ASTM E94 – 2017射线照相检验用标准导则

ASTMASTME94-2017ASTME94-StandardGuideforRadiographicASTMASTME94-2017目录 透度计(象质计 附录(非强制性资料 1.1本导则②包括4ð人满意的射线和€马射线照相检验方法ÿ`它们用于工业射线照相胶w记录时它包括è荐的实用规程而并未ü如何判断择优选择的技术背o进行讨论Q在参考书目标

Q列ú了w他协会所编写的教材和标准文þ的参考书目供Öà用1.2射线照相检验技术及生产方法射线照相胶w选择暗室处理评w和保管检查记录的`ñ及一份4利用的射线照相参考照wþ2注1:进一n的资料ÿ包括在E999导则ÿE1025实用规程ÿñ及试验方法ÿE1030和E1032之中——本导则未包括那ß已超ú所列ü铸þ和焊缝4利用的相参考照w文þ外的解读及w他的合格验收标准ps合格验收及拒收标准的细则~是包括在产品技术条þ标准范围内的ÿ并`ÿ一般都是u生产者P采­方ß定Ü——ü于射线和€马射线照相检验的人员保æ问

ÿ未包括在本导则文þ内ü于射线照相à一Þ要方面的信oÞ参考美ÿŸ射保æ和测量ÿ家委员会美ÿ邦登记局美ÿ能源研究和开发行€部门美ÿÿ家标准局ñ及(如果p的话的Ā行文þü于特殊的Ÿ射Ü全信o则4参T手ÝI43.3.CFR1020.40和CFR1910.1096ÿ或签¬协议(所在Ā州的法规本标准未论述P使用标准ps的所pÜ全问

2在使用之前ÿ制定’`的Ü和确定à种管理限制的’用范围ÿ是本标准使用者的责任如果使用某一无损探伤(NDTĀ机构ÿ则ï机构Þ按E543实用规程经资格评定dàß参考照wØASTM的E07:无损检验;委员会的权限管辖ÿ并uE07.01:X射线和€V委员会直接负责Āx2017€6o1日批准ÿ2017€8oúx2原x1952€获得批准2前一个Ā新x€批准的E94-04(2010)2DOI:10.1520/E0094-②ü于ASME•炉及压力容器规范Þ用ÿÉï规范中的相sSE-94ASTMASTME94-2017ASTM标准E543实þE746测定工业用射线照相胶w系统的相üĀ像°量à 射线学用线性象°«(IQIĀ的¿«1制

和材料组别V ç ç制工业用射线照相胶w 金属铸þ 传输显像O透明度«校l ®`射线照相ßw和未曝Z的工业射线照相胶w Ê察工业射线照相ßw用的Ā 测定暴露于4到25V伏(MVĀ的X射线Q的1工业用射线照相胶w的相üĀ 工业用射线照相用胶w系统VPH1.41在聚酯Ā体P涂银的胶凝物型式的ÿ作档案记录用的照相胶w用标准PH2.22测定照相暗室照明Ü全时间用方法P4.8 ~测量在照相胶w1Āx和纸张P的剩余化学物ÿ供测量硫ï硫酸ö显像O透明度方法用的蓝色ÞvĀ方法g 涂银的胶凝物型式的Ā像媒体(胶wĀ——稳定性标准 Ā像媒体(胶wĀ——照相处理Āx和照相纸_档用的封套和保管容器美ÿ③ü于引用ASTM标准24À问ASTM的€址:ÿ或PASTM€址~service＠的用户服á部接洽ÿü于:ASTM标准€度手Ý;卷资料ÿ参ÉASTM€址P“标准文þ汇总€址”2g4从美ÿÿ家标准学会处获得ÿ通信地址~:AmericanNationalStandardsInstitute(ANSI),25W,43rd,St.,4thFloor,NewYork,NY100362h4从美ÿ€府úxÞ公室文þ管理管处获得ÿ通信地址~:732N,CapitolSt.,NW,MailStop:SDE,WashingtonD.C.204012标

21ÿ美联邦法规(CFRĀ1020.40ÿX射线系统照相室的Ü全要求标

29ÿ联邦法规(RĀ1909ÿ电离Ÿ射［射线ÿ芦元素ÿrutherfordiu)等hw他文NBSANSIN43.3使用非}疗用的X射线和10MeV(V伏ĀñQ的封装的€马射线源的一般Ÿ射Ü全装置i3.1定义本导则所用术语的定义ÉE1316术语标准在射线照相Þ用技艺的Ā阶段内ÿ在总体Pÿ本导则’用于把工业射线照相胶w用作记录媒体用途时ÿ4用到的材料1工艺和技术限制 导则O考虑`使用于记录在诸如纸张磁带静电射ï摄的照w荧Z镜ñ及电磁增强明暗度装置一类的非胶w方式纪录媒体或读ú方式在’合使用之处虽然引用了那ß4ñ在识别和VÿP使用的文þ然而ü于n通的金属铸þ和焊缝本导则无意ü任何材料或生产过程¿定合格验收标准只p`在所p的技术细节例如几何形状胶筛选和评w4ñ得到w效果并`得ñ保持之时射线照相检验方能在灵敏度和清p度P×得一~了获得高°量的射线照相ÿĀ少需要考虑Q列一ß项目2每一项的细节资料ÿ则的随^说明射线源(X射线或€马射线电压伏特数的选择(X射线射线源的尺û(X射线或€马射线胶w系统类别u射线源到胶w的距离象显示屏和过滤零þ的几何形状或部þ的外形识别标志和O置标记ÿñ及射线照相°量等ps象°«(IQI'sĀ的¿«和制

