半导体集成电路 低功耗双倍数据速率同步 动态随机存储器（LPDDR5）应用场景测试方 法编制说明

中国电子工业标准化技术协会

团体标准《半导体集成电路低功耗双倍数据速率同步动态

随机存储器（LPDDR5）应用场景测试方法》

编制说明

一、工作简况

1、项目来源和工作单位

2023年5月9日，根据中国电子工业标准化协会下达《关于公布2023年第四批

团体标准制修订项目的通知》(中电标通[2023]013号)，团体标准《半导体集成

电路低功耗双倍数据速率同步动态随机存储器（LPDDR5）应用场景测试方法》

制定项目正式立项，该项目计划号为CESA-2023-049。该标准由长鑫存储技术有

限公司牵头，由中国电子技术标准化研究院、OPPO广东移动通信有限公司、中科

寒武纪科技股份有限公司等公司联合起草，归口于中国电子工业标准化技术协会

和中国电子技术标准化研究院。

2、主要工作过程：

（一）标准预研

随着国内存储生态的不断发展，国产内存、平台和系统间的合作越来越多，

内存产品LPDDR5是未来低功耗内存主流产品，其相关测试在JEDEC中没有明确的

规范，国内也没有相关规范，各单位的测试项目合理性和必要性不尽科学，测试

效率低，沟通成本高，亟需存储、平台和应用厂商协同建立相关标准规范。本标

准的目的是统一新产品测试规范，能够优化完善测试项目，提高测试效率和系统

稳定性，降低沟通成本；以LPDDR5测试规范为初始，后续可推广到其他存储产品

LPDDR6/GDDR5/HBM等标准定义上，加深存储、平台和用户厂商的融合，推动国内

存储生态体系建设。为此，长鑫存储技术有限公司联合中国电子技术标准化研究

院、OPPO广东移动通信有限公司、黑芝麻智能科技有限公司、中科寒武纪科技股

份有限公司、瑞芯微电子股份有限公司等共同开展《半导体集成电路低功耗双

倍数据速率同步动态随机存储器（LPDDR5）应用场景测试方法》的标准制定工作。

（二）标准立项

中国电子工业标准化技术协会

2023年5月，长鑫存储技术有限公司联合中国电子技术标准化研究院、OPPO

广东移动通信有限公司等多家单位，向中国电子工业标准化技术协会申请立项，

经协会评审，同年5月正式下达计划。

（三）标准编制过程

2023年6月，标准编制组启动了对草稿的修定和完善工作；

2023年7月，标准编制组召开线上会议集中讨论了草案修订过程中发现的问

题，并讨论了标准中需要进一步明确的内容；

2023年8-11月，标准编制组召开两次会议，针对会议讨论问题对标准草案进

行了修订，基本形成了征求意见稿。

2023年12月，标准编制组完成征求意见稿，并向社会公开征求意见。

3、主要起草人及其所做的工作

本标准由长鑫存储牵头组织编制，参与标准编制的成员单位有中国电子技术

标准化研究院、OPPO广东移动通信有限公司、黑芝麻智能科技有限公司、中科寒

武纪科技股份有限公司、瑞芯微电子股份有限公司。中国电子技术标准化研究院

牵头负责标准化工作的组织、协调和标准文本的编制工作，其余单位全程参与了

详细的技术讨论。

二、标准编制原则和确定主要内容的论据及解决的主要问题

1、编制原则

在编制标准过程中，遵循了以下三项原则。

一是遵循国家法律、法规等相关规定，制定过程严格按照程序执行。本标准

的编制过程经历了标准编制筹备阶段、标准草案编制阶段（草案讨论、编制、内

部征求意见、修改、再征求意见等环节），制定过程严格按照国家标准制定程序

要求。目前是到审定稿的意见征求。本标准的编制严格遵循GB/T1.1-2020《标

准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起草，并使用中

国标准编辑器进行文本的编辑。

二是充分借鉴和吸收国外相关文献和经验。本标准编制过程中，吸收借鉴了

一些国外的技术文献和经验，这些内容部分已经成为国际标准，其余虽然没有正

式成为国际标准，但已经成为了业内广泛使用的方法、规范。

中国电子工业标准化技术协会

三是本标准本着立足于LPDDR5产品在各类应用场景中的实际需求，基于最新

的技术方案以及产业生态，并着眼于未来发展需求，使标准发挥最大的作用。在

标准的技术内容编写上充分考虑了LPDDR5应用场景的诉求，以及技术的可实现性

与产业生态，从多个方面进行了详细的研究与论证，以便于标准能够在实际的应

用中得到贯彻实施。

