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文档简介

本发明公开一种喷孔检测系统和喷孔检测一个喷孔在光源发光形成的光照区域滴墨后的喷孔检测中的第一电信号或者第二轮喷孔检测号进行放大得到第一放大信号或者对第四电信基于第一放大信号和第三放大信号得到喷孔检2光源和光电探测器;所述光源包括至少一个发光二极管;所述所述第一积分放大电路的输出端与所述第二积分放大电路的所述光敏二极管用于采集至少一个喷孔在所述光源发光形成的光照区域滴墨后的光轮喷孔检测中的所述光照强度信息转换为第所述第一积分放大电路用于将所述第一电信号对应的第三电信号进行放大处所述第一电信号和所述第二电信号均为模拟电流信号所述喷孔检测系统基于所述第一放大信号和所述第三放大信号得到喷孔检所述光敏二极管与所述VI转换电路相连;所述第一积分放大电路的输入端换电路的输出端相连;所述峰值检波电路的输入端与所述第一积分放大电路的输出端相所述VI转换电路用于将所述第一电信号转换为所述第三电信号;所述VI转换所述喷孔检测系统用于基于所述第一待检测电所述第一波形整形电路用于将所述第三放大信号进行模数转换得到第二待检测信号;所述喷孔检测系统还用于基于所述第二待检测信号确定所述放大电路的输入端为所述光通路检测电路的输入端,所述放大电所述放大电路用于将所述第三电信号或者所述第四电信号进行放所述第二波形整形电路用于将所述第四放大信号进行模数转换得到第三待检测信号;3所述喷孔检测系统还用于基于所述第三待检测信号确认所述光电探测器是否正常工所述喷孔检测系统接收第一轮喷孔检测中的第一将所述第一电信号对应的第三电信号发送给所述第一积分接收所述第一积分放大电路对所述第三电信号进行放大处理以后得到的第一放大信接收第二轮喷孔检测中的第二电信号;其中,所述第一电所述光敏二极管采集至少一个喷孔在所述光源发光形成的光照区域滴墨后的光照强度信将所述第二电信号对应的第四电信号发送给所述第一积分放大电接收所述第二积分放大电路对所述第二放大信号进行放大处理后得到的第三放大信基于所述第一放大信号和所述第三放大信号得到喷孔依次控制多个喷头中的每一列喷孔沿着第一移动方向移动至所述光控制每一列喷孔中每一组喷孔中的所有喷孔按照次序在所述光照区域进行连续滴墨在每一列喷孔完成所述连续滴墨步骤后,控制每一列喷孔中每45[0003]现有检查喷孔堵塞的方法是打印在承印物上一些图像,继而决定是否清洗。这个过程需要依靠人为参与,耗费人力成本,而且针对特殊打印材料所述第一积分放大电路的输出端与所述第二积分放大电路的所述光敏二极管用于采集至少一个喷孔在所述光源发光形成的光照区域滴墨后所述第一积分放大电路用于将所述第一电信号对应的第三电信号进行放大处理,所述喷孔检测系统基于所述第一放大信号和所述第三放大信号得到喷孔检测结6所述峰值检波电路用于将预设数量个第一放大信号进行累计得到第一待检测电所述喷孔检测系统用于基于所述第一待检测电所述第一波形整形电路用于将所述第三放大信号进行模数转换得到第二待检测所述喷孔检测系统还用于基于所述第二待检测信号确定所述第二波形整形电路用于将所述第四放大信号进行模数转换得到第三待检测所述喷孔检测系统还用于基于所述第三待检测信号确认所述光电探测器是否正所述喷孔检测系统接收第一轮喷孔检测中的第一将所述第一电信号对应的第三电信号发送给所述第一积分接收所述第一积分放大电路对所述第三电信号进行放大处理以后得到的第一放均由所述光敏二极管采集至少一个喷孔在所述光源发光形成的光照区域滴墨后的光照强7接收所述第二积分放大电路对所述第二放大信号进行放大处理后得到的第三放基于所述第一放大信号和所述第三放大信号得到喷孔控制每一列喷孔中每一组喷孔中的所有喷孔按照次序在所述光照区域进行连续区域连续滴墨后的第一光照强度信息,并将所述第一光照强度信息转换为所述第一电信8光电探测器至少包括光敏二极管21、第一积分放大电路22和第二积分放大电路第一积分放大电路22的输出端与第二积分放大电光敏二极管21用于采集至少一个喷孔在光源发光形成的光照区域滴墨后的光照9一放大信号;第一积分放大电路22还用于将第二电信号对应的第四电信号进行放大处理,喷孔检测系统基于第一放大信号和第三放大信号得二极管10的发射角度和光敏二极管21的接收角度均为6度时的第一检测范围,与发光二极管10的发射角度为6度和光敏二极管21的接收角度时均为40度的第二检测范围,可得到第利用第一积分放大电路对第一电信号对应的第三电信号进行放大处理,得到第一放大信系统可以根据第三放大信号判断出当前喷孔现这个提速功能主要需要对第一积分放大电路进行电路结构配检测系统可以根据第五放大信号判断当前的喷孔组峰值检波电路25用于将预设数量个第一放大信号进行累计得到第一待检测电信个第二电压第积分放大电路对其进行放大而峰值检波电路将第二电压和第电压加个第二电压第积分放大电路对其进行放大而峰值检波电路将第二电压和第电压加喷孔检测系统还用于基于第三待检测信号确认光者光源光柱未照射到探测器时,光敏二极管感知到的光照强度为0,电路可以表征为高电下对本发明实施例提供的一种喷孔检测方法进行介绍,该方法和上述喷孔检测系统对应,步骤130:接收第一积分放大电路对第三电信号进行放大处理以后得到的第一放大电路用于对第四电信号进行放大处理得到步骤170:接收第二积分放大电路对第二放大信号进行放大处理后得到的第三放依次控制多个喷头中的每一列喷孔沿着第一移动方向移动控制每一列喷孔中每一组喷孔中的所有喷孔按照次序在光照区域进行连续滴墨发光二极管和光敏二极管对射,当有墨滴经过光柱时对光柱形成遮挡从而改变光照强度,的大小会影响光敏二极管检测到的光照强度,进而影响模拟输出电路输出的电压变化值,差作为目标电压值变化量,再根据模拟输出电路输出的电压值和目标电压值变化量的比连续下落的墨滴对光线形成遮挡,在垂直于光敏二极管和发光二极管连接方向的平面上,附权利要求所界定的本发明的示例性说明,且视为已覆盖本发

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