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文档简介
B3502:2011序文 11一般事項 11.1適用範囲 11.2この規格への適合性 2 32形式試験 62.1EUT[equipmentundertest(供試品)] 6 82.3耐力試験 92.4検証手順 92.5製造業者が用意する試験プログラム及び正規の機能検証手順[properfunctioningverificationprocedures(PFVP)]に関する要求事項 92.6試験に関する一般事項 93用語及び定義 4通常の稼動条件及び要求事項 4.1環境条件及び要求事項 4.2機械的な稼動条件及び要求事項 4.3輸送及び保管条件並びに要求事項 4.4電気的稼動条件及び要求事項 204.5特殊稼動条件及び要求事項 205機能に関する要求事項 215.1電源供給及びメモリバックアップ機能に関する要求事項 225.2デジタル入出力 235.3アナログ入出力 5.4通信インタフェースの要求事項 325.5PLCシステムの主処理装置及びメモリの要求事項 5.6リモートI/O(RIOS)の要求事項 5.7周辺装置(PADT,TE及びHMI)の要求事項 335.8PLCシステムの自己試験及び診断の要求事項 335.9機能接地 345.10据付けに関する要求事項 345.11表示への一般要求事項 345.12通常稼動及び機能に関する形式試験及び検証に関する要求事項 355.13通常稼動及び機能に関する情報の要求事項 356通常稼動及び機能に関する形式試験及び検証 356.1耐候性試験 356.2(内容を考慮して6.1に含めたため,削除) 376.3機械的試験 6.4電源端子及びメモリバックアップヘの特殊機能要求仕様の検証一電源端子の特殊イミュニテイ限界 6.5入出力特性の検証 446.6通信インタフェース要求事項の検証 476.7主処理装置(MPU)の特性の検証 476.8リモート入出力局の検証 476.9周辺装置(PADT,TE及びHMI)の特性の検証 486.10PLCシステムの自己診断機能の検証 486.11表示及び製造業者ドキュメントの検証 487製造業者の提供情報 487.1文書情報の種類及び内容 487.2この規格に対する適合性に関する情報 487.3信頼性に関する情報 497.4その他の条件での情報 497.5出荷及び保管に関する情報 497.6AC及びDC電源に関する情報 497.7デジタル入力に関する情報 497.8デジタル交流出力に関する情報 7.9デジタル直流出力に関する情報 7.10アナログ入カに関する情報 507.11アナログ出力に関する情報 527.12通信インタフェースに関する情報 7.13PLCシステムのMPU及びメモリに関する情報 537.14リモート入出力に関する情報 537.15周辺装置(PADT,TE及びHMI)に関する情報 7.16自己診断に関する情報 548電磁両立性(EMC)に関する要求事項 548.1一般 8.2エミッションに関する要求事項 8.3EMCイミュニティに関する要求事項 558.4EMCの試験及び検証に関する要求事項 618.5EMCに関する情報についての要求事項 619電磁両立性(EMC)形式試験及び検証 619.1電磁両立性関連試験 619.2試験環境 9.3放射妨害の測定 629.4伝導妨害の測定 629.5静電気放電 639.6放射無線周波電磁界一振幅変調 9.7電源周波数磁界 9.8ファストトランジェント·バースト 64 659.10無線周波電磁界伝導妨害 9.11滅衰振動波(ゾーンCだけ対象) 9.12電圧デイップ及び瞬時停電 6710製造業者が提示しなければならない電磁両立性(EMC)に関する提供情報 6711安全要求事項 6711.1装置タイプ及び保護 6711.2感電に対する保護 6911.3延焼に対する保護 7311.4空間距離及び沿面距離への要求事項 7411.5非金属材料の難燃性に対する要求事項 11.6温度限界 11.8操作者が接触可能な危険充電状態になる現場配線端子構造上の要求事項 11.9保護接地に関する条項 11.11スイッチング機器 11.12安全要求に関係する構成要素 11.13電池への要求事項 11.14最大及び最小電圧 11.15表示及び識別 11.16安全性に対する形式試験及び検証への要求事項 11.17安全性に対する定常試験及び検証への要求事項 11.18安全性の情報に関する要求事項 8612安全性形式試験及び検証 8712.1安全性関連機械的試験及び検証 8712.2安全性関連電気試験 8912.3単一故障状態試験 9312.4電力制限回路試験 9413安全定常試験 9513.1絶緑耐力試験 9513.2絶緑耐力検証試験 9513.3保護接地試験 9514製造業者による安全性に関する情報 96(4)ページ14.1開放形装置のきょう体についての評価情報(消費電力) 9614.2端子接続の構造に関する情報 96附属書A(参考)PLCシステムのハードウェア定義図 97附属書B(参考)デジタル入力の標準動作範囲の計算式 98附属書C(規定)試験ツール 99附属書D(参考)ゾーンCにおけるEMCイミュニティレベル 附属書E(参考)過電圧の例 附属書JA(参考)JISと対応国際規格との対比表 B3502:2011この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,社団法人日本電機工業会(JEMA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格である。これによって,JISB3502:2004は改正され,この規格に置き換えられた。この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調查会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実川新案権に閃わる確認について,真任はもたない。装置への要求事項及び試験Programmablecontrollers—Equipmentrequirementsandtests序文この規格は,2007年に第3版として発行されたIEC61131-2を其に作成した日本工栄規格であるが,技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある簡所は,対応国際規格を変更している事項である。(HMI)]などの要求事項及び試験について規定する。PLC及び関連周辺装置は,工業環境下で用いるこPLC及び関連周辺装置を工業環境下以外(軽工業,商業及び住宅地域)で用いる場合には,用いる環境この規格で対象とする装置は,装置電源の定格電圧がAC1000V(実効値)(50注Zれ5の一速の規格上は,JISB3501.JISB3502.JISB3503.IEC/TR61131-4.IEC61131-5.2B3502:2011IEC61131-7及IEC/TR61131-8左。