QCT 1286-2026《汽车以太网100Mbps物理层接口(PHY)芯片技术要求及试验方法》

1GB/T4937.26半导体器件机械和气候试验方法第26部分：静电放电(ESD)敏感度测试人第1部分AE:介质访问控制(MAC)安全技术勘误1:标签控制信息图(TelecommunicationsandISO/IEC/IEEE8802-1AS:2021信息技术系统间远程通信和信息交换局域网和城域网第1部informationexchangebetweensyst2ISO21111-2:2020道路车辆车载以太网第2部分：通用物理实体要求(Roadvehicles—IC62228-5:2021集成电路收发器EMC评估第5部分—4.1符号<:小于>:大于4.2缩略语CW:连续波(ContinuousWave)4 5.2.2待机模式5.2.3休眠模式介质独立管理PCS数据发送启用PCS接收PMA服务65.3.3.2变量值MII的TX_EN信号，如5.10.1.2所规定。一值MII的TX_ER信号，如5.10.1.2所规定。tx_mode参数由PMAPHY控制功能设置，并通过SEND_Z、SEND_N或SEND_I5.3.4.14B/3B转换5.3.4.1.14B/3B转换概述5.3.4.1.3MII数据的4B/3B转换MII发送数据(TXD<3:0>)首先会被转换为3位数据组(tx_data<2:0>)。如图4与图5所示，当d5<3:0>d⁵315图34B/3BMII信号转换(3n位数据，无填充位附加)图44B/3BMII信号转换[(3n+1)位数据，附加2个填充位]二Xd0<3:0>41<30>d2<3.0>Yd3<3:0>X04<3:045<3.02i图54B/3BMII信号转换[(3n+2)位数据，附加1个填充位]间tx_error_mii被设置为有效(由于MIITX_ER被设置为有效),tx_error将被设置为TRUE,并在帧结束之前保持为TRUE,以记录这种情况的芯片应支持正常运行和链路训练运行。在训练运行下，PCS将忽略来自MII的信号，仅向PMA发9*tx_error=TRUE*tx_enable=TRUE5.3.4.2.2变量表2PCS数据发送功能状态图变量值5.3.4.3.6所规定。ESD(结束分隔符)第一码组中两个三元符号组成的向量(5.3.4.3.6所规定。ESD(结束分隔符)第二码组中两个三元符号组成的向量(5.3.4.3.6所规定。ESD(结束分隔符)第三码组中两个三元符号组成的向量(5.3.4.3.6所规定。中96.2.7规定的PMA_RXSTATUS.indiOK或NOT__OKSSD第一码组中两个三元符号组成的向量(0,0),如5.3.4.3.6所规定。SSD第二码组中两个三元符号组成的向量(0,0),如5.3.4.3.6所规定。SSD第三码组中两个三元符号组成的向量(0,0),如5.3.4.3.6所规定。MI的TXD<3:0>信号，如5.10.1.2所规定。tx_enable参数由PCS发送功能生成，如图6所规由PCS发送功能生成，发送数据与pcs_txclk(33.333MHz时钟tx_error参数由PCS发送功能生成，MII的TX_EN信号，如5.10.1.2所规定。MII的TX_ER信号，如5.10.1.2所规定。txmode参数由PMAPHY控制功能设置，并通过PMA_TXMODE.i原语传递给PCS。tx_symb_vector在时刻n的别名。经过PCS发送功能的三元对编码后生成的一对三元符号。为{-1,0,+1}。5.3.4.3中定义的规则。symb_timer应与TX_TCLK同步生成。在PCS发送功能状态图中，ISO/IEC/IEEE8802-3:2021中96.2.4规定的PMA_UNITDATA.request消息会与symb_timer_done同时发出。定时器到期时，symb_timer_done条件变为true。重启时间到期后立即重启；定时器重启会重置symb_timer_done条件。持续时间标称时间15ns(参见5.5.3.6中的时钟公差)。symb_pair_timer应与PCS发送功能时钟pcs_txclk同步生成。定时器到期时，symb_pair_timer_done条件变为true。重启时间到期后立即重启；定时器重启会重置symbpair_timer_dsymb_timer应与TX_TCLK同步生成。在PCS发送功能状态图中，ISO/IEC/IEEE8802-3:2021中96.2.4规定的PMA_UNITDATA.request消息会与symb_timer_done同时发出。定时器到期时，symb_timer_done条件变为true。重启时间到期后立即重启；定时器重启会重置symb_timer_done条件。持续时间标称时间15ns(参见5.5.3.6中的时钟公差)。持续时间symb_pair_timer_done的别名。TSyn[2:0]的生成应按照公式(2)～公式(4)进行编码： (3)Scn[2:0]应按照公式(5)生成：符)与带tx_error的ESD(结束分隔符),其中：——(0,0)、(0,0)、(0,0)序列表示SSD;——(0,0)、(0,0)、(1,1)序列表示ESD(结束分隔符);——(0,0)、(0,0)、(-1,-1)序列表示带tx_error的ESD(结束分隔符)。00110110010010用于SSD/ESD(结束分隔符)00011101100011111011110100110当tx_mode=SEND_Z时，三元对(TAn,TBn)只显示为零向量(0,0)。5.3.4.3.11符号序列的生成MUX+(loc_rcvr_status=NOT_OK*recei+(link+(loc_rcvr_status=NOT_OK*recei+(link_status=FAIL*receivipcs_rx_dv=FALSEpcs_rx_er=FALSErxdata<2:0>年"101"rx_data<2:0>=“000”ix_data<2:0>年"101rx_data<2:0>DECODE(Rx图11PCS接收功能状态图(续)图12JAB状态图5.3.5.1.2变量图10、图11和图12中使用的变量应符合表9。值link_status参数由PMA链路监测功能设置，并通过PMA_LINK.indication原语传递给PCS。loc_revr_status参数由PMA接收功能设置，并通过PMA_RXSTATUS.indication原语传递给PCS。OK或NOT_OK指示发生虚假载波错误。