(高清版)GBT 6346.14-2023 电子设备用固定电容器 第14部分：分规范 抑制电源电磁干扰用固定电容器

电子设备用固定电容器第14部分：分规范抑制电源电磁干扰用国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会IGB/T6346.14—2023/IEC60384-14:20 Ⅲ V 1 1 1 1 2 3 71.7X类电容器和Y类电容器的分类 8 9 92.2优先额定值 9 3质量评定程序 3.2结构类似元件 4试验和测量程序 22 224.2电气试验 4.5可焊性 26 4.7振动 4.10密封 28 294.13脉冲电压 304.14耐久性 314.15充电和放电 4.16高频特性 4.17阻燃性试验 344.18自燃性试验 4.19元件耐溶剂(若适用) 4.20标志耐溶剂 36附录A(规范性)脉冲电压试验电路 37附录B(规范性)耐久性试验电路 39附录C(规范性)充放电试验电路 40附录D(规范性)设计说明(制造商和认证机构秘密) 附录E(规范性)脉冲试验电路 42附录F(规范性)表面安装电容器安全试验的特别要求 44附录G(规范性)2类瓷介电容器电容量的老化 47附录H(规范性)在直流应用中使用已经安全批准的交流电容器时的附加要求 附录I(规范性)在高湿度工作条件下要求高稳定性应用的耐湿强度等级 51 ⅢGB/T6346.14—2023/IEC60384-14:—第1部分：总规范；——第2部分：分规范金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流固定电容器；——第2-1部分：空白详细规范金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流固定电容器评定水平——第3-1部分：空白详细规范表面安装MnO₂固体电解质钽固定电容器评定水平EZ;——第4-1部分：空白详细规范非固体电解质铝电容器评定水平E;——第5部分：分规范额定电压不超过3000V的直流云母介质固定电容器试验方法的选择和——第6-1部分：空白详细规范金属化聚碳酸酯膜——第7-1部分：空白详细规范金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器评定水平E;——第8部分：分规范1类瓷介固定电容器；——第8-1部分：空白详细规范1类瓷介固定电容器评定水平EZ;——第9部分：分规范2类瓷介固定电容器；——第9-1部分：空白详细规范2类瓷介固定电容器评定水平EZ;——第13-1部分：空白详细规范金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器评定水平E和EZ;——第14-1部分：空白详细规范抑制电源电磁干扰用固定电容器评定水平DZ;——第15-1部分：空白详细规范固体电解质箔电极钽固定电容器评定水平E;——第15-2部分：空白详细规范固体电解质烧结钽固定电容器评定水平E;——第16部分：分规范金属化聚丙烯膜介质直流固定电容器；——第16-1部分：空白详细规范金属化聚丙烯薄膜介质直流固定电容器评定水平E和EZ;——第17部分：分规范金属化聚丙烯膜介质交流和脉冲固定电容器；——第17-1部分：空白详细规范金属化聚丙烯薄膜介质交流和脉冲固定电容器评定水平EVGB/T6346.14—2023/IEC60384-14:2013—第18部分：分规范固体(MnO₂)和非固体电解质片式铝固定电容器；——第18-1部分：空白详细规范表面安装固体(Mn——第18-2部分：空白详细规范非固体电解质片式铝固定电容器评定水平E;——第19-1部分：空白详细规范表面安装金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流固定电容器评定水平EZ;——第21部分：分规范表面安装用1类多层瓷介固定电容器；——第21-1部分：空白详细规范表面安装用1类多层瓷介固定电容器评定水平EZ;——第22部分：分规范表面安装用2类多层瓷介固定电容器；——第22-1部分：空白详细规范表面安装用2类多层瓷介固定电容器评定水平EZ;——第25-1部分：空白详细规范表面安装导电高分子固体电解质铝固定电容器评定水平EZ;——第26部分：分规范导电高分子固体电解质铝固定电容器；——第26-1部分：空白详细规范导电高分子固体电解质铝固定电容器评定水平EZ。