CN114942202B 放射监测的高精度测量设备及测量方法、检测方法 （北京锐达仪表有限公司）

区通州园金桥科技产业基地景盛南四本公开提供了一种放射监测的高精度测量2辐射装置包括壳体和放射源，壳体包裹放射源，放射源用于同探测装置用于检测射线形成探测射线测量信号，且用于检测第一射线监测装置用于检测射线形成监测射线测量信号，且用于直接检测第探测装置接收监测装置传递的监测射线测量信号，比较探测射此次监测装置检测的监测射线测量信号为第二射线测量信号且此次探测装置检测的探测值时则探测装置删除或忽略此次检测的探测射线所述探测装置检测的射线至少包括所述辐射装置产生的所述第一射线述背景环境辐射的射线形成的第一背景辐射所述监测装置检测的射线至少包括所述辐射装置产生的所述第二射线述背景环境辐射的射线形成的第二背景辐射通过比对所述探测射线测量信号的产生时间与所述监测射线测量信号的产生时间是其中，所述第一射线测量信号的测量信息至少包括第一射线测39.根据权利要求1所述的测量设备，其特征在于，述第一处理模块和所述第一通讯模块依次连接，所述第一通讯模块用于连接所述主控制420.根据权利要求16所述的测量设备，其特征在于，所述监测装置还包括第二处理模所述辐射装置里放射源的放射源活度的检测、所述辐射装置里所述放射源是否丢失的检电源电路，所述电源电路用于接收外部供电并为所述探测装置和/或所述监测装置供23.一种测量方法，其特征在于，基于权利要求1通过所述辐射装置同时产生第一射线与第二射线，并向被测容器发射通过所述探测装置检测射线形成探测射线测量信号，所述探测射线测量通过所述探测装置接收所述监测装置传递的所述监测射线测量信号并将所述探测射探测装置此次检测所述探测射线测量信号是所述辐射装置产生的第一射线对应形成的第5通过主控制器接收所述探测装置传递的所述第一射线测量信号的测量主控制器根据所述第一射线测量信号的测量信息，获得所述第主控制器根据所述第一射线测量信号的信号特征和预定值的峰边界来计算峰面积，并根据所述峰面积大小确定所述第一射线测量信号的信号特所述监测装置检测射线形成监测射线测量信号，其中所述监测射所述监测装置分析处理所述监测射线测量信号获得所述监测射线测量信号的测量信所述监测装置根据所述监测射线测量信号中的所述第二射线测量信号的测量信息对根据所述第二射线测量信号的测量信息获得所述第二射线测量在所述射线强度小于第二预设值或所述射线数量小于第三预设值或所述射线衰减大6所述监测装置检测射线形成监测射线测量信号，其中所述监测射所述监测装置分析处理所述监测射线测量信号获得监测射线测量信监测装置根据所述监测射线测量信号中的第二射线测量信号的测量信息对辐射装置量信号中的第二射线测量信号的测量信息对辐射装置里的放射源是否丢失进行检测，包根据所述第二射线测量信号的测量信息获得所述第二射线测量在射线强度小于第一下限值或射线数量小于第二下限值或射线衰减大于第一上限值7辐射的射线，所述探测射线测量信号至少包括所述第一射线形成的所述第一射线测量信探测射线测量信号的产生时间与所述监测射线测量信号的产生时间是否具有同时性或时8装置检测的监测射线测量信号为所述辐射装置产生的所述第二射线形成的所述第二射线测量信号且此次所述探测装置检测的所述探测射线测量信号为所述辐射装置产生的所述同时性或时间间隔大于于第一预设值时则所述探测装置删除或忽略此次检测的所述探测[0010]本公开第一方面的一些实施方式中，所述第一射线测量信号和/或所述第二射线第二发射通道朝向所述监测装置，以使所述放射源产生的第二射线直接进入所述监测装[0016]本公开第一方面的一些实施方式中，所述第一发射通道和/或所述第二发射通道具有预设的扩散角度，用于使所述第一射线和/或所述第二射线具有预设放射角度；优选[0018]本公开第一方面的一些实施方式中，所述辐射装置还包括第一开关构件和/或第9[0025]本公开第一方面的一些实施方式中，所述第一闪烁材料和/或第二闪烁材料为塑二处理模块用于分析处理所述监测射线测量信号获得所述监测射线测量信号的测量信息，辐射装置中的所述放射源活度失效或所述放射源丢失时通过所述第二通讯模块向所述主所述探测装置接收所述监测装置传递的所述监测射线测量信号并将所述探测射线测量信置此次检测所述探测射线测量信号是所述辐射装置产生的第一射线对应形成的第一射线量信息获得所述第一射线测量信号对应的峰值，并根据所述第一射线测量信号的峰值大量信息获得所述第一射线测量信号的峰值，依据所述第一射线测量信号的峰值确定峰边号；所述监测装置分析处理所述监测射线测量信号获得所述监测射线测量信号的测量信测装置根据所述监测射线测量信号中的第二射线测量信号的测量信息对辐射装置里的放[0039]附图示出了本公开的示例性实施方式，并与其说明一起[0042]图3是根据本公开的一些实施方式的测量设备中辐射装置的发射通道结构示意[0047]图8是根据本公开的一些实施方式的有效射线能谱曲线中峰值和峰面积的示例[0056]在附图中使用交叉影线和/或阴影通常用于使相邻部件之间的边界变得清晰。