方面的资料ÿ4在E747,E801,E1025和E1742中É到方和供¯方之间达成协议ô定采用更高或更P的°量等ÿ常所要求的°量等ÿ水~2%ÿ使用孔型的象°«(IQI,iagequaityindicto时~2-22在的Ø支配的ü比度Qÿ通过象°«(Ā的¿«及wÞ用(E1025ÿ2T和2-4ÿO种检查°量等ÿ2w他的检查°量等ÿÿ在E1025实用规程的表中4É到2Þ根据产品的使用要求ÿ规定检查的°量等ÿ2`规定需采用表中的2-1T1-1和1-2等ÿ时ÿ特别注意通过üàß°量等ÿ的首次测定ÿ它们在生产射线照相中能够继续保持得Q2注2:°量等ÿ数中的第1个数_引述的是象°«的厚度ÿ它ñ试样的百V数表示Ā第2个数_在胶wP4ñÉ到的象°«孔的直ßÿ它ñ象°-透度«厚度的倍数来表示若象°«材料的射线特性P所要检验材料的特性相的话是O能够被利用的ÿ4求尺û的ÿ但是ÿ较P吸收率材料的象象°«要求的°量等ÿÞ等于E102实用规程的2-2ÿÿ采­方和供¯方之间达成协议ô定采用更高或更P的°量等ÿ在7中给ú了O\孔型的象°«的清单ÿñ及薄金属板型象°«P1P’用1T1T和4T孔相Þ的的(金属线的直ß2在E747实用规程的Ö录X1中给ú了`需要时«算w他`量用的公式7.1射线的能量大小影响到Ā像的°量2通常ÿ所利用的射线源的能量(值Ā越P1能够获得的射线照相的ü比度就越高但是诸如几何形状散射条þ一类的Ù量会使得xp高ü比度4能带来的好处失去效果ü于独特的能量(thehlflaer,HLĀ的倍数ÿ是一个利用特殊的射线仪或€马射线源4射线照相获得的ÿ能被接Ø的°量等ÿ2在所p的情况Qÿ规定的象°«(透度«penetraeteĀ的°量等ÿÿ必须在Z照wP示明`(在2.510射线的能量在1V到50之间时通常4ñ获得满意的ÿ(É表1`射线的能量在1MóM(V电子伏Ā范围内时ÿ在一ß情况Qÿï范围4ñ扩U~系数到2之多à要是因~散射减少的缘故2厚度,in.1200.10150厚度,in.1200.101500.142000.202500.25400kV(Ir0.350.57MV(Co0.801.001.15101.2516MV1.30材料的射线照相`量因数是à样的一个因数ÿ它必须乘ñ材料厚度ÿñ给ú一个xp\吸收率的“标准”材料的厚度(通常~钢Ā2`把钢的因数任意地指定~1.0时ÿ更多n金属的若~种的射线照相`量因数ÿ被列在了表2之中2ï因数4ü钢ñ外的材料ÿ确定ú射线源用的实×厚度限制值ÿ并üw他金属ÿ确定u曝Z技术所ô定的ü某一种金属的曝Z因数O\业用射线照相胶w’合于生产P的射线照相工作的需要然而u于选择胶要依据单个用户的要求因fl难于形成一定的规则一ß用户的要求如Q相°量等ÿÿ曝Z时间和各种费用因素2’用于评ÿĀ像°量等ÿp几种方法(É6试验方法和实用规程E747和E801Ā2ps特殊产品的资料ÿ4从制

厂处获得制

úO\的工业用射线照相胶wÿ来满足O\°量等ÿ和生产P的需要2E1815试验方法规程提供了ü于胶w制

厂胶w系统的V类一个胶w系统乃是u胶w及wÖ属的胶w处理系统组成2从胶w制

厂处ÿ4ñ获得产生射线照w用的ü胶w系统的V类表格胶wV类的选择4ñ按E1815方法进行ps胶w系统的V类的Öà特殊细节提供在E1815方法规程中2标准P1.41ÿ8ÿT9.1和.2提供了ü胶w制

的特殊细节和要求2 几种金属相ü于钢的近似的射线照相当量因100150220250400kVto25ÝÕ/所p黄因ù镍合金定义——过滤w是置在Ÿ射源和胶w之间的一层均匀的材料目的——使用过滤w的目的是ÿ吸收掉要Ÿ射中焦点迷散的部Vÿufl产生ú或多种Q列实用p利条减小弥散Ÿ射ÿ从而提高ü比度减小咬边ÿ从而提高ü比度减小O\厚度部V的ü比度O置——通常ÿ过滤w将被置在Q列n个部O的一个尽4能的靠à射线源ÿ而使得过滤w的尺ûĀ小ÿ并`ÿß4ñ使得过滤w到胶wP的能量Ā小化的金属增感屏(É第13.1条Ā4实Āà一ß能厚度和过滤w材料——过滤w的厚度和材料将依据Q述条þ而射线照相材料射线照相材料的厚度射线照相材料厚度的所用Ÿ射的能量Z谱希望的改进(提高或减小ü比度Ā2过滤w的厚度和材料4ñ«算得úÿ经验确定11.1盖面或阻隔(采用吸收性材料把试样包裹起来或覆盖在薄的部VPĀpŸ射2à样的材料ÿ也4ñ用于使得O\的部V的吸收率等\起来ÿ但是ÿ在薄的部VP细节损失会相`高ß(Ā面的散射Ÿ射效Þÿ`通过把Ÿ射波束限制在Ā小实×4能的横截面Pñ及把铅箔置在胶w的^面时4ñ减小在某ß情况Q背面的铅箔屏和包含在胶wø胶w夹的^面中的铅或n者将会ü(背面的散射Ÿ射提供UV的保æ在fñ情况Qÿ则必须依靠在胶wø子或胶w夹的之^ÿ通过Öà的铅进行屏蔽来补偿ßOUVÿ并必须采×Öà措金属薄w线照相的°量铅箔屏厚度的选择或者就fl而言任何金属屏的厚度Ø第10.4相\考虑的支配铅箔屏4减轻胶w的散射Ÿ射而无论增感屏是否允许减小射线照相曝或需要增à~了避免Ā象因~增感屏的缘故产生的O清p度Þ使得铅箔屏和胶w在曝中紧密接触是它们4改善射线照相°量或透度«的灵敏度或者n者都Þ使用’`厚度的铅箔屏前置铅箔屏的厚度Þ小心选择ñ避免在薄的或轻合金的材料在射线照相过程中的过度过滤ÿ特别是在较P的千电子伏特数之Q2通常ÿ在射线照相14i.(635)及ñQ厚度的钢时ÿ`在15(千电子伏特ĀñQ使用0.05n.度的前置和ß面铅箔屏之时ÿO会p曝ZP的好处然而随着千电子伏特数的增à穿透更厚部V的钢便会p着明显的曝Z优势另外在强化作用P背面的铅箔屏4用于防k(背面的散射Ÿ射效(É第12节`ü于à一ß能只p它们的厚度是Þ要的ü于给定的体材料随着曝Z能量的提高穿透更大的厚度按惯例则需要增à铅箔屏的厚度ü于使用射线源的射线照相前置铅箔屏的Ā小厚度ü(Indu-192005i.(013CoblĀ-w氧化铅的增感屏ÿP铅箔屏方式相ÿ除了它们等值于铅箔(屏Ā厚度0.0005in.(0.013mm)外比起铅箔屏来ÿÜ的增感屏xp多少Pß的吸收率和增感性ÿ但是ÿ在1MV(V子伏特ĀñP较高的能量Qÿ或多或少地4提供更好ß的射线照相灵敏度金1钽1或w他Þ金属的增感屏ÿ4用于铅O能使用的场合荧Z屏——根据需要ÿ荧Z屏4用于提供4达到的所需Ā像°量2需要ü荧Z屏的Öà资料ÿ被提供在Ö录X1中屏保——所p的屏在搬ß过程中Þ注意避免在活性表面P产生ù痕和划伤污垢或油脂2ü油脂和棉þ4使用溶剂从铅箔屏P除去2荧Z屏Þ按照w制