本文件代替GB/T6346.14—2015《电子设备用固定电容器第14部分：分规范抑制电源电磁干——更改了Y2类电容器交流额定电压最高值从300V提高到500V(见1.7.2和表10,2的1.5.4和表10); —更改了Y2类电容器耐久性试验前施加的峰值脉冲电压按标称电容量进行划分(见1.7.2,2015年版的1.5.4); 许为C级(见2.2.6和4.17,2015年版的2.2.6和4.17);1.5倍(见3.5,2015年版的3.5);——更改了耐电压试验的试验条件(见表10,2015年版的表10);VGB/T6346.14—2023/IEC60384-14:——纳入了IEC60384-14:2013/AMD1:2016的修正内容，所涉及的条款M -第2-1部分：空白详细规范金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流固定电容器评定水平——第3部分：分规范表面安装MnO₂固体电解质钽固定电容器。目的在于确立表面安装 一第4部分：分规范固体和非固体电解质铝电容器。目的在于 一第4-1部分：空白详细规范非固体电解质铝电容器评定水平E。目的在于确立评定水平—第5部分：分规范额定电压不超过3000V的直流云母介质固定电容器试验方法的选择和一般要求。目的在于确立额定电压不超过3000V的直流云母介质固定电容器的术语和定 第5-1部分：空白详细规范额定电压不超过3000V的直流云母介质固定电容器评定水 第6部分：分规范金属化聚碳酸酯膜介质直流固定电容器。目的在于确立金属化聚碳酸酯M 第6-1部分：空白详细规范金属化聚碳酸酯膜介质直流固定电容器评定水平E。目的在 第7部分：分规范金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器。目的在于确立金属箔式聚苯 一第7-1部分：空白详细规范金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器评定水平E。目的 一第8部分：分规范1类瓷介固定电容器。目的在于确立1类瓷介固定电容器的术语和定义、 —第8-1部分：空白详细规范1类瓷介固定电容器评定水平 第9部分：分规范2类瓷介固定电容器。目的在于确立2类瓷介固定电容器的术语和定义、第9-1部分：空白详细规范2类瓷介固定电容器评定水平EZ。目的在于确立评定水平为 评定水平EZ。目的在于确立评定水平为EZ的金属箔式聚 第13-1部分：空白详细规范金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器评定水平E和EZ。 -第14-1部分：空白详细规范抑制电源电磁干扰用固定电容器评定水平DZ。目的在于确M 第15-1部分：空白详细规范固体电解质箔电极钽固定电容器评定水平E。目的在于确立评定水平为E的固体电解质箔电极钽固定电容器详细规范的格式、编排和基本内容的要 第15-3部分：空白详细规范固体电解质和多孔阳极钽钽固定电容器评定水平E。目的在 第16-1部分：空白详细规范金属化聚丙烯薄膜介质直流固定电容器评定水平E和EZ。 第17-1部分：空白详细规范金属化聚丙烯薄膜介质交流和脉冲固定电容器评定水平E和 第18部分：分规范固体(MnO₂)和非固体电解质片式铝固定电容器。目的在于确立固体 第18-1部分：空白详细规范表面安装固体(MnO₂)电解质铝固定电容器评定水平EZ。目排和基本内容的要求，为编写者提供一个符合上层总规范或分规范要—-第18-2部分：空白详细规范非固体电解质片式铝固定电容器评定水平E。目的在于确立评定水平为E的非固体电解质片式铝固定电容器详细规范的格式、编排和基本内容的要 第19-1部分；空白详细规范表面安装金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流固定电容器 一第20部分：分规范表面安装金属化聚苯硫醚膜介质直流固定电 第21部分；分规范表面安装用1类多层瓷介固定电容器。