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文档简介

微电子元器件与项目训练授课教师:余菲1精选课件ppt第4章MOS场效应晶体管教师:余菲

电子邮件:yufei198275@

电话:135102692572精选课件ppt讨论主题:1.MOSFET的结构类型2.MOSFET工作原理3.MOSFET的直流与开关频率特性4.MOSFET的应用3精选课件pptmail:yufei198275@1.MOSFET的结构类型英文MOS:metaloxidesemiconductor复习:JFET:junctionfieldeffecttransistor4精选课件pptmail:yufei198275@P-衬底LWSiO2AlSGDN沟道MOS场效应管结构图N+N+BS:sourceG:gateD:drainB:body5精选课件pptmail:yufei198275@分类:N型P型耗尽型增强型GDBSGDBSGDBSGDBS6精选课件pptmail:yufei198275@增强型:常断耗尽型:常通问题:JFET?其它的表示符号?通常是耗尽型的7精选课件pptmail:yufei198275@2.MOSFET工作原理P-衬底SGDN+N++—n_channel—+BDepletionlayer必须加栅压使表面反型,形成沟道8精选课件pptmail:yufei198275@MIS结构反型的原理:SDB

+—

+—GN+N+P_BODYIDSE9精选课件pptmail:yufei198275@MOS的阈值电压:VT:是金属栅下面呈现强反型,从而出现导电沟道时所需要的栅源电压10精选课件pptmail:yufei198275@фms是金属和半导体的接触电势差与金属类型有关(Au,Al,掺杂多晶硅)与半导体掺杂类型和浓度有关Qox、Cox分别为氧化层中的电荷量和氧化层电容NA、xdmax分别为P衬底的掺杂浓度和耗尽区宽度11精选课件pptmail:yufei198275@氧化层电容的影响:电容增加,控制力加强浓度的影响真正设计电路时候的办法12精选课件pptmail:yufei198275@MOS导通状态:P衬底

SGDVGS>V晶体管出现反型层,导通反型层耗尽层N+N+13精选课件pptmail:yufei198275@MOS临界饱和状态:P衬底

SGDVGS>VT,VDS=VDSat沟道夹断,晶体管进入饱和反型层耗尽层N+N+14精选课件pptmail:yufei198275@MOS深度饱和状态:P衬底

SGDVGS>VT,VDS>VDSat沟道夹断点向源极移动反型层耗尽层N+N+15精选课件pptmail:yufei198275@1.导通条件:VGS>VT2.饱和条件:VGS>VT,VDS>VGS-VT(VT<VGS<VDS+VT)3.非饱和条件:VDS<VGS-VT16精选课件pptmail:yufei198275@

MOSFET的特征1.双边对称在电学性质上源和漏是可以相互交换的。与双极型晶体管相比,显然有很大不同,对于双极型晶体管,如果交换发射极与集电极,晶体管的增益将明显下降。2.单极性在MOS晶体管中参与导电的只是一种类型的载流子,这与双极型晶体管相比也显著不同。在双极型晶体管中,显然一种类型的载流子在导电中起着主要作用,但与此同时,另一种载流子在导电中也起着重要作用。17精选课件pptmail:yufei198275@3.高输入阻抗由于栅氧化层的影响,在栅和其他端点之间不存在直流通道,因此输入阻抗非常高,而且主要是电容性的。通常,MOSFET的直流输入阻抗可以大于1014欧。4.电压控制MOSFET是一种电压控制器件。而且是一种输入功率非常低的器件。一个MOS晶体管可以驱动许多与它相似的MOS晶体管;也就是说,它有较高的扇出能力。5.自隔离由MOS晶体管构成的集成电路可以达到很高的集成密度,因为MOS晶体管之间能自动隔离。一个MOS晶体管的漏,由于背靠背二极管的作用,自然地与其他晶体管的漏或源隔离。这样就省掉了双极型工艺中的既深又宽的隔离扩散。18精选课件pptmail:yufei198275@