a)PLC及圆述周辺装置の进定及び適用に圆迹する定我の確立及び主な特性の明確化。b)PLC及び関連周辺装置に適用する機能特性,電気的特性,機械的特性,環境特性,構造特性,稼動条件,安全性,EMC,使用者のプログラム作成及び試験に関して最小限の要求事項を規定。この規格では,次の事項についても規定する。一PLC及び関連周辺装置に対して,稼動,保管及び輸送に関する要求事項(簡条4)。一PLC及び関連周辺装置に対して,機能に関する要求事項(簡条5)。一PLC及び関連周辺装置に対して,EMCに関する要求事項(簡条8)。一PLC及び関連周辺装置に対して,安全性に関する要求事項(簡条11)。一製造業者の提供情報(簡条7,簡条10及び簡条14)。一PLC及び関連周辺装置が,要求事項に適合しているかどうかを検証するために用いる試験方法及び手順(簡条6,簡条9及び簡条12)。一PLC及び周辺装置に対する安全定常試験(簡条13)。試験とは,形式試験又は製造定常試験であって,PLCシステムの適用方法に関する試験ではない。1.2この規格への適合性この規格に対する適合性を制限なしで明記する場合は,この規格で要求している全ての試験及び検証をを必要としない場合,又は実用上の理由によって試験条件を制限している場合においても,この規格で明示している責任を製造業者は放棄できない。この規格のいずれかの一部に対する適合性を示す場合は,その要求条項に対してだけ適合していることを確かめてあればよい。ただし,製造業者の責任については,上記と同様に放棄できない。この規格に対する適合の取小单位は,簡条5の機能に閃する要求小頭,簡条8のEMCに則する要求小项又は簡条11のこの規格の一部分に対する適合性に関しては,特定の適合評価条件に関する労力を軽減するために,例えば,EU出磁両立性指令への適合条件としての簡条8,簡条9及び簡条10,又はEU低出圧指令への適合条件としての簡条11,簡条12,簡条13,簡条14などがある。構造に関する要求事項及び製造業者が提供する情報に関する要求事項に対しての適合性は,適切な試験,試験及び検証の要求条項に従って試験していない全ての事項は,受渡当事者間の協定に基づいた手順に請求があった場合,製造業者は,この規格の全て又は一部に対する適合性への要求事項全てに関する適合性検証情報を提供しなければならない。出荷したPLC及び関連周辺装置が,この規格に従って形式試験したEUT(供試品)と同等であり,し重要な変更は,適切な版数表示及び識別(5.11及び11.15参照)の使用によって示し,この規格に適合注記1適合性を認証するために,新規の形式試験を必要とする場合もある。製造業者は,幾つかの任意選択機能の中で選択できるものに関して,カタログ及びノ又はデータシートに,PLCシステム装置のどの部分が対応しているかを明確に指定しなければならない。これは,瞬時停電の厳しさレベル(表7に基づくPS1又はPS2)及びデジタル入力のタイプ(3.12及び3.13に基づくタイプ3B3502:20111又はタイプ2)に適用する。注記2この規格の対応因際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。IEC61131-2:2007,Programmablecontrollers—Part2:Equipmentrequirementsandtests(MOD)なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IECGuide21-1に基づき,“修正している”の引用規格のうちで,西層年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)は適用しない。西層年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。注記対応国際規格:IEC61131-1:2003,Programmablecontrollers—Part1:Generalinformation(IDT)JISC0365:2007感電保護一設備及び機器の共通事項注記対応国際規格:IEC61140:2001,Protectionagainstelectricshock—Commonaspectsforinstallationandequipment(IDT)注記対応国際規格:IEC60529:2001,Degrecsofprotectionprovidedbyenclosures(IPCode)(IDT)JISC1010-1:2005測定,制御及び研究室用電気機器の安全性一第1部:一般要求事項注記対応国際規格:IEC61010-1:2001,Safetyrequirementsforelectricalequipmentformeasurement,control,andlaboratoryuse—Part1:Generalrequirements(MOD)JISC1604测温抵抗体JISC2134:2007固体絶緑材料の保証及び比較トラッキング指数の測定方法trackingindicesofsolidinsulatingmaterials(IDT)JISC.2812機器取付け用し一ルJISC6950-1:2009情服技術機器一安全性一第1部:一般要求項注記対応国際規格:IEC60950-1:2001,Informationtechnologyequipment—Safety—Part1:Generalrequirements(MOD)JISC8201-5-1:2007低圧開閉装置及び制御装置一第5部:制御回路機器及び開閉素子一第1節:電気機械式制御回路機器注記対応国際規格:IEC60947-5-1:2003,Low-voltageswitchgearandcontrolgear—Part5-1:Controlcircuitdevicesandswitchingelements—Electromechanicalcontrolcircuitdevices(IDT)JISC8201-7-1:2010低圧開閉装置及び制御装置一第7部:補助装置一第1節:銅導体用端子台注記対応国際規格:IEC60947-7-1:2002,Low-voltageswitchgearandcontrolgear—Part7-1:Ancillaryequipment—Terminalblocksforcopperconductors(MOD)JISC60050-161:1997EMCに関するI注記対応国際規格:IEC60050-161:1990,InternationalElectrotechnicalVocabulary—Chapter