半导体器件 第5-9部分 光电子器件 发光二极管 基于温度相关的电致发光内量子效率测试方法 编制说明_第1页
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文档简介

温度相关的电致发光内量子效率测试方法》），二、标准编制原则、确定主要内容的依据及解决的主要问题近年来，随着半导体技术不断成熟，LED凭借其高新兴领域已经进入快速产业化阶段。LED在各方子效率的标准，将该份IEC标准转化为国家标准对于三、主要试验（或验证）情况分析五、产业化情况、推广应用论证和预期达到的经济效果份国家标准的推行将为我国LED产业提供强有力的技术支持。该标LED芯片内量子效率的测试方法，影响到相关产品的生产、应有利于提升我国半导体产业的整体发展，带来可观的六、采用国际标准和国外先进标准情况5-9:Optoelectronicdevices-Lightemittingdiodes-Testmefficiencybasedonthetemp七、与现行相关法律、法规、规章及相关标准的协调性八、重大分歧意见的处理经过和依据十一、替代或废止现行相关标准的建议——半导体器件分立器

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