标准解读

《GB/T 45468-2025 微束分析 岩石微孔隙聚焦离子束-扫描电镜三维成像分析方法》是一项国家标准,旨在为岩石中微孔隙结构的三维成像提供一套规范化的技术指导。该标准详细描述了使用聚焦离子束(FIB)与扫描电子显微镜(SEM)联用技术对岩石样本进行高分辨率三维成像的具体步骤和要求。

首先,标准明确了适用范围,主要针对地质学、材料科学等领域内需要了解岩石内部微观结构特征的研究工作。接着,在术语定义部分,对涉及的专业词汇给出了明确解释,确保了文档的一致性和准确性。

在仪器设备方面,《GB/T 45468-2025》规定了执行此类分析所需的基本硬件配置,包括但不限于FIB-SEM双束系统、样品制备工具等,并强调了设备性能指标的重要性,以保证实验结果的有效性。

对于样品准备,标准提供了详细的指南,从取样到预处理再到最终固定于载物台上的每一个环节都有具体的操作建议。这一步骤非常关键,因为正确的样品处理能够显著提高后续成像的质量。

接下来是关于数据采集的部分,这里不仅涵盖了如何设置参数来获取最佳图像质量的技术细节,还包括了如何规划切割路径以及如何避免或减少可能影响成像效果的因素等方面的建议。

最后,在数据分析章节中,介绍了多种可用于处理及可视化三维数据集的方法和技术,帮助研究人员更好地理解并展示岩石内部复杂的微孔隙网络结构。


如需获取更多详尽信息,请直接参考下方经官方授权发布的权威标准文档。

....

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  • 即将实施
  • 暂未开始实施
  • 2025-03-28 颁布
  • 2025-10-01 实施
©正版授权
GB/T 45468-2025微束分析岩石微孔隙聚焦离子束-扫描电镜三维成像分析方法_第1页
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文档简介

ICS7104099

CCSG.04.

中华人民共和国国家标准

GB/T45468—2025

微束分析岩石微孔隙聚焦离子束-扫描

电镜三维成像分析方法

Microbeamanalysis—FIB-SEMimagingandanalysismethodfor3Dmicro-pore

structureofrocksample

2025-03-28发布2025-10-01实施

国家市场监督管理总局发布

国家标准化管理委员会

GB/T45468—2025

目次

前言

…………………………Ⅲ

范围

1………………………1

规范性引用文件

2…………………………1

术语和定义

3………………1

方法原理

4…………………2

仪器软件及材料

5、…………………………3

试样制备

6…………………4

分析步骤

7…………………4

数据处理

8…………………6

分析报告

9…………………10

附录资料性页岩试样自动序列切片成像示例

A()……………………12

附录资料性岩石微孔隙聚焦离子束扫描电镜三维成像分析的报告示例

B()-……13

参考文献

……………………16

GB/T45468—2025

前言

本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规定

GB/T1.1—2020《1:》

起草

请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任

。。

本文件由全国微束分析标准化技术委员会提出并归口

(SAC/TC38)。

本文件起草单位中国石油天然气股份有限公司勘探开发研究院中国石油天然气股份有限公司规

:、

划总院上海大学中国科学院地质与地球物理研究所中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究

、、、

院无锡石油地质研究所

本文件主要起草人王晓琦金旭孙亮陈文霞杨继进吴建国朱如凯吴松涛鲍芳张琳丁立华

:、、、、、、、、、、、

焦航

GB/T45468—2025

微束分析岩石微孔隙聚焦离子束-扫描

电镜三维成像分析方法

1范围

本文件规定了用聚焦离子束扫描电镜对致密岩石微孔隙进行三维成像的方法

-。

本文件适用于泥岩页岩致密碳酸盐岩致密砂岩和煤岩等岩石的微纳米级孔隙

、、、50nm~20μm

分析其他地质样品参照执行

,。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款其中注日期的引用文

。,

件仅该日期对应的版本适用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于

,;,()

本文件

微束分析扫描电子显微术术语

GB/T23414

微束分析扫描电镜图像放大倍率校准导则

GB/T27788

微束分析致密岩石微纳米级孔隙结构计算机层析成像分析方法

GB/T38531—2020(CT)

聚焦离子束系统分析方法通则

JY/T0583—2020

岩石制片方法

SY/T5913

3术语和定义

和界定的以及下列术语和定义

GB/T23414、GB/T27788、GB/T38531—2020JY/T0583—2020

适用于本文件

31

.

聚焦离子束系统focusedionbeamsystemFIB

;

采用聚焦的离子束对试样表面进行轰击并由计算机控制离子束的扫描或加工轨迹步距驻留时

,、、

间和循环次数以实现对材料的成像刻蚀诱导沉积和注入的分析加工系统

,、、。

来源有修改

[:JY/T0583—2020,2.1,]

32

.

聚焦离子束-扫描电镜focusedionbeam-scanningelectronmicroscopeFIB-SEM

;

具有及扫描电子显微成像系统的微纳加工与成像仪器

FIB

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