刘子洋许谷涵韩超王玉杰9.代红庆冯建超刘东洋程龙10.吴厚安李冰华姜南伍斌11.朱玲辉蔡旭浦王德敬陆逢阳12.岳远斌吴琪鑫薛龙刘皓13.冷林黄昕楠付利佳杨博思14.邢育阁银达王典鲁强15.石琳琳郭中华李杨杨春城16.娄世殊李文浩罗添文张金香17.王雷刘东梅王俊巍徐东远18.何鑫鑫于文娟靳嗣同李鑫璐19.张雯庞诚张海鑫赵世民20.郭少锋董俊瑞高志扬刘川21.李彦沛龚振钧申超军邢可22.李然左林李哲孟建辉23.郭菲张洋刘银萍刘学青24.乔立峰刘爽路明王宇25.邓佳楠张凇健潘红岩曹喜帅26.郝聪谢月徐鹏辉相春平27.王聪李海龙李海婷鲁朗28.李哲宿毅王丹李超29.付博刘薇马鹏飞孙龙生30.韩镇远迟世鹏孙东阳 刘叶31.田春张永强吕凯波王雪32.李晓薇吕振华李晓伟 贺俊博33.姜连