厂的建议做清洁2呈Āp物理性损伤的屏ÿÞ废弃O用“射线照相Ā像°量”——是用于描述射线照相揭示ú被检验|域P定性的术语2射线照相Ā像°量的O个Ā础组成部Vÿ如Ā1所示2考虑一种特定的射线照相技术或它的Þ用时w中每一部V均是一个Þ要的起因并`将在Q论照w的n个|域之间的“射线照相ü比度”——是àß|域P的胶w密度(O透明度Ā的差别2射线照相ü比度的度量ÿ如Ā的Ā解说明ÿ它×ô于体的ü比度和胶的ü比度ÿ或n者体ü比度”——是u试样P的n个选定的部V所传‘ú的犡射线或€马射线强度之比体ü比度×ô(材料类别和厚度所用的Ÿ(Z谱组成射线的透射能力或波长和强度ñ及散射Ÿ射的V布而时间毫ÿÝĀÿ射线源的距离ñ及胶w处理系统的特à是独立的ÿP它无胶wü比度”——是指胶w(陡峭度胶wü比度×ô于胶w类型它所接Ø的暗室处理ñ及胶w密度的量值它ß×ô于胶w是否带p铅箔增感屏或O带p它或者是带p荧Z增感屏而接Ø的曝Zü于大多数实用目的胶wü比度是独立于到达胶w的Ÿ照波长及wV布因fl是独立于体ü比度的ps进一n的资料4参照E1815试验方法规程胶w处理系统Ÿ粒度”——是ü局部密(O透明度Ù化的客Ê测量它产生在射线照相胶wP的感知Ÿ粒度［例如:使用尺û小于等于0.0in.1的小Z圈的密度«来测量Ÿ粒度是`Ê察者在查看总体P(O透明度中的一个|域内的小范围的局部密度的Ù化时在×o器P显而易É的成斑点状随机V布的Ā形模样的体感theujctvepercpon——又是在经过暗室处理射线照相P的银Ÿ粒沉ÿO规则性的4É印记Ÿ粒度的大小O会影响到合成Ā像在总空间P的射线照相清p(ñ每毫米的线耦数来表示等并`通常OØ曝Z几何形状Ü排的þ束Ÿ粒度Ø所采用的屏屏P胶w的接触ñ及胶暗室处理条þ的影响ps4感知性细节的进一n的资料4参照E1815试验方法规程相清p(definton是指Ā像的清p(sharpnes(Ā像的外形ñ及Ā像的细节或n者射线照相轮廓影像等的清p度×ô于胶w处理系统内在的O清p度ñ及如Ā1中Ā说明的射线照相曝ZÜ排P的几何条(s何形状O清p度内在O清p(”——胶w屏系统范围内的u几何方面条þ所形成的4É细节的程度它就是屏P胶w的接触屏的厚度胶w感Z乳剂的总厚(无论是单面或面涂覆的感Z乳剂(指波长等及屏的类型内在O清p度ô于曝ZÜ排P的几何条 注3:do和t必须是使用相\的测量单Oÿ则Ug的单O将PF的单O相注:确定用的线算Ā给ú在Ā3(英û-磅单O制Ā中2Ā4~米制单O的线算举例:~19密耳几何O清p度(gĀü于射线照相的°量p着显著的影响ÿ因flÿ射线源到胶w的距离(Ā的选择是Þ要的2几何O清p度公式ÿs公式(Āÿ供提供资料和指导用Ā值Þ做到Ā小化所ñ一个物体或特à的射线照相Ā像p4能大于或小于物体或特à本身因fl物体或特à大于射线源则Ā像就较大而如果物体或特à小于射线源时Ā像就较小或扩大的程度将×ô于射线源到物体ñ及物体到胶w之间的距离ßp特à的相ü尺û［Ā2(bĀ和像的O\部V将会失真O\的量值曝ZĀ或曝Z用«算器的开发和采­ÿ是各个实验室的责任曝ZĀ或曝Z用«算器的Ā本要素ÿ必须PQ列项目发生s 物体P胶片的几何学效 确定几何形状O清晰度用的线算图(英û-磅单位 确定几何形状O清晰度用的线算图(米制单位胶w类型［相ü(感ZĀŸ度胶w密度(É注射线源或射线源到胶w的距离千伏特数ÿ或\O素的型式注5:s于胶w密度(O透明度Ā和密度测量校l的ð细资料ÿÉE1079实用规程居Ý数或毫曝Z时间过滤w(在波束中的如果’用ÿ做胶w处理的化学牌号方法时ÿ则Þ根据处理者所用时间温度s系做修l2建议保`含pĀ本要素的射线照相技术的日志或记录射线照相技术的日志或记录Þ包括QĀ解说明标记外形1射线源的置和胶wO置的试验ü象的说明1照w或草射线源到胶w的距离胶w类型胶w密度(É注\O素或X射线仪的识别标志居Ý数或毫象°«和薄垫w的厚度特殊的覆盖或过滤评wÊ察和O置1.条中的建议并非是强制性的ÿ但是ÿ它ü于减小射线照相的总成本p是Ā本的并`ÿ在射线照相解读者P射线照相操作者之间起到沟通的作用2透度计(象质计s°«的¿«1制