TRUE或FALSEpcs_reset参数由PCS复位功能设与pcs_rxclk同步的PCS接收功能错误指示信号。TRUE或FALSE与pcs_rxclk同步的PCS接收功能数据链路指示信TRUE或FALSE由PCS接收功能生成；如果设置为TRUE,指示PCS处于数据模TRUE或FALSE如图12中的JAB状态图所示，处于JAB状态时变量值设置为TRUE,否则设置为FALSE。TRUE或FALSEPCS接收功能在n时刻生成的接收符号对。二与pcs_rxclk同步的PCS解码数据。二在三元对解码之前，由PCS接收功能生成的一对三元符号。由PMA接收，并通过ISO/IEC/IEEE8802-3:2021中96.2.5规定的PMA_UNITDATA.indication原语传递给PCS的三元符号向量。SYMB_1D,接收对值范围为{-1,0,+1}。图10、图11和图12中使用的函数应符合表10。DECODE遵循5.3.5.2中定义的规则。收时钟pcs_rxclk同步。用于确定接收功能状态机停留在DATA状态的最大时间的定时器。定时器ms±54μs后到期。定时器到期时，rev_max_timer_done条件变为true。5.3.5.4PCS接收功能自动极性检测(可选)5.3.5.5PCS接收功能MII信号3B/4B转换d<8:6>tx_mode管理介质相关接口PMA发送PMA发送(lx_symb_veclor)PMA接收值MASTER或SLAVE此变量由PMA生成，用于指示链路的状态。OK:本地PHY的接收功能运行可靠。值由PMA复位功能设置，允许重置所有PMA功NOT_OK:未检测到远端PHY接收功能的行。NOT_OK:解扰器不同步。SEND_Z:当要发送零码组时，该值有效。用于限制接收器驻留在SLAVESILENT与TRAINING状态的时间的定(200±2)ms内到期。该定时器在PHY控制功能和链路监测状态图中共同使用。如果定时器到期且loc_revr_status的值为NOT_OK,链路监测功能将测试maxwait_time用于确定PHY控制功能在TRAINING、SENDIDLE或DATA状态下的最短驻留时间的定时定时器应在启动后(1.8±0.18)μs内到期。应在启动后(1.8±0.18)μs内到期。——测试模式5:全功率正常运行(用于PSD模板)。 表14发送器测试模式4符号映射发送PAM3符号00001110011测试模式5用于检查发送器是否符合发送PSD模板要求。当测试模式5启用时，芯片应发送由标引序号说明：1——被测发送器；图20发送器测试夹具1:输出压降、抖动标引序号说明：1——被测发送器；2——发送参考时钟(可选);5——后处理；图21发送器测试夹具2:失真标引序号说明：图23测试模式1输出(未按比例绘制)2标引序号说明：2-链路(正常运行);255标引序号说明：1——发送器；3——链路段；4——被测接收器；5—噪声源(向被测接收器发送非同步空闲码的符合100BASE-T1规范的发送器或高斯信号发生器)。对连接器的最长15m的单对平衡配对连接器图27链路段定义对于1MHz至66MHz范围内的所有对于一个5包1线缆束(长度最多15m,最多四个内联连接器，等距分布),衰减对外来远端串与特定的单对平衡双绞线缆连接器配接的MD抗为100Ω)均应满足或超过公式(20)定义的限值。或超过公式(21)定义的限值。或超过公式(22)定义的限值。100BASE-T1使用ISO/IEC/IEEE8802-3:2021中第22寄存器名寄存器/位数PMA/PMD控制1PMA/PMD控制1PCS控制1寄存器名PCS控制1PMA/PMD状态15.10xMII接口5.10.1MII接口表17MII信号要求必选/可选TX_CLK信号应符合ISO/IEC/IEEE8802-3:2021中22.2.2.1的要求RX_CLK信号应符合ISO/IEC/IEEE8802-3:2021中22.2.2.TX_EN信号应符合ISO/IEC/IEEE8802-3:2021中22.2.2.3TXD信号应符合ISO/IEC/IEEE8802-3:2021中22.2.若支持，TX_ER信号应符合ISO/IEC/IEEE8802-3:2021中22.2.RX_DV信号应符合ISO/IEC/IEEE8802-3:2021中22.2.2.RXD信号应符合ISO/IEC/IEEE8802-3:2021中22.2若支持，RX_ER信号应符合ISO/IEC/IEEE8802-3:2021中22.2.2.15.10.2RMII接口外部源%一信号建立时间4一一信号保持时间2一一信号上升时间15信号电平由20%上升至80%所用的时间信号下降时间15信号电平由80%下降至20%所用的时间自动协商RX_ER发送自动协商同步单位时隔眼图模板眼图模板一一最小发射眼宽一一一一眼图模板应符合数据手册中规定的幅度范围一眼图模板一一幅度时间(UI)表20SGMI差分接收器特性一一眼图模板一一最小接收眼宽一一一一Ω眼图模板应符合数据手册中规定的幅度范围一眼图模板一一幅度幅度R_Y2RY2时间(UI)数字PMA模拟电路PCS发送PCS发送PCS接收数字PMA接收PCS接收模拟数字PMA模拟数字PMA发送电路PCS接收图35MII回环类别质量监测若芯片支持MSE寄存器，MSE的计算方法应符合求。除当前MSE寄存器外，宜使用另一个寄存器存储自上次读取后的SQI分为8个等级(等级0表示最差信号质量，等级7表示最佳信号质量),应通过MSE或其他类似信息确定并映射到对应的存器中应存储当前SQI值与自上次寄存器读取后的最差SQI值。峰值均方误差pMSE用于识别微秒范围内的瞬态干扰。若芯片支持pMSE寄存器，前pMSE值与自上次读取后的最差pMSE值。监测链路训练时间LTT为图18中，由DISABLE_TRANSMISEND_IDLE_OR_DATA状态进入SLAVE_SILENSEND_IDLE_OR_DATA状态结束所用的时间。若器，LTT寄存器宜支持记录0～250ms的时间范围。本地接收器时间LRT为图18中，由DISABLE_TRANSMISEND_IDLE_OR_DATA状态进入SLAVE_SILENT状态开始，到器宜支持记录0～250ms的时间范围。远程接收器时间RRT为图18中，由DISABLE_TRANSMISEND_IDLE_OR_DATA状态进入SLAVE_SILENT状态开始，到类别rem_revr_status=OK结束所用的时间。若芯片支持RRT寄存器宜支持记录0～250ms的时间范围。障[SSD故障、ESD(结束分隔符)故障等]与链路丢失的次数。