161:Electromagneticcompatibility(IDT)JISC60068-2-1:2010環境試験方法一電気·電子一第2-1部:低温(耐寒性)試験方法(試験記号:A)注記対応国際規格:IEC60068-2-1:2007,Environmentaltesting—Part2-1:Tests—TestA:Cold(IDT)4B3502:2011JISC60068-2-2:1995環境試験方法一電気·電子一高温(耐熱性)一試験方法注記対応川際規格:IEC60068-2-2:1974,Environmentaltesting—Part2:Tests—TestsB:Dryheat(IDT)JISC60068-2-6:1999環境試験方法一電気·電子一正弦波振動試験方法注記対応国際規格:IEC60068-2-6:1995,Environmentaltesting—Part2:Tests—TestFc:Vibration(sinusoidal)(IDT)JISC60068-2-14:2011環境試験方法一電気·電子一第2-14部:温度変化試験方法(試験記号:N)注記対応国際規格:IEC60068-2-14:2009,Environmentaltesting—Part2-14:Tests—TestN:ChangeofJISC60068-2-31:1995環境試験方法一電気·電子一面落下,角落下及び転倒(主として機器)試験方法注記対応国際規格:IEC60068-2-31:1969,Environmentaltesting—Part2:Tests—TestEc:Dropandtopple,primarilyforequipment-typespecimens(IDT)JISC60068-2-32:1995環境試験方法一電気·電子一自然落下試験方法注記対応国際規格:IEC60068-2-32:1975,Environmentaltesting—Part2:Tests—TestEd:Freefall(IDT)JISC60364-1:2010低圧電気設備一第1部:基本的原則,一般特性の評価及び用語の定義注記対応国際規格:IEC60364-1:2005,Low-voltageelectricalinstallations—Part1:Fundamentalprinciples,assessmentofgeneralcharacteristics,definitions(IDT)JISC60364-4-41:2010低圧電気設備一第4-41部:安全保護一感電保護注記対応国際規格:IEC60364-4-41:2005,Low-voltageelectricalinstallations—Part4-41:Protectionforsafety—Protectionagainstelectricshock(IDT)JISC60664-3:2009低圧系統内機器の絶緑協調一第3部:汚払保護のためのコーティング,ポッティ注記対応国際規格:IEC60664-3:2003,Insulationcoordinationforequipmentwithinlow-voltagesystems—Part3:Useofcoating,pottingormouldingforprotectionagainstpollution(IDT)JISC60695-2-11:2004耐火性試験一電気·電子一最終製品に対するグローワイヤ燃焼性試験方法注記対応国際規格:IEC60695-2-11:2000,Firehazardtesting—Part2-11:Glowing/hot-wirebasedtestmethods—Glow-wireflammabilitytestmethodforend-products(IDT)JISC60695-11-10:2006耐火性試験一電気·電子一第11-10部:試験炎一50W試験炎による水平及び垂直燃焼試験方法注記対応国際規格:IEC60695-11-10:1999,Firehazardtesting—Part11-10:Testflames—50Whorizontalandverticalflametestmethods(IDT)JISC61000-4-2:1999電磁両立性一第4部:試験及び測定技術一第2節:静電気放電イミュニティ試験注記対応国際規格:IEC61000-4-2:1995,Electromagneticcompatibility(EMC)—Part4-2:Testingandmeasurementtechniques—Electrostaticdischargeimmunitytest(IDT)注記対応国際規格:IEC61000-4-4:2004,Electromagneticcompatibility(EMC)—Part4-4:Testingandmeasurementtechniques—Electricalfasttransientburstimmunitytest(IDT)5B3502:2011JISC61000-4-5:2009電磁両立性一第4-5部:試験及び測定技術ーサージイミュニティ試験注記対応際規格:IEC61000-4-5:2005,Electromagneticcompatibility(EMC)—Part4-5:Testingandmeasurementtechniques—Surgeimmunitytest(IDT)JISC61000-4-6:2006電磁両立性一第4-6部:試験及び測定技術一無線周波電磁界によって誘導する注記対応国際規格:IEC61000-4-6:2003,Electromagneticcompatibility(EMC)—Part4-6:Testingandmeasurementtechniques—Immunitytoconducteddisturbances,inducedbyradio-frequencyfields(MOD)JISC61000-4-8:2003電磁両立性一第4部:試験及び測定技術一第8節:電源周波数磁界イミュニテ注記対応国際規格:IEC61000-4-8:1993,Electromagneticcompatibility(EMC)—Part4-8:Testingandmeasurementtechniques—Powerfrequencymagneticfieldimmunitytest(MOD)JISC61000-4-11:2008電磁両立性一第4-11部:試験及び測定技術一電圧ディップ,短時間停電及び注記対応国際規格:IEC61000-4-11:2004,Electromagneticcompatibility(EMC)—Part4-11:Testingandmeasurementtechniques—Voltagedips,shortinterruptionsandvoltagevariationsimmunitytests(IDT)JISC61000-6-1:2008電磁両立性一第6-1部:共通規格一住宅,商業及び軽工業環境におけるイミュ二ティ注記対応国際規格:IEC61000-6-1:2005,Electromagneticcompatibility(EMC)—Part6-1:Genericstandards—Immunityforresidential,commercialandlight-industrialenvironments(IDT)JISC61000-6-2:2008出磁両立性一第6-2部:共通规格一工業環境におけるイミュニティ注記対応国際規格:IEC61000-6-2:2005,Electromagneticcompatibility(EMC)—Part6-2:Genericstandards—Immunityforindustrialenvironments(MOD)IEC60038:2002,IECstandardvoltagesIEC.60050-131:2002,IntemationalElectrotechnicalVocabulary—Part131:Circuittheory.IEC60050-151:2001,InternationalElectrotechnicalVocabulary—Part151:ElectricalandmagneticdevicesIEC60050-195:1998,InternationalElectrotechnicalVocabulary(IEV)—Part195:EarthingandprotectionagainstelectricshockIEC60060-1:1992,High-voltagetesttechniques—Part1:GeneraldefinitionsandtestrequirementsIEC60068-2-27:1987,Environmentaltesting—Part2-27:Tests—TestEaandguidance:ShockIEC60068-2-30:2005,Environmentaltesting—Part2-30:Tests—TestDb:Dampheat,cyclic(12h+12-hourcycle)IEC60417,GraphicalsymbolsforuseonequipmentIEC60445:2006,Basicandsafetyprinciplesforman-machineinterface,markingandidentification一IdentificationofequipmentterminalsandconductorterminationsIEC60664-1:1992,Insulationcoordinationforequipmentwithinlow-voltagesystems—Part1:Principles,requirementsandtests,Amendment1:2000及びAmendment2:2002IEC61000-4-3:2006,Electromagneticcompatibility(EMC)—Part4-3:Testingandmeasurementtechniques一Radiated,radio-frequency,electromagneticfieldimmunitytest6B3502:2011IEC61000-4-18:2006,Electromagneticcompatibility(EMC)—Part4-18:Testingandmeasurementtechniques一DampedoscillatorywaveimmunitytestIEC61000-4-29:2000,Electromagneticcompatibility(EMC)—Part4-29:Testingandmeasurementtechniques一Voltagedips,shortinterruptionsandvoltagevariationsond.c.inputpowerportimmunitytestIEC61000-6-4:2006,Electromagneticcompatibility(EMC)—Part6-4:Genericstandards—EmissionstandardforindustrialenvironmentsIEC61131-3:2003,ProgrammableControllers—Part3:ProgramminglanguagesIEC/TR61131-4:2004,Programmablecontrollers—Part4:UserguidelinesCISPR14-1:2005,Electromagneticcompatibility—Requirementsforhouseholdappliances,electrictoolsandsimilarapparatus—Part1:EmissionCISPR16-1-2:2003,Specificationforradiodisturbanceandimmunitymeasuringapparatusandmethods—Part1-2:Radiodisturbanceandimmunitymeasuringapparatus—Ancillaryequipment—ConducteddisturbancesCISPR16-1-4:2004,Specificationforradiodisturbanceandimmunitymeasuringapparatusandmethods—Part1-4:Radiodisturbanceandimmunitymeasuringapparatus—Ancillaryequipment—RadiateddisturbancesCISPR16-2-1:2005,Specificationforradiodisturbanceandimmunitymeasuringapparatusandmethods—Part2-1:Methodsofmeasurementofdisturbancesandimmunity—ConducteddisturbancemeasurementsCISPR16-2-3:2006,Specificationforradiodisturbanceandimmunitymeasuringapparatusandmethods—Part2-3:Methodsofmeasurementofdisturbancesandimmunity—Radiateddisturbancemeasurements2形式試験この簡条のⅡ的は,この規格の要求小项に関して,PLC及び以連周辺装ǔの適合性を検証する方法を定a)形式試験(簡条6,簡条9及び簡条12参照)による検証。