目的在于确立表面安装1类多层 第21-1部分：空白详细规范表面安装用1类多层瓷介固定电容器评定水平EZ。目的在于确立评定水平为EZ的表面安装1类多层瓷介固定电容器详细规范的格式、编排和基本内 —第22部分：分规范表面安装用2类多层瓷介固定电容器。目的在于确立表面安装用2类多 第22-1部分：空白详细规范表面安装用2类多层瓷介固定电容器评定水平EZ。目的在于确立评定水平为EZ的表面安装用2类多层瓷介固定电容器详细规范的格式、编排和基本-第23部分：分规范表面安装金属化聚萘二甲酸乙二醇酯膜介质直流固 第23-1部分：空白详细规范表面安装金属化聚萘二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器评定水平EZ。目的在于确立评定水平为EZ的表面安装金属化聚萘二甲酸乙二醇酯膜 第25部分：分规范表面安装导电高分子固体电解质铝固定电容器。目的在于确立表面安装 —第26-1部分：空白详细规范导电高分子固体电解质铝固定电容器评定水平EZ。目的在定程序、试验和测量方法等方面的具体规定。本文件是在IEC60384-1;2016《电子设备用固定电容1第14部分：分规范抑制电源电磁干扰用频率不超过100Hz的交流电压或不超过1500V的直流电压。GB/T2421—2020环境试验概述和指南(IEC60068-1:2013,IDT)ISO7000-0434;2004设备用制图符号索引和大纲(Graphicalsymbolsforuseonequipment一IEC60060-1:2010高电压试验技术第1部分：一般定义及试验要求(High-voltagetesttech-niques—Part1:GeneraldefinitionsandtestIEC60065:2014音频、视频及相关电子设备安全性要求(Audio,videoandsimilarelectronicapparatus—SafetyreTests—TestQ:Sea2suppressionandconnectionIEC60695-11-10着火危险试验第11-10部分：试验火焰50W水平和垂直火焰试验方法(FireIEC61193-2:2007质量评定体系第2部分：电子元器件及包装检验用抽样方案的选择和使用(Qualityassessmentsystems—Part2:Selectioncomponentsandpackages)IEC61210连接器件连接铜导线用的扁形快速连接端头安全要求(Connectingdevices—Flatquick-connectterminationsforelectricalcopperconductCISPR17无源EMC滤波器件抑制特性的测量方法(Methodsofmeasurementofthesuppressioncharacteristicsof3X类电容器或RC组件capacitororRC-unitofclassXY类电容器或RC组件capacitororR4GB/T6346.14—2023/IEC60384-1串联RC组件seriesRCunit5图4穿心电容器(续)旁路电容器by-passcapacitor一种将电磁干扰电流旁路的电容器(见图5)。6GB/T6346.14—2023/IEC60图5旁路电容器在额定功率下的交流有效值或直流工作电压。额定功率(串联RC组件)ratedpower(ofaseriesRCunit)连续工作期间在额定温度下，RC组件可以消耗的最大功率。上限类别温度uppercategorytemperature电容器设计在连续工作时的最高表面温度。电容器设计在连续工作时的最低表面温度。7GB/T6346.14—2023/IEC60384-1穿心电容器可以承受其额定穿心电流时，或串联RC组件可以消耗且其额定功率时的最高环境温度。插入损耗insertionloss插入抑制电容器前后在线端所测得的电压之比。在额定温度下连续工作时允许流过电容器导体的最大电流。