超高压水晶釜定期检验规程

超高压水晶釜定期检验规程范围本文件规定了超高压水晶釜定期检验的基本要求、检验项目和检验方法及安全状况等级评定的内容。本文件适用于设计压力大于或等于100MPa，且容器外径内径之比大于1.25整体锻造的在役超高压水晶釜。规范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用构成本文件必不可少的条款。少的。其中，注日期的引用文件，仅所注日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T30579-2014承压设备损伤模式识别GB/T35013-2018承压设备合于使用评价GB/T32563-2016无损检测超声检测相控阵超声检测方法GB/T23905-2009无损检测超声检测用试块TSG08-2017特种设备使用管理规则TSG21-2016-2016固定式压力容器安全技术监察规程NB/T47013.1承压设备无损检测第1部分：通用要求NB/T47013.3承压设备无损检测第3部分：超声检测NB/T47013.4承压设备无损检测第4部分：磁粉检测NB/T47013.5承压设备无损检测第5部分：渗透检测NB/T47013.9承压设备无损检测第9部分：声发射检测NB/T47013.10承压设备无损检测第10部分：衍射时差法超声检测JB/T10061A型脉冲反射式超声探伤仪通用技术条件JB/T10062超声波探伤用探头性能测试方法术语和定义TSG21-2016-2016和NB/T47013.1界定的术语和定义适用于本文件。通用要求检验程序超高压水晶釜定期检验的一般程序，包括损伤模式识别、检验方案制定、检验前的准备、检验实施、缺陷及问题的处理、检验结果汇总及评价、出具检验报告等。检验结构及检验人员检验机构检验机构应具有特种设备安全监督管理部门核准的压力容器定期检验资质，并按核准的检验范围从事检验工作；检验机构应当对超高压水晶釜定期检验报告的真实性、准确性、有效性负责。检验人员检验人员应当取得相应的特种设备检验人员证书，其中检验人员应由压力容器检验师或由压力容器检验员在检验师的指导下进行检验。压力容器检验人员具备损伤模式识别等专业能力。检验报告审核人员应具有3年以上审核工作经验；检测人员应当取得相应的特种设备检测人员资质证书。报检使用单位应当在超高压水晶釜检验有效期届满的1个月以前向检验机构申报检验。检验机构接到定期检验申报后，应当在定期检验有效期届满前安排检验。安全状况等级超高压水晶釜的安全状况分为1级~5级，应当根据检验情况，按照本文件的第7章的规定进行评定。检验周期超高压水晶釜一般于投用后3年内进行首次定期检验。以后的检验周期由检验机构根据超高压水晶釜的安全状况等级，按照以下要求确定：安全状况等级为1、2级的，检验结论为符合要求，可以继续使用，一般每6年检验一次；安全状况等级为3级的，检验结论为符合要求，可以继续使用，一般每3年至6年检验一次；安全状况等级为4级的，检验结论为基本符合要求，监控使用，累计监控使用时间不得超过3年，在监控使用期间，使用单位应当采取有效的监控措施；安全状况等级为5级的，检验结论为不符合要求，不得继续使用。检验周期的特殊规定有下列情况之一的超高压水晶釜，检验周期应当适当缩短：材质劣化现象比较明显的；运行过程中发生超温的；使用年限超过15年的；使用单位没有按照规定进行年度检查的；检验中对其他影响安全的因素有怀疑的。不能按期进行定期检验的情况：因特殊情况不能按期进行定期检验的超高压水晶釜，由使用单位提出书面申请报告说明情况，经使用单位主要负责人批准，征得上次承担定期检验的检验机构同意（首次检验的延期除外），向使用登记机关备案后，可以延期检验；对于不能按期进行定期检验的超高压水晶釜，使用单位应当采取有效的监控和应急管理措施。达到设计使用年限的特殊规定达到设计使用年限的超高压水晶釜（未规定设计使用年限，但是使用超过20年的视为达到设计使用年限），如果要继续使用，使用单位应委托有检验资质的特种设备检验机构参照定期检验的规定对其检验，必要时按照TSG21-2016-2016第8.9条要求进行安全评估（合于使用评价），经过使用单位主要负责人批准后，办理使用登记证书变更，方可继续使用。检验前的准备工作损伤模式识别检验前，检验人员应充分了解受检的超高压水晶釜所处的工艺及工况，分析有可能发生的损伤模式。检验方案检验前，检验机构应按照TSG21-2016-2016第8.2.1款要求，根据超高压水晶釜的使用情况、损伤模式，制定检验方案。资料审查检验前，检验人员一般审查以下资料：设计资料，包括设计单位资质，设计、安装、使用说明书，设计图样，强度计算书；制造资料，包括制造单位资质证明、产品合格证、质量证明文件、竣工图以及监检证书；安装竣工资料；改造或重大修理资料，包括施工方案和竣工资料，以及改造、重大修理监检证书；使用管理资料，包括《使用登记证》和《使用登记表》，以及运行记录、开停车记录、运行条件变化情况以及运行中出现异常情况的记录等；检验、检查资料，包括定期检验周期内的年度检查报告和上次的定期检验报告。本条第a）项至第d）项的资料，在超高压水晶釜投用后的首次定期检验时必须进行审查，以后的检验视需要（如发生移装、改造及重大修理等）进行审查。资料审查发现使用单位未按照要求对超高压水晶釜进行年度检查，以及发生使用单位变更、更名使超高压水晶釜的现实状况与《使用登记表》内容不符，而未按照要求办理使用登记变更的，检验机构应当向使用登记机关报告。资料审查发现超高压水晶釜未按照规定实施制造监督检验或者无《使用登记证》，检验机构应当停止检验，并且向使用登记机关报告。设备仪器检定校准检验检测用的设备、仪器和测量工具应当在有效的检定或者校准期内，并可正常使用。