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文档简介

基于对光耦温漂的电路改进方案建议概况光耦作为一种光电开关元件其广泛的运用于系统原点检测场合中。但在使用的过程中由于发光二极管及光敏三极管都属于半导体器件，受温度影响较大，发光二极管当温度升高时电流变小，发光强度减弱，光敏三极管温度升高导通电流变小，使得输出电压发生变化。方案提出1.1：电路方案10mA；恒流源VCC+3.3V辅助光耦检测光耦挡板10mA；恒流源VCC+3.3V辅助光耦检测光耦挡板电路原理：电路由两个特性相同的两串联光耦及一个内置2.55V参考电压的比较其组成。其中U1作为补偿光耦不起检测作用。U2为检测光耦，当温度升高时U1,U2光敏电阻阻值同时发生变化，使B点的输出电压保持不变。当U2处于透光状态时，B点电压为3.3V/2=1.65V,U3输出低电平，当U2处于挡光状态时B点电压3.2V>2.55,U3输出为高电平，实现检测挡板的遮光与透光输出在高低电平变化的目的。根据发光二极管的电流随温度变化的特性采用10mA恒流源消除温度对发光二极管电流的影响。电路可行性参数分析光敏三极管在10mA的If的条件下透光状态Rab=260QRbc=260Q遮光状态Rab=9.2KRbc=9.2K透光电流Ic=3.3V/260Q+260Q=6.3mA<20mA（串联后的光敏三极管的电流小于最大20mA电流）U1,U2透光状态其Ubc=（Rbc/Rab+Rbc）*3.3V=260/（260+260）*3.3V=1.65V;U1透光,U2挡光Ubc=（Rbc/Rab+Rbc）*3.3V=9200/（260+9200）*3.3V=3.18V;1.65<2.55<3.18满足比较器翻转条件。理论依据VCC-3.3V当温度不恒定时选R1=R2,A点电位Va=R2/(R2+R3)*3.3V=1.65V;VCC-3.3V当温度升高时R1阻值变化厶r1,R2阻值变化4r2由于上下两电阻材质及处的环境一样△r1=△r2;(R1+△r1)/(R1+△r1+R1+△r1) *3.3V=(R1+△r1)/2*(R1+△r1) *3.3V=1.65V;如果上下两电阻的温度特性一直其输出受温度的影响可以抵消。元件筛选VOC+3.3V1"惟:-；5VCC+3.3VVOC+3.3V1"惟:-；5VCC+3.3VMM壬坯U1,U2挡光时Uab与Ubc

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