主谐振频率(两引出端电容器)mainresonantfrequency(two-terminalcapacitor)在IEC60060-1中规定的一种定义波形的周期性瞬态电压。电容器施加外部热源引起的火焰燃烧时的承受能力。电容器由电负载引起的火焰燃烧时的承受能力。1.6标志按IEC60384-1:2016中2.4及下列规定。标志中所给出的内容通常从下列项目中选取。每项的相对重要性按其所列位置顺序来表示：a)制造商名称或商标；b)制造商的型号或详细规范中给出的型号；c)电容器的类别或小类；d)认可批准标志；e)标称电容量和标称阻值；f)额定电压和电源性质(交流电压可用符号～表示，直流电压可用符号……或——表示；也可用a.c.和d.c.分别表示交流电压和直流电压);g)连接方法(若需要);h)导体的额定电流(穿心电容器);i)标称电容量的允许偏差(若不是⊥20%);j)气候类别，紧跟一个字母表示阻燃性类别；k)额定温度；1)制造年和月(或周);m)引用的详细规范编号。8GB/T6346.14—2023/IEC60X类电容器按在使用时可能承受的迭加到电源电压上的脉冲峰值电压大小分为两个小类(见IEC60664-1中应用血高脉冲应用I当Y1或Y2电容器的额定电压大于或等于X1电容器额定电压时，Y1和Y2可代替X1电容器。当X1、Y1或Y2电容器的额定电压大于或等于X2电容器的额定电压时，X1、Y1或Y2电容器可代替注1:电容量大于1.0μF时，Up降额因子均为0.5C₈U$,Cn单位为pF。注2:与额定脉冲电压和额定电源电压相关的过电压类别见IEC60664-1。9V时久性试验前施加的峰值脉冲电压Up当Y1电容器的额定电压大于等于Y2电容器额定电压时，Y1可代替Y2电容器。注1:基本绝缘、辅助绝缘、双重绝缘和增强绝缘的定义见IEC6114注2:电容量大于1.0μF时，Up降额因子均为0.5CnUF,Cn单位为μF。注3:与额定脉冲电压和额定电源电压相关的过电压类别见IEC60664-1。a)下限类别温度：-65℃;-55℃;-40℃;-25℃和-10℃;b)上限类别温度：85℃;100℃;1这些数值符合IEC60063中给出的优先值E6数系。GB/T6346.14—2023/IEC60何条件下所涉及的电压和达到的温度。绝缘软管、热缩套管和绝缘引线的阻燃应具有VW1级额定表3和表6试验一览表所列的试验仅限于进行安全要求试验。基于固验和周期检验的鉴定批准试验用一览表在3.5和表8中给出。按照IEC60384-1:2016中Q.2.4的基于数应是等效的级别。试验条件和要求也应相同。鉴定批准试验应优先采用数在表3、表4和表5中给出。含有不同类别电容器芯子的多芯电容器和穿心电容器应按相应规定抽样本应由鉴定范围内最人和最小电容量的相同数量样品组成。但4.17的阻燃性试验和4.18的自表5中规定总数的电容器进行试验。表3、表4或表5中给出的一系列完整试验是一个详细规范所包括的一种额定电压电容器的批准GB/T6346.14—2023/IEC60384-14:2013仅涉及安全要求的固定样本量试验一览表见表3(或表F.1,按适用)鉴定的固定样本量试验一览表见表4、表5和表7。表3(或表F.1,按适用)、表4或表5包括了各种试组别试验项目00电容量电阻值6引出端强度2312X类和RC组件Y类和RC组件穿心电容器6阻燃性07自燃性00组试验可按任意顺序进行，瓷介电容器应首先测量电容量，再进行其他试验。”如果出现一个不合格品，可用一新样品代替，并重新进行全组试验，不允许再·若被试电容器是由X类和Y类电容器组成的多芯电容器，则应取12个样品作X类电容器试验.对其余12个和最小电容量的三个样品进行试验。每种外壳号总共有六个注意选择进行4.14.6规定的电压/电流组合试验。表4抽样方案——安全和性能试验的鉴定批准评定水平DZ组试验项目的被试样品数0尺寸(规检的)电容量电阻值1尺寸(详细的)6引出端强度密封“023穿心电容器46546阻燃性07自燃性00组试验可按任意顺序进行，瓷介电容器应首先测量电容量，再进行其他试·如果出现一个不合格品，可用一新样品代替，并重新进行全组试验，不允许再出现不合格‘若详细规范有要求。