现场条件使用单位和相关的辅助单位，应当按照TSG21-2016-2016第8.2.3款要求做好停机后的技术性处理和检验前的安全检查，确认现场条件符合检验工作要求，做好以下有关的准备工作：按操作规程的要求缓慢对超高水晶釜降温，使之满足检验工作的要求；拆除与釜体连接的卡箍、压环、密封环、密封塞、压套等影响检验的连接部件；将釜体内部排除干净，并采用煮釜或机械处理的方法去除内表面影响检验的附着物；将待检釜体放在便于检验的位置，并固定牢靠防止滚动；需要进行检验的釜体和主要零部件表面，特别是腐蚀部位和可能产生缺陷的部位，彻底清理干净，露出金属本体；进行无损检测的表面达到NB/T47013的有关要求。检验工作安全要求检验工作安全要求应当满足TSG21-2016-2016第的要求。检验项目与方法检验项目超高压水晶釜的定期检验项目，以宏观检验、外径测量、壁厚测定、硬度检测、表面无损检测、超声波检测和安全附件检验为主，必要时增加金相检测、耐压试验、衍射时差法超声检测、相控阵超声检测、声发射检测及其它检测方法；此外，当设计文件对超高压水晶釜定期检验项目、方法有特殊要求的，还应当遵从其规定。宏观检验检查釜体、卡箍等受压元件的钢印号。检查釜体外表面的腐蚀、裂纹、变形、机械接触损伤、过热情况，主要受压元件螺纹（如釜体上端部内外螺纹、卡箍螺纹、上法兰螺纹、卡箍螺栓螺纹）和卡箍螺栓部位变形、磨损情况，必要时采用专用牙型模具检查。检查釜口密封面及内表面腐蚀、划伤、变形、裂纹等缺陷，采用强光灯进行检查，对有怀疑部位或必要时采用内窥镜、管道爬行器等进一步检查。检查测温孔数量、位置、深度、直径。测温孔直径及深度不得大于设计的规定。设计无规定时，测温孔直径和深度以第一次检查数据或出厂数据为准，不得私自加工。检查堵底密封、泄露情况。对上述检查情况进行记录。外径测量外径测量，采用外径千分尺等方法进行测量。测量部位包括釜体下部高温区、局部变形部位、宏观检验有怀疑的部位及上次检验发现有外径增大倾向或变化的部位。外径测量应避开打磨部位、测温孔、钢印等部位。壁厚测定壁厚测定，采用超声波测厚等方法。宏观检验和外径测量有怀疑的部位应增加测厚点。内外表面腐蚀部位、表面缺陷修磨部位应增加壁厚测定，以确定剩余壁厚。硬度检测检测部位至少包括一个高温区和一个非高温区。必要时对宏观检验和外径测量有怀疑部位、缺陷部位和釜体局部变形部位进行硬度检测。当HB≥400或HB≤300时应当进行金相分析。硬度检测数值与上次检验数值或出厂数值比较异常变化时应当进行金相分析。异常变化是指检测数值与出厂数值或上次检验数值的差值大于30HB，或两次以上的检测累计值大于30HB。金相分析超高压水晶釜首次检验、使用每超过5年时应进行金相分析。检验时发现釜体有局部变形、过热或外径测量有怀疑的部位应进行金相分析。检验人员和使用单位认为有必要时应进行金相分析。表面无损检测釜体外表面高温区、釜口台阶及密封面、测温孔、修磨部位进行100%磁粉检测，检测灵敏度应满足NB/T47013.4灵敏度试片A1：30/100要求。对宏观检验有怀疑的主要受压元件的螺纹（釜体螺纹、卡箍螺纹、上法兰螺纹）进行磁粉或渗透检测，磁粉检测灵敏度应满足NB/T47013.4灵敏度试片C：15/50要求，渗透检测灵敏度应满足NB/T47013.5镀铬试块C级要求。当卡箍螺栓外观检验发现变形、损伤或检验人员有怀疑时，应对卡箍螺栓进行磁粉检测。检测中发现裂纹时，应当扩大检测比例或检测部位。磁粉检测按附录D《在役超高压水晶釜磁粉检测工艺指导书》执行。超声波检测对釜体（除螺纹部位）进行100%周向超声波检测，釜体高温区进行轴向检测；对上次检验发现的缺陷部位应重点复查，对釜体内表面出现的缺陷反射波幅进行宏观复核；超声波检测发现≥1/2DAC的缺陷反射波幅且缺陷性质难以判定时，应采用衍射时差法超声检测和相控阵超声检测等检测方法进行补充检测；超声波检测按附录B《在役超高压水晶釜筒体超声波检测工艺指导书》、附录C《在役超高压水晶釜底部台阶及退刀槽超声波检测工艺指导书》和附录E《在役超高压水晶釜筒体横波对比试块》执行。耐压试验使用单位或检验机构对超高压水晶釜的安全状况等级有怀疑时，应当进行耐压试验。耐压试验的试验压力、试验准备、安全防护、试验介质、试验过程、合格要求等按照TSG21-2016-2016以及设计文件的相关规定执行。耐压试验后应当测量釜体残余变形（测量位置与外径测量位置相同），其值不得超过耐压试验前釜体外径的万分之一，且不超过0.05mm。耐压试验后，应对釜体进行超声波检测和磁粉检测。检测比例与耐压试验前检测比例相同。磁粉检测和超声波检测应分别满足第6.7条和第6.8条的要求。衍射时差法超声检测衍射时差法超声检测对超声波检测发现的≥1/2DAC缺陷进行补充检测。衍射时差法超声检测对超声波检测发现的缺陷、确定缺陷类型及变化情况判断。衍射时差法超声检测按附录F《在役超高压水晶釜TOFD检测工艺指导书》执行。相控阵超声检测相控阵超声检测对超声波检测发现的≥1/2DAC缺陷进行补充检测。相控阵超声检测对超声波检测发现的缺陷确定缺陷类型及变化情况进行判断。相控阵超声检测按附录G《在役超高压水晶釜筒体相控阵超声检测工艺指导书》执行。声发射检测在耐压试验过程中采用声发射检测对超声波检测发现的缺陷变化情况进行判断。声发射检测按附录H《在役超高压水晶釜筒体声发射检测工艺指导书》执行。安全附件检查检查是否按设计要求安装爆破片装置。爆破片应由使用单位或爆破片制造单位制定更换周期，检查爆破片是否按期更换。检查压力表是否在校验有效期内。检查测温仪表是否在使用单位或制造单位规定的校验期内使用。安全状况等级评定评定原则安全状况等级根据超高压水晶釜的检验结果综合评定，以其中项目等级最低者为评定等级，进行单项评定时，同等情况下宜趋严把握。