LFL寄SQI等级与信噪比间的对应关系由半导体制造商自行定义，并应在数据手册中说—差分线缆的单条导线开路，见图36分图b)。a)两条导线间短路b)两条导线对地或一一5.14.6时间应用接口1PPS信号输出23ToD信号输出4a时间应用接口应支持PPSOUT工作模式。时间应用接口宜支持PPSIN、ToD信号的脉宽应大于20ms。PPS信号的输出抖动应小于±40ns。旧时间，用于提供PPS信号上升沿发生的具体时间信息。上述时间同步信号中，PPS信号可独立使用或与ToD信号配合使用，ToD信0x43,代表ASCII字符“C”;同步字符2的取值为0x4D,与同步字符2)计算得到的8位循环冗余校验码(CRC-8)。CRC-8的生成多项式为：成N-1次多项式M(x)的N个系数(其中N是消息的位数);2)M(x)预先加上0xFC,然后与x⁸相乘。将所得结果除以G(x)(模2除法),得到余数R(x);4)该8位序列即为CRC-8,其中最先传输的位是x⁷的系数，最后传输的位是x的系数。同步同步长度(字节)06时间PTP秒(无符号48位整数)68保留保留ToD信号的发送应符合以下规定：公共端口加密与公共端口否非受控端口注：发送方向使用与MAC、VLAN等相关的报文属性进行匹配。图41发送方向报文转发流程示例ICVICV校验与解密否非受控端口受控端口公共端口SC匹配是耦合端口引脚IIa或IIIb²Ia或IIIb²一Ⅲa或IIb²Ia或IIIb²a引脚MDI、VBAT与WAKE试验的限值等级应符合IEC62228-5:2021中图D.1的定义。b引脚VDDx试验的限值等级应符合IEC62228-5:2021中图D.2的定义。耦合端口引脚正常模式/以太网试验通信一Ⅲ一耦合端口引脚a引脚MDI试验的限值等级应符合IEC62228-5:2021中图D.3的定义。引脚VBAT与WAKE试验的限值等级应符合IEC62228-5:2021中图D.4的定义。耦合端口引脚正常模式/以太网试验通信Ⅲa引脚MDI试验的限值等级应符合IEC62228-5:2021中图D.5的定义。b引脚VBAT与WAKE试验的限值等级应符合IEC62228-5:2021中图D.6的定义。1耦合端口引脚未上电一表31键合点剪切强度最小剪切力要求最小平均剪切力最小剪切力最小拉力最小剪切力5.17.7.1参数分布平均测试6.1.1.1试验环境1243457——LP数据端口；8——LPxMII数据接口；9——测试系统。6.1.1.2试验环境2655标引序号说明：3——DUT数据端口；内容验证DUT是否可正常进入与退出待机模式。环境温度：室温(23±5)℃;DUT支持待机模式；配置DUT正常启动初始化，与LP正常通6.1.1.1试验环境11.按照数据手册定义的方法配置DUT进入待机模式，检查链接状态与DUTIN测量DUT功耗；内容2.按照数据手册定义的方法配置DUT退出待机模式，检查链接状态。无1.步骤1后，链接断开，INH引脚输出高电平，DUT功耗低于正常模式下的功耗；无内容验证DUT是否支持通过本地或远程请求进入休眠模式。依据5.2.3规定的休眠模式要求进行试验环境温度：室温(23±5)℃;DUT支持休眠模式；配置DUT正常启动初始化，与LP正常通1.触发DUT发送休眠请求，监控DUT与LP的休眠状态；2.DUT进入休眠模式后，检查链接状态，检查DUTI耗。1.触发LP发送休眠请求，监控DUT与LP的休眠状态；2.DUT进入休眠模式后，检查链接状态，检查DUTI耗。无1.步骤1后，DUT与LP进入休眠模式；出电压为0,DUT功耗不高于数据手册中定义的休眠功1.步骤1后，DUT与LP进入休眠模式；出电压为0,DUT功耗不高于数据手册中定义的休眠功无6.1.3.2唤醒试验内容唤醒试验验证DUT在休眠模式中是否能够被本地和远程唤环境温度：室温(23±5)℃;DUT支持在休眠模式中被本地和远程唤醒；配置DUT与LP进入休眠模式。1.对DUT的WAKE引脚施加本地唤醒脉冲，检查DUT与LP的唤醒状态；2.检查DUTINH引脚输出与外围电源输出，检查链接状态。内容1.配置LP发送远程唤醒请求，检查DUT与LP的唤醒状态；2.检查DUTINH引脚输出与外围电源输出，检查链接状无1.步骤1后，DUT与LP被唤醒；2.步骤2后，DUT的INH引脚输出由低电平切换为高电平，外围电源开始上1.步骤1后，DUT与LP被唤醒；2.步骤2后，DUT的INH引脚输出由低电平切换为高电平，外围电源开始上无PCS发送正确的ESD(结束分隔符)PCS发送带tx_error的ESD(结束分隔符)PCS接收ESD(结束分隔符)IDLE状态BADEND与RXERROR状态stabilize_timer值PHY控制状态图PHY链路监测状态图PMA发送器定时抖动PMA发送器峰值差分输出6.5.1.1试验环境15546.5.1.2试验环境226545——LPMDIO寄存器访问端口；6—LP数据端口；7——测试系统；标引序号说明：5——LPMDIO寄存器访问端口；7——测试系统。图46管理接口试验环境2测试环境——主从配置试验内容验证DUT的MDIO接口功能与时序。依据5.8.1规定的管理接口要求进行试验环境温度：室温(23±5)℃;6.5.1.1试验环境11.通过MDIO接口对选定寄存器执行写入操作；2.通过MDIO接口读取步骤1中被写入的寄存器1.通过MDIO接口写入待访问的寄存器地址；2.通过MDIO接口向步骤1中的待访问寄存器执行写入操作；3.通过MDIO接口读取步骤2中被写入的寄存器值；4.通过MDIO接口执行增量读取操作(可选)。1.测量DUTMDIO读写时序，即MDIO数据和管理数据时钟(MDC)的时无1.步骤1后，DUT寄存器正常写入；2.步骤2后，DUT寄存器回读值与步骤1的写入值一致。1.步骤1后，DUT寄存器地址读取正常，符合写入值；2.步骤2后，DUT寄存器正常写入；3.步骤3后，DUT寄存器回读值与步骤2中的写入值一致；4.步骤4后，前一次读取完成后，寄存器地址自动增加1(若寄存器地加)后继续读取，读取的寄存器值为增量地址对应的寄存器DUT数据手册中规定的MDIO接口时序要求。无表41主从配置试验方法内容验证DUT的主从配置。依据5.8.2规定的主从配置要求进行试验；依据ISO/IEC/IEEE8802-3:2021中45.2.1.185.1规定的主从配置标准寄存器进行试验。环境温度：室温(23±5)℃;DUT支持通过寄存器进行主从配置，主从配置寄存器符合标准；DUT支持通过外部上下拉配置(strapping)引脚进行主从配置；必须将一个芯片配置为MASTER,另一个芯片配置为SLAVE才能MASTER或都配置为SLAVE时，将无法建立链1.