CN112326591B 一种epr热缩电缆终端内部缺陷检测系统及其检测方法 （兰州交通大学）

A,2014.02.12A,2014.08.06A,2019.03.19U,2021.09.17一种EPR热缩电缆终端内部缺陷检测系统及本发明公开了一种EPR热缩电缆终端内部缺沿太赫兹脉冲通路自左至右设置的飞秒激光器EPR热缩电缆终端应用的拓宽，独特的结构与方法结合，可明确建立EPR热缩电缆终端内部缺陷22.如权利要求1所述的一种EPR热缩电缆终端3.如权利要求1所述的一种EPR热缩电缆终端内4.如权利要求1-3任一项所述的一种EPR热缩电缆终端内部缺陷检测系统的检测方法，3以上对样品进行成像检测并获得频域的二维矩阵数据建立数据库，并作为步骤D的运需要检测的EPR热缩电缆终端样品,将其定义为样品A，对样品A重复步骤A-步骤C进行绝缘分层缺陷样本在时域谱和频域谱上的峰值的差异，来判断样品A是否存在气隙分层缺4缺陷样本在时域谱和频域谱上的峰值的差异，来判断样品A是否存在粉末状放电产物集聚5[0001]本发明属于高电压与绝缘技术领域，具体涉及一种EPR热缩电缆终端内部缺陷检[0003]目前EPR热缩电缆终端的检测方法仅限于各级维修时采用的介质损耗正切角测[0005]基于以上背景技术中的问题，亟需一种专门针对EPR热缩电缆终端内部缺陷的检[0006]本发明的目的在于提供一种EPR热缩电缆终端内部缺陷检测系统及其检测方法，EPR热缩电缆的样品，样品可在两自由度平台的竖直方向上上下自由移动和水平方向上自6储光电导探测器采样得到的太赫兹脉冲时域波形，得到的扫描结果进入步骤C中收集与处[0027]采集终端将步骤B中收集的所有信号进行分析处理，即将太赫兹脉冲时域波形进7[0028]以上对样品进行成像检测并获得频域的二维矩阵数据建立数据库，并作为步骤D[0030]需要检测的EPR热缩电缆终端样品,将其定义为样[0031]进一步的，步骤C中对样品进行成像检测并获得频域的二维矩阵数据的对应性如层之间形成气隙；反映在太赫兹图像上就是太赫兹波的时域谱和频域谱发生明显的变化，和有绝缘分层缺陷样本在时域谱和频域谱上的峰值的差异，来判断样品A是否存在气隙分域谱的峰谱段在55cm-1到80cm-1和有缺陷样本在时域谱和频域谱上的峰值的差异，来判断样品A是否存在粉末状放电产物8[0043]且太赫兹波对材料分子变化极为敏感，正好EPR热缩电缆终端在运行过程中出现[0046]图2为一种EPR热缩电缆终端内部缺陷检测系统中样品由外到圆心的结构分层示9[0053]探测光路系统包括沿光路自左至右依次设置的延时控制单元118、光电导发射器自由度平台116上设有EPR热缩电缆的样品110，样品110可在两自由度平台116的竖直方向射器18，可透过太赫兹脉冲且可以反射来自待测样品110的太赫兹脉冲的一面朝向光电导[0058]飞秒激光器11和分光镜13的光路上设有反射镜一12；分光镜13和镜头111的光路路前进，太赫兹脉冲在激发光路系统的通路中通过光路反射镜六19和聚焦镜头111直接将[0073]以上对样品进行成像检测并获得频域的二维矩阵数据建立数据库，并作为步骤D[0075]需要检测的EPR热缩电缆终端样品,将其定义为样层之间形成气隙；反映在太赫兹图像上就是太赫兹波的时域谱和频域谱发生明显的变化，和有绝缘分层缺陷样本在时域谱和频域谱上的峰值的差异，来判断样品A是否存在气隙分域谱的峰谱段在55c