需要改造或者修理的超高压水晶釜，按照改造或者修理结果进行安全状况等级评定。安全附件检验不合格的超高压水晶釜不允许投入使用。材料问题主要受压元件材料与设计不符、材质不明或者材质劣化时，按照以下要求进行安全状况等级评定：用材与原设计不符且经过校核不满足使用要求以及材质不明的压力容器，定为5级；金相检验结果应按照附录A，将在用超高压水晶釜釜体材质劣化程度进行分级，共分为5级。金相评定准则：1～2级为合格组织（不影响安全状况等级评级），4级及以上为不合格组织（安全状况等级评定为5级），3级为基本合格组织（安全状况等级应综合评定，其它检测项目结果为无缺陷的可评为4级，存在其他缺陷的评为5级）。结构问题在以任意点为中心，以50mm为半径的范围内，测温孔的数量多于2个或者两孔边缘间距大于30mm，经过检验未发现新生缺陷（不包括正常的均匀腐蚀）的，可以定为3级，否则定为5级。变形、机械接触损伤、工卡具焊迹及电弧灼伤变形、机械接触损伤、工卡具焊迹、电弧灼伤等，按照以下要求评定安全状况等级：釜体各测量断面的外径测量差值小于等于所测最小外径的0.5%的，不影响评级；釜体各测量断面的外径测量差值大于所测最小外径的0.5%的，定为5级；机械接触损伤、工卡具焊迹、电弧灼伤等，打磨后按照本文件7.7的规定定级。（这句写的很好，其余按照这种写法写）腐蚀有腐蚀的压力容器，按照以下要求评定安全状况等级：分散的点腐蚀，如果腐蚀深度和点腐蚀面积不超过TSG21-2016-2016第8.5.7款范围，定为3级；超过此范围的，应参照GB/T35013相应条款进行评价，符合1级或2级评价要求的，且经相应的无损检测未发现新生缺陷的，定为3级，否则应定为4级或5级；均匀腐蚀，如果剩余壁厚符合TSG21-2016-2016第8.5.7要求的，定为3级；超过此范围的，应参照GB/T35013相应条款进行评价，符合1级或2级评价要求的，定为3级，否则应定为4级或5级；局部腐蚀，腐蚀深度超过壁厚余量的，应当确定腐蚀坑形状和尺寸，并且充分考虑检验周期内腐蚀坑尺寸的变化，可以按照本文件第7.4款的规定定级。机械损伤存在机械损伤现象的超高压水晶釜，发现裂纹，应当打磨消除，并且按照本文件第7.7款的要求进行处理，在规定的操作条件下和检验周期内满足安全使用要求的，定为3级，否则定为4级或者5级。表面缺陷未发现影响安全运行的表面缺陷，定为3级。对于影响安全运行的表面缺陷应打磨消除，且缺陷边缘应圆滑过渡：釜口密封面：打磨后影响密封性能，定为5级；打磨后不影响密封性能，定为3级；非釜口密封面：打磨深度小于等于6mm，定为3级；打磨深度大于6mm且剩余壁厚满足强度计算要求的最小壁厚，定为4级；打磨深度大于6mm以及剩余壁厚不满足强度计算要求的最小壁厚，定为5级。埋藏缺陷判定为裂纹类缺陷和缺陷反射波幅≥DAC的非裂纹类缺陷，定为5级；检测发现缺陷反射波幅＜DAC的非裂纹类缺陷时按表1进行评定（注1）：缺陷反射波幅＜DAC的非裂纹类缺陷安全状况等级缺陷反射波幅缺陷尺寸（mm）安全状况等级波幅＜1/2DACL≤150mm2级L＞150mm3级1/2DAC≤波幅＜DACL≥2/3t或L≥150mm，且H≤4mm3级L≥2/3t或L≥150mm，且H＞4mm4级注1：表中H是指缺陷在厚度方向的尺寸，亦称缺陷高度；L是指缺陷长度；t为实测厚度。对所有的缺陷均应当测定其高度和长度，并且在下次检验时对缺陷尺寸进行复验。耐压试验属于压力容器本身原因，导致耐压试验不合格的，定为5级。结论及报告检验结论综合评定安全状况等级为1～3级的超高压水晶釜，检验结论为符合要求，可以继续使用，安全状况等级为4级的，检验结论为基本符合要求，有条件的监控使用；安全状况等级为5级的，检验结论为不符合要求，不得继续使用。检验报告检验机构应当保证检验工作质量，检验时应有记录，检验工作结束后对检验结果进行综合评定后出具检验报告，报告的格式应当符合规程TSG21-2016的要求（单项检验报告的格式由检验机构在其质量管理体系文件中规定）。检验记录应当详尽、真实、准确，检验记录记载的信息量不得少于检验报告的信息量。检验机构应当妥善保管检验方案、检验记录和报告，保存期至少6年。检验报告的出具应当符合以下要求：检验工作结束后，检验机构一般在30个工作日内出具报告，交付使用单位存入压力容器技术档案；超高压水晶釜检验结论报告应当有编制、审核、批准三级人员签字，批准人员为检验机构的技术负责人或者其授权签字人；因设备使用需要，检验人员可以在其报告出具前，先出具《特种设备定期检验意见通知书（1）》，将检验初步结论书面通知使用单位，检验人员对检验意见的正确性负责；检验发现设备存在需要处理的缺陷，由使用单位负责进行处理，检验机构可以利用《特种设备定期检验意见通知书（2）》将缺陷情况通知使用单位。处理完成并且经过检验机构确认后，再出具检验报告；使用单位在约定的时间内未能完成缺陷处理工作的，检验机构可以按照实际检验情况先行出具检验报告，处理完成并且经过检验机构确认后再次出具报告（替换原检验报告）；经检验发现严重事故隐患，检验机构应当使用《特种设备定期检验意见通知书（2）》将情况及时告知使用登记机关。检验信息管理使用单位、检验机构应当严格执行本文件的规定，做好超高压水晶釜的检验工作，并且按照特种设备信息化工作规定，及时将所有的检验更新数据上传至特种设备使用登记和检验信息系统；检验机构应当按照规定将检验结果汇总上报使用登记机关。检验案例凡在检验过程中，发现超高压水晶釜存在影响安全的缺陷或者损坏，需要重大修理或者不允许使用的，检验机构按照有关规定逐台填写检验案例，并且及时上报、归档。检验标志检验结论意见为符合要求或者基本符合要求时，检验机构应当按规定出具检验标志。