b)適切な試験,外観検查及びノ又は測定による検証。これらの試験は,PLCの適用に関する試験ではなく,機器の適合性検証である。この規格の範囲によると,a)及びb)の適合性検証は,使用者が意図した自動化システムの要求事項を満足させるPLCシステムの能力を検証するものではない。この規格で規定していない特別な試験が必要な場合は,受渡当事者間になお,定常試験は,簡条13で規定する。注記PLCシステムと同じ環境で用いる周辺装置は,PLCシステムと同じ要求事項を満たすことが望2.1EUT[equipmentundertest(供試品)]PLCシステムは,独立形の製品からモジュール構造の製品までの範囲にわたる。これは,実際に使用者が組み立てるPLCシステム構成の種類が無限にあることを意味する。現実的には要になる。したがって,製造業者は,EUTを定義して,次の原則を満たす試験計画及び試験プログラムを文書化しなければならない。一製造業者の仕様及び設置説明書に従って使用者が組み立てた,いかなる構成においても,同じ試験に7B3502:2011一その構成は,通常使川状態を反映することを意図した武験であるので,その状態で正常に機能する。この規格でほかに規定がない場合には,製造業者は,所定の形式試験の目的を達成するために,様々な一全ての種類のモジュールは,許容する組合せの一つ以上のEUT注記多数の入出力(例えば,100以上)の場合には,サンプルに基づいた統計的な基準を適用しーローカル拡張バスがPLCシステムの一部であり,その最大ケーブル長が3m以下の場合には,PLCのーローカル拡張バスがPLCシステムの一部であり,3mより長いケーブルで助作する場合には,リンク8个个適用範囲補助電源Ar9B3502:2011のモジュールが混在した状態で試験する場合には,試験の結果に影響してはならない。詳細に関しては,製造業者は,次に従って各々の試験を実施する。a)構成の設置方法及び外部との接続方法を指定する。製造業者が用意する適切な試験プログラム及び2.5製造業者が用意する試験プログラム及び正規の機能検証手順[properfunctioningverificationprocedures(PFVP)]に関する要求事項c)内蔵システム又は外付けシステム,及びアプリケーションデータの,意図的でない変更EUTの全ての入出力及び通チャネルが,機能しなければならない。注記多数の入出力(例えば,100以上)の場合には,サンプルに基づいた統計的な基準を適用して全ての外部的及び内部的な製品のステータス情報を通知する手段,すなわち,ディスプレイ,ランプ,警報信号,自己診断結果を格納するレジスタなどが機能していなければならない。試験手順には,関連すB3502:2011試験は,特に規定しない限り,表1の一般試験条件の下で実施しなけ特に規定しない限り,形式试験の心ぼは定めない。表1一一般試験条件項目試験条件装置電源定格電压,定格周波数温度15~35℃相対湿度気圧86~106kPa(650~800mmHg)出力負荷定格負荷污損度污損度23用語及び定義3.1アナログスカ(analoginput)3.2アナログ出力(analogoutput)3.33.4基本PLC(システム)3.53.6空間距離(clearance)二つの導体部Nの空Mに拍ける最小の距雕(IEC60664-1の3.2参照)。3.7コーテイング(coating)及び保護(protective)プリント配線基板の空M団離及びノ又は沿血囲離の川を封じ,外気を遮断し,インパルス及び逊続し被覆。注記通常,コーティングは,外気の影響を防ぎ,コーティングがない場合には,不十分な空間距離及びノ又は沿面距離の絶緑耐圧特性を強化するために適用する。不十分なコーティングは,外B3502:20113.8材料が50滴の塩化アンモニア(NH₄Cl)溶液に対してトラッキングが発生しない最大電圧値(JISC21343.9二つの導電部間の絶緑固形材料の表面に沿った最短距離(IEC60050のIEV151-15-50)。3.10電流シンク(currentsinking)3.11電流ソース(currentsourcing)3.12デジタル入力,タイプ1(digitalinput,typel)3.13デジタル入力,タイプ2(digitalinput,type2)2線式近接スイッチなどの半導体機器からの号を検出する機器。其本的には,2们信号をǐーのビット3.14デジタル入力,タイプ3(digitalinput,type3)2線式近接スイッチなどの半導体機器からの信号を検出する機器。基本的には,2值信号を単一のビットの入カチャネル数の高密度化を可能とする。タイプ3は,オフ状態で低電流であり,IEC60947-5-2デバイスと互換性がある点でタイプ2と異なる。動作範囲の詳細は,表8を参照。タイプ2に互換性がある近接スイッチの大半は,タイプ3にも互換性がある。3.15デジタル出力(digitaloutput)3.16接地(earth)いかなる点においても,電位が通常0とみなされる大地の導電性の部分(IEC60050のIEV195-01-01)。350035003.17環境において満足に機能するための装置又はシステムの能力(JISC60050-161の番号161-01-07参照)。3.18閉鎖形装置(enclosedequipment)人が誤って充電部分又は可動部分に接触することを防止し,中程度の大きさの固形異物の侵人から装置を保護し,機械的強度,難燃性及び安定性(適用可能な場合)の要求事項に合致させるために,取付面を除く,全ての面を閉鎖した装置。保護等級は,11.1.2を参照。3.19用途に適した保護の等級及び種別を与える収納体(IEC60050のIEV195-02-35)。3.20EUT[equipmentundertest]製造業者が定義した,形式試験に用いる代表的な構成(簡条2参照)。供試品ともいう。3.21外部配線(externalwiring)使用者が設置するPLCシステム装置の配線。3.22現場配線(fieldwiring)現場で施す外部配線。3.23機能接地導体(functionalearthingconductor)妨害イミュニテイ対策の目的で,例えば,大地と電気的に接触させる導体。3.24片手に持ち,もう一方の手で操作できる装置。3.25危険状態(hazardouslive)通常使用及び単一故障状態において,感電又は電気熱傷を生じる状態。注記通常状態で適用する値は11.2.1.1を参照し,単一故障状態で適用する値は11.2.1.2を参照する。3.26電磁妨害が発生する環境において,機器,装置又はシステムが,能力を減じることなく機能する能力(JISC60050-161の番号161-01-20参照)。