和材料组别ÿÞ查询实用规程7ÿ1ÿ5和1422实用规程1电气装置的检验ÿ并提供了ü于Ü象°«ÿ所需象°«的数目等等的补U细节2s于确定工业用胶w的相üĀ像°量àÞ信号用的象°«的细节资料Þ查询实用规程6和135«ß4ñ用于测量射线照相系统的Ā像°量或射线照相系统中相等的透度«感知度(SĀ性能的任何成V2测定用的举例和若~X射线探伤仪的EPS性能评估ÿ如ß4ñ使用à个薄金属板或瓷w研究曝Z条þÙ量`ü相ü射线照相Ā像°量做°量评估时ÿ4利用6ñ便于在射线照相了的零þP胶w之间起永久性的相s性2所做识别标志的型式和方法ÿÞ按用户P检验员之间的协议2Op4能O(它是铅或者高原子序列的金属或úĀ在射线照相胶wĀP的_符ÞO于所做检验的零þP并`OO于胶wø子P它们的确WO置标志在所做射线照相的零þ表面Pÿà样做4使得需要定O的感t趣|域l确地落在零þP`在射线照相的过程中它们Þ始终留在ï零þ之P它们的确WO置4求永久性地做标记O标记ß4ñ帮û射线照相的解读者用来标记ú部þP的铸þ中的缺陷部O焊缝中的缺陷ß4ñ在`p一个ñP的工þ处在相\胶w的射线照相Ý时|Vþ及需要拒收的工þ2Z的胶wÞ采用’`的方式予ñ保æÿ防k它们Ø到Z照1Ø压1过VØ热1过度潮湿1Ø烟或蒸汽的熏1或者穿透Ÿ射2ü于胶w保管的建议ÿÞ询问胶w的制

厂胶w的保管ÿÞ是在第一次使用及×ú的Ā础P进行2在E1254导则中ÿ提供了更多ps胶w保管的细节资料21.1胶wÞ在按胶w制

厂的建议ÿ在Ü全灯Z的条þQ进行处置2ANSIPH2.22规程4用ü好的射线照相而言ÿ清洁度是ĀÞ要的要求之一2胶wø或增感屏必须保持清洁àO仅是因~留在P面的污垢会导ô在曝Z或在射线照相处理时的人

影象ß因种污垢ßp4能被带ß装载工作ĀPÿñ及随^备à到w他的胶w或屏P去2作Ā的表面必须保持清洁2在使用手工胶w处理处ÿ4通过把暗室ñ及处理装置Ü排在w一侧而把胶w处置¿备置到另外的一侧而使得清洁度情况得到改善接着暗室中会p潮湿的一侧和~燥的一侧ÿ并`使得装载工作ĀØ化学污染的机会减轻2胶w挪úÞ只使用它的边缘ÿ并`ÿ用清洁的手处置ÿñ免把手指的痕迹留在胶的表面P2胶wÿ必须避免任何种类的急剧弯折ÿ过VØ压和粗的处置~成满意的射线照相ÿ除了在曝Z时必须仔细外ÿ在随^的胶w须\样仔细2Ol确或O良的暗室处理ÿ会使得十V仔细的射线照相技术Ù得无效22ó第26ÿ提供了s于胶w处理的一般资料2ps胶w处理的细节资料ÿ供在9则Ý2自ú——自ú处理系统的根本是ç制2胶w处理à工厂Þ将化学溶液保持在’`的温度Q自ú化地搅ú和补U溶液并在整个处理循ÿ中仔细地ç制好机械输‘胶wPÞ特殊的使用方法说明停k——在完成了显影工作之^ÿ留在感Z乳剂P的显影剂的活性ÿÞ通过酸中k洗涤来中和或者是`O4能à样做时Þ在清水中p力的搅úps酸中k洗涤(或ÿï它ÿ做淋洗的时间长度Āÿ€没时间和洗涤时间ÿÞ遵从胶w制

厂的建议在胶w固定架P的胶w必须互相O接触ÿ垂直地搅ú吊架þ10gÿ并在第一Vg^接着Þ次搅ú它ñ保证均匀并快Ÿ定影将它们在定影液中直ó完(ó少~净化时间的n倍但是在相ü新鲜的定影液中O多于15gO地搅úÿ4ñ缩短定影时间2——在定影和水洗之间ÿ使用硫化硫酸

(波Ā消除剂或定影中和剂会是p益的àß材料允许减少UV水洗所需的时间ßp用水量Þo格地遵Û胶w制厂ü洗涤(液Ā的制备1使用ñ及药液使用寿命的建议2ó水洗效果P水洗用水及w他的温度和流量ÿñ及P被洗胶w成函数s系2一般在6(1℃温度ñQ水洗过程是十V缓慢的`在8℉ñP温度Q水洗时à小心O要把胶w在水中时间太长胶wÞ成批次地水洗而无因新胶w带来定影液