·若被试电容器是由X类和Y类电容器组成的多芯电容器，则应取12个样品作X类电容器试验，对其余12个·若试验的是穿心电容器应增加电容器的数详细规范中规定采用哪一种试验。不适用于RC组件及金属化膜介质或金属化纸介质电容器外的电容应对最小、中间(多于四种外亮号时)和最大外壳号进行试验。对于每一种外壳号，应对最大电容量的三个样品和最小电容量的三个样品进行试验。每种外壳号总共有六个样品进行试注意选择进行4.14.6规定的电压/电流组合试验。04.2.5绝缘电阻(试验A)I004.1尺寸(规检法)I04.2.3损耗角正切(仅对金属化和瓷介电容器)4.2.1耐电压(试验A)4.2.5绝缘电阻(试验A)4.5可焊性0A0组和A2组试验可按任意顺序进行，瓷介电容器应首先测量电容量，再进应根据相应的检查水平按IEC61193-2:2007中表1选取样本量。耐电压试验应采用适当的监测方法以发现产品的绝·如果在制造过程中制造商在产品尺寸测量中实施了SPC或其他措施避免尺寸超差，该项目可用生产过程测量如果发现一个不合格，该组的所有试验应在新的样本上重新抽样，不允许再在规定的允许偏差范围内4.2.4电阻值(若适用)在规定的允许偏差范围内按表11D按4.1.14.4耐焊接热(若适用)方法1(按详细规范)电容量电阻值(若适用)D—瓷介电容器：一半样品施加电压Un;另一半电容器不电容量电阻值(若适用)3组D—峰值电压：按表1和表24.14耐久性电容量电阻值(若适用)GB/T6346.14—2023/IEC6038D按4.17.17组D0组试验可按任意顺序进行，瓷介电容器应首先测量电容量，再进行其他试验。试验条件和要求的章条号引自第4章。对2类瓷介固定电容器，当要求精确测试电容量漂移时，应采用制造商的建议进行预处理D表示破坏性试验，ND表示非破坏性试验。4.1尺寸(规检法)-一在规定的允许偏差范围内4.2.4电阻值(若适用)一在规定的允许偏差范围内(仅对金属化和瓷介电容器)4.1尺寸(详细的)D一4.4耐焊接热(若适用)方法1(按详细规范)4.19元件耐溶剂(若适用)电容量电阻值(若适用)1B组4.5可焊性(若适用)D见表4端或焊点，按适用—电容量电阻值(若适用)1组4.10密封(若适用)DIEC60058-2-17的试验Qc或见表4一——一—电容量电阻值(若适用)损耗角正切(若适用)GB/T6346.14—2023/IEC6038D一一一半样品施加电压：Ug;电容量电阻值(若适用)损耗角正切(若适用)D峰值电压：按表1和表24.14耐久性电容量电阻值(若适用)损耗角正切(若适用)D以及使用这类电容器的RC组件一除RC组件外，应测量损耗角正切：对于C≤1pF.10kH₂对于Cx>1pF,1kHz电容量频率(除RC组件)电阻值(若适用)5组见表4D见表4按4.17,17组D见表40组试验可按任意顺序进行，瓷介电容器应首先测量电容量，再进行其他试验。试验条件和要求的章条号引自第4章试验和测量程序。对2类瓷介固定电容器，当要求精确测试电容量漂移时，应采用制造商的建议进行预处理dD表示破坏性试验，ND表示非破坏性试验。提交质量一致性检验以前，应按表10的要求在引出端之间进行100%耐电压试验。如果试验时间在1s至2s之间，施加的试验电压应按图6的B曲线的系数对表10规定的试验电如果对Y类电容器采用直流试验电压代替交流试验电压进行试验，直流试验电压应不小于表10中交流试验电压的1.5倍，并按图6的B曲线的电压系数进1)与电容器的数量有关；2)一种规格至少5只样品。GB/T6346.14—2023/IEC6038电压升高倍数电压升高倍数3.5.1.2C组检验当产品设计发生改变时应根据附录D的规定按表6重新进行鉴定。应由鉴定机构确认发生的变逐批检验试验一览表或重新鉴定准则在表5和附录D中给出。GB/T6346.14-2023/IEC3.5.2.2鉴定批准用丁质量一致性检验的逐批检验和周期试验一览表在空白详细规范中第2章的表4给出。3.5.3延期交货延期交货时的重新检验时间间隔应不超过3年。当执行IEC60384-1:2016中Q.1.7的程序进行重新检验时，施加额定试验电压的耐电压、电容量、电阻(若适用)和绝缘电阻应按A组检验的规定进行检验，可焊性应按B组检验要求进行检验。