注記この規格においては,EMCだけに対して用いる用語ではなく,例えば,振動,湿度などに引用3.27イミュニティ(形式)試験[immunityty通常の稼動条件を模して定めた特定の作用を与える物理量を一定量与えても,基本PLCシステムの動作B3502:20113.28絶緑材料(insulation)機器の導電部を絶緑するために用いる全ての材料及び部品(IEC60050のIEV151-15-41)。次に,関連事項を示す。一絶緑材料は,固体,液体,気体(例えば,空気)又はそれらの任意の組合せのいずれでもよい(IEC60050一絶緑(insulate)分離した導体間の導通を防止すること(IEC60050のIEV151-03-28)。一絶緑(isolate)装置又は回路を,ほかの装置又は回路から確実に非接続状態にすること。いかなる充電回路に対しても,指定する保護の等級を(分離することによって)満足させること(IEC60050のIEV151-03-29)。3.29基礎絶緑(basicinsulation)基本的な保護を行う危険充電部の絶緑(IEC60050のIEV195-06-06)。注記この概念は,機能を目的とする絶緑以外にも適用する。3.30付加絶緑(supplementaryinsulation)保護が損なわれた場合に備えて,基礎絶緑に加えて施す独立した絶緑(IEC60050のIEV195-06-07)。3.31基礎絶緑及び付加絶緑の両方からなる絶緑(IEC60050のIEV195-06-08)。3.32强化絶緑(reinforcedinsulation)感電に対して,二重絶緑と同等の保護の等級を満足させる危険充電部の絶縁(IEC60050のIEV195-06-09)。注記強化絶緣は,基礎絶縁又は付加絶縁として個別に試験できない複数の層で構成することができ3.33有する境界。3.34内部配線(internalwiring)製造業者によって設置する,PLCシステム装置内部の配線。3.35電気的結合がない装置及び回路。3.36充電部分(livepart)通常動作時に電圧を印加する導体又は導電性部分。中性点導体は含むが,一般的には,PEN導体,PEM35003500注記この概念は,感ūの危険に対しては適川する必要がない(IEC60050のIEV195-02-19)。1)PEN導体中性点導体と保護接地導体とを接続する機能導体(IEC60050のIEV1953.37材料グループ(materialgroup)3.383.393.403.41通常操作(normaluse)注記通常稼動状態については,簡条4参照。3.42通常状態(normalcondition)3.43開放形装置(openequipment)3.44PLCに接続したHMIによって,機械又はプロセスに対して指示及び監視する人。操作者は,PL350035003.45過電圧カテゴリ(回路又は電気システムに対する)(overvoltagecategory)回路内(又は異なる公称電圧をもつ電気システム内)で発生し得る一時的な過電圧值を,制限又は制御する数値を基準にした種別。過電圧による影響を打ち消す手段に依存する(IEC606641の3.10と同等)。サージ電流エネルギーの拡散,吸収又は転換を行う機能をもつ過電圧保護素子又は直列シャ電圧値まで,過渡的過電圧を下げなければならない。3.46常設設備(permanentinstallation)注記附属書A参照。3.47汚損度(ミクロ環境における)(pollutiondegree)空間距離及び沿面距離を評価する目的のために,ミクロ環境における3.48~3.50の汚染の程度を規定す注記1汚染された絶緣の導電性は,異物の付着及び湿気による。注記2汚損度2及び3で決められる最小空間距離は,基礎データよりも経験による。3.48汚損度1(pollutiondegree1)汚染なし又は乾燥しているだけで,導電性の汚染がない状態。汚染は,絶緣に影響しない。3.49汚損度2(pollutiondegree2)通常,導電性の汚染がない状態。しかし,場合によっては,結露で一時的な導電性が発生し得る状態。3.50汚損度3(pollutiondegree3)導電性汚染がある状態,又は結露によって導電性をもつようになる乾燥した非導電性汚染がある状態。3.51電源若しくは信号を入出力する場所,又は機器若しくはネットワークにおいて観測若しくは測定する場所(IEC60050のIEV131-12-60)。3.52可搬形装置(portableequipment)操作中又は給電のために接続されたままで移動可能な閉鎖形装置。3.53保護尊体(protectiveconductor)35003500安全,例えば,感電に対する保護のために用意した導体(IEC60050のIEV195-02-09)。3.54通常状態及び単一故障状態において,回路の電圧がAC30V(実効値),42.4V(ピーク値)又はDC60V以下の回路。ただし,ほかの回路の接地故障状態は除く。PELV回路は,保護接地に接続されたSELV回路と同等である。3.55危険充電部と部分接触可能導体とを接続した場合に,通常状態時及び単一故障状態時において,この規一部品の結合体一基礎絶緑と電流制限デバイス又は電圧制限デバイスとの集合体一構造一信性3.56公衆電源(publicmains)建屋内の常設設備の主幹線からの電源。3.57繰返しピーク電圧(recurringpeakvoltage)ある一定周期で繰返し発生する化圧のピーク花圧。3.58定常試験(routinetest)各個別の機器が,ある其準に合致しているかを確認するために,裂造中又は裂造後に火施する試験(IEC60050のIEV151-16-17)。3.59通常状態及び単一故障状態において,回路の電圧がAC30V(実効値),42.4V(ピーク値)又はDC60V以下の回路。ほかの回路の接地故障を含む。SELV回路は,保護接地には接続しない。3.60保全者は,業務遂行上,遭遇し得る危険(特に,電気的な危険),及び自分自身又は第三者若しくは装置に与える危険を最小化する方策を認識するのに必要な適切な技術的教育を受けた人であり,それらの経験B3502:20113.61多チャネルモジュールで,通常の稼動条件における最も過酷な組合せで動作させても,絶緑,端子,露出した導電性部などのいずれの部分も,規定の温度制限以下で供給可能な電流値。注記一般に,多チャネルモジュールでは,全出力電流はチャネルごとの出力電流の合計よりも3.62形式試験(typetest)意図した仕様を満足していることを確認するために,1台以上の機器に対して行う試験(IEC60050のIEV151-16-16)。3.63システム内のほかのユニットと接続する集合体(この集合体は,装着するか又は別の方法で集合体に接続3.64より深刻な影響をもたらす一定量の物理量を作用させて,PLCシステムの正規の機能を遂行するための能力を損なわないことを検証する形式試験。3.65動作電圧(workingvoltage)機器に定格化圧(U)を供給したときに,個々の絶緑部に印加する交流(実効値)又は血流の最高花圧値。