污染如果因~处理能力的缘故p更多的胶w入而被压得过实时则Þ把部V的胶wÿ转移到朝入口方向2ü于特殊的水洗建议ÿÞ询问胶w制

厂——如果定影用的化学物未从胶wPUV的除去则在ñ^内u显影所得到的Ā像则会被沾污或褪色剩余定影液浓缩的允许程度×ô于胶w保管是作~商业目的(ó10€Āÿ或者必须~_档用°量2只要保管条þ均相ü湿度过大和温度过高例如在热带或Þ热带的气候条þQ则ü所p的射线照相都希望是_用°量的胶w处理ps确定剩余定影液浓度的方法4参照IPH4.PH1.28和H1.41规程查明2~~(胶(Ā和感Z乳剂(胶w(在水洗之^感Z乳剂的坚固度ÿ润滑剂的使用Āÿñ及(3Ā~空气(温度ÿ湿度ÿ流量Ā的函数2手工~燥处理4ñ是在室温Q静k的空气条þQ进行或者O\在采用风机循ÿ的流通空Q1温度高达1℉(℃Ā的条Q进行2psè荐的~燥条þÿÞÞ次P胶w制

厂接洽在吊架P收紧胶w时Þ小心O要使之P~燥器接触在P的湿度Q过高的~燥温将会

成~燥的O均匀性ÿ而Þàñ避免2261希望射线照相显影液的活性进行÷视ÿà4ñ是在作仔细ç制的条þQÿ通过定期显影已曝过Z的胶w条来进行ñ定úŸ射强度或时间P的Vÿ系列或者是使用ü胶湿度和潜在的Ā像褪色作了仔细ç制的1商业4利用的胶w条进行2190则提供了s于照明要求的细节资料在ñQ章节中提供了被认~是照明用的一般性资料2照明器x必须是能提供供照明射线照相均O透明度|域的Z照强度之用ÿ而O发ú眩目的Z并`必须是把Z线均匀地散射在所要Ê察的|域Pü于xp中度透明度的射线照相ÿ商业用途荧Z照明已4满足ÿ然而ÿü于O透明度在3.54的ÿ则需利用高Z照度的照明器`评wÊ察比Ê察口要小的射线照相或覆盖着PO透明度|射线照相时ÿÞ使用蔽Z框除去Ê察者眼部的任何无s系的Z照228.1比起总的暗度来ÿ在Ê察室内使用减弱的Z照ÿ更~4×2ÿ境的亮度ÞP射线照相E1254导则提供了s于射线照相的`ç制和未经曝Z胶w的维æ用的细节资料2在一节中ÿ提供了保管射线照相用的一般资料中央开缝的封套来ÿè荐使用xp边缘开缝的1的封套2因~ÿ在一ß封套制

厂所使用的沾合剂ÿp时会引起Ā像的被沾污和褪色(ÉIPH1.3Ā2301验日志(日志4用卡w文þ1打洞卡w系统或书本ÿ或w他记录Āu所做的1要维持的每一个作业的记录组成à种记录的组成Þñ作业(它也Þ示ú在文þP开始零þ的识别标志射线照相的材料或|域Ø曝Z的胶w日期ñ及射线照相程序的完整记录在它的细节P要UV足ñ4容易的Þ生任何射线照相技术如果校l日期或w他诸如卡w文þ或程序的记录被用于确定所使用的程序则日志P只需引用’合的日期或w他记录接着如果’用的话记录射线照相的解读者的发Ā(合格验收或拒收Āÿñ及ü每一作业它的原始情况也Þ记入2零þ的识别标志ÿ材料或|域如果p的话ÿ发Ā和处置2à一°量信oÿ要从日志中能够直接获得线照相是~(而非调查目的的操作则无论材料被合格验收或被拒收所p合格验收的零þ和材料PÞ做永久性标志如p4能ÞÖ带表示ú在随^的或Ā终(工序Ā检验员的特殊识别符号ÿ示明事实P射线照相的合格性2只要4能ÿ已经完成的射线照相Þñ文þ形式保留ÿñ供引用2和它们被保管的时间长短ÿÞ按合\签¬ß方的协议233.1曝Z«算Ā胶w处理系统Ā€马射线Ā象°«(IQIĀĀ射线照相Ā射线照相检验Ā射X1荧ZX11荧Z增感屏ÿ是涂p一层均匀的无机磷(晶体物°Ā层的厚(纸Ā板或塑料支架à一支架P磷的涂层通过在Z照射中O显影的ÿ合材料连ÿ成~一体荧Z置w]Ā来自它们的磷的晶体`Ø到射线或€马射线Ÿ射时便会激发ú荧Z(s射ú4ÉZĀ2某ß磷ÿ例如ÿ钨酸钙ö(CW4Āÿ`w他如稀土金属发ú的是绿色Z时ÿ它t发ú的是蓝色Z2X1.2目的和胶w类型——因~射线照相胶w一般ü于4ÉZÿ要比直接ØX射线1€马射X121胶V~n种类别中的一种:非屏型式的胶wÿxp中等程度的Z敏感性Ā而p屏型式的胶w则ü于十V高的蓝色Z或绿色Z特别敏感依据胶w的型式荧Z传统的曝Z量减小10之多2X13Ā量及w——P荧Z屏曝Z相联ÿ的Ā像°量乃是清p度1斑点ñ及ü比度的函数屏的清p度×ô于磷ÿ晶体的尺û晶体层的厚度ñ及à射Ā体的涂层每一个ÿ晶体发射的ZP它的尺ûps并`是在所p的方向P因之而产生Ā像O清p度的相ü程度~了使得à一O清p度减到Ā小屏P胶w的接触Þ尽4能地紧密斑点在n个方式PüĀ像pO利影响首Y总量”斑点是随射线或€马射线Ÿ射u荧Z屏实×吸收的量值而定ÿ也就是ÿ比较快ŸàÞ的屏及胶w系统ÿ导ô更大ß的斑点和较差的Ā像°量一个ÿ构性的”斑点乃是ÿ晶体尺û晶体的O均匀性ñ及涂层厚度的函数通过使用较小尺û并在较薄ÿ晶°的涂层P均匀V布的ÿ晶体4使之Ā小荧Z屏ü于较长波长的散射n`ûàX1.3.1减少曝Z(提高生产率Ā——`在à样的情况ÿ禁k使用的长时间曝Zÿ使得常规的射线照相OW实×例子之一便是ü厚的xpP的居Ý数的高原子数序的材料进行检验随很多Ù量而定ÿ`使用’`的荧Z屏P胶w的组合时ÿw曝Z时间4随Ù量因素的O\ÿ而在2×Ā到15×倍Ā范围内减少2X1.3.2改良Ü全状况(Ā场Ā——u于使用荧Z屏4使得曝Z减少ÿ故从射线照相检验ĀX1334——利用荧Z屏的快Ÿ的优点ÿ而4转化~减小能量水2例子之一便是50的射线管4ñ做00射线管的工作或者是通常是要求使用钴0的Þ用而4改用铱12\素在较P数Q使用荧Z屏的较之使用高能量ÿ别铅感屏的场合ÿp4能获得较好的总体Ā像°量2ASTMASTME94-2017610-832-9585(电话Ā610-832-9555(传真或service@(e-mailĀ;或通过ASTM网站(，可获得本标准的单独再版本(单一或多份拷贝。ThisinternationalstandardwasdevelopedinaccordancewithinternationallyrecognizedprinciplesonstandardizationestablishedintheDecisiononPrinciplesfortheDevelopmentofInternationalStandards,GuidesandRecommendationsissuedbytheWorldTradeOrganizationTechnicalBarrierstoTrade(TBT)Committee.Designation:E94/E94M−StandardGuideRadiographicExaminationUsingIndustrialRadiographicThisstandardisissuedunderthefixeddesignationE94/E94M;thenumberimmediatelyfollowingthedesignationindicatestheyearoforiginaladoptionor,inthecaseofrevision,theyearoflastrevision.Anumberinparenthesesindicatestheyearoflastreapproval.Asuperscriptepsilon(s)indicatesaneditorialchangesincethelastrevisionorreapproval.ThisstandardhasbeenapprovedforusebyagenciesoftheU.S.DepartmentofThisguide2coverssatisfactoryX-rayandgamma-rayradiographicexaminationasappliedtoindustrialradiographicfilmrecording.Itincludesstatementsaboutpreferredpracticewithoutdiscussingthetechnicalbackgroundwhichjustifiesthepreference.Abibliographyofseveraltextbooksandstandarddocumentsofothersocietiesisincludedforadditionalinfor-mationonthesubject.Thisguidecoverstypesofmaterialstobeexamined;radiographicexaminationtechniquesandproductionmethods;radiographicfilmselection,processing,viewing,andstorage;maintenanceofinspectionrecords;andalistofavailablereferenceradiographdocuments.NOTE1—FurtherinformationiscontainedinGuideE999,PracticeE1025,TestMethodsE1030,andE1032.Theuseofdigitalradiographyhasexpandedandfollowsmanyofthesamegeneralprinciplesoffilmbasedradiographybutwithmanyimportantdifferences.Theuserisreferredtostandardsfordigitalradiography[E2597,E2698,E2736,andE2737fordigitaldetectorarray(DDA)radiographyandE2007,E2033,E2445/E2445M,andE2446forcomputedradiography(CR)]ifconsideringtheuseofdigitalInterpretationandAcceptanceStandards—Interpretationandacceptancestandardsarenotcoveredbythisguide,beyondlistingtheavailablereferenceradiographdocu-mentsforcastingsandwelds.Designationofaccept-rejectstandardsisrecognizedtobewithinthecognizanceofproductspecificationsandgenerallyamatterofcontractualagreementbetweenproducerandpurchaser.SafetyPractices—ProblemsofpersonnelprotectionagainstXraysandgammaraysarenotcoveredbythis1ThisguideisunderthejurisdictionofASTMCommitteeE07onNondestruc-tiveTestingandisthedirectresponsibilityofSubcommitteeE07.01onRadiology(XandGamma)Method.CurrenteditionapprovedJune1,2017.PublishedAugust2017.Originallyapprovedin1952.Lastpreviouseditionapprovedin2010asE94-04(2010).DOI:2ForASMEBoilerandPressureVesselCodeapplicationsseerelatedGuideSE-94inSectionVofthatCode.