上电完成后，通过主从配置寄存器将DUT配置为MASTER,LP配置为SLAVE,检查链接状2.将LP配置修改为MASTER,检查链接状态；3.上电完成后，通过主从配置寄存器将DUT配置为SLAVE,LP配置为内容1.通过strapping引脚将DUT配置为MASTER,通过寄存器将LP配置为SLAVE,DUT上电后检查链接状态；2.将LP配置修改为MASTER,检查链接状态；3.通过strapping引脚将DUT配置为SLAVE,通过寄存器将LP配置为MASTER,DUT重新上电后检查链接状态；4.将LP配置修改为SLAVE,检查链接状态。无1.步骤1后，DUT与LP正常建立链接；2.步骤2后，DUT与LP链接断开；3.步骤3后，DUT与LP正常建立链接；4.步骤4后，DUT与LP链接断开。1.步骤1后，DUT与LP正常建立链接；2.步骤2后，DUT与LP链接断开；3.步骤3后，DUT与LP正常建立链接；4.步骤4后，DUT与LP链接断开。无65标引序号说明：6——LPMDIO寄存器访问端口；7——LP数据端口； 内容验证数据从MDI接口到MII接口以及从MII到MDI接口的延时。依据5.9规定的延时要求进行试验环境温度：室温(23±5)℃;测试系统支持记录发送和接收数据帧的时间；LP延时数据已知：6.6.1试验环境1.将DUT配置为MASTER,LP配置为SLAVE,建立链接；2.测试系统向LP发送数据帧，检测到LPMII接t,检测到DUTMI接口出现第一个数据帧的RX_DV信号时记录接收时间t2,按照公式(23)计算：DUT_rx_latency=t₂-t₁-式中：t₁——LPMII接口出现第一个数据帧的TX_EN信号的时t₂——DUTMI接口出现第一个数据帧的RX_DV信号的时间13,检测到LPMII接口出现第一个数据帧的RX_DV信式中：t₃——DUTMII接口出现第一个数据帧的TX_EN信号的时t₄——LPMII接口出现第一个数据帧的RX_DV信4.重复步骤2～3进行10次迭代；5.将DUT配置为SLAVE,LP配置为MASTER,重复无在每一次迭代试验中：1.从MDI输入到MII输出的接收路径的延时DUT_rx_latency小于960ns;2.从M输入到MDI输出的发送路径的延时DUT_tx_latency小于360ns。无2标引序号说明：6——LPMDIO寄存器访问端口；7—LP数据端口；9——测试系统；11——环境仓。图48xMII接口电气特性试验环境表43MII接口电气特性试验方法内容验证MII信号时序是否符合规范和设计要求。环境温度：-40℃~数据手册规定的最高工作温度；DUT通过MII接口接入测试系统；配置DUT与LP建立链接，正常通信。1.室温(23±5)℃下，测量发送路径上信号的时序参数；2.室温(23±5)℃下，测量接收路径上信号的时序参数；3.-40℃下，重复步骤1～2进行试验；4.数据手册规定的最高工作温度下，重复步骤1～无步骤1与2的时序参数符合规范和设计要求，且在低温与高温环境无内容环境温度：-40℃~数据手册规定的最高工作温度；DUT支持RMII接口，通过RMII接口接入测试系统；配置DUT与LP建立链接，正常通信。1.室温(23±5)℃下，测量发送路径上信号的时序参数；2.室温(23±5)℃下，测量接收路径上信号的时序参数；3.-40℃下，重复步骤1～2进行试验；4.数据手册规定的最高工作温度下，重复步骤1～无步骤1与2的时序参数符合规范和设计要求，且在低温与高温环境无内容验证RGMII信号时序是否符合规范和设计要求。依据5.10.3中规定的RGMII信号时序要求进行试验环境温度：-40℃~数据手册规定的最高工作温度；芯片支持RGMII接口，通过RGMII接口接入测试系统；配置DUT与LP建立链接，正常通信。6.7.1试验环境1.室温(23±5)℃、DOD模式下，分别测量源端与目的端信号的时序参数；2.室温(23±5)℃、DOS模式下，分别测量源端与目的端信号的时序参数；3.-40℃下，重复步骤1～2进行试验；4.数据手册规定的最高工作温度下，重复步骤1～2进行试验。无步骤1与2的时序参数符合规范和设计要求，且在低温与高温环境中仍然符合。内容验证SGMII差分发送信号是否符合设计要求。依据5.10.4.2中规定的SGMII环境温度：-40℃~数据手册规定的最高工作温度；芯片支持SGMII接口，通过SGMII接口接入测试系统；配置DUT与LP建立链接，正常通信。1.室温(23±5)℃下，将DSO探头连接至DUTSGMI信号发送端，测量DUT发送端SGMII眼2.-40℃下，重复步骤1进行试验；3.数据手册规定的最高工作温度下，重复步骤1进行试验。无测量时需注意链路插损、容性负载、阻抗等对内容验证SGMII差分接收信号是否符合设计要求。依据5.10.4.3中规定的SGMII接收器特性进行试验环境温度：-40℃~数据手册规定的最高工作温度；芯片支持SGMII接口，通过SGM接口接入测试系统；配置DUT与LP建立链接，正常通信。内容6.7.1试验环境1.室温(23±5)℃下，将DSO探头连接至DUTSGMII信号接收端，测量DUT接收端SGMII眼2.-40℃下，重复步骤1进行试验；3.数据手册规定的最高工作温度下，重复步骤1进行试验。无合。测量时需注意链路插损、容性负载、阻抗等对眼图的影响。6.8.1试验环境23——DUT数据端口；6——LPMDIO寄存器访问端口；7——LP数据端口；8——LPxMI数据接口；9——测试系统。内容回环功能试验验证DUT的回环功能。环境温度：室温(23±5)℃;DUT支持PMA回环功能；DUT支持PCS回环功能；DUT支持数字回环功能(可选);内容6.8.1试验环境；PMA回环数据包路径：9-4-3-4-9;PCS回环数据包路径：9-4-9;数字回环数据包路径：9-4-9;MII回环数据包路径：9-8-7-3-7-8-9。1.配置DUT启用PMA回环功能，通过DUTxMII数据接口向DUTMDI发送方向发送随机报并监测误码率；2.配置DUT禁用PMA回环功能，进行正常建链数据传输试验，并监测误码率；3.配置DUT启用PCS回环功能，通过DUTxMII数据接口向DUTPCS监测误码率；4.配置DUT禁用PCS回环功能，进行正常建链数据传输试验，并监测误码率；5.配置DUT启用数字回环功能，通过DUTxMII数据接口向DUTPMA发送方向发送随机报并监测误码率；6.配置DUT禁用数字回环功能，进行正常建链数据传输试验，并监测误码率；7.配置DUT启用MII回环功能，通过LPxMII数据接口向DUTPCS接测误码率；8.