对于MOSFET则可引进输出特性曲线和转移特性曲线来描述其电流-电压关系。

输出特性曲线通过MOSFET的漏-源电流IDS与加在漏-源极间的电压VDS之间的关系曲线即为输出特性曲线。这时加在栅极上的电压作为参变量。以N沟道增强型MOSFET为例来进行讨论。(共源极接法)3.MOSFET的直流与开关特性19精选课件pptmail:yufei198275@源极接地,并作为输入与输出的公共端,衬底材料也接地。输入加在栅极G及源极S之间,输出端为漏极D与源极S。

20精选课件pptmail:yufei198275@对于N沟道增强型管,VDS为正电压,VGS也是正电压。当VGS大于开启电压时,N沟道形成,电流通过N沟道流过漏和源之间。定性地可以将它分为三个工作区来进行讨论。

可调电阻区/饱和区/击穿区

当漏-源电压VDS相对于栅极电压较小时,在源和漏之间存在一个连续的N型沟道。此沟道的长度L不变,宽度W也不变。从源端到漏端沟道的厚度稍有变化。这是因为VDS使沟道中各点的电位不同,在近源处(VGS-V沟)比近漏处的大,表面电场较大,沟道较厚。但是,总的来讲,沟道的厚度比氧化层厚度小得多。由此可见,此时的沟道区呈现电阻特性,电流IDS与VDS基本上是线性关系。而且,VGS越大,沟道电阻越小,可调电阻区的名称由此而来。21精选课件pptmail:yufei198275@可调电阻区的范围为VDS<VGS-VT,即保证漏端沟道存在的条件。图(a)表示N沟道增强管VT=2V,VGS=6V,VDS=0时的沟道情况。此时沟道中各点电位相同,因此沟道厚度各处相同,IDS=0。图(b)表示当VT=2V,VGS=6V,VDS=2V时的沟道情况。这时漏端沟道厚度比源端薄,由于相差不大,仍可近似看成均匀。22精选课件pptmail:yufei198275@23精选课件pptmail:yufei198275@当VDS继续增加时,例如从2V变到4V时,漏端沟道越来越薄,电阻越来越大,IDS随VDS上升减慢,IDS~VDS的直线关系变弯曲。当VDS=4V时,漏端处VGS-VDS=VT。这时漏端的沟道进入夹断的临界状态,处于可调电阻工作区与下面要讨论的饱和工作区的边界。IDS将成为漏-源饱和电流IDSS。下图给出了不同VGS时的IDS~VDS关系,即输出特性曲线,其中区域Ⅰ为可调电阻工作区。24精选课件pptmail:yufei198275@25精选课件pptmail:yufei198275@饱和工作区

当VDS继续增大,使VDS>VGS-VT时,沟道夹断点从漏端向左面源端移动。这样,沟道的长度略有缩短,夹断点的电压仍为VGS-VT,增加的电压VDS-(VGS-VT)都降落在夹断区,如图8-11中的AB段所示。显然,夹断区是耗尽区。由于沟道的长度总的来说变化不大,所以漏-源电流基本上达到饱和值IDSS。若VDS再增大,只是使夹断区增大。增加的电压均降落在耗尽区,漏-源电流仍基本上维持IDSS值,因此这个区域称为饱和工作区,如图8-10中区域Ⅱ所示。

26精选课件pptmail:yufei198275@27精选课件pptmail:yufei198275@沟道长度调变效应

两个N+区(源-漏)之间形成沟道长度L满足大大于夹断区AB段长度(长沟道),其饱和漏-源电流基本上不变。图8-10中水平直线。但当沟道长度L不满足大大于夹断区AB段长度(短沟道)时,夹断区对沟道长度缩短的影响不能忽略,从而对电流的影响也不可以忽略,可见饱和工作区中,IDS会随VDS增大而增加,这就是所谓的沟道长度调变效应。它与双极型晶体管中的基区宽度调变效应相当。

