CN111795682B 校准工具和方法 （Vmi荷兰公司）

CN212432141U,2021.01.29本发明涉及一种用于校准激光三角测量系旋转轴线的径向上延伸的至少三列和绕旋转轴相应列内的校准位置相对于参考平面的高度在2对于所述参考平面的高度在径向上远离所述旋转轴线校准位置在所述高度方向上相对于所述参考平面具有不高度方向上相对于所述参考平面的高度不同于同一列和同一排中其他校准位置相对于所在高度方向上沿周向从一个校准表面到下一个321.一种使用根据权利要求1所述的校准工具来校准激光三角测量系统的方法，其中，i）相对于所述空的胎圈－三角胶条滚筒的参考平面确定所述空的胎圈－三角胶条滚4通过测量具有预定尺寸的静止物体并通过将测量值与预定尺寸进行比较来校准激光三角排内的校准位置的高度相对于所述参考平面在所述高度方向[0006]工具主体可以便利地相对于测量系统旋转，其方式与胎圈－三角胶条滚筒相5周向上依次增大。因此，相应排内的校准位置可以代表在相应排的径向位置处支承在胎在各校准表面之间的凹部的存在允许在凹部中由明显的边缘和/或基础水平或零水平测量6随后的每列可以在相应排的周向上轻松地将其校准表面与前列的校准表面区分开。此外，[0022]在另外的实施例中，所述工具主体绕所述旋转轴线仅在整个周界的一部分上延7[0035]i)相对于所述空的胎圈－三角胶条滚筒的参考平面确定所述空的胎圈－三角胶准的零水平可用于确定在所述校准的零水平之上的被测条带所述一个或多个第二校准表面在垂直于所述参考平面的高度方向上相对于所述参考平面8[0049]优选地，所述一个或多个第二校准表面的高度根据在所述横向上重复至少两次、[0056]在初始校准之后，即当已经使用一个或多个校准元件和/或工具对测量系统进行中的多个校准元件在轴向上处于不同位置。通过使核实元件和校准元件位于不同的位置，9述第二端部处的一个或多个核实元件以及在所述中心部处的一个或多个核实元件。因此，[0061]验证工具可大致对应于WO2016/122311A1中公开的验证工具，该文献通过引用件包括在所述第一端部处的第一组两个或更多个验证元件和在所述第二端部处的第二组[0070]在另一实施例中，所述一个或多个校准元件和/或所述一个或多个验证元件是通[0080]图1示出了施加有胎圈－三角胶条的胎圈－三角胶条滚筒和用于测量胎圈－三角[0081]图2示出了沿图1中的线II－II剖得的胎圈－三角胶条滚筒和胎圈－三角胶条的[0082]图3示出了沿图1中的线III－III剖得的胎圈－三角胶条滚筒和胎圈－三角胶条[0083]图4示出了根据本发明的第一实施例的校准工具的视图，该校准工具用以在校准[0087]图8示出了处于操作位置的根据本发明的第二实施例的激光三角测量系统的侧视[0093]图14示出了根据本发明的第四实施例的带有第一盖板和第二盖板的轮胎成型滚旋转轴线S1在垂直于参考平面P的方向上同心地延伸穿过[0104]首先通过在胎圈－三角胶条滚筒7的中心毂71周围的胎圈－三角胶条支承表面72校准工具1的旋转轴线S1对应于在其移出之前的胎圈－三角胶条滚筒7的旋转轴线S1。而[0108]旋转轴线S1在轴向上延伸并且限定垂直于旋转轴线S1的径向R和围绕所述旋转轴[0109]在该示例性实施例中，工具主体10绕旋转轴线S1仅在整个周界的一部分上延准面11通过清晰的边界分界。校准表面11可以例如由工具主体10的不同的互连部分形成。准位置K相对于参考平面P的高度在垂直于所述参考平面P和/或平行于旋转轴线S1的高度准位置K的高度也在高度方向H上相对于参准位置K的技术效果即可。