配置DUT禁用MI回环功能，进行正常建链数据传输试验，并监测误码率。无1.步骤1后，数据利用DUTMDI的回波信号，传回DUTxMI数据接口，误码率小于10-10;2.步骤2后，正常建链收发包正常，误码率小于10-10;3.步骤3后，数据利用PCS回环，传回DUTxMI数据接口，误码率小于10-10;4.步骤4后，正常建链收发包正常，误码率小于10-10;5.步骤5后，数据利用数字回环，传回DUTxMII数据接口，误码率小于10-1⁰(可选);6.步骤6后，正常建链收发包正常，误码率小于10-10;7.步骤7后，数据利用MII回环，传回LPxMI数据接口，误码率小于10-10(可选);8.步骤8后，正常建链收发包正常，误码率小于10-10。短报文发送时间，并相应地调整误码率要求；2.PMA回环功能试验时，DUT与LP断开连接，MDI开路。6.9.1.1试验环境1882345——LP硬复位端口与MDIO寄存器访问端口；6——LP数据端口；7——测试系统；8——测试系统控制DUT硬复位/软复位。6.9.1.2试验环境2225——LP硬复位端口与MDIO寄存器访问端口；6—LP数据端口；7——测试系统；8——测试系统控制LP硬复位/软复位。6.9.2试验用例设置1否室温(23±5)℃2否室温(23±5)℃3否室温(23±5)℃4否室温(23±5)℃5是室温(23±5)℃6是室温(23±5)℃7否室温(23±5)℃8否室温(23±5)℃9否室温(23±5)℃否室温(23±5)℃是室温(23±5)℃是室温(23±5)℃否否否否是是否否否否是是否否否否是是否否否否是是表50DUT重置后的链路建立时间试验方法内容LP已经运行的条件下，验证DUT复位重置后与LP建立链路时间是否符合设计要依据5.4.6规定的链路监测功能与5.12规定的链路质量LP处于正常工作状态；DUT支持复位重置配置；DUT建链以后，能在0.5ms以内通过状态寄存器获取链路状态；DUT建链以后，支持通过LTT寄存器获取建链时6.9.1.1试验环境11.对DUT执行复位重置操作，并在复位重置操作后的20ms内完成初始化配置；2.完成初始化配置后，启动计时器T;4.读取DUTLTT寄存器值，记为tLTT(可选);5.DUT继续对链路状态进行至少800ms的监测。按照6.9.2中表49的试验用例进行试验，每个试验用例进行2001.tLinkUpTimer或tLTr不超过100ms;无内容LP重置后的链路建立时间DUT已经运行的条件下，验证LP复位重置后与DUT建立链路时间是否符合设计要求。依据5.4.6规定的链路监测功能与5.12规定的链路质量监测功能进行试验内容DUT处于正常工作状态；LP支持复位重置配置；DUT建链以后，能在0.5ms以内通过状态寄存器获取链路状态；DUT建链以后，支持通过LTT寄存器获取建链时1.对LP执行复位重置操作，并在复位重置操作后的20ms内完成初始化配置；2.完成初始化配置后，DUT启动计时器T;4.读取DUTLTT寄存器值，记为tLTT(可选);5.DUT继续对链路状态进行至少800ms的监测。按照6.9.2中表49的试验用例进行试验，每个试验用例进行2001.tLinkUpTimer或tLrr不超过100ms;无6.10.1.1试验环境17标引序号说明：5——测试仪器DSO;频率范围插损回损6.10.1.2试验环境2752——DUTMDIO寄存器访问端口；3——DUT数据端口；内容验证信道噪声增加的同时DUT的SQI是否环境温度：室温(23±5)℃;DUT和LP处于正常工作状态；1.配置DUT为MASTER,LP为SLAVE,建立链接；2.不添加任何信道衰减，测量当前DUT和LP信道的SQI(最大值);3.测试系统测量DUTPHY的SQI值和链路状态至少100次，并记录SQI最小值和最大值及相应的链路状态；4.将高斯信号发生器的输出噪声级别提升一级，即幅值提升100mV;5.重复步骤3～4,直到PHY不能再建立链接，其后再提升10个噪声级别；内容6.用上述噪声级别和对应的DUT的SQI值绘制“SQI-噪声幅值”的最小和最大曲线；7.配置DUT为SLAVE,LP为MASTER,重复步骤2～6。无SQI值：·SQI值稳定而单调地递减；·SQI值仅在链接状态为连接时判定为有·在SQI值高于0时，链接状态保持有效；·在SQI值高于0时，不应观察到因间歇性链路掉线而导致的链接不稳定性。内容信道质量上升后的SQI验证信道噪声降低的同时DUT的SQI是否上升。环境温度：室温(23±5)℃;DUT和LP处于正常工作状态；DUT支持SQI监测功能。1.配置DUT为MASTER,LP为SLAVE;2.将高斯信号发生器的输出噪声级别提升至DUT的PHY不能再建立链接的级别；3.将高斯信号发生器的输出噪声级别逐级降低，直到DUT的PHY建立链接；4.测试系统测量DUTPHY的SQI值和链路状态至少100次，并记录SQI最小应的链路状态；5.将高斯信号发生器的输出噪声级别降低一级，即信号幅值降低100mV;6.重复步骤4～5,直到高斯信号发生器的输出噪声信号幅值为0mV;7.用上述噪声级别和对应的DUT的SQI值绘制“SQI-噪声幅值”的最小和最大曲线；8.配置DUT为SLAVE,LP为MASTER,重复步骤2～7。无在每次迭代试验中： SQI值：·SQI值稳定而单调地递增；·SQI值仅在链接状态为连接时判定为有●在SQI值高于0时，链接状态保持有效；·在SQI值高于0时，不应观察到因间歇性链路掉线而导致的链6.11.1.1试验环境1553标引序号说明：5——LPMDIO寄存器访问端口；6—LP数据端口；7——测试系统。图54线缆诊断试验环境1——线缆正常6.11.1.2试验环境282——DUTMDIO寄存器访问端口；3——DUT数据端口；8——测试系统故障注入控制接口；9——MDI+近端开路；10——MDI-近端开路；11——MDI+和MDI-近端同时开路；14——MDI+和MDI-远端同时开路。6.11.1.3试验环境35——LPMDIO寄存器访问端口6——LP数据端口；7——测试系统；图56线缆诊断试验环境3——线缆短路6.11.2正常状态下的线缆诊断试验方法内容验证DUT的以太网线缆正常连接状态的诊断功能。环境温度：室温(23±5)℃;DUT支持线缆诊断功能；DUT与LP正常连接建链；6.11.1.1试验环境11.DUT与LP通过长度为1.5m的线缆相连；2.DUT上电完成初始化配置并软复位；3.配置DUT为MASTER,配置LP为SLAVE;4.DUT启用线缆诊断功能；5.