CN118331834B 一种基于大数据的电源芯片测试数据处理系统及方法 （上海源斌电子科技有限公司）_第1页
CN118331834B 一种基于大数据的电源芯片测试数据处理系统及方法 （上海源斌电子科技有限公司）_第2页
CN118331834B 一种基于大数据的电源芯片测试数据处理系统及方法 （上海源斌电子科技有限公司）_第3页
CN118331834B 一种基于大数据的电源芯片测试数据处理系统及方法 （上海源斌电子科技有限公司）_第4页
CN118331834B 一种基于大数据的电源芯片测试数据处理系统及方法 （上海源斌电子科技有限公司）_第5页
已阅读5页，还剩17页未读， 继续免费阅读

下载本文档

版权说明：本文档由用户提供并上传，收益归属内容提供方，若内容存在侵权，请进行举报或认领

文档简介

一种基于大数据的电源芯片测试数据处理本发明涉及芯片性能测试数据管理技术领通过引导管理人员按照测试项序列开展性能测理人员对目标电源芯片开展性能检测时的检测效率，能够为出现性能下降现象的目标电源芯2步骤S1：提取对目标电源芯片所开展的所有历史性步骤S2：采集在每一历史性能测试记录中，对应各测步骤S3：梳理各测试项上在不同测试反馈结论的历史性步骤S4：根据各测试项上的相应测试反馈数据随步骤S5：将各测试项的检测关注度发送至管理终端，辅步骤S4_1：对每一测试项提取得到的每一特征相步骤S4_2：分别在每一测试项的目标记录组中，步骤S5_2：将所述测试项序列发送至管理人员终端，提3反馈数据与所述任一条历史性能测试记录中对应在某测试项A上的测试反馈数据最相似的步骤S3_3：提取在每一特征相对记录组中，属于第一计算在所述每一特征相对记录组中的测试运行环境信息变4.用于执行权利要求1_3中任意一项所述的一种基于大数据的电源芯片测试数据处理所述性能测试记录信息提取模块，用于提取对目标电源芯片所开展的所述性能测试记录信息梳理模块，用于采集在每一历史性能测试记项所得到的测试反馈数据以及相应的测试反馈结论，所述测试反馈结论包括正常和异常；所述检测关注度评估管理模块，用于根据各测试项上的相应测试反所述反馈管理模块，用于将各测试项的检测关注度发送至管理终端，辅助管所述数据采集管理单元，用于采集在每一历史性能测试记录中，对应各测试所述测试项信息梳理单元，用于分别在各测试项的第一记录集合和第二记录集合内，所述信息接收管理单元，用于接收所述检测关注度评估管理模块中的所述提示管理单元，用于将所述测试项序列发送至管理人员终45[0012]在本申请中传感器装置所采集的运行环境信息是能对目标电源芯片的性能造成6测试反馈数据与任一历史性能测试记录中对应在某测试项A上的测试反馈数据最相似的某[0021]若某测试项在相应所有特征相对记录组中出现的最小测试运行环境信息变更值U7容有利于将当目标电源芯片出现性能问题时，能够较快从数据观测的层面上观测出异常，集对应测试反馈结论为正常的所有历史性能测试记录，得到对应各测试项的第一记录集[0034]测试项信息梳理单元，用于分别在各测试项的第一记录89测试反馈数据与任一历史性能测试记录中对应在某测试项A上的测试反馈数据最相似的某其在测试反馈数据上满足最相似条件的历史性能测试记录，并构成相应的特征相对记录集对应测试反馈结论为正常的所有历史性能测试记录，得到对应各测试项的第一记录集[0066]测试项信息梳理单元，用于分别在各测试项的第一记录

人人文库> 全部分类> 行业资料 > 信息产业

温馨提示

  • 1. 本站所有资源如无特殊说明，都需要本地电脑安装OFFICE2007和PDF阅读器。图纸软件为CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.压缩文件请下载最新的WinRAR软件解压。
  • 2. 本站的文档不包含任何第三方提供的附件图纸等，如果需要附件，请联系上传者。文件的所有权益归上传用户所有。
  • 3. 本站RAR压缩包中若带图纸，网页内容里面会有图纸预览，若没有图纸预览就没有图纸。
  • 4. 未经权益所有人同意不得将文件中的内容挪作商业或盈利用途。
  • 5. 人人文库网仅提供信息存储空间，仅对用户上传内容的表现方式做保护处理，对用户上传分享的文档内容本身不做任何修改或编辑，并不能对任何下载内容负责。
  • 6. 下载文件中如有侵权或不适当内容，请与我们联系，我们立即纠正。
  • 7. 本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。

最新文档

评论

0/150

提交评论