IC成品检验标准

版本/版次AO页码/页数PAGE8OF4文件编号:WI-QA-05IC检验标准发布日期实施日期※※资料文件版权为公司所有，不得私自复印※※IC成品检验标准DOCUMENTREVISIONRECORDS(FILLITFROMTHELASTTOTHEFIRST)☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆☆DRAFTEDBYCHECKEDBYAPPROVEDBYDATEDATEDATE1、目的：本标准旨在使公司的成品的检验有依据、合理化，确保产品品质满足顾客要求。2、适用范围:适用于检验三晶电子生产销售的IC类产品。3、定义A面：IC的面B面：IC的底部4、职责权限:4.1品质部负责本检验标准的拟定.4.2研发部负责检验标准的审核4.3品质部QA按标准进行成品的交收检验5、管理要求：5.1交收检验：适用于品质部对经过生产部全数检验的连续批生产的产品的交收检验及订货方对生产厂的产品交收检验。5.1.1检验项目5.1.1.1开箱检验 检验内容：包装质量、外观质量和功能

音5.2抽样方案：抽样方案是遵照MIL-STD-105E的单次抽样方式，检测水平II进行正常检验，严格或简化的抽样方案经本厂与客户商讨决定也可以使用，如果一批产品被本厂QA检验判定为不合格，该批产品必须由生产部返工，工程必须分析不良原因，制定所返工的工艺，并且把相关资料提前送交公司各相关部门，任何批次运出的产品仅有在通过本公司QA检验确认为“合格品”才能放行出货。抽样方案见表1表1交收检验抽样方案类别AQL允收水准抽样方案检验水平CRMAJMINIC00.100.25MIL-STD-105E的单次抽样方式一般检验水平II级5.3缺陷分类与判据5.3.1缺陷致命缺陷Criticaldefective(CR)：指对产品的使用及维护人员可能导致人身或财产危害的缺陷。重缺陷Majordefective(MAJ)：指导致产品失效或严重降低产品使用功能，为用户不可接受之缺陷。轻缺陷MinorDefective(MIN)：指产品性能降低，但为一般用户可以接受之缺陷。5.3.2合格品与不合格的判定开箱检查不合格判据表，以每个单位统计其MA、MI类不合格为依据检验项目检验内容具体不良内容判定缺陷类型检测手法工具CrMaMi外箱检验标识根据『送检单』对来料之标识进行确认,包括:PO号、数量、生产日期等，有无漏、错、无法辩认等现象。▲目测法包装包装出现严重破损、受潮、雨淋、无防护能力、少数等现象。▲目测法外观检验规格型号规格型号不符合。▲目测法丝印目视丝印和方向印记标识文字印刷有无错误、难辨、歪斜、错字偏印、漏印、二次重印、印反等现象。▲目测法Pin脚目视或用放大镜检查IC引脚喷锡是否良好，有无氧化斑点、灰暗无光泽，残留异物、少脚、断脚；▲目测法平整度取样IC将放置于大理石平台上、侧面目视引脚有无翘起变形，左右引脚有无偏向；▲目测法尺寸外形尺寸与BOM单要求是否相符▲本体有无开裂、脏污等现象。▲目测法性能波形波形不能有失真(带点,变形),自激(毛刺),单波,无波,单波失真,杂波,延时，跳动，声道不平衡等。按分离开关后观测示波器的波形应有一条基本平滑的直达线，若无其它异常现象。▲示波器、信号发生器测试工装6、检验条件:6.1.光照度:正常室内之照明,自然光或日光,光照度在700-1000Lux.左右.6.2.检验距离:两眼距待测物30公分.6.3.光线照射方向及检验位置:光线照射方向及检验位置以方便检验为原则,待测面与光源方向呈30度到60度角,目检验方向与光源约呈垂直,与待测面约呈30度到60度角.:6.4.视力:需1.0以上,不可有色盲.6.5.检验时间:在检验1个面,以10秒内完成为原则6.6温湿度条件：温度15℃-28℃，湿度45%-75%7、检验结果处理7.1批合格产品，收货方应予接收。7.2批不合格产品处理由于安全性缺陷（致命缺陷）而判定为不合格批的产品，应拒收。交货方应对该产品全数返工，并进行全数检验。收货方对重新交验批进行抽检，如再出现安全性缺陷，应停止生产进行整顿。对因其它类缺陷而判定为不合格产品，应拒收。交货方应对该批产品返工，经全数检验后，再重新提交抽检。如仍不合格则再返工，直至被合格接收。在重新提交批的复检中发现安全性缺陷，按本条a项办法处理。8、样本的处理经交收检验的样本，凡合格样本，重新包装后可作为合格品交付收货方。凡缺陷的样本，必需修复，排除缺陷，并交检验人员复检合格后，才能重新包装交付收方。9、实施日期：自发布之日起实施。10、备注：当检验项目不可量化且存在争议时，以“是否能满足