待DUT完成线缆诊断后，读取线缆诊断结果；内容6.重复步骤4～5100次；7.配置DUT为SLAVE,配置LP为MASTER,重复步骤4～6;8.DUT与LP通过长度为15m的线缆相连，重无在每次迭代试验中，线缆诊断结果为正常，不上报短路或无6.11.3线缆近端和远端开路内容验证DUT的以太网线缆开路诊断功能。环境温度：室温(23±5)℃;DUT支持线缆诊断功能；DUT支持测量异常点与DUT间的距离(可选);DUT与LP通过长度为15m的线缆相连，正常连接建链；LP不发送任何数据信号。6.11.1.2试验环境21.DUT上电完成初始化配置并软复位；2.配置DUT为MASTER,配置LP为SLAVE;3.测试系统注入图55中故障9(MDI+近端开路);4.DUT启用线缆诊断功能，待DUT完成线缆诊断后，读取线缆诊断结果与距离(距离可选);5.重复步骤3～4100次；6.测试系统注入图55中故障10(MDI-近端开路),重复步骤4～5;7.测试系统注入图55中故障11(MDI+和MDI-近端同时开路),重复步骤4～5;8.测试系统注入图55中故障12(MDI+远端开路),重复步骤4～5;9.测试系统注入图55中故障13(MDI-远端开路),重复步骤4～5;10.测试系统注入图55中故障14(MDI+与MDI-远端同时开路),重复步骤4～5;11.配置DUT为SLAVE,配置LP为MASTER。重复步骤3～10。无在每次迭代试验中：1.线缆诊断结果为开路；2.异常点与DUT间距离测量误差小于±1m(可选)。无6.11.4线缆近端和远端短路内容环境温度：室温(23±5)℃;DUT支持线缆诊断功能；DUT支持测量异常点与DUT间的距离(可选);DUT与LP通过长度为15m的线缆相连，正常连接建链；LP不发送任何数据信号。6.11.1.3试验环境31.DUT上电完成初始化配置并软复位；2.配置DUT为MASTER,配置LP为SLAVE;内容3.测试系统注入图56中故障9(MDI+和MDI-近端同时与电源短路);4.DUT启用线缆诊断功能，待DUT完成线缆诊断后，读取线缆诊断结果与距离(距离可选);5.重复步骤3～4100次；6.测试系统注入图56中故障10(MDI+与MDI-近端同时与地线短路),重复步骤4～5;7.测试系统注入图56中故障11(MDI+与MDI-近端相互短路),重复步骤4～5;8.测试系统注入图56中故障12(MDI+与MDI-远端同时与电源短路),重复步骤4～5;9.测试系统注入图56中故障13(MDI+与MDI-远端同时与地线短路),重复步骤4～5;10.测试系统注入图56中故障14(MDI+与MDI-远端相互短路),重复步骤4～5;11.配置DUT为SLAVE,配置LP为MASTER,重复步无1.线缆诊断结果为短路；2.异常点与DUT间距离测量误差小于±1m(可选)。无6.12.1.1试验环境19368 4——DUT1xMII数据接口；6.12.1.2试验环境23——DUT数据端口；6——LPMDIO寄存器访问端口；7——LP数据端口；8——LPxMⅢ数据接口；6.12.1.3试验环境3683——DUT数据端口；7——LP数据端口；8——LPxMII数据接口；9——测试系统；10——DUT时间应用接口1;11——DUT时间应用接口2;6.12.2事件报文时间戳生成试验内容验证事件报文经过DUT时是否生成正确的时间戳。环境温度：室温(23±5)℃;当事件报文发出或者接收时，DUT生成相应的时间戳；DUT应支持两步法处理模式，宜支持一步法处理模式；测试系统支持发送和接收标准协议报文以及读取DUT寄存器；将DUT1配置为MASTER,作为发送端和应答端，将DUT2配置为SLAVE,作为接收端和请求端。6.12.1.1试验环境11.配置DUT1与DUT2启用时间同步功能；2.DUT1发送Sync报文，检查DUT1生成的时间戳t1,检查DUT2生成的时间戳t2;3.DUT2发送Pdelay_Req报文，检查DUT2生成的时间戳t3,检查DUT1生成的时间戳t4;4.DUT1发送Pdelay_Resp报文，检查DUT1生成的时间戳ts,检查DUT2生成的时间戳t6。无1.步骤1后，DUT内部计时器开始工作。支持实时读取DUT内部时间(可选);规定的要求。若DUT支持一步法处理模式，则收发包过程中需无CRC错误报文。6.12.3事件报文sequenceld试验方法(可选)表59事件报文sequenceld试验方法内容事件报文sequenceld试验(可选)验证事件报文经过DUT时，DUT是否记录对应的sequenceld。环境温度：室温(23±5)℃;当事件报文发出或者接收时，DUT支持通过读取寄存器获取当前事件报文的sequenceld;测试系统支持发送和接收标准协议报文以及读取DUT寄存器；将DUT1配置为MASTER,作为发送端和应答端，将DUT2配置为SLAVE,作为接收端和请求端。6.12.1.1试验环境11.配置DUT1与DUT2启用时间同步功能；存器获取DUT2生成的时间戳t2和对应报文的sequenceld2;通过寄存器获取DUT1生成的时间戳t4和对应报文的sequenceld4;通过寄存器获取DUT2生成的时间戳t₆和对应报文的sequenceld6。内容无1.步骤1后，DUT内部计时器开始工作。支持实时读取DUT内部时间(可选);2.步骤2后，时间戳t₁和t2格式符合ISO/IEC/IEEE8802-1AS:2021规定的要求，对应报文3.步骤3后，时间戳t3和t4格式符合ISO/IEC/IEEE8802-1AS:204.步骤4后，时间戳ts和t6格式符合ISO/IEC/IEEE8802-1sequenceld3、sequenceld4、sequenceld5与seque内容时间同步精度试验验证DUT的时间同步精度。环境温度：室温(23±5)℃;当事件报文发出或者接收时，DUT生成相应的时间戳；DUT应支持两步法处理模式，宜支持一步法处理模式；测试系统支持发送和接收标准协议报文以及读取DUT寄存器；将DUT1配置为MASTER,作为发送端和应答端，将DUT2配置为SLAVE,作为接收端和请求端。6.12.1.1试验环境11.配置DUT1与DUT2启用时间同步功能；的第1次时间戳t2.1与第i次时间戳t2i。通过公式(25)计算出DUT1与DUT2间时钟频率比rateRatio=(t11-t₁)/(t2.1-t2.)……3.DUT2发送Pdelay_Req报文，检查DUT2生成的时间戳ti,检查DUT1生成的时间戳t2;4.DUT1发送Pdelay_Resp报文，将时间生成的时间戳t4;5.DUT1发送Pdelay_Resp_Follow_Up报文，将时间戳t3传递给DUT2;6.