（规范性附录）

金相分级方法1级组织回火索氏体（或回火贝氏体）组织，无碳化物析出，测定的硬度值无明显变化（参见图谱1～6）；图谱1组织：回火索氏体图谱2组织：回火索氏体图谱3组织：回火索氏体图谱4组织：回火索氏体图谱5组织：回火索氏体图谱6组织：回火索氏体2级组织回火索氏体（或回火贝氏体）组织，无碳化物析出，但在显微组织中保留有马氏体或贝氏体位向。测定的硬度值无明显变化（参见图谱7～10）；图谱7组织：回火索氏体（部分保留位向）图谱8组织：回火索氏体（部分保留位向）图谱9组织：回火索氏体（部分保留位向）图谱10组织：回火索氏体（部分保留位向）3级组织回火索氏体（或回火贝氏体）组织，析出少量碳化物，其碳化物呈细条状（参见图谱11～13）。这时材料的冲击功显著下降，材料的韧性塑性降低，即材料脆化。而测定的硬度值仍无明显变化；图谱11组织：回火索氏体+晶界少量碳化物图谱12组织：回火索氏体+晶界少量碳化物图谱13组织：回火索氏体+晶界少量碳化物4级组织回火索氏体（或回火贝氏体）组织，碳化物出现聚集，其碳化物呈细粗条状，且在回火索氏体基体上出现白色的块状铁素体（参见图谱14～18）。测定的硬度值明显下降，即材料的强度明显降低；图谱14组织：回火索氏体（白色块状铁素体增多及碳化物聚集成条状）图谱15组织：回火索氏体（白色块状铁素体增多）图谱15组织：回火索氏体（白色块状铁素体增多）图谱17组织：回火索氏体+晶界较多碳化物图谱18组织：回火索氏体（碳化物析出严重）5级组织回火索氏体（或回火贝氏体）组织，碳化物出现球化，甚至完全球化，即碳化物呈粒状、球状（参见图谱19～25），球状碳化物多沿晶界呈链状分布。完全球化时回火索氏体组织变为铁素体+球状碳化物（参见图谱26）。所测定的硬度值远低于规定值，材料抗拉强度和屈服强度大大下降，已远低于标准的规定值。图谱21组织：图谱22组织：晶界碳化物较明显图谱23组织：碳化物球化图谱24组织：回火索氏体（块状铁素体、碳化物球化）图谱25组织：块状铁素体+球状碳化物+少量珠光体图谱26组织：碳化物完全球化

（规范性附录）

在役超高压水晶釜筒体超声波检测工艺指导书总则适用范围本工艺指导书适用于内径Di≤400mm，容器外径内径之比Z大于1.25的在役超高压水晶釜筒体超声波检测，直探头纵波，轴向超声横波检测方法按NBT47013.3-2015执行。检测人员无损检测人员应按照《特种设备无损检测人员考核规则》要求取得超声检测的Ⅱ级或Ⅱ级以上资格，并具有压力容器锻件的无损检测经验，检测报告签发应当取得Ⅲ级资格证书。仪器、探头、试块与耦合剂仪器采用A型脉冲反射式超声波探伤仪，其工作频率范围为0.5MHz～10MHz。仪器至少在荧光屏满刻度的80%范围内呈线性显示，探伤仪应具有80dB以上的连续可调衰减器，步进级每档不大于2dB，其精度为任意相邻12dB的误差在±1dB以内，最大累计误差不超过1dB。水平线性误差不大于1%，垂直线性误差不大于5%。其余应符合JB/T10061标准要求。推荐采用带曲面定位功能的数字超声检测仪进行检验。探头横波周向检测采用斜探头K值应满足：K≤r（R2-r2）-1/2，以保证检测用波型的声束中心线扫查到水晶釜内壁，横波轴向检测采用斜探头K1，晶片面积一般不应大于500mm2，且任一边长原则上不大于25mm；纵波检测推荐采用标称频率为2～2.5MHz，晶片直径为φ20～φ25mm的直探头。必要时，也可使用其它频率和尺寸的探头。横波周向检测用斜探头楔块应磨弧，保证探头与工件外表面吻合良好。推荐使用的探头类型探头选用推荐表产品规格探头类型1.25＜Z＜1.67折射角37°（±0.5°）的全横波斜探头1.67≤Z＜1.80横波折射角34°（±0.5°）的全横波斜探头或纵波折射角为61°（±1°）的斜探头Z≥1.8纵波折射角为arcsin（d/D）的斜探头，或变形横波折射角为arcsin（d/2D）的斜探头超声波探伤仪和探头的系统性能在达到所探工件的最大检测声程时，其有效灵敏度余量应不小于10dB。仪器和探头的组合频率与公称频率误差不得大于±10%。试块横波纵向检测斜探头试块采用NB/T47013.3标准中CSK-IA试块和纵向V形槽对比试块，纵波直探头试块采用NB/T47013.3标准中CS试块。横波斜探头检测专用对比试块：在役超高压水晶釜筒体横波检测V型校正槽的型式、分布及尺寸见图B.1；图B.1中（2δ+100）mm范围区域为探头校正扫查区，该区应无台阶等影响探头移动的结构；试块的材质、热处理组织状态、规格尺寸、参数应与被检筒体相同或相似，并且轴向尺寸应保证为（2δ+100）mm。超高压水晶釜筒体横波对比试块V型校正槽示意图t=2δ%或t=6mm，二者取较小值；槽深范围：t0-2t%～t0-0.03。当-2t%﹤-0.03时，取-0.03；L=25mmV形角为60°0°-1°；槽底部的平面宽度不能大于V形槽深度t的20%。在役超高压水晶釜筒体横波检测横通孔，V型校正槽的型式、分布及尺寸见图B.2。超高压水晶釜筒体横波检测横通孔V型槽对比试块t=2δ%或t=6mm，二者取较小值；槽深范围：t0-2t%～t0-0.03。当-2t%﹤-0.03时，取-0.03；L=25mmV形角为60°0°-1°；槽底部的平面宽度不能大于V形槽深度t的20%。横孔为φ2×50横通孔，深度分别为20%T，40%T，60%T，80%T，对比试块应选取与被检工件规格相同，材质、热处理组织状态和表面状况相同或相似的筒形件制备，对比试块不得有大于或等于φ2mm当量的自然缺陷，试块宽度为50mm。耦合剂采用20#～50#机油或其它符合标准要求的耦合剂。检测检测灵敏度校正纵波直探头检测灵敏度校正：纵波直探头检测灵敏度为φ2mm平底孔当量。灵敏度调节可用试块（CS试块）法，也可用AVG法。横波斜探头V形槽检测灵敏度校正：将横波斜探头置于专用对比试块外圆表面，探测位于试样内表面的V型校正槽，调整增益或衰减器，使V型校正槽上的最大反射信号为80%满刻度；不改变仪器的旋钮，探测试样外表面V型校正槽，找出外表面V型校正槽最大回波，在示波屏上记下两槽反射波峰值点，用一直线连接该两峰值点，该直线就作为横波斜探头检测的DAC线或参考验收线。扫查灵敏度为DAC+6dB。横波斜探头横通孔检测灵敏度校正：使用对比试块的横通孔调整检测灵敏度，使用相应的检测用波形，先从外圆面将探头用直射法分别对准试块离外表面深度位置为10%，20%T，40%T，60%T，80%T的φ2×40横通，记录各个反射体的波幅值，将上述各点连接，绘出距离-波幅曲线（判废线）作为缺陷验收的判废线。检测时将判废线提高8dB作为检测基准灵敏度（1/2DAC定量线）；V形槽检测灵敏度为检测基准灵敏度，对V形槽比试块发现的内部缺陷反射信号应用横通孔对比试块灵敏度进行缺陷的指示长度、埋藏深度、自身高度、位置及波幅的测定，V形槽对比试块和横通孔对比试块分别作为釜体表层部位和釜体内部的缺陷定量检测使用。DAC线应根据釜体实际表面状况计入表面补偿值。为了发现运行过程中可能产生的小裂纹，扫查灵敏度应提高到晶粒草状回波高达5～10%满刻度。检测时机及检测表面要求釜体温度应降至常温，检测面（筒体外表面）应经打磨符合超声检测要求。扫查方式横波周向扫查时，应从圆周面分别沿顺时针和逆时针方向扫查，斜探头K值应符合B.2.2.1条的规定。横波轴向扫查采用斜探头K1，应先后沿180方向扫查。扫查时，探头移动速度不应超过100mm/s，扫查时相邻两次扫查应相互重叠约为晶片尺寸的15%。图a）横波周向扫查示意图图b）横波轴向扫查示意图横波扫查示意图检测部位与抽检率釜体周向100%检测，轴向30%检测（螺纹部份除外）。对于釜体在制造过程中或上次定期检验中存在的记录缺陷，应采用纵波直探头或横波斜探头检测核实，确认缺陷是否扩展。釜体底部台阶和退刀槽的检测釜体底部台阶和退刀槽的检测采用K1探头。釜体底部台阶和退刀槽的检测方法见附录C。缺陷记录记录大于或等于1/2参考验收线（DAC）的缺陷反射信号（指示长度、埋藏深度、自身高度、位置及波幅），缺陷指示长度和高度按6dB法和端点6dB法测定，当相邻两个缺陷间距小于或等于25mm时，按单个缺陷处理（中间间距不计）。对V形槽检测发现的釜体内部缺陷应根据横通孔深度校核灵敏度确定缺陷的深度，当量，位置等信息，并根据对比试块的校准结果确定缺陷的深度位置，从圆周面顺时针和逆时针两个方向进行扫查分别确定缺陷的弧长度，采用对称定位法确定缺陷的具体位置。对于内表面的反射信号应采用内窥镜或其它有效的其他方法进行验证。质量评级判定为裂纹缺陷的反射信号不允许存在。釜体内外表面20mm范围内发现的反射信号按V形槽对比试块校正灵敏度进行评定，釜体内外表面20mm范围以外直射波发现的反射信号按横通孔对比试块校正灵敏度进行评定，并按直探头检测来确定缺陷的边界范围。纵波直探头检测结果，应符合NB/T47013.3的要求。横波斜探头检测:大于或等于参考验收线（DAC）的缺陷反射信号的质量等级评为Ⅲ级；单个缺陷指示长度最大不得超过30mm。相邻两缺陷在一直线上，其间距小于其中较小的缺陷长度时，应作为一条缺陷处理，以两缺陷长度之和作为其指示长度（间距不计入缺陷长度）。波幅在距离-波幅曲线50%-100%的缺陷按表分级：超高压水晶釜筒体超声波检测质量分级质量等级单个缺陷指示长度Ⅰ≤1/3壁厚，且≤100mmⅡ≤2/3壁厚，且≤150mmⅢ大于Ⅱ级者检测报告及原始记录检测过程中应认真做好记录，检测完毕后，及时出具检测报告，检测报告应当由取得UT-Ⅲ级资格证书者复核后签发。