2、确定主要内容的依据

本标准规定了低功耗双倍数据速率同步动态随机存储器（LPDDR5）产品不同

应用场景的测试方法，分类规定了商业级、工业级、汽车级三类应用场景下的可

靠性和稳定性测试方法，包括了环境关机、双85测试、功耗测试、温度循环、数

字眼图、冷/热重启等多个测试项目。标准编制过程中参考了多个现行可靠性测

试相关的标准，以及JEDEC关于LPDDR5产品标准等。在标准内容编制过程中，调

研了包括移动通信、人工智能、汽车电子等多个应用单位，组织标准编制单位的

代表对调研的材料进行讨论、征求意见，最终形成征求意见稿。

3、编制过程中解决的主要问题

在标准的编制过程中主要解决的问题如下：

1.在LPDDR5产品应用条件下，需要关注的可靠性和稳定性相关的测试项。

标准编制组结合现行存储器相关产品的可靠性测试标准以及车规芯片AECQ测试

相关标准，结合目前国内产品应用厂商对测试环境、条件等不甚了解的前提，产

品研制单位长鑫公司与业内应用公司共同协商确定测试项目，作为后续LPDDR5

产品推广应用的依据。

2.结合测试验证的实际情况，确定了开展可靠性试验的测试条件。由于不

同场景的可靠性和稳定性测试对测试样品数量、测试条件、合格判据等有较大的

差异，且可靠性测试结果的可信程度与测试成本成反比，本标准在编制过程中充

分考虑了实际操作的可行性和成本，形成了相对可行可用的测试条件。

4、标准未解决的问题

信号完整性相关测试要求目前在探讨过程中，需要进一步进行明确。

三、主要验证情况分析

中国电子工业标准化技术协会

本标准中所确定的测试项目及测试方法已在产品研制单位和用户单位开展

过对应的试验验证。

验证分析报告

验证分析的目的：

①证实样品满足本组织建立的LPDDR5系统测试方法要求.

②识别系统测试方法改进和更新的要求

③识别潜在不安全产品高风险的需求

④建立信息，便于记录及比较

⑤证明已采取的测试方法的有效性

PDIDLotIDQTY

样品信息：

DCPNAR4CXXD8CFXX1ATCP3071040.G120ea

分析日期：2023年10月16日

分析人员：SS小组成员

所进行的验证验证的结果验证结果分析的结论

高低温老化测试20/20Pass测试PASS，可靠性好

各场景下功耗符合预

功耗测试20/20Pass

期，满足标准

温循测试符合预期，

温循测试20/20Pass

产品结构稳定

产品通过所有

可靠性测试

Corner测试20/20PassCorner测试，系统运

行可靠

数字眼图符合JEDEC

数字眼图20/20Pass

要求

多次冷重启后系统运

冷重启测试20/20Pass

行稳定

长时间测试系统稳定

睡眠/唤醒测试20/20Pass

工作，无异常情况

稳定性测试长时间测试系统稳定

热重启测试20/20Pass

工作，无异常情况

Monkey测试20/20Pass测试正常

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系统开启DVFS功能

频率切换测试20/20Pass

后24小时测试正常

压力测试软件测试

压力测试20/20Pass

72小时无报错

Rowhammer测试工具

Rowhammer测试20/20Pass

72小时无报错

最终产品的检测：所有样品均进行了验证，验证数据及记录有效

验证分析的总结论：本次样品各项指标正常，验证全部合格

四、知识产权情况说明

本标准不涉及知识产权问题。

五、产业化情况、推广应用论证和预期达到的经济效果

本。

六、转化国际标准和国外先进标准情况

目前，LPDDR5相关的国际标准为JEDEC（固态电子协会）制定的产品规范，

该规范主要规定了LPDDR5SDRAM产品的功能、交直流电气参数、关键时序、IDD

电流等。该标准是一个产品规范，对产品的指标进行规定。而本标准规定的是针

对不同应用条件下的产品功能、性能的测试方法，属于产品规范在推广应用过程

中使用的测试方法，也是对应JEDEC规范的补充和完善。

七、与现行相关法律、法规、规章及相关标准的协调性

本标准编制文本格式遵循GB/T1.1-2020。

八、重大分歧意见的处理经过和依据

无重大分歧。

九、贯彻标准的要求和措施建议

中国电子工业标准化技术协会

建议列为推荐性标准