document.Forinformationonthisimportantaspectofradiography,referenceshouldbemadetothecurrentdocumentoftheNationalCommitteeonRadiationProtectionandMeasurement,FederalRegister,U.S.EnergyResearchandDevelopmentAdministration,NationalBureauofStandards,andtostateandlocalregulations,ifsuchexist.ForspecificradiationsafetyinformationrefertoNISTHandbookANSI43.3,21CFR1020.40,and29CFR1910.1096orregulationsforagreementUnits—ThevaluesstatedineitherSIunitsorinch-poundunitsaretoberegardedseparatelyasstandard.Thevaluesstatedineachsystemmaynotbeexactequivalents;therefore,eachsystemshouldbeusedindependentlyoftheother.Combiningvaluesfromthetwosystemsmayresultinnon-conformancewiththestandard.IfanNDTagencyisused,theagencyshouldbequalifiedinaccordancewithSpecificationE543.Thisstandarddoesnotpurporttoaddressallofthesafetyproblems,ifany,associatedwithitsuse.Itistheresponsibilityoftheuserofthisstandardtoestablishappro-priatesafetyandhealthpracticesanddeterminetheapplica-bilityofregulatorylimitationspriortouse.(See1.5.)Thisinternationalstandardwasdevelopedinaccor-dancewithinternationallyrecognizedprinciplesonstandard-izationestablishedintheDecisiononPrinciplesfortheDevelopmentofInternationalStandards,GuidesandRecom-mendationsissuedbytheWorldTradeOrganizationTechnicalBarrierstoTrade(TBT)Committee.ReferencedASTME543SpecificationforAgenciesPerformingNondestructiveE746PracticeforDeterminingRelativeImageQualityRe-sponseofIndustrialRadiographicImagingSystems3ForreferencedASTMstandards,visittheASTMwebsite,,orcontactASTMCustomerServiceatservice@.ForAnnualBookofASTMStandardsvolumeinformation,refertothestandard’sDocumentSummarypageontheASTMwebsite.Copyright©ASTMInternational,100BarrHarborDrive,POBoxC700,WestConshohocken,PA19428-2959.UnitedE94/E94ME94/E94M−E747PracticeforDesign,ManufactureandMaterialGroup-ingClassificationofWireImageQualityIndicators(IQI)UsedforRadiologyE801PracticeforControllingQualityofRadiographicEx-aminationofElectronicDevicesE999GuideforControllingtheQualityofIndustrialRadio-graphicFilmProcessingE1000GuideforE1025PracticeforDesign,Manufacture,andMaterialGroupingClassificationofHole-TypeImageQualityIn-dicators(IQI)UsedforRadiologyE1030PracticeforRadiographicExaminationofMetallicE1032TestMethodforRadiographicExaminationofWeld-E1079PracticeforCalibrationofTransmissionDensitom-E1254GuideforStorageofRadiographsandUnexposedIndustrialRadiographicFilmsE1316TerminologyforNondestructiveExaminationsE1390SpecificationforIlluminatorsUsedforViewingdustrialE1735TestMethodforDeterminingRelativeImageQualityofIndustrialRadiographicFilmExposedtoX-Radiationfrom4to25MeVE1742PracticeforRadiographicE1815TestMethodforClassificationofFilmSystemsforIndustrialRadiographyE1817PracticeforControllingQualityofRadiologicalEx-aminationbyUsingRepresentativeQualityIndicatorsE2007GuideforComputedE2033PracticeforComputedRadiology(PhotostimulableLuminescenceMethod)E2445/E2445MPracticeforPerformanceEvaluationandLong-TermStabilityofComputedRadiographySystemsE2446PracticeforManufacturingCharacterizationofputedRadiographyE2597PracticeforManufacturingCharacterizationofDigi-talDetectorArraysE2698PracticeforRadiologicalExaminationUsingDigitalDetectorArraysE2736GuideforDigitalDetectorArrayE2737PracticeforDigitalDetectorArrayPerformanceEvaluationandLong-TermStabilityANSIPH1.41SpecificationsforPhotographicFilmArchivalRecords,SilverType4PH2.22Photography(Sensitometry)—DeterminationofSafelightConditions4T9.1ImagingMedia(Film)—Silver-GelatinTypeSpecifica-tionsforStability4T9.2ImagingMedia—PhotographicProcessedFilms,Plates,andPaperFilingEnclosuresandStorageContain-4AvailablefromAmericanNationalStandardsInstitute(ANSI),25W.43rdSt.,4thFloor,NewYork,NY10036.