假设DUT1与DUT2间的链路传输延迟对称，根据t、t2、t3与t4,按照公式(26)计算DUT1与t₁——DUT2发送Pdelay_Req报文生成的时间t₂——DUT1接收Pdelay_Req报文生成的时间t₃——DUT1发送Pdelay_Resp报文生成的时间t₄——DUT2接收Pdelay_Resp报文生成的时间7.将toise和rateRatio在DUT2内部计时内容1.步骤1后，DUT内部计时器开始工作。支持实时读取DUT内部时间(可选);1AS:2021规定的要求，若DUT支持一步法处理模式，则收发包过程中无CRC错误报文；3.toffset在第一次同步完成后，每次偏差小于±80ns。correctionField与rateRatio,来修正上述非对称网络。6.12.5时间应用接口试验方法(可选)内容时间应用接口试验(可选)验证时间应用接口的PPSOUT、PPSIN、T环境温度：室温(23±5)℃;当事件报文发出或者接收时，DUT生成相应的时间戳；DUT应支持两步法处理模式，宜支持一步法处理模式；测试系统支持发送和接收标准协议报文以及读取DUT寄存器；DUT有一路或者多路时间应用接口，支持时间同步应用。PPSOUT与ToDOUT工作模式试验使用6.12.1.2试验环境2;PPSIN与ToDIN工作模式试验使用6.12.1.3试验环境3。1.配置DUT两路时间应用接口工作模式分别为PPSOUT与ToDOUT,开启内部时钟；2.连接对应时间应用接口到外部测试系统或其他时钟，设置时钟秒域为T0,纳秒域为0;3.配置DUT发送PPS信号与ToD信号，记录当前秒域时间为T1,检查外部测试系统或其他时1.配置DUT两路时间应用接口工作模式分别为PPSIN与ToDIN,开启内部时钟，设置DUT时间秒域为T0,纳秒域为0;2.连接对应时间应用接口到外部时钟源；3.外部时钟源发送PPS信号和ToD信号，记录发送时间秒域为T1,检查DUT内部无1.步骤1后，配置生效，内部时钟开始工作；1.步骤1后，配置生效，内部时钟开始工作；2.步骤3后，PPS信号与ToD信号正确输入，DUT内部时间秒域由TO无22标引序号说明：6——LP数据端口；9——测试系统xMII数据接口。6.13.2加解密功能试验方法内容验证MACsec的加解密功能。环境温度：室温(23±5)℃;DUT和LP正常连接建链；DUT支持并启用MACsec功能。1.在DUT上配置加密套件；2.测试系统通过xMII数据接口向DUT发送未加密的数据包；3.测试系统在LP数据端口上捕获数据包；4.在DUT上配置解密套件；5.测试系统通过LP数据端口向DUT发送正确的MACsec密文数据包；6.测试系统在DUTxMII数据接口上捕获数据包。无1.步骤3中，测试系统在LP数据端口上捕获到加密的数据包；2.步骤6中，测试系统在DUTxMII数据接口上捕获到解密后的数据包。无6.13.3密钥切换试验方法内容验证当一把密钥到达使用上限时，可以切换到另一把密钥进环境温度：室温(23±5)℃;DUT和LP正常连接建链；DUT支持并启用MACsec功能。1.在DUT上配置加密套件，并配置两把密钥SAK0与SAK1,默认先用SAK0进行加密；2.测试系统通过xMII数据接口向DUT持续发送未加密的数据包；无无6.13.4完整性校验试验方法内容环境温度：室温(23±5)℃;DUT和LP正常连接建链；DUT支持并启用MACsec功能。1.在DUT上配置加密套件，并配置密钥SAK0用于加密与解密；2.测试系统通过xM数据接口向DUT发送未加密的数据包；4.将重构的报文通过LP数据端口发往DUT;5.测试系统在DUTxMII数据接口上捕获报文。无1.步骤3中，测试系统在LP数据端口上捕获的报文都是加密的报文；2.步骤5中，测试系统在DUTxM数据接口上捕获的报文都是CRC错误的报文。无内容环境温度：室温(23±5)℃;DUT和LP正常连接建链；DUT支持并启用MACsec功能。1.在DUT上配置解密套件，启用对于无效MACsec报文不解密的配置；2.测试系统构造不同的无效MACSec报文，通过LP数据端口发送给DUT;3.测试系统在DUTxMII数据接口上捕获报文；4.测试系统构造有效MACsec报文，通过LP数据端口发送给DUT;内容5.测试系统在DUTxMI数据接口上捕获报文。无1.步骤3中，在DUTxMI数据接口上捕获的报文都是未经过解密的加密报文；2.步骤5中，在DUTxMII数接口上捕获的报文都是解无6.13.6重放保护试验方法表66重放保护试验方法内容验证加密报文乱序后的处理是否正确。环境温度：室温(23±5)℃;DUT和LP正常连接建链；DUT支持并启用MACsec功能；1.在DUT上配置解密套件，并配置密钥SAK0用于解密，配置重放保护窗口；2.测试系统通过LP数据端口向DUT发送使用SAKO构造的护窗口内；3.测试系统在DUTxMII数据接口上捕获数据包；4.重复步骤2,但PN值在重放保护窗口外；5.测试系统在DUTxMII数据接口上捕获数据包。无1.步骤3中，测试系统在DUTxMII数据接口上捕获到正确解密的数据包；2.步骤5中，测试系统在DUTxMII数据接口上捕获到未解密的数据包。无表67MIB统计试验方法内容验证对报文加解密后统计数据是否正确。环境温度：室温(23±5)℃;DUT和LP正常连接建链；DUT支持并启用MACsec功能；DUT支持并启用MIB统计功能。1.在DUT上配置加密套件，并配置密钥SAK0用于加密；2.测试系统通过xMI数据接口持续向DUT发送正常的未加密数据包；3.读取DUT上的MIB统计寄存器；4.在DUT上配置解密套件，并配置密钥SAK0用于解密；5.测试系统通过LP数据端口持续向DUT发送加密的MACsec报文；6.读取DUT上的MIB统计寄存器。无1.步骤3中，读取到的MIB统计值等于测试系统发送的明文报文数；2.步骤6中，读取到的MIB统计值等于测试系统发送的密文报文数。无6.13.8加密偏移量试验方法内容环境温度：室温(23±5)℃;DUT和LP正常连接建链；DUT支持并启用MACsec功能；1.在DUT上配置加密套件，并配置加密偏移量为30或50;2.测试系统通过xMII数据接口向DUT发送未加密的数据包；3.测试系统在LP数据端口上捕获数据包，并对数据包内无测试系统捕获的报文都是加密报文，并且加密的起始位置符合配无射频骚扰发射(EMI)150Ω直接耦合法射频骚扰抗扰度(RF)脉冲抗扰度(IMP)静电放电(上电)单个芯片静电放电(未上电)与环境条件见表70。