（规范性附录）

在役超高压水晶釜底部台阶及退刀槽超声波检测工艺指导书检测范围本附录规定了超高压水晶釜底部台阶及退刀槽的超声波检测方法。超高压水晶釜底部台阶及退刀槽结构如图C.1所示，通过几何测量，在筒体外表面标记出退刀槽和台阶的位置。探头选择推荐使用频率2.5MHz、K1斜探头。灵敏度调节首先从釜体上部向釜底方向扫查（图C.1中探头位置1），分别找出退刀槽和台阶的最大反射回波，在仪器屏幕上确认其位置。提高增益，把对应退刀槽或台阶处的仪器杂波信号调至满刻度的5％，以此作为检测灵敏度。裂纹检测退刀槽处裂纹检测从釜底向釜体上部方向扫查（图C.1中探头位置2），若出现来自螺纹以外的反射信号，应采用周向移动探头等方法进行确认，若信号反射位置为退刀槽尖角处，则按检测不合格处理。台阶处裂纹检测从釜底向釜体上部方向扫查（图C.1中探头位置2），若出现反射信号，应采用周向移动探头等方法进行确认，若信号反射位置为台阶尖角处，则按检测不合格处理。位置2 位置1超高压水晶釜底部台阶及退刀槽结构示意

（规范性附录）

在役超高压水晶釜磁粉检测工艺指导书总则 适用范围本工艺指导书适用于在役超高压水晶釜现场釜体及受压部件螺纹磁粉检测。检测人员无损检测人员应按照《特种设备无损检测人员考核规则》要求取得磁粉检测的Ⅱ级或Ⅱ级以上资格。器材及检测参数仪器型号：采用磁粉检测仪，其性能应符合NB/T47013.4的规定。检测方法：交叉磁轭法、磁轭法。磁化通电方式：连续法、湿法。磁化电流：交流电磁化方向：对被检部位的每一区域应进行相互垂直的两次磁化。磁化规范:交流电磁轭至少应有45N的提升力；交叉磁轭至少应有118N的提升力（磁极与试件表面间隙为0.5mm）；D.2.6.2采用NB/T47013.4的灵敏度试片A1－30／100，A1-15/100或7/50灵敏度试片校验。磁化通电时间及施加磁悬液：采用连续法时，被检部位的磁化、施加磁悬液的工艺及观察磁痕显示都应在磁化通电时间内完成，通电时间为1～3秒，停施磁悬液至少1s后方可停止磁化。为保证磁化效果应至少反复磁化两次。磁轭磁极间距：磁轭磁极间距为75～200mm。磁悬液施加方式：采用喷洒法。磁悬液种类：磁膏加水或其它标准要求的配置方法。磁悬液浓度：磁悬液配制浓度为10～25g/L；磁悬液沉淀浓度（含固体量）为1.2～2.4mL/100mL。反差增强剂：选用白色反差增强剂。磁粉（膏）、磁悬液、灵敏度试片、磁粉检测反差增强剂等，应有质量证明书（合格证）。表面准备被检工件表面应彻底去除污垢、油污，100%露出金属基体，再擦洗干净，特别是螺纹沟槽处。检测操作待被检表面处理完毕并干燥后，喷涂反差增强剂，待反差增强剂完全干燥后方可进行检测。检测系统灵敏度校验：将A1-30/100试片置于螺纹沟槽处（或釜体表面），按实际检测时喷洒磁悬液的方式喷洒磁悬液。A1-30/100试片磁痕显示清晰，方可进行检测。每一区域进行磁力线相互垂直的两个方向磁化，磁化区域每次应有不少于15mm重迭区域。检测部位超高压水晶釜釜体螺纹及相关受压部件螺纹100%、釜体外表面30%抽查（抽查部位由釜体底部向上）、所有测温孔及釜体外表面修磨处100%，釜顶端口内表面台阶处100%。磁痕辩认及缺陷磁痕评定区分相关显示、非相关显示和伪显示。缺陷磁痕显示：不允许有裂纹、白点、气孔和折皱等缺陷存在；不允许存在长度大于2mm的线性缺陷或者直径大于4mm的圆形缺陷（注：线性缺陷：是指长度与宽度之比大于3的缺陷磁痕；圆形缺陷：是指长度与宽度之比不大于3的缺陷磁痕）；非相关显示、伪显示可不记录。