3.5.4评定水平采用评定水平DZ,见表8。表8评定水乎允许不合格品数0I00p66060606030穿心电容器66605000对应于检验水平的样品量应从IEC61193-2:2007的表1中进行选择。IL——检验水平；p—-周期(按月计)n——样本大小：c——允许不合格品数。·如果发现一个不合格，该组的所有试验应在新的样本上重新抽样，不允许再次出现不合格。各个检验分组的内容在有关的空白详细规范的第2章中规定。该分组中，振动、碰撞和冲击试验仅要求每12个月进行一次。本章补充IEC60384-1:2016的第4章中规定的内容。按IEC60384-1:2016的4.4及下列附加详细规定进行。表9是以IEC60664-1为依据的，同时也参考了设备安全标准IEC60335-1、IEC60065和爬电距离低小于表9规定。否则，爬电距离应始终大于或等于表9的电气间隙。于表9中规定的距离。海拔高度大于2000m的电容器。测量点额定电压范围V电气间隙mm电气间隙电气间隙电气间隙mm电气间隙mm不同极性带电件之间与其他金属部件之间与其他金属部件之间注：额定电压大于500V的增强绝缘型的数字仅供参考。本文件Y1类电容器额定电压不超过500V.这些限制值适用于X类电容器引出端之间的测这些限制值适用于X类电容器任一引出端与金属外亮之间的测量，以及适用于Y2类或Y4类电容器的引出按IEC60384-1:2016的4.6及下列详细规定进行。鉴定批准和周期试验，施加50Hz/60Hz试验时，可用自耦变压器施加电压，电压应以不超过批准和周期试验为1min,逐批检验不应少于1a)IEC60384-1:2016的表3中2C试验不进行；d)如果试验时间在1s至2s之间，施加的试验电压应按图6的系数对表10规定的试验电压进应不超过表10规定值的66%。表10耐电压类别额定电压范围V4.3Ug(d.c.)最小值为2000V(a.c.)*最小值为1500V(a.c.)最小值为2000V(a.e.)按IEC60384-1:2016的4.7及下列详细规定进1)考虑到电容器的电容量允许偏差和电容量的温度特性(或系数)时，在额定电压下预期通按IEC60384-1:2016的4.8及下列详细规定进行：对瓷介电容器，当CN<100pF(2类瓷介电容器)和CN≤104.2.4电阻值(等效串联电阻ESR)(仅对RC组件)表11绝缘电阻(仅对安全试验)s●有一个引出端与外光连接的电容器，应采用试验A的绝缘电阻极限对浸渍纸介质电容器，表中的数值分别应改为500,1500和200介质8纸陶瓷一●在可以引用有关IEC标准时，在性能试验中●有一个引出端与外壳连接的电容器，应采用试验A的绝缘电阻极限对浸溃纸介质电容器，表中的数值分别应改为500.1500和2000。按IEC60384-1:2016的4.13及下列详细规定进行。对于扁形快速连接引出端的试验方法应在详细规范中规定，其试验方法和严酷等级应符合本试验不适用于绝缘引线长于10mm的电容器或非焊接引出端(例如螺纹和扁形快速连接引出端)的电容器对2类瓷介固定电容器，当要求精确测试电容量漂移时，应采用制造商的建议进行预处理(见附录G)。按IEC60384-1:2016的4.14及下列详细规定进行。本试验的最终测量是1A分组试验后和1组的其余试验之前的中间测量。电容器应和测量并符合表13要求。表13耐焊接热要求电容量最终测量的电容量与表3或表4中0组的测量电阻值(若适用)4.5可焊性在表7中给出。对2类瓷介固定电容器，当要求精确测试电容量漂移时，应采用制造商的建议进行预处理(见附录G)。按IEC60384-1:2016的4.16及下列详细规定进行：按IEC60384-1:2016的4.17及下列详细规定进行。按IEC60384-1:2016的4.18及下列详细规定进行。a)总碰撞次数：1000次或4000次；b)电容量与表4中0组的测量值相比较，其变化量不超过5%;瓷介电容器不超过10%;b)电容量与表4中0组的测量值相比较，其变化量不超过5%;瓷介电容器不超过10%;d)电阻值变化(若适用)应不超过表14中的极限值。