CN114757869B 产品瑕疵检测方法及计算机装置 （富泰华工业（深圳）有限公司）

街道大三社区富士康观澜科技园B区39.39.获取产品的测试影像；将所述测试影像切割为N个测试区块；将所述N个测试区块分别输入至自块中的每个测试区块与对应的重构区块之间的试区块建立关联；及基于所述N个测试区块中的每个测试区块所对应的均方误差确定所述产品2将所述N个测试区块分别输入至自动编码器获得N计算所述N个测试区块中的每个测试区块与对应的重构区块之间的均方误差，并将计基于所述N个测试区块中的每个测试区块所对应的均方误差确定所述产品是否存在瑕2.如权利要求1所述的产品瑕疵检测方法，其特征确定所述N个测试区块中的每个测试区块所对应的均方误差当所述N个测试区块中的任意一个测试区块所对应的均方误差大于所述预设值时，确当所述N个测试区块中的每个测试区块所对应的均方误差都小于或等于所述预设值对所述多张瑕疵图像中的每张瑕疵图像的瑕疵形态的形状以及大小将作了标注后的所述多张瑕疵图像作为瑕疵参照所述N个瑕疵形态，将所述多张无瑕疵图像中的每张无瑕疵图像切割为N个无瑕通过将每张无瑕疵图像所对应的所述N个无瑕疵区块作为一个无瑕疵样本，获得多个多个模块，所述多个模块被存储在所述存储器中并3所述执行模块，还用于计算所述N个测试区块中的每个测试区块与对应的重构区块之所述执行模块，还用于基于所述N个测试区块中的每个测试区块所对应的均方误差确6.如权利要求5所述的计算机装置，其特征在于，确定所述N个测试区块中的每个测试区块所对应的均方误差当所述N个测试区块中的任意一个测试区块所对应的均方误差大于所述预设值时，确当所述N个测试区块中的每个测试区块所对应的均方误差都小于或等于所述预设值对所述多张瑕疵图像中的每张瑕疵图像的瑕疵形态的形状以及大小将作了标注后的所述多张瑕疵图像作为瑕疵8.如权利要求7所述的计算机装置，其特征在于，所参照所述N个瑕疵形态，将所述多张无瑕疵图像中的每张无瑕疵图像切割为N个无瑕通过将每张无瑕疵图像所对应的所述N个无瑕疵区块作为一个无瑕疵样本，获得多个4每个测试区块建立关联；及基于所述N个测试区块中的每个测试区块所对应的均方误差确[0005]优选地，所述基于所述N个测试区块中的每个测试区块所对应的均方误差确定所述产品是否存在瑕疵包括：确定所述N个测试区块中的每个测试区块所对应的均方误差是否大于预设值；当所述N个测试区块中的任意一个测试区块所对应的均方误差大于所述预将所述多张无瑕疵图像中的每张无瑕疵图像切割为N个无瑕疵区块；通过将每张无瑕疵图5[0010]优选地，所述基于所述N个测试区块中的每个测试区块所对应的均方误差确定所述产品是否存在瑕疵包括：确定所述N个测试区块中的每个测试区块所对应的均方误差是否大于预设值；当所述N个测试区块中的任意一个测试区块所对应的均方误差大于所述预36[0025]本实施例中，计算机装置3包括互相之间电气连接的存储器31、至少一个处理器[0028]在一些实施例中，所述存储器31可以用于存储计算机程序的程序代码和各种数OnlyMemory，PROM)、可擦除可编程只读存储器(ErasableProgrammableRead-OnlyMemory，EPROM)、一次可编程只读存储器(One-timeProgrammableRead-OnlyMemory，OTPROM)、电子擦除式可复写只读存储器(Electrically-ErasableProgrammableRead-图形处理器及各种控制芯片的组合等。所述至少一个处理器32是所述计算机装置3的控制储在所述存储器31内的程序或者模块或者指令，以及调用存储在所述存储器31内的数据，指一种能够被至少一个处理器(例如处理器32)所执行并且能够完成固定功能的一系列计7置3或一个处理器(processor)通过执行所述一个或多个计算机可读指令实现本发明各个个处理器32所执行，从而实现所述各个模块的功能以达到对产品瑕疵进行检测的目的(详一个或多个计算机可读指令被所述至少一个处理器32所执行以实现对产品瑕疵进行检测[0041]在一个实施例中，所述获取模块301可以利用摄像头(图中未示出)对所述待检测以预先存储在存储器31中，所述获取模块301可以直接从该存储器31中获取所述产品的测8[0046]根据所述N个瑕疵形态中的每个瑕疵形态所对应的形状及大小将所述测试影像切[0047]在一个实施例中，所述根据所述N个瑕疵形态中的每个瑕疵形态所对应的形状及[0051]在一个实施例中，所述执行模块302可以基于所述产品的多张瑕疵图像来确定所后的所述多张瑕疵图像作为瑕疵样本集；使用聚类方法从所述瑕疵样本集中获得所述N个[0053]本实施例中，所述聚类方法可以为k均值聚类算法(k-meansclustering[0054]步骤S3、执行模块302将所述N个测试区块分别输入至自动编码器(A参照所述N个瑕疵形态，将所述多张无瑕疵图像中的每张无瑕疵图像切割为N个无瑕疵区9复制的N张图像中的每张图像对应切割出与其中一个瑕疵形态所对应的区块，由此获得每之间的均方误差(mean-squareerror,MSE)，并将计算得到的均方误差与该每个测试区块[0063]本实施例中，所述基于所述N个测试区块中的每个测试区块所对应的均方误差确[0065]当所述N个测试区块中的任意一个