值电压供应VBAText电压供应VDD表71正常运行模式下芯片配置定义内容一全双工100BASE-T1;启用自动极性检测；最大驱动强度一默认；(需在试验报告中记录)。对于低功耗模式下的试验，应使用表72规定内容 6.14.2.4试验配置根据半导体制造商的数据手册配置两个节点以建立一个全双工以太网链路，功能正常与错误指示微控制器或FPGA用于激励如VBATVDD耦合端口与耦合网络与监测的解耦网络6.14.2.4.3芯片网络试验——耦合端口与网络耦合端口与耦合网络用于以定义的传输特性将骚扰传递到试验网络或从试验网络传递出去。耦合端口、网络与引脚的示意图见图66。组件的值取决于试验方法，并在表73中定义。组件的公差应小于1%。对于用于对称耦合的电阻RcPla与RCPIb,推荐最大失配为0.1%。端口射测量(+1.25%)端口射测量(-1.25%)射测量(+2.5%)射测量(-2.5%)射测量(+5%)射测量(-5%)不使用不使用不使用不使用验非对称耦合(-2.5%)不使用验非对称耦合(+5%)不使用验非对称耦合(-5%)不使用不使用MDIP、MDIN间接ESD不使用替换为反向保护二极管不使用量不使用WAKE脉冲耦合不使用aESD耦合网络中使用的所有电阻器应在所用的最大放电电压水平具有ESD鲁棒性。所用b电阻器Rcplt用于防止耦合网络对地的静态预充电。引脚的定义见图67与表74。端口a可选电阻Rla、Rib、R₂与R3的电阻值小于等于220kΩ,用于防止ESD发生器导致的静电预充电。内容主机控制器发起的数据帧传输：—最小数据包大小为1014字节；负载数据0x5A。对于低功耗模式下预期唤醒的试验，使用正常运行模式下的试验通信定义来启活动以太网试验通信由可用寄存器读取CRC状态由所有可用寄存器中读取并记录SNR值指示(如SQI或MSE值)无唤醒指示板(例如INH)唤醒指示板(例如INH)对于特殊情况可以商定不同的评估标准，并应记录在试验报告中。a.如果无法在芯片上读取所需的错误寄存器，则应以类似的方式在微控制器软件中实现错误验证。b.可选功能，只有当使用该功能时进行评估。C.试验网络中的一个芯片(被测芯片)配置为SLAVE且设置为低功耗模式。另一个芯片配置为M醒(定义见ISO21111-2)。引脚电流引脚电流引脚电压图68I-V特性最大偏差原理图表77功能状态等级定义-暴露于骚扰期间，正常模式下无链路、DTT、CRC及SNR错误发生，低唤醒指示错误发生，判定标准为6.14.2.6.2;在骚扰施加结束后未检测到任何损坏，可在所有功能试验结束时进行检暴露于骚扰期间，无链路错误发生，判定标准为6.14.2.6.2。暴露于骚扰期间，无CRC与DTT错误发生，判定标准为6.14.2.6.2。为正常模式，判定标准为6.14.2.6.2。暴露于骚扰后，内部芯片配置无改变，判定标准为6.14.2.6.2。暴露于骚扰期间，有错误发生，判定标准为6.14.2.6.2;—系统无法自动恢复正常运行，直到移除骚扰并将芯片通过下电/上电等简单操作重置；标引序号说明：2——耦合端口(MDI:EMI1,VBAT:EMI2,WAKE:EMI3,VDDx:EMIx),4——试验网络；7——电源(VBAText,VDDx_ext,GND)。频率范围分辨率带宽(RBW)150kHz至30MHz:30MHz至2750MHz:视频带宽(VBW)一1每步测量时间一扫频时间一一应按照表79中的MDI试验网络执行射频骚扰发射试验。表79射频骚扰发射测量耦合端口引脚MDI试验网络(BIN)正常模式/以太网√√一√√√√√“对于VDDx引脚，可在引脚处使用简单一阶滤波器、优化滤波器或半导体制造商的特定滤波器进行试12649985——耦合端口(MDI:RF1,VBAT:RF2,WAKE:RF3),同轴连接器；6——控制计算机(可选);7——远程控制(可选);11—控制板；范围1MHz至10MHz10MHz至100MHz100MHz至200MHz200MHz至400MHz以前向功率为参数的抗扰度阈值曲线通常为36dBm(对于使用Std-BIN与Opt-BIN的MDI为39dBm)驻留时间调制f=1MHz至800MHz:AM80%,1kHz²f=800MHz至1000MHz:PM217Hz,ton577μs²在功率逐步增加的过程中寻找故障。可以使用优化控制程1.由最大前向功率或导致前一频率发生故障的功率等级开始；2.如果在此功率水平下发生故障，则将功率降低一半并重复试验；3.逐步增加功率直至发生故障；应用每个频率步长下的试验功率，并评估每次试验后“根据GB/T42968.1,使用前向功率的峰值转换。用于功能状态等级Aic评估的试验应按照表81进行与记录。耦合端口引脚故障验证等级Aic总和e唤醒网试验通信√一√√√一一√√√√√√√√√√一一√√√√√√√一一√√√√a使用CW与(AM,PM)调制进行试验，最大试验功率为36dBm。b只使用(AM,PM)调制进行试验，最大试验功率为39dBm。c错误总和：并行评估CRC、链路与DTT。d根据所实现的功能，进行预期或非预期唤醒试验，或以太网信号活动检测。e一个节点设置为低功耗模式，另一个节点发送被低功耗模式节点检测为唤醒的周期性信号。耦合端口引脚若进行了SNR指示试验，则记录SNR值(例如，信号质量指示或MSE值)。试验仅供参考，未定义抗扰度限值。用于功能状态等级Crc或Dic评估的试验应按照表82进行与记录。所有试验只使用(AM,PM)耦合端口引脚正常模式/以太网试验通信明38859标引序号说明：2——耦合端口(MDI:IMP1,VBAT:IMP2,WAKE:IMP3),3——控制计算机(可选);4—远程控制(可选);图71脉冲抗扰度试验环境幅度步长驻留时间1.按表85的规定进行试验，在脉冲幅度逐步增加至表84定义的试验脉冲电平的过程中寻找故障，每个幅度步长的驻留时间至少为5s;2.在确定的最大电压下，通过1min的驻留时间证明所达到的抗扰度；3.优化控制程序可用于减少试验时间；应用表84定义的试验脉冲进行试验，并评估每次试验后最大脉冲幅度VsmaxV脉冲重复频率(1/Ti)内阻R;Ω2电池仅在脉冲期间关闭22一一一a试验脉冲定义见GB/T21437.2。用于功能状态等级Aic评估的试验应按照表85进行。对于每个试验，确定耦合端口引脚MDI试验网络(BIN)错误/功能错误总和唤醒一√一√√一√一√一√√√一√√√a错误总和：并行评估CRC、链路与DTT。b根据所实现的功能，进行预期或非预期唤醒的试验或以太网信号活动检c一个节点设置为低功耗模式，另一个节点发送被低功耗模式节点检测为唤醒的