按IEC60384-1:2016的4.20及下列详细规定进行。对2类瓷介固定电容器，当要求精确测试电容量漂移时，应采用制造商的建议进行预处理(见附录G)。按IEC60384-1:2016的4.21及下列详细规定进行。按IEC60384-1:2016的4.21.4规定。按IEC60384-1:2016的4.21.7规定进行。电容量最终测量的电容量与4.4.2、4.8.2或4.9.2(仅对金属化电容器)与0组中的测量值比较，tano的增加应不超过：电阻值(若适用)·瓷介电容器电容量变化应不超过10%.对2类瓷介固定电容器，当要求精确测试电容量漂移时，应采用制造商的建议进行预处理(见附录G)。按1EC60384-1:2016的4.22及下列详细规定进行。初始测量已在表3或表4的0组中进行。相对湿度：93%±3%。GB/T6346.14—2023/IEC60表15恒定湿热要求电容量最终测量的电容量与表3或表4(按适用)中0组的测量值比损耗角正切(仅对金属化电容器)与0组中的测量值比较，tano的增加应不超电阻值(若适用)·瓷介电容器电容量变化应不超过15%.初始测量已在表3或表4的0组中进行。每个电容器应分别施加最多24次相同极性的脉冲。脉冲间隔应不少于10s,脉冲电压峰值应按表1和表2的规定。上升时间t,=(49-tzo)×1.67,t值。上升时间t,和衰减时间ta应在表A.2规定值的0%～50%之内。做检查用的电容器Cx不应使用如果波形出现阻尼震荡，振荡的峰一峰值U应不大于峰值脉冲电压(Uck)的10%(见图7)。对2类瓷介固定电容器，当要求精确测试电容量漂移时，应采用制造商的建议进行预处理(见箱的偏差不超过士3℃。容器组件则按4.14.4进行试验；试验Y类穿心电容器时(见1.5.8),12个电容器组件按4.14.4.14.3X类电容器和含有X类电容器的RC组件的耐久性试验B中给出。4.14.3.2规定额定温度的RC组件到U,,其中U、为1.5Ug或1000V(有效值)(取较大者),持续时间0.1s。该电压应分别通过一只定，可以进行1000h的组合耐久性试验代替按4.14.3(或4.14.4)和4.14.5规定的试验。试验时使GB/T6346.14—2023/IEC60384-检查或测量项目电容量(仅对金属化电容器)与0组中的测量值比较，tano的增加应不超过：电阻值(若适用)为UR。GB/T6346.14—2023/IEC603表17充放电要求电容量(对CN≤1μF,f=10kHz)(若适用)相对于4.15.1中tano的增加应不超过：80×(对Cs>1μF,ʃ=1kHz)(若适用)相对于4.15.1中tano的增加应不超过：50×电阻值(若适用)4.17.1按IEC60384-1:201a)不要求按0组测试及预处理。U~=(1±5%)URU₁=(5+?%)kV(Y2类电容器)=(4+7%)kV(X1类电容器)=(2.5+?%)kV(X2类和Y4类电容器)GB/T6346.14—2023/IEC60L₁~L——1.5(1±20%)mH,16A的棒状磁芯扼流圈。按IEC60384-1:2016的4.31详细规定进行。按IEC60384-1:2016的4.32详细规定进行。(规范性)设备标准如IEC60065:2014的附录K和IEC60950-1:2005的附录N中1.2/50的脉冲波形是定4.13中所规定的试验应采用图A.1中电路。图A.1脉冲电压试验电路(允许偏差±10%)(允许偏整±10%)0(允许偏差士10%)Ω(允许偏差士10%)3339373533(允许偏差±2%)(允许偏差0%～50%)(允许偏差0%～50%)GB/T6346.14—2023/IEC60384-14:(规范性)a)将开关从位置A转换到位置B。转换和保持在位置B的时间之和为t₁;c)将开关从位置C到位置B。转换和保持在位置B的时间之和为t₃;d)将开关从位置B到位置A。转换时间为1。GB/T6346.14—2023/IEC6(规范性)充放电试验电路4.15规定的试验应采用图C.1中电路。图C.1充放电试验电路GB/T6346.14—2023/IEC603在放电电路中，应避免超过开关的额