次に,関連事項を示す。一過渡状態は,考慮しない。一間川路状態及び通常動作状態の両状態を考虑する。4通常の稼動条件及び要求事項通常の稼動条件では,機器の稼動条件を超えないように用いることが,使用者の責任である。PLC及び使用者は,この規格で規定する環境条件を満足する設置環境にしなければならない。4.1環境条件及び要求事項装置は,表2に示す動作周囲温度に適合しなければならない。表2-PLCシステムの動作周囲单位℃閉鎖形装置開放形装置動作周用温度範囲最高40最低55自然対流による非換気方式の装置においては,きょう体の垂直中央を通る水平面上で,きょう体から50mm以内の1点での温度を動作周叫温度とする。換気を行う装置においては,周囲温度は,装置の空気流入面から50mm以内の1点での流入空気温度を動作周囲温度とする。強制外部空冷は想定しない。PLCシステムの一部として常設される開放形周辺装置は,PLCの動作周囲温度範囲を満足しなければならない。ほかの装置(例えば,盤面に取り付けたHMIなど)は,開放形及び閉鎖形装置の組合せ特性を適用する。装置は,結露なしで,10~95%の相対湿度に適合しなければならない。この要求事項は,6.1.3に基づいて検証す石。装置は,標高2000mまでの運用に適合しなければならない。検証試験は不要である。製造業者による特別な指定がない限り,装置は,汚損度2での使用を想定して設計する。4.2機械的な稼動条件及び要求事項振動,衝撃及び自然落下の条件は,設置状態及び環境によって幅広く変化するため,機械的な稼動条件を規定するのは困難である。こん(捆)包を解いた状態の携帯形及びハンドヘルド形装置と同様に,固定装置に適用する次の要求事項で間接的に機械的な稼動条件を規定する(例外については,4.2.2び火述周辺装説だけに適川する。これらの要求事項に適合する機器装置は,工業環境での固定設置に適していることが経験的に分かっている。固定装置は,常設の設備の一部である。表3-PLCシステムに対する正弦波振動の稼動条件周波数範囲)Hz連続的な振動を受ける場合b)断続的な振動を受ける場合b5≤f<8.4定振幅1.75mm定振幅3.5mm8.4≤f≤150定加速度4.9m/s²定加速度9.8.m/s²注記Gpek三9.8×0004024f²Dpekここに,Gnk:重力加速度(ピ一久值)(m/s²)Dpeak,:振幅(一久值)(mm).b)数値は,ピーク値を示す。振動は,相互に直交する3軸方向の各々に適用する。製造業者は,携带形及びハンドヘルド形問辺装置の取付方法を指定する。B3502:2011この要求事項は,6.3.1に基づいて検証する。加える衝撃は,相互に直交する3軸方向の各々において,147m/s²,11ms,正弦波パルスである。有接点リレーは,147m/s²の衝撃に一時的に応動しても差し支えない。試験中の一時的な誤動作は許容するが,装置は試験後,全ての機能が動作しなければならない。この要求事項は,6.3.2に基づいて検証する。表4一堅固な面への自然落下(携帯形及びハンドヘルド形装置)耐力试験規定項目一1000mm2回a)b)c)水平落下100mm2回一a)e)支持落下30°又は100mm2回一a)c)d)注衝撃時の一時的な誤動作は許容するが,試験後は全ての機能が動作し,衝撃による致命作した場合には,修正操作を必要としてもよい。b)表18で規定している姿勢(通常の使用位置)からの落下。Θランダム落下は,任意の辺,面又は角からの落下である。水平落下は,面からの落下である。支持落下は,辺からの落下である。④表18参照。この要求事項は,6.3.3に基づいて検証する。4.3翰送及び保管条件並びに要求事項次の要求事項は,製造業者が出荷こん包したモジュールに適用する。こん包していない携帯形装置の輸送及び保管は,4.2の要求事項に適合しなければならない。特定の制限条件がある部品(CMOS部品,電池など)を装置が含む場合には,製造業者が定めた輸送及び保管の手段に従わなければならない。許容温度範囲は,一40~+70℃である。ー25~+70℃も許容するが,将来の設計では推奬しない。この要求亦項は,6.1.1に其づいて検証する。相対湿度は,10~95%(露なL)である。この要求事項は,6.1.3に基づいて検証する。輸送時の気圧の仕様は,標高0~3000mと同等(最低70kPa)でなければならない。検証試験は不要である。4.3.4自然落下(製造業者の出荷こん包状態でのPLCユニット)20mm回510~4055この規格に規定していない機械的条件に対しては,受渡当事者間の協定による。この協定に,極低温で4.4電気的稼動条件及び要求事項5.1.1参照。が抑制しなければならない。すなわち,過渡的な過電圧が,基礎絶緑のための定格電圧に対応するインパルス電圧以下でなければならない。装置又は過渡的な過電圧を抑制する手段が,過渡的なエネルギーを吸工場環境における非周期的な過電圧のピークは,高エネルギー装置の電力遮断の結果(例えば,三相システムの一相のヒューズ溶断)として装置電源の電源ラインに現れる例えば,変圧器の設置などの必要な処置を施さなければならない。粒子,蒸気若しくは塩分による空気汚染,菌類,虫若しくは小動物によって被害が生じるおそれなど,劣5機能に関する要求事項周辺装置(常設/非常設)周辺装置(常設/非常設)J→第三者装置デー夕転送E÷装置電源供給了F→補助電源出力→保護接地KHH及び任意選択HKGJAl_GCGGKKHDEEEFFF装置電源は,電源投人,電源遮断及び瞬時停電の間,下流の装置を有効にしておかなければならない。22B3502:2011心圧周波数推奬使川川注记”定格許容範囲定格許容範囲供給電源入出力信号)DC24V+20%-15%一一OODC48VOOe)d)一一一AC24V+10%-15%50Hz又は60Hz+4%-6%一一AC48V一一)OO一OO一◎OAC200VOO一AC230VOOAC240VOO一AC400VO一e)の注ッアナログ入出力への供給電源については,7.10.3の項目5及び7.11.3の項目3を参照。属書Bの計算式によって,表8の入力限界を算出するために用いる。電圧許容範囲に加えて,定格電圧の5%のピーク值をもつAC成分は許容する。この場合,絶対定格は,DC24VでDC19.2~30V,DC48VでDC38.4~60Vとする。のタイプ2のデジタル入力を外部供給出源として川いる場合は,表8の注りを参照。D三相電源供給交流電圧は,装置への入力点で測定した合計実効値(rm.s)を意味する。公称周波数の10次未満の高調波成分(公称周波数の整数倍)の合計実効値(rm.s)は,測定した電圧の10次以上の高調波成分の影響は,測定した電圧の約2%になることがあるが,一定の比較結果を得るために,位相角0°及び180°における10%の第3高調波分だけで装置を試験する。