（规范性附录）

在役超高压水晶釜筒体横波对比试块超高压水晶釜筒体横波检测V型校正槽专用对比试块在役超高压水晶釜筒体横波检测V型校正槽的型式、分布及尺寸见图E.1。图E.1中（2δ+100）mm范围区域为探头校正扫查区，该区应无台阶等影响探头移动的结构。试块的材质、热处理组织状态、尺寸、参数应与被检筒体相同或相似，并且轴向尺寸应保证为（2δ+100）mm。t=2δ%或t=6mm，二者取较小值；槽深范围：t0-2t%～t0-0.03。当-2t%﹤-0.03时，取-0.03；L=25mmV形角为60°0°-1°；槽底部的平面宽度不能大于V形槽深度t的20%。超高压水晶釜筒体横波对比试块V型校正槽示意图超高压水晶釜筒体横波检测横通孔V型校正槽对比试块在役超高压水晶釜筒体横波检测横通孔，V形槽校正槽的型式、分布及尺寸见图E.2。超高压水晶釜筒体横波检测横通孔V型槽对比试块t=2δ%或t=6mm，二者取较小值；槽深范围：t0-2t%～t0-0.03。当-2t%﹤-0.03时，取-0.03；L=25mmV形角为60°0°-1°；槽底部的平面宽度不能大于V形槽深度t的20%。横孔为φ2×50横通孔，深度分别为10%，20%T，40%T，60%T，80%T，对比试块应选取与被检工件规格相同，材质、热处理组织状态和表面状况相同或相似的筒形件制备，对比试块不得有大于或等于φ2mm当量的自然缺陷，试块宽度为50mm。

（规范性附录）

在役超高压水晶釜衍射时差法超声检测工艺指导书范围 本工艺指导书适用于外径内径之比大于1.25整体锻造的在役超高压水晶釜釜体的衍射时差法超声检测（以下简称“TOFD”）检测。一般规定检测人员从事TOFD检测的人员应当按照相关安全技术规范要求，获得特种设备无损检测人员超声检测TOFD专项资格，方可从事相应资格等级规定的检测工作，并负相应技术责任。TOFD检测人员应熟悉所使用的TOFD检测设备器材。应由TOFD检测专项资质II级及以上人员编写检测工艺、数据分析、判读TOFD图像。检测设备检测设备性能指标应满足NB/T47013.10附录B（规范性附录）的要求。检测人员在实际检测时应根据被检工件的结构形式和壁厚等要求选择合适的扫查装置实施检测。检测条件水晶釜检测表面应经外观检查合格。检测表面应平整光滑，便于探头的移动，探头移动区应清除焊接飞溅、铁屑、油垢及其他杂质，其表面粗糙度Ra≤6.3um。在探头和检测面之间，应选用机油等透声性好且不损伤检测表面的耦合剂。探头夹持部分能调整和设置探头中心间距，在扫查时保持探头中心间距和相对角度不变；导向部分应能在扫查时使探头运动轨迹与拟扫查线保持不变。检测实施本工艺指导书主要用于检测釜体中的纵向缺陷，周向缺陷的检测工艺与平板对接焊缝的TOFD检测工艺一致。检测区域根据检测区域和探头设置确定的扫查路径在检测前应在釜体上予以标记，标记内容至少包括扫查起始点和扫查方向（有缺陷显示时，应在缺陷中心线位置画出平行于釜体轴向中心线的一条参考线，以确保探头的运动轨迹）。探头、楔块的选取和PCS设置探头选取包括探头型式、参数的选择。TOFD检测一般选择宽角度纵波斜探头，对于每一组探头对的两个探头，其标称频率应相同，声束角度和晶片直径宜相同。检测釜体内部缺陷时，根据缺陷的深度值按照图F.1的规定选择探头和楔块，PCS按探头发射的声波主声束交点接近于缺陷位置来确定。检测内表面纵向缺陷时，应使探头发射的声波主声束交点位于内表面附近，按照图F.1的规定选择探头和楔块，PCS按探头发射的声波主声束交点位于内表面位置来确定。超高压水晶釜TOFD检测探头推荐性选择和设置当缺陷深度t≤50mm时，可采用一组探头对检测；当缺陷深度t＞50mm时，应在厚度方向分若干区域进行检测，也可调整PCS值，采用一组探头对缺陷进行检测。灵敏度校准试块制作试块所用材质、热处理工艺、表面粗糙度和内外径尺寸应与被检超高压水晶釜基本相同，不得有影响人工缺陷正常显示的缺陷。超高压水晶釜TOFD检测灵敏度校准试块试块规格如图F.2，在筒体内外表面各加工一个60°V型槽，槽长20mm，槽深为2mm。试块加工应符合GB23905标准要求。检测系统设置和校准A扫描时间窗口设置和深度校准。检测前应采用图F.2所示校准试块根据缺陷深度设置A扫描时间窗口和深度校准，具体设置和校准方法按NB/T47013.10中5.10条执行。灵敏度设置用图F.2所示校准试块根据缺陷深度根据校准块上的反射体设置灵敏度，需要将较弱的衍射信号波幅设置为满屏高的40～80%，并在实际工件表面扫查时进行表面耦合补偿。检测对已知缺陷的扫查方式一般采用非平行扫查，探头对称布置于缺陷两侧沿釜体轴向方向运动。检测时探头相对于水晶釜的扫查速度不应超过150㎜/s。缺陷评定评定内容包括缺陷深度、缺陷长度、缺陷高度以及缺陷的类型（点状缺陷、条状缺陷）。不允许危害性表面开口缺陷和裂纹类缺陷的存在。质量安全等级评定按NB/T47013.10第8条进行；安全状况等级评定按本规程第7.8条进行。检测记录和报告内容检测记录和报告至少应包括以下内容:委托单位；被检工件：名称、编号、规格、材质、坡口型式、焊接方法和热处理状况；检测设备：仪器、探头（探头种类、频率、角度、晶片尺寸等参数）、试块、耦合剂；检测工艺：探头布置、检测设置、校准方法、扫查方式、定位装置；检测部位、检测区域及相关显示的类型、位置、尺寸和分布应在草图上予以标明；检测数据：数据文件名称、缺欠位置与尺寸及缺欠部位TOFD图像；检测数据分析及结论；检测人员和责任人员签字及其技术资格；检测日期、、报告日期。