如[0061]图1是本公开的一个实施方式的放射监测的高精度测量设备的结构示意图。参见150形成的第一射线测量信号170；第二射线160自辐射装置110发出后直接进入监测装置形成的第一背景辐射测量信号；监测装置140检测射线形成的监测射线测量信号至少包含探测装置120检测的探测射线测量信号的产生时间与监测装置140检测的监测射线测量信测量信号中的第一射线测量信号170和第一背景辐射测[0064]由于第一射线150和第二射线160同时产生和发出，相应的第一射线测量信号170达探测装置120的路程与第二射线160到达监测装置140的路程不一样，但射线传输速度非常快(光速传播)，故在路程差距很短的情况，第一射线测量信号170与第二射线测量信号160形成的第二射线测量信号180且此次探测装置120检测的探测射线测量信号170为辐射测射线测量信号(即第一射线测量信号170)后处理分析获得此次探测射线测量信号(即第一射线测量信号)的测量信息，否则探测装置120删除或忽略此次形成的探测射线测量信可通过监测装置140检测的监测测量信号来对探测装置120检测的探测测量信号进行有效号170)进行记录保存并分析处理后获得此次探测射线测量信号(第一射线测量信号170)的息传递至主控制器130，主控制器130最终依据第一射线测量信号170的测量信息获得介质[0070]放射源112的类型可以为22NA，22NA的活度可以为豁免水平，其活度可以小于1*关构件用于打开或关闭第一发射通道113，第二开关构件用于打开或关闭第二发射通道在被测容器200第二侧面的任意位置，只要能够检测辐射装置110发射的第一射线经介质300作用后的第一射线测量信号即可，主控制器130可分别接收各个探测装置120提供的有效探测射线测量信号(即第一射线测量信号)的测量信息，将多个探测装置120的有效探测放射源112发射的第一射线150和/或第二射线160的阻挡作用更大，导致探测装置120检测到的第一射线测量信号170的数量减少或第一射线测量信号170的强度变微弱，不便于分量随距离呈指数衰减，故导致探测装置120检测的第一射线150形成的第一射线测量信号170数量少或第一射线测量信号170的强度微弱，故通过增加探测装置120的数量可改善上[0077]一些实施例中，测量设备100包括多个探测装置120时，可对被测容器200中介质线形成各自对应的探测射线测量信号，其中各自对应的探测射线测量信号包含辐射装置此次各自对应的探测射线测量信号为第一射线测量信号170还是第一背景辐射测量信号，装置120传递的对应有效探测射线测量信号(即第一射线测量信号)的测量信息并进行汇总探测射线测量信号(即第一射线测量信号170)并分析处理获得第一射线测量信号170的测号(即第一射线测量信号)的测量信息并进行汇总统计，从而获得汇总统计后的信号特征，根据汇总统计后的信号特征得到被测容器200中的介质300的密度/浓度和/或被测容器200[0080]图5示出了本公开实施例的测量装置的结构示例图。下面结合图5对测量装置100射线160和/或背景环境辐射的射线入射至第二闪烁材料141，第二闪烁材料141产生光信[0083]一些实施例中，第一供电模块125/第二供电模块145，具体可用于接收主控制器第一光电倍增管122/第二光电倍增管142、第一信号处理电路123/第二信号处理电路143、[0085]由于射线具有能量，辐射装置110产生的第一射线150以及第二射线160具有相同第二射线160相同能量的射线及其他能量的射线，且背景环境辐射产生的射线也会被探测测量信号、第二背景辐射测量信号)与探测装置120检测的监测射线测量信号(包括第一射接收的监测射线测量信号与探测射线测量信号是由辐射装置110产生的第二射线160及第的有效探测射线测量信号(第一射线测量信号170)并经第一处理模块127处理分析得到对[0088]一些实施例中，探测装置120的第一处理模块127具体可用于对窄脉冲信号(第一测量信息通过第一通讯模块126传输至主控制器130，其中窄脉冲信号(第一射线测量信号的AD采样功能来实现窄脉冲成形信号(第一射线测量信号17[0090]探测装置120记录保存的探测射线测量信号(即为有效的窄脉冲信号或第一射线测量信号170)的信号的幅值峰值相同或相差不大，经第一处理模块127按信号的幅度峰值线测量信号(即为有效的窄脉冲信号或第一射线测量信号170)至对应道址信息号码上，即该幅值峰值为该道址信息号码对应的探测射线测量信号(即为有效的窄脉冲信号或第一射装置120统计预设时间内(具体预设时间可根据实际情况进行设置)，各个道址信息号码数上的累计计数的数量并传递至主控制器130，主控制器130根据探测装置120传递的各个道址信息号码数上的累计计数的数量即可形成有效射线能谱曲线。