23B3502:2011次の制限は,装ù光源供給端子(図2のF端子)に適川する。表7に規定するように電源に対する短時間の電源障害に対し,PLCシステム[RIOS(5.6参照),非恒久的に設置した周辺機器を含む。]は,正常動作を継続しなければならない。より長い時間の電源停止に対しては,PLCシステムは,正常動作を継続するか,又は電源が正常に戻るまであらかじめ設定した状態に遷移し,明確に規定された動作を継続しなければならない。注記同一の電源で駆動する出力及び高速応答入力は,これら電源の変動の影響を受ける可能性があこの項の要求事項は,6.4.2.3に基づいて検証する。表7一瞬時停電(機能要求)山源タイプǔ源条件の厳しさレベルD最大它源停止時UemnからU。に対する%DCPS1DCPS2ACPS20.5周期注電源電圧低下は,Ueminからの低下とする。。PS2は,AC電源,ACから平滑した電源及びDC電源から電源供給するPLCシステムに適用。d)Ueminは,表6の許容範囲の最小電庄值。任意位相角度でFa=50又は60Hz(6.4.2.3参照)。場合,定格容量とは,指示した交換の方法及び期間を満たしている場合の容量)において,通常の稼動条上記と異なる場合,製造業者は,揮発性メモリのバックアップ時間を指定しなければならない。乙の要求项は,6.4.4に基づいて検证する。デジタル入力の形式には,電流シンク入力及び電流ソース入力があり,また,デジタル出力の形式には,山流シンク出力及びǔ流ソース出力がある。デジタル入出力の合せの例は,図3及び図3A~図3Cによ24B3502:2011入力入力zPS負荷出力図中の記号の意味は,次のとおりである。Z:入力PS:外部電源出力出力Cz負荷入力外のデジタル入力は,附属書Bに示す計算式に従わなければならない。d)PLCシステムにおいては,出力を入力に接続する場合があるので,デジタル入出力の形式を正しく選は,製造業者がそれを指定しなければならない。25入力入力ZCEPLC入力出力----:短絡図3eー電流シンク入力·電流ソース出力のときの短絡一断線状態26B3502:2011出力C出力C電流ソースPLC入力言入力zPLCE5.2.1.1電圧·電流動作領域27B3502:2011U(V)U(V)个UHmaxUemxON領域/Hmax遷移領域/TminULmax又はUTmin/Lmin/Lmax01(mA)UHnin又はUrmax|TmaxUemin/HminULminImax及Iminは,ON領域(状態1)に対する電流限界。U,Uemx及びUeminは,外部電源電圧の定格電圧及びその限界。28デジタル入力は,表8に示す限界内で動作しなければならない。表8ーデジタル入力の標準動作範囲定格電圧U.b定格Fn種別タイプ1限界値。タイプ2限界値注記状態0遷移状態1状態0遷移状態1状態0遷移状態1ULLUrUaULLUTTUHULUrUaDC24V一最大Dg最小—3ND50.52—3ND526—3ND52DC48V最大d)e)最小—6ND0.52—6ND26—6ND2AC24V50/60最大d)h)最小005120054600525AC48V50/60最大d)h)最小001200460025AC110VAC120V50/60最大UeUUed)0h))最小00120046002.55AC200VAC230VAC240V50/60最大40Ue40U₈40Ued)ph))最小00402300405700402.55ND:定義なし注記JISC8201-5-2の近接スイッチは,タイプ2に適合し得る。この表の注りも参照。注乙の表は,已毛>汇对するシン久入力の電压及工電流を示すものでぁり,y-又入力の場合は,電压及下電流の極性を反転させて,乙の表を用いる。.Zの表忙記載のないDC12V,DC110V,AC220VなビDいては,附属書Bで算出する。d)全ての論理信号は正論理。入カオープンは,状態0として解积する。この表の数値を算出するために用いた計算式。電圧限界値は,交流成分を含む。D一般使用及び新規設計に推奬する。22線式近接スイッチに接続するタイプ2のDC24V外部花源花圧の最低值はDC20V以上,又は十分な安全余裕を確保するために,UhminはDC11V未満でなければならない。h)無接点スイッチは,入力信号の高調波の合計実効値(rm.s.)に影響を与える。このため,特に,タイプ2のAC24Vにおいて近接スイッチと直接接続する場合の互換性に影響を与えることがあるので,その要求事項についてはD通常用いられている複数の定格電圧を一種類の入力モジュールで共用することを促すため,限界値は,絶対値で示各入カチャネルは,入力状態1のときに点灯するランプ又は同等の手段をもっていなければならなこの要求事項は,6.5.3に基づいて検証する。295.2.2.1定格值及び動作範囲(交流)デジタル交流出力は,5.1.1.1によって裂造業者が定めた出力化圧において,表9及び図5に示す定格表9ーデジタル交流出力の定格値及び動作範囲定格電流(状態1)12状熊1に対する電流範囲保護なし出力3333保護付出力5555半導体出力接点出力半導体出力1222一接点出力一)漏れ電流が3mAを超える半導体出力は,タイプ2のデジタル入力·0.25A,ta=1s·0.5~2A,ta=2s/e0tt2時問(s)図5一交流出力の一時的な過負荷の波形3035003500製造業者が保護付出力と定めた出力は,次の条件を満たさa)定格電流(I)の1.1倍以上の定常負荷電流に耐えなければならない,及びノ又は保護素子によって出1)自動再始動保護付出力過負荷がなくなると自動的に復帰する保護付出力。2)信号制御再始動保護付出力遠隔操作信号などによって復帰する保護付出力。3)手動再始動保護付出力人的操作によって復帰する保護付出力(保護は,ヒューズ,電気的インタ注記1長時間の過負荷状態は,モジュールの動作寿命に影響を与える場合がある。注記2保護付出力は,外部配線を保護する必要はない。必要に応じて使用者の責任で外部配線の保護を施す。製造業者が短絡保護付出力と定めた出力については,次の条件を満足しなければならない。a)許容最大負荷電流を超える定格値(I)の2倍までの出力電流に対して正常に動作し,また,一時的c)定格値の2倍から20倍の出力電流又は製造業者が定めた限度a)を超える一時的な過負荷に対しては,製造業者が保護なし出力と定めた出力については,製造業者が準備又は指定した保護素子を付加した場有接点リレー出力は,開閉素子の使用負荷種別AC-15(寿命クラス0.3)(JISC8201-5-1参照)の場合,31デジタルル流出力は,5.1.1.1によって製造業者が定めた出力化圧において,表10定格電流(状態1)0.10.250.512注記最大電圧における連続電流(状態1)最大(A)0.
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