（规范性附录）

在役超高压水晶釜筒体相控阵超声检测工艺指导书总则适用范围本文件适用于内径Di≤400mm，容器外径内径之比Z大于1.25的在役超高压水晶釜筒体斜入射法相控阵超声检测。检测人员检测人员一般应符合NB/T47013.1的规定，须取得特种设备行业超声波Ⅱ（中）级及以上资格证书，熟悉相控阵超声设备的使用、调试和结果评定。设备和器材相控阵超声仪器应当具有产品质量合格证或制造厂出具的合格文件，具有超声波发射、接收、放大、数据自动采集、记录、显示和分析功能，且其性能应满足GB/T32563第6.2条的要求。相控阵仪器性能应定期进行校准，校准周期由使用单位决定。探头及楔块探头中心频率范围一般为2.5MHz～5MHz，阵元数一般为32或以上，性能指标应满足GB/T32563第6.4条的要求。楔块应采用曲面楔块，使其与检测面相吻合。试块分为标准试块和对比试块，试块应采用与被检测工件声学性能相同或相似的材料制成。试块的材料用直探头检测时，不得出现大于Φ2mm平底孔回波幅度1/4的缺陷信号。试块的制作要求应符合GB/T23905的规定。标准试块用于评定和校准相控阵超声检测设备，即用于仪器探头系统性能校准的试块，本文件采用的标准试块为CSK-ⅠA试块和声束控制评定试块。CSK-ⅠA试块具体形状、尺寸见NB/T47013.3，声束控制评定试块见图G.1。对比试块对比试块是用以调节超声检测设备的幅度和声程，以将所检出的缺陷信号与已知反射体所产生的信号相比较，即用于检测校准的试块。本文件采用的对比试块为CSK-ⅡA系列、RB-C试块和横通孔V型槽对比试块。CSK-ⅡA系列试块和RB-C试块具体形状、尺寸见NB/T47013.3，横通孔V型槽对比试块见图G.2。声束控制评定试块超高压水晶釜筒体横波检测横通孔V型槽对比试块耦合剂应采用透声性较好且不损伤被检件表面的耦合剂，如机油、甘油等，实际检测采用的耦合剂应与检测系统设置和校准时的耦合剂相同。检测实施扫查方式和扫描方式的选择推荐采用沿线扫查+扇扫描的方式，根据现场情况也可选用其他方式。显示方式一般应采用按实际几何结构显示成像的方式，根据聚焦法则的参数，用相控阵超声检测设备中的理论模拟软件进行演示，通过调整声束角度和探头位置等，使所选用的检测声束完全覆盖检测区域。扫查速度采用沿线扫查时应保证扫查速度小于或等于最大扫查速度vmax，同时应保证耦合效果和数据采集的要求。最大扫查速度按下式计算：式中：νmax——最大扫查速度，mm/s；PRF——脉冲重复频率，Hz；PRF<c/2S；c—声速，mm/s；S—最大检测声程，mm。N——设置的信号平均次数；M——延迟法则的数量（如扇扫描时，角度范围为40°~70°，角度步进为1°，则M=31；线扫描时，总体晶片数量64个，激发晶片数量16个，扫查步进为1，则M=49）；△X——设置的扫查步进值，mm。扫查覆盖扇扫描所使用的声束角度步进最大值为1°或能保证相邻声束重叠至少为50%，扫查步进最大值ΔXmax为1.0mm。聚焦法则根据所采用的扫查方式确定，设置时应考虑如下因素：阵元参数：标称频率、阵元数量、阵元宽度、阵元间隙及阵元高度；楔块参数：楔块尺寸、楔块角度及楔块声速；阵元数量：设定延迟法则使用的阵元数量，一般为32或以上；阵元位置：设定激发阵元的起始位置；角度参数：设定在工件中所用声束的固定角度、声束的角度范围，确保声束能覆盖检测区域；距离参数：设定在工件中的声程或深度；声速参数：设定在工件中的声速，例如横波声速、纵波声速；工件厚度：设定被检件的厚度；探头位置：设定探头前端距或扫查起始位置；采用聚焦声束检测时，聚焦深度可以设置在最大声程处。在对缺陷进行精确定量时，可将焦点设置在缺陷区域以提高灵敏度和分辨力。灵敏度设置本文件周向扫查时采用横通孔V型槽对比试块制作灵敏度曲线，轴向扫查时采用RB-C试块。可选用TCG和DAC两种方式设置灵敏度。在整个检测范围内，灵敏度曲线不得低于荧光屏满刻度的20%。当采用扇扫描时，为避免角度灵敏度差异，应进行ACG修正，可采用在CSK-ⅠA试块上进行。DAC曲线制作方法根据理论模拟软件演示结果来确定所采用的制作DAC曲线的角度，该角度对于扇扫描一般选在接近扇扫描角度范围内的中间角度，将聚焦深度设置在所采用的最大检测声程的位置。将相控阵探头放在试块上所选择的第一个基准孔（10%T孔）上，移动探头找到该反射体最大波，“调节增益”，使第一基准孔的反射波为荧光屏满幅度的80%（±5%），该波高为基准波高，记录该反射体的波高；然后保持灵敏度不变，依次探测其他反射体（20%T，40%T，60%T，80%Tφ2×40横通孔和内表面V形槽），找到最大波高，并记录各反射体的最大波高；将记录的不同深度的反射体及其对应的最大波高连接起来，即成为周向检测DAC曲线。TCG曲线制作方法确定扇扫描角度范围，然后将聚焦深度设置在最大检测声程的位置。将探头放在第一个基准孔（10%T孔）上，找到最大波高，调节增益，使其达到满屏高度的70%，移动探头使扇扫描角度范围内的每个角度都要扫查到该反射体，此时形成一个幅度的包络线，该包络线不能有超过满屏高度100%的信号，也不能有低于满屏高度0%的信号。完成后，点击增加点（20%T，40%T，60%T，80%Tφ2×40横通孔和内表面V形槽），然后再次在试块上移动探头，会出现一个幅度的包络线，该包络线的波高应在满屏高度的80%±5%。若包络线的波高超出满屏高度的80%±5%的范围，则删除该点重新制作。若符合要求，依次进入下一点的制作，直到最后一点制作完毕，确定并形成TCG曲线。同理采用RB-C试块可以制作轴向检测DAC和TCG曲线。DAC或TCG曲线灵敏度选择以DAC或TCG曲线（φ2×40横通孔和内表面V形槽）作为缺陷验收的判废线。检测时将判废线提高6dB作为扫查灵敏度。质量评级判定反射信号为白点、裂纹等危害性缺陷不允许存在；缺陷波幅大于或等于参考验收线（DAC或TCG曲线）的质量等级评为Ⅲ级；波幅在距离-波幅曲线50%-100%的缺陷按表G.1分级。超高压水晶釜筒体相控阵超声检测质量分级质量等级单个缺陷指示长度Ⅰ≤1/3壁厚，且≤100mmⅡ≤2/3壁厚，且≤150mmⅢ大于Ⅱ级者