FederalTitle21,CodeofFederalRegulations(CFR)1020.40,SafetyRequirementsofCabinetX-RaySystems5Title29,CodeofFederalRegulations(CFR)1910.96,Ion-izingRadiation(X-Rays,RF,etc.)5OtherISO18917Photography—Determinationofresidualthiosul-phateandotherrelatedchemicalsinprocessedphoto-graphicmaterials—Methodsusingiodine-amylose,meth-yleneblueandsilversulfideNBSHandbookANSIN43.3GeneralRadiationSafetyIn-stallationsUsingNonMedicalX-RayandSealedGamma-RaySourcesupto10MeV6Definitions—Fordefinitionsoftermsusedinthisguide,refertoTerminologyE1316.SignificanceandWithinthepresentstateoftheradiographicart,thisguideisgenerallyapplicabletoavailablematerials,processes,andtechniqueswhereindustrialradiographicfilmsareusedastherecordingmedia.Limitations—Thisguidedoesnottakeintoconsiderationthebenefitsandlimitationsofnonfilmradiographysuchasfluoroscopy,digitaldetectorarrays,orcomputedradiography.RefertoGuidesE1000,E2736,andE2007.Althoughreferenceismadetodocumentsthatmaybeusedintheidentificationandgrading,whereapplicable,ofrepresentativediscontinuitiesincommonmetalcastingsandwelds,noattempthasbeenmadetosetstandardsofacceptanceforanymaterialorproductionprocess.Radiographywillbeconsistentinimagequality(con-trastsensitivityanddefinition)onlyifalldetailsoftechniques,suchasgeometry,film,filtration,viewing,etc.,areobtainedandmaintained.EquipmentandToobtainqualityradiographs,itisnecessarytoconsiderasaminimumthefollowinglistofitems.Detailedinformationoneachitemisfurtherdescribedinthisguide.Radiationsource(X-rayorEnergySourcesize(X-rayfocalspotdimensionorgammasourcesize),WaysandmeanstoeliminatescatteredFilmsystemSource-to-filmandobject-to-filmImagequalityindicatorsScreensandGeometryofpartorcomponentIdentificationandlocationmarkers,5AvailablefromU.S.GovernmentPrintingOfficeSuperintendentofDocuments,732N.CapitolSt.,NW,MailStop:SDE,Washington,DC20401.6AvailablefromNationalTechnicalInformationService(NTIS),U.S.Depart-mentofCommerce,5301ShawneeRd,Alexandria,VA22312.RadiographicqualityRadiographicQualityImageQualityIndicators(IQIs)aredevicesplacedwithinaradiographicset-uptoindicatethatacertaincontrastsensitivityanddefinitionhasbeenachieved.IQIsdemonstrat-ingtherequiredsensitivityleveldonotguaranteethatasimilarsizeflawinapartwillbedetectedbutindicatethattheradiographicqualityhasbeenmet.Informationonthedesignandmanufactureofimagequalityindicators(IQIs)canbefoundinPracticesE747,E801,E1025,andE1742.Radiographicqualitylevelisusuallyexpressedinpercentofpartthicknessanddiameteroffeaturetobedetected.Ifasinglepercentnumberisgiven,thefeaturediameterisassumedtobetwicethegivenpercentthicknessofthepart.Forexample,if2%isgivenforoneinch[25.4mm]thickpart,thefeaturediameteris2×0.02×1in.[25.4mm]or0.04in.[1.016mm].Imagequalitylevelsusinghole-typeIQIs(seePracticeE1025)aredesignatedbyatwopartexpressionX-YT.ThefirstpartoftheexpressionXreferstotheIQIthicknessexpressedasapercentageofthespecimenthickness.ThesecondpartoftheexpressionYTreferstothediameteroftheholeandisexpressedasamultipleoftheIQIthickness,T.Theimagequalitylevel2-2TmeansthattheIQIthicknessTis2%ofthespecimenthicknessandthatthediameteroftheIQIimagedholeis2timestheIQIthickness.IfusingwireIQIs,thewiresetandwirenumberaredesignated.Correspondencebetweenhole-typeandwire-typeIQIsisgiveninPracticeE747.Hole-andwire-typeIQIsarethemajortypesusedforindustrialradiography.Othertypesmayalsobeused(forexample,seePracticeE1817).Thequalitylevelusuallyrequiredforradiog-raphyis2%(2-2TwhenusingholetypeIQI)unlessahigherorlowerqualityisagreeduponbetweenthepurchaserandthesupplier.Thelevelofinspectionspecifiedshouldbebasedontheservicerequirementsoftheproduct.Greatcareshouldbetakeninspecifyingqualitylevels2-1T,1-1T,and1-2Tbyfirstdeterminingthatthesequalitylevelscanbemaintainedinproductionradiography.IfIQIsofmaterialradiographicallysimilartothatbeingexaminedarenotavailable,IQIsoftherequireddimensionsbutofalower-absorptionmaterialmaybeused.ThequalitylevelrequiredusingwireIQIsshouldbeequivalenttothe2-2TlevelofPracticeE1025unlessahigherorlowerqualitylevelisagreeduponbetweenpurchaserandsupplier.Table4ofPracticeE747providesalistofvarioushole-typeIQIsandthecorrespondingdiameterofthewirestoachievetheEquivalentPenetrameterSensitivity(EPS)withtheapplicable1T,2T,and4TholesintheplaqueIQI.AppendixX1ofPracticeE747givestheequationforcalculatingotherequivalencies,ifneeded.EnergyX-rayenergyaffectsimagequality.Ingeneral,thelowertheenergyofthesourceutilizedthehighertheachievableradiographiccontrast,however,othervariablessuchasexces-sivedosegeometryandscatterconditionsmayoverridethepotentialadvantageofhighercontrast.Foraparticularenergy,arangeofthicknesseswhichareamultipleofthehalf

