晶体管图示仪YB4810说明书

半导体器件物理实验指导书实验设备介绍概述YB4810型晶体管特性图示仪是一种用阴极射线示波管显示半导体器件的各种特性曲线，并可测量其静态参数的测试仪器，尤其能在不损坏器件的情况下，测量其极限参数，如击穿电压、饱和压降等。主要技术指标2.1Y轴偏转系数集电极电流范围为10μA/div~0.5A/div，分15档，误差不超过±5%；二极管反向漏电流0.2μA/div~5μA/div，分5档，2μA/div、5μA/div误差不超过±5%，1μA/div误差不超过±7%，0.5μA/div误差不超过±10%，0.2μA/div误差不超过±20%；外接输入为0.1V/div误差不超过±5%。2.2X轴偏转系数集电极电压范围为0.1V/div~50V/div，分9档，误差不超过±5%；基极电压范围为0.1V/div~5V/div，分6档，误差不超过±5%；外接输入为0.05V/div误差不超过±7%。2.3阶梯信号阶梯电流范围为0.1μA/级~50mA/级，分18档；1μA/级~50mA/级，误差不超过±5%，0.1μA/级误差不超过±7%；阶梯电压范围为0.05V/级~1V/级，分5档，误差不超过±5%；串联电阻10Ω、10KΩ、0.1MΩ，分3档，误差不超过±10%；每簇级数4~10级连续可调。2.4集电极扫描电源、高压二极管测试电源其峰值电压与峰值电流容量如下表所示，其中最大输出不低于下表：5V档0~5V10A50V档0~50V1A500V档0~500V0.1A3kV档0~3kV2mA功耗限制电阻0.5MΩ，分11档，误差不超过±10%。2.5其它校正信号为0.5Vp-p误差不超过±2%〔频率为市电频率〕，1Vp-p误差不超过±2%〔频率为市电频率〕；示波管15SJ110Y14内〔UK=1.5Kv，UA4=+1.5kV〕；电源电压为〔220±10%〕V；电源频率为〔50±5%〕Hz；视在功率在非测试状态约50W；满功率测试状态约80W。使用说明YB4810型晶体管特性图示仪正反面结构图〔按钮用[]加相应标号表示〕主机将电源开关按键[1]按下，将电源线接入，按电源开关以接通电源；改变示波管栅阴极之间电压来改变电子束强度，从而控制辉度[2]，该电位器顺时针旋转，逐渐变亮，使用时辉度应适中；当示波管屏幕上水平光迹[3]与水平内刻度线不平行时，可调节该电位器使之平行；改变示波管第二阳极电压使电子聚焦[4]；改变示波管第三阳极电压使电子聚焦[5]通常在使用时图象清晰。Y轴作用晶体管测试时可将其特性在示波管波形屏幕[6]直观地显示出来；电流/度开关[7]是一种具有22档四种偏转作用的开关，其中含有集电极电流IC10μA/div~0.5A/div，分15档，二极管反向漏电流IR0.2μA/div~5μA/div，分5档，基极电流或基极源电压，外接；Y轴移位[8]顺时针旋动，光迹向上，反之向下。X轴作用X轴移位[10]顺时针旋动光迹向左，反之向右；电压/度开关[11]是一种具有17档四种偏转作用的开关，其中含有集电极电压VCE0.05V/div~50VA/div，分10档，基极电流或基极源电压，外接；双簇移位[12]可使二簇特性曲线显示在适宜的水平位置上。校正及转换开关校正及转换开关[13]是由三个按钮组成的直键开关，上面是Y轴10度校正信号，下面是X轴10度校正信号，中间是转换开关，按入和弹出两个状态满足NPN和PNP管子测试的需要。阶梯信号级/簇[14]是用来调节阶梯信号的级数，能在4~10级内任意选择；调零[15]；串联电阻[16]；电流-电压/级[17]是一个23档具有两种作用的开关，其中基极电流0.1μA/级~50mA/级共18档，基极电压源0.05V/级~1V/级；重复/关选择开关[18]，重复表示阶梯信号连续输出，作正常测试，关表示阶梯信号没有输出，但处于待触发状态；单簇按键[19]可方便、准确地测试半导体器件的极限参数；极性按钮[20]是为了满足不同类型的器件需要来选择阶梯信号的极性。集电极电源保险丝[21]起保护作用；容性平衡[22]克服误差；辅助容性平衡[23]；功耗限制电阻[24]在测试击穿电压或二极管正向特性时作限制电阻；峰值电压[25]旋钮可在0~5V、0~20V、0~100V、0~500V之间连续选择；极性开关[26]可以转换集电极电源的正负极性；峰值电压范围[27]可分为5V〔5A〕、20V〔2.5A〕、100V〔0.5A〕、500V〔0.1A〕四档；3kV高压测试按钮[28]；3kV高压输出插座[29]。测试控制器测试插孔B[30]、A[31]；测试选择开关[32]，其中零电压钮用来校正阶梯信号作电压源输出时其起始级的零电压，该钮按入时被测管的栅极接地，零电流钮按入时被测管的基极开路，A钮按入时A测试插孔接通，B钮同理，全部弹出时同时测试比拟两个管子。其它1Vp-p校正信号输出插孔[34]；0.5VVp-p校正信号输出插孔[35]；Y轴输入插孔[36]；X轴输入插孔[37]；电源插座[38]；CT测试端[39]；CT地[40]。考前须知防止过冷和过热，仪器工作温度为0~40℃防止炎热与寒冷环境的交替；防止湿度、水份和灰尘，最正确使用相对湿度范围是35~90%；防止重物压置、撞击、倒置；面板的测试插孔要防止电源或有电信号输入。实验内容实验一：NPN型30k2B半导体管的IC-VCE特性曲线〔共射极接法〕实验二：NPN型30k2B半导体管的hFE测试〔共射极接法〕实验三：NPN型30k2B半导体管的共基极输出特性曲线实验