（规范性附录）

在役超高压水晶釜筒体声发射检测工艺指导书总则适用范围本细则适用于设计压力大于或等于100MPa，且内直径小于或等于400mm的在役超高压水晶釜定期检验中的耐压试验的活性缺陷的声发射检测。声发射检测人员

从事声发射检测工作的人员应当按《特种设备无损检测人员考核规则》进行考核，取得国家质量监督检验检疫总局（以下称国家质检总局）统一颁发的声发射检测Ⅱ级及以上级别资格。取得声发射检测Ⅰ级人员可在声发射检测Ⅱ级及以上级别人员的指导下参与作业。声发射仪器传感器

传感器的响应频率推荐在100kHz~400kHz范围内，其灵敏度不小于60dB[表面波声场校淮，相对于1V/（m・s－1）]或-77dB〔纵波声场校准，相对于IV/μbar〕.当选用其他频带范围内的传感器时，应考虑灵敏度的变化，以确保所选频带范围内有足够的接收灵钕度。应能屏蔽无线电波或电磁噪声干扰。传感器在响应频率和工作温度范围内灵敏度变化应不大于3dC.传感器与被检件表面之间应保持电绝缘。

信号电缆

前置放大器到系统主机之间的信号电缆应能屏蔽电磁噪声干扰。信号电缆衰减损失应小于1dB/30m.信号电缆长度不宜超过150m。

系统主机

声发射系统主机应有覆盖检验区域的足够通道数，应至少能实时显示和存储声发射信号的参数（包括到达时间、门槛、幅度、振铃计数、能量、上升时间、持续时间、撞击数），宜具有接收和记录压力、温度等外部电信号的功能。各个通道的独立采样频率应不低于传感器响应频率中心点频率的10倍。门槛精度控制在±1dB的范围内。

声发射信号计数测量值的精度应在±5%范围内。

从信号撞击开始算起10s之内，声发射系统应对每个通道具有采集、处理、记录和显示不少于每秒20个声发射撞击信号的短时处理能力；当连续监测时，声发射系统对每个通道在采集、处理、记录和显示过程中应具有处理不少于每秒10人声发射撞击信号的能力。当出现大量数据以致发生堵塞情况，系统应能发出报警信号。

峰值幅度测量值的精度应在±2dB范围内，同时要满足信号不失真的动态范围不低于65dB。

能量测量值的精度应在±5%范围内。

时差定位声发射检测系统，每个通道的上升时间、持续时间和到达时间的分辨率应不大于0.25μs，精度应在±1μs范围内，各通道之间的误差应不大于平均值的±3μs。

系统测量外接参数电压值的精度应不低于满量程的2%。

声发射采集软件应能实时显示声发射信号的参数、声发射信号参数之间和参数随压力或时间的关联图，以及声发射定位源的线定位和平面定位图，实时显示的滞后时间应不超过5s。

声发射分析软件应能回放原始声发射检测数据，并能根据重新设定的条件对声发射检测数据进行滤波、定位、关联和识别等分析处理。耦合剂

耦合剂应能在试验期间内保持良好的声耦合效果。应根据设备壁温选用无气泡、黏度适宜的耦合剂。可选用真空脂、凡士林及黄油。

检测实施传感器阵列的确定根据被检水晶釜几何尺寸的大小以及检测部位的要求，确定传感器布置的陈列。其中水晶釜声发射检测所需传感器数量，取决于水晶釜大小和所选传感器间距。水晶釜的检测中传感器间距一般约为300~1500mm。传感器的安装传感器的安装应满足如下要求：

按照确定的传感器陈列在水晶釜上确定传感器安装的具体位置。传感器的安装部位尽量远离支座、垫板部位；局部检测时，水晶釜被检测部位应尽量位于传感器陈列中间；对传感器的安装部位进行表面处理，使其表面平整并露出金属XX；

在传感器的安装部位涂上耦合剂，耦合剂应采用声耦合性能良好的材料，推荐采用真空脂、凡士林、黄油等材料，选用耦合剂的使用温度等级应与被检件设备表面温度相匹配。

将传感器压在水晶釜的表面，使传感器与水晶釜表面达到良好的声耦合状态。采用磁夹具方式将传感器牢固固定在水晶釜上，并保持传感器与水晶釜和固定装置的绝缘；

检测校准模拟源

用模拟源来测试检测灵敏度和校准定位。模拟源可以采用声发射信号发生器作为模拟源，也可以采用Φ0.3mm，硬度为2H的铅笔芯折断信号作为模拟源。铅芯伸出长度约为2.5mm，与被检件表面的夹角为30°左右，离传感器中心100（±5）mm处折断。其响应幅度值应取三次以上响应平均值。

通道灵敏度测试

在检测开始之前和结束之后应进行通道灵敏度的测试。要求对每一个通道进行模拟源声发射幅度值响应测试，每个通道响应的幅度值与所有通道的平均幅度值之差应不大于±4dB。衰减测量

应进行与声发射检测条件相同的衰减特性测量。衰减测量应选择远离结构不连续的部位，使用模拟源进行测量。如果已有检测条件相同的衰减特性数据，可不再进行衰减特性测量，但应把该衰减特性数据在本次检验记录和报告中注明。定位校准

采用计算定位时，在被检水晶釜上传感器阵列的任何部位，声发射模拟源产生的弹性波至少能被该定位阵列收到，并得到唯一定位结果，定位部位与理论位置的偏差不超过该传感器阵列中最大传感器间距±5%。

采用区域定位时，声发射模拟源产生的弹性波应至少能被该区域内任一传感器接收到。

背景噪声测量

通过降低门槛电压来测量每个通道的背景噪声，设定每个通道的门槛电压至少大于背景噪声6dB，然后对整个检测系统进行背景噪声测量，背景噪声测量应不少于15分钟。如果背景噪声接近或大于所被水晶釜材料活性缺陷产生的声发射信号强度，应设法消除背景噪声的干扰，否则不宜进行声发射检测。

检测过程

加压程序

应根据被检水晶