28精选课件pptmail:yufei198275@雪崩击穿区

当VDS超过漏与衬底间P-N结的击穿电压时,漏和源之间不必通过沟道形成电流,而是由漏极直接经衬底到达源极流过大的电流,IDS迅速增大。这就出现输出特性曲线中的第Ⅲ个区域——雪崩击穿区,如图8-12(a)所示。

29精选课件pptmail:yufei198275@30精选课件pptmail:yufei198275@可以用相似的方法讨论N沟道耗尽型,P沟道增强型,P沟道耗尽型MOSFET的输出特性曲线,它们分别如图8-12(b)~(d)所示。31精选课件pptmail:yufei198275@32精选课件pptmail:yufei198275@MOSFET的转移特性曲线

MOSFET是一种电压控制器件,它是利用加在栅极和源极之间的电压来控制输出电流的,这和双极型晶体管用基极电流控制集电极电流是不同的。当MOS晶体管工作在饱和区时,工作电流为IDSS。不同的VGS会引起不同的IDSS。我们将IDSS与VGS之间的关系曲线称为转移特性曲线。对于N沟增强型MOS管,VT>0,VGS>0,其转移特性曲线如图(a)所示。用相似的方法可以得到N沟耗尽型,P沟增强型,P沟耗尽型MOSFET的转移特性曲线,它们分别表示于图(b)~(d)。

33精选课件pptmail:yufei198275@34精选课件pptmail:yufei198275@35精选课件pptmail:yufei198275@MOS的直流特性公式与分析非饱和区电流公式:饱和电流公式:器件的工作区域36精选课件pptmail:yufei198275@线性工作区的伏安特性

增益因子

当VDS很小时,IDS与VDS成线性关系。VDS稍大时,IDS上升变慢,特性曲线弯曲,如图所示。37精选课件pptmail:yufei198275@饱和工作区的伏安特性

当漏-源电压增加到使漏端的沟道夹断时,IDS将趋于不变。其作用像一个电流源,管子将进入饱和工作区。使管子进入饱和工作区所加的漏-源电压为VDsat,它由下式决定:

将上式代入式(8-3),可得到饱和工作区的漏-源电流(漏-源饱和电流)38精选课件pptmail:yufei198275@39精选课件pptmail:yufei198275@跨导gm

表征在漏-源电压VDS不变的情况下,漏电流IDS随着栅电压VGS变化而变化的程度,反映了外加VGS控制IDS的能力。单位:电导(1/Ω),常用西门子(S)表示。

40精选课件pptmail:yufei198275@跨导标志了MOSFET的电压放大本领,因为电压增益可表示为:由上式可知,相同负载的情况下,跨导越大,电压增益越大。41精选课件pptmail:yufei198275@MOS的跨导:42精选课件pptmail:yufei198275@饱和工作区

线性工作区

跨导与VDS成正比

在不考虑沟道长度调制效应的情况下,跨导与VDS无关。

43精选课件pptmail:yufei198275@问题:如何提高跨导?1.线性区:提高VDS2.饱和区:提高VGS3.器件参数:44精选课件pptmail:yufei198275@VDS

VGS增大VGS=VT0ID特性曲线数据分析:VGS0VTID问题:从图像上看哪里的饱和跨导最小?45精选课件pptmail:yufei198275@MOS频率、开关特性MOS的截止频率:(电压增益为1,双极的截止频率为电流增益下降为1/1.41)提高截止频率:器件参数:L减小沟道长度可以有效提高最高振荡频率46精选课件pptmail:yufei198275@MOSFET最高振荡频率(功率增益为1)对于MOSFET,同双极型晶体管一样,可以引进最高振荡频率来说明管子的优值。N沟道MOSFET

P沟道MOSFET

47精选课件pptmail:yufei198275@tV

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