layer,mayberadiographedtoanacceptablequalitylevelutilizingaparticularX-raymachineorgammaraysource.InallcasesthespecifiedIQI(penetrameter)qualitylevelmustbeshownontheradiograph.Ingeneral,satisfactoryresultscannormallybeobtainedforX-rayenergiesbetween100kVto500kVinarangebetween2.5to10halfvaluelayers(HVL)ofmaterialthickness(seeTable1).Thisrangemaybeextendedbyasmuchasafactorof2insomesituationsforX-rayenergiesinthe1to25MVrangeprimarilybecauseofreducedRadiographicEquivalenceTheradiographicequivalencefactorofamaterialisthatfactorbywhichthethicknessofthematerialmustbemulti-pliedtogivethethicknessofa“standard”material(oftensteel)whichhasthesameabsorption.RadiographicequivalencefactorsofseveralofthemorecommonmetalsaregiveninTable2,withsteelarbitrarilyassignedafactorof1.0.Example:Toradiograph1.0in.[25.4mm]ofaluminumat220kV,multiply1.0bythe0.18(equivalencefactorforaluminumat220kV)andthisindicatesthat1.0in.[25.4mm]ofaluminumisequivalentto0.18in.[4.57mm]ofsteelwhenusing220kV.ThefactorsmaybeTodeterminethepracticalthicknesslimitsforradia-tionsourcesformaterialsotherthansteel,andTodetermineexposureforonemetalfromexposuretechniquesforothermetals.Variousindustrialradiographicfilmsareavailabletomeettheneedsofproductionradiographicwork.However,definiterulesontheselectionoffilmaredifficulttoformulatebecausethechoicedependsonindividualuserrequirements.Someuserrequirementsareasfollows:radiographicqualitylevels,exposuretimes,andvariouscostfactors.Severalmethodsareavailableforassessingimagequalitylevels(seePracticesE746,E747,andE801).Informationaboutspecificproductscanbeobtainedfromthemanufacturers.Variousindustrialradiographicfilmsaremanufacturedtomeetqualitylevelandproductionneeds.TestMethodE1815providesamethodforfilmmanufacturerclassificationoffilmsystems.Afilmsystemconsistofthefilmandassociatedfilmprocessingsystem.UsersmayobtainaclassificationtableTABLE1TypicalSteelHVLThicknessinInches[mm]forCommonEnergiesInches120Inches1200.101500.142000.202500.25400kV(Ir0.3510.572MV(Co0.8041.0061.15101.2516MVand1.30TABLE2ApproximateRadiographicEquivalenceFactorsforSeveralMetals(Relativeto100150220250400124to25 AluminumIron/allInconelthefilmmanufacturerforthefilmsystemusedinproductionradiography.AchoiceoffilmclasscanbemadeasprovidedinTestMethodE1815.AdditionalspecificdetailsregardingclassificationoffilmsystemsisprovidedinTestMethodE1815.ANSIStandardsPH1.41,ISO417,T9.1,andprovidespecificdetailsandrequirementsforfilmmanufactur-Definition—Filtersareuniformlayersofmaterialplacedbetweentheradiationsourceandthefilm.Purpose—Thepurposeoffiltersistoabsorbthesoftercomponentsoftheprimaryradiation,thusresultinginoneorseveralofthefollowingpracticaladvantages:Decreasingscatteredradiation,thusincreasingcon-Decreasingundercutting,thusincreasingDecreasingcontrastofpartsofvaryingthickness,therebyincreasingradiographiclatitude.Location—Usuallythefilterwillbeplacedinoneofthefollowingtwolocations:Ascloseaspossibletotheradiationsource,whichminimizesthesizeofthefilterandalsothecontributionofthefilteritselftoscatteredradiationtothefilm.Betweenthespecimenandthefilminordertoabsorbpreferentiallythescatteredradiationfromthespecimen.Itshouldbenotedthatleadfoilandothermetallicscreens(see13.1)fulfillthisfunction.ThicknessandFilterMaterial—Thethicknessandmaterialofthefilterwillvarydependinguponthefollowing:ThematerialThicknessofthematerialVariationofthicknessofthematerialEnergyspectrumoftheradiationTheimprovementdesired(increasing