基于单片机的智能交通灯毕业设计论文

(二)、工艺流程图东东绿西东西红北北红南东东南北器输出两组信号灯的控制信号，经驱动电路后驱动信号灯工作，控制器是系统的流流机白东计蓝机厂有限公nVCC-52196JH交通灯控制系统的硬件设计包括：存储器的扩展(62256),I/0口的扩展(8255),地址的锁存(74LS373或74LS273),还有反向器(7407)。(3)、硬件结构框图(如图3所示)。(4)、交通灯控制系统的原理框图(如图4所示)。图4交通灯控制系统的原理框图TL:表示甲车道或乙车道绿灯亮的时间间隔为25秒，即车辆正常通行的时数器从零开始进行增1计数，向控制器提供模5的定时信号TY和号TL。(电路图如图5所示)图5定时器电路图2.控制器控制器是交通管理的核心，它应该能够按照交通管理规则控制信号灯工作状态的转换。从ASM图可以列出控制器的状态转换表，如表1所示。选用两个D触发器FF1、FFO作为时序寄存器产生4种状态，控制器状态转换的条件为TL和TY,当控制器处于Q1n+1Q0n+1=00状态时，如果TL=0,则控制器保持在00状态；如果，则控制器转换到Q1n+1Q0n+1=01状态。这两种情况与条件TY无关，所以用无关项"X"表示。(控制器逻辑图如图6所示)输出次态000011001110000011100111100001010101根据表1可以推出状态方程和转换信号方程，其方法是：将Q1n+1、Q0n+1和ST为1的项所对应的输人或状态转换条件变量相与，其中"1"用原变量表示，"0"用反变量表示，然后将各与项相或，即可得到下面的方程：控制器逻辑图(如图6所示)74LS138译码器有3个输入端，组成8种输入状态，输出端有8个，每个输4.交通灯驱动电路(如图7所示)控制红绿灯信号的TTL点平5.电路图(如附录B)及电路图说明2.PO口的低四位输出显示数字的BCD码，输出的BCD码送到74LS138中二极管将不发光，而高电平的端口则会向这出现响应的数字。每一个位选电路由一个PNP三极管组成。当位选口发出低电扩展寄存器中，当PO口的低四位输出显示数字的BCD码，输出的BCD码送到74LS138译码器译码，然后在显示提示符段码中查询显示数字。寄存器等部分组成.(b)控制和定时器及定时用来寄存操作命令字.(c)扫描计数器扫描计数器有两种工作方式.一种为外部译码方式.计数(d)回复缓冲器，回复缓冲器缓冲并锁存来自SL0-SL7八根回复线的回复信号.在灯火控制实验中，它的片选信号线接Q0、数据选择输入线接的是Q1,所以他的控制口地址是FF82H,数据口地址是FF80H,中断是悬空的。8051最小应用系统地址锁存器提供.地址锁存器的锁存信号为ALE.指令数据由PO口读入.程序存8255可编程接口芯片1)工作方式控制电路；2)读写控制逻辑电路；采用寄存器RO、R1、R2作为记数值，R2中暂存1,R1中存0。当减1后变为255即R1中存数256。RO中存数#0B2H即178。各指令共占指令周期数为(见图延时程序后所附)N=(2+2+2+1+1+2*178)+255*(1+1+2+2*178)=9164。共计9164个指令周期，而系统晶振为11.0592。所以T=12/11.0592=1.08t=9164*1.085/1000000=0.约等于0.1(秒)通过改变R2的值可以改变延时的秒数。(2)、流程图(如图8所示)图8图8黄灯亮2秒，在南北绿灯亮东西红灯亮延时20s,绿灯闪三下，为3秒转黄灯亮2秒，(3)、源程序(如附录A)(4)、程序的执行的表达(如表2)状态持续时间/S东西方向南北方向绿黄红绿黄红1亮灭灭灭灭亮23闪灭灭灭灭亮32灭亮灭灭灭亮4灭灭亮亮灭灭53灭灭亮闪灭灭62灭灭亮灭亮灭循环利用DVCC实验与开发系统、基本测试仪器(万用表、示波器等),检查用户系统硬件中存在的故障。其中硬件调试可分为静态调试与动态调试两步进行。是在用户系统未工作时的一种硬件检测。第一步：目测。检查外部的各种元件或者是电路是否有断点。第二步：用万用表测试。先用万用表复核目测中有疑问的连接点，再检测各种电源线与地线之间是否有短路现象。第三步：加电检测。给板加电，检测所有插座或是器件的电源端是否符合要求的值第四步：是联机检查。因为只有用单片机开发系统才能完成对用户系是在用户系统工作的情况下发现和排除用户系统硬件中存在的器件内部故障、器件连接逻辑错误等的一种硬件检查。动态调试的一般方法是由近及远、由分到合。由分到合是指首先按逻辑功能将用户系统硬件电路分为若干块，当调试电路时，与该元件无关的器件全部从用户系统中去掉，这样可以将故障范围限定在某个局部的电路上。当各块电路无故障后，将各电路逐块加入系统中，在对各块电路功能及各电路间可能存在的相互联系进行调试。由分到合的调试既告完成。由近及远是将信号流经的各器件按照距离单片机的逻辑距离进行由近及远的分层，然后分层调试。调试时，仍采用去掉无关元件的方法