从一个校准表面11到另一个校准表面的过渡部可以例如是台阶高度不同于同一列A1－A10和同一排B1－B5中其他校准位置K相对于参考平面P的高度。换应列A1－A10中的每个校准位置K的高度与同一排B1－B5中其他校准位置相比高度也不同。B1－B5中的增量是相同的。在这种情况下，高度轮廓从一列A1－A10到下一列均等量地偏的，使得可以将测量系统9的测量结果与校准表面11的预定高度进行比较以校准测量系统[0125]c)围绕旋转轴线S1旋转校准工具1，使得激光线L投射在列A1－A10中的相应一个[0126]d)用照相机91捕获投射在相应列A1－A10的所有校准位置K上的激光线L的图像；捕获图像中的像素与所述相应列A1－A10内的所述校准位置K的预定高度相关联来校准测[0133]f)在步骤a)至e)之前或之后，相对于激光三角测量系统9提供空的胎圈－三角胶[0136]i)相对于空的胎圈－三角胶条滚筒7的参考平面P确定空的胎圈－三角胶条滚筒7[0142]减去后的结果可以代表胎圈－三角胶条8相对于胎圈－三角胶条滚筒7在高度方[0143]图8和9示出了根据本发明的第二实施例的替代的激光三角测量系统109。测量系学轴线M成倾斜角度地放置。激光器190布置成用于在平行于滚筒106的旋转轴线S2的横向X1上将激光线L投射到校准工具101上。滚筒106具有以相对于测量系统109的照相机191的零水平来支承条带108的周向表面160。激光器190布置成将激光线L投射到滚筒106的周向包括用于相对于滚筒106支承激光器190和照相机191的支承件192。测量系统109还设置有[0144]如通过比较图8和图9所示，支承件192可绕枢转轴线U在操作位置(图8)与校准位[0145]由于激光器190和照相机191共享相同的支承件192，因此它们可以在保持相同的[0147]如图9中所示，校准工具101在垂直于所述参考平面Q的高度方向H2上相对于基准或多个第一校准表面111在校准位置中距照相机191的距离与在图8的操作位置中周向表面二校准表面112的高度根据在所述横向X1上重复至少两次、优选至少三次的图案在横向X1[0149]图11示出了轮胎成型滚筒206和用于将轮胎部件夹持到所述滚筒206的夹条201。[0152]图14示出了轮胎成型滚筒306，该轮胎成型滚筒306可绕着在轴向W上延伸的旋转312在滚筒306的轴向上以规则的图案布置在一个或多个第二盖板302上。一个或多个第一盖板301的核实元件311相对于在一个或多个第二盖板302中的多个校准元件312在轴向W上[0155]图17示出了用于接收一个或多个轮胎部件的轮胎成型滚筒406。通常，测量系统(未示出)布置在滚筒406附近以测量围绕轮胎成型滚筒406施加的一个或多个所述轮胎部绕或沿着轮胎成型滚筒406同心地装配。验证工具401可大致对应于WO2016/122311A1中[0156]验证工具401在轮胎成型滚筒上或沿着轮胎成型滚筒的位置可能会略有误差，特[0161]工具主体510包括带有一个或多个校准元件521的校准区段502和带有一个或多个[0162]校准工具501可围绕倒置轴线V1在如图20中所示的校准位置与如图21中所示的验[0163]优选地，校准区段502和验证区段503在垂直于纵向Y3的横向X2上彼此相邻地布伸的图案布置的多个校准元件521。类似地，一个或多个验证元件531包括多个验证元件第一组两个或更多个验证元件531和在第二端部512处的第二组两个或更多个验证元件[0167]在该示例性实施例中，一个或多个校准元件521和/或一个或多个验证元件531是[0168]图22和23示出了根据本发明的第七实施例的替代校准工具601，其与根据本发明线V2在纵向Y3上在校准区段602与验证