标准解读
《GB/T 45469-2025 微束分析 透射电子显微术 聚合物复合材料超薄切片制备方法》是一项国家标准,旨在规范聚合物复合材料在进行透射电子显微镜(TEM)观察前的样品准备过程。该标准详细描述了从样品选取到最终可用于TEM观察的超薄切片制备全流程,确保不同实验室之间能够获得可比性强、质量一致的研究结果。
首先,在样品选择阶段,标准强调了应根据研究目的挑选合适的聚合物复合材料样本,并对如何避免引入杂质或损伤原有结构提出了具体要求。接下来是固定与脱水处理,这部分内容指导实验者如何使用化学试剂固定细胞或其他成分,并通过逐步增加溶剂浓度的方式去除水分,以保持样品内部结构不变形。
然后进入包埋环节,标准中推荐了几种常用的树脂类型及其配比,以及最佳操作条件如温度和时间等参数设置,确保形成均匀且透明度高的包埋块。之后是对包埋后样品进行修整,使其表面平整光滑,便于后续切片操作。
切片步骤是整个流程中最关键的部分之一,《GB/T 45469-2025》对此做了详尽说明,包括但不限于选用合适硬度的刀具、调整切割角度及速度等技术细节。此外还特别指出需注意控制切片厚度,通常建议为50-100纳米之间,这样才能保证良好的透光性和分辨率。
最后一步是染色处理,虽然并非所有情况下都必需,但对于某些难以直接观察到对比度差异的样品来说非常重要。标准提供了几种常见染色剂的选择依据及其应用方法。
如需获取更多详尽信息,请直接参考下方经官方授权发布的权威标准文档。
....
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- 现行
- 正在执行有效
- 2025-03-28 颁布
- 2025-10-01 实施
文档简介
ICS7104099
CCSG.04.
中华人民共和国国家标准
GB/T45469—2025
微束分析透射电子显微术
聚合物复合材料超薄切片制备方法
Microbeamanalysis—Transmissionelectronmicroscopy—
Preparationmethodsofultrathinsectionofpolymercomposites
2025-03-28发布2025-10-01实施
国家市场监督管理总局发布
国家标准化管理委员会
GB/T45469—2025
目次
前言
…………………………Ⅲ
引言
…………………………Ⅳ
范围
1………………………1
规范性引用文件
2…………………………1
术语和定义
3………………1
样品准备
4…………………2
超薄切片制备
5……………3
超薄切片试样的透射电镜检查
6…………6
附录资料性常用试剂的配方
A()………………………7
附录资料性聚合物的玻璃化转变温度
B()……………9
参考文献
……………………11
Ⅰ
GB/T45469—2025
前言
本文件按照标准化工作导则第部分标准化文件的结构和起草规则的规
GB/T1.1—2020《1:》
定起草
。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利本文件的发布机构不承担识别专利的责任
。。
本文件由全国微束分析标准化技术委员会提出并归口
(SAC/TC38)。
本文件起草单位浙江大学复旦大学上海交通大学江苏雷博科学仪器公司
:、、、。
本文件主要起草人洪健王华张晓敏赵晓欢周广荣王戈郑希徐颖夏秋华
:、、、、、、、、。
Ⅲ
GB/T45469—2025
引言
应用透射电子显微镜观察聚合物复合材料超薄切片样品制备是关键聚合物材料种类繁多物理
,。,
化学性质各异与各种增强材料和填充材料复合而成的多组分多相体系具有优异的力学及其他性
,、,
能但给超薄切片制备带来了困难迄今为止聚合物复合材料的电镜超薄切片样品制备没有统一的技
,。,
术标准直接影响聚合物复合材料的显微结构研究为了规范聚合物复合材料的电镜超薄切片制备方
,。
法特制定本文件
,。
Ⅳ
GB/T45469—2025
微束分析透射电子显微术
聚合物复合材料超薄切片制备方法
1范围
本文件规定了用于透射电子显微镜观察聚合物复合材料的超薄切片样品制备方法及技术规范
。
本文件适用于常温或冷冻条件下能进行超薄切片的聚合物复合材料制样
。
2规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款其中注日期的引用文
。,
件仅该日期对应的版本适用于本文件不注日期的引用文件其最新版本包括所有的修改单适用于
,;,()
本文件
。
纳米科技术语第部分纳米结构材料
GB/T30544.4—20194:
3术语和定义
界定的以及下列术语和定义适用于本文件
GB/T30544.4—2019。
31
.
聚合物polymer
由一种或几种结构单元通过共价键重复连接而成的高分子量化合物
。
32
.
聚合物复合材料polymercomposite
以聚合物为基体与各种增强材料和填充材料复合而成的多组分多相体系具有优异的力学性能
,、,
以及其他性能
。
33
.
纳米尺度nanoscale
处于约的尺寸范围
1nm~100nm。
注1本尺寸范围通常但非专有地表现出不能由较大尺寸外推得到的特性对于这些特性来说尺度上下限值
:、。,、
是近似的
。
注2本定义引入下限约的目的是避免在不设定下限时单个或一小簇原子被默认是纳米物体或纳米结构
:(1nm)
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