图6是根据本公开的一些息传递至第三处理模块131，第三处理模块131根据有效探测射线测量信号(第一射线测量信号170)的测量信息获得第一射线测量信号170对应的信号特征，其中信号特征至少包括和/或料位提供给例如现场控制系统等外部设备或例如显示装置等内部组件，以便现场控传递至外部设备例如显示装置等内部组件进于显示第三通讯模块132传递的介质300的密度、浓度和/或料位，以便用户实时了解介质[0095]一些实施例中，主控制器130的第三通讯模块输出的信号可以是但不限于电流信[0100]主控制器130对形成的有效射线能谱曲线进行寻峰操作，确定有效射线能谱曲线线能谱曲线的峰值的大小对应第一射线测量信号170的射线强度信息和/或射线数量信息小确定探测装置120检测接收到辐射装置110产生的第一射线150经介质300作用后的第一[0102]主控制器130对形成的有效射线能谱曲线进行寻峰操作，确定有效射线能谱曲线差等情况，故有效探测射线测量信号(第一射线测量信号170)的幅度峰值有时会存在些许道址信息号码上故根据峰值的峰形确定峰边界(即确定峰的起始道址信息号码与终止道度和/或射线数量和/或射线衰减)。由此可通过有效射线能谱曲线的峰面积大小确定第一曲线的峰面积大小确定探测装置120检测接收到辐射装置110产生的第一射线150经介质图8示出了有效射线能谱曲线中峰值和峰面积[0103]图9示出了本公开的一些实施方式的测量方法的流程示意图，该测量方法可应用于前文的测量设备100。通过该测量方法可无接触地测量容器或管道等被测容器内介质的第一射线测量信号170与第二射线测量信号180是否同时产生或时间间隔小于等于第一预[0107]步骤S76，探测装置记录保存此次检测的第一射线测量信号并分析获得第一射线[0110]步骤a1，根据第一射线测量信号的测量信息获得第一射线测量信号对应的峰值所在的道址信息号码，并根据峰值的峰形确定峰边界(即确定峰的中未示出)，第二处理模块可根据第二射线测量信号180的测量信息来监测辐射装置110的放射功能，在辐射装置110的放射功能失效时通过第二通讯模块146向主控制器130发送放140的第二处理模块选用合适的采样数据位数，监测装置140监测第二射线160与背景环境监测装置140的第二处理模块在预设时间内(具体预设时间可根据实际情况进行设置)，统本公开的一些实施方式的射线全能谱曲线的[0115]监测装置120的第二处理模块具有MCU或CPU处理器，预设时间内，随着时间的累道址信息号码的窄脉冲信号(监测射线测量信号)数量越多，入射至第二闪烁材料141的对谱曲线上的峰值所在的道址信息号码与辐射装置110产生的能量射线(第二射线)所对应，该道址信息号码对应的峰值的大小与第二射线测量信号的射线强度信息和/或射线数量信息和/或射线衰减信息相对应。由此可通过射线全能谱曲线的峰值大小确定第二射线测量信号的信号特征(射线强度和/或射线数量和/根据监测射线测量信号测量信息中的第二射线测量信号的测量信息获得第二射线测量信号的信号特征，从而根据第二射线测量信号的信号特征(射线衰减和/或射线数量和/或射通过显示装置134以提示操作人员进行更[0123]步骤S108，监测装置140根据监测射线测量信号中的第二射线测量信号的测量信息对辐射装置里的放射源的活度进行检测，判断所述辐射装置110里的放射源的活度是否[0126]步骤c1，根据第二射线测量信号的测量信息获得第二射线全能谱曲线上的峰值所在的道址信息号码与辐射装置110产生的能量射线(第二射线160)所对应，峰值的大小对应第二射线测量信号的射线强度和/或射线数量和/或射线衰据该射线全能谱曲线的峰值的峰形确定峰边界(即确定峰的起始道址信息号码与终止道址和/或射线数量和/或射线衰减)。由此可通过该射线全能谱曲线的峰面积大小确定第二射三预设值或射线衰减大于第四预设值时，确定辐射装置110中的放射源的活度是否过低或声器135输出报警信号或主控制器130的显示装置134显示用来提示/提醒操作人员/用户进减较之前或其它别的情况会有很大的差别，故可据此判断出辐射装置110里的放射源是否控制器130的扬声器135输出相应的报警信号或主控制器130的显示装置134显示来提示放[0139]此外，也可将辐射装置140用于检测射线能谱的偏移从而对测量结果进行校准或导致射线能谱峰值对应的道址信息号码也会相应有所变化。监测装置140记录其检测形成据此时检测形成的射线全能谱曲线及此时能谱峰值与历史射线全能谱曲线及历史能谱峰制器130的有效探测射线测量信号(第一射线测量