ict 测试原理PPT

1、2020/6/22,1,版权所有, 2000 (c) TRI 德律泰电子（苏州）有限公司.,在线测试仪应用原理篇,制作 Winchl Cheng Training(R) for TR-518F Series Date:12/01/2000,应用教程（二）,Http:/ E-Mail:winchl,2,2020/6/22,電阻測試,系统依标准值（STD_V）选取相应大小的电流源。被測電阻愈大, 測試電流須更小, 以確保量回被測電阻兩端的電壓VO在規定的範圍(0.151.5V)之內.,3,2020/6/22,GUARDING原理,（隔離點的選擇,通過按F7或ALT+F7,或者加適當延時等修改後再按

2、F7或ALT+F7由系統自動完成,絕大多數可達到效果. 經驗表明,隔離點太多,測量值可能不穩定. 一般選擇02個隔離點可以滿足要求,並且隔離點的選擇一般僅隔離一面. 如果按F7或ALT+F7後,系統選擇的隔離點太多,則要重新作自動隔離,以找到一種隔離點較少且測量效果最好的方案.）,4,2020/6/22,RX / R,量回的阻值 Rm = Rx * R / (Rx + R) Rx . 量回的阻值 Rm = Rx * R / (Rx + R) Rx .,5,2020/6/22,Rx / C,6,2020/6/22,Rx / C,測試順序是: 放電, 充電和電壓測試. 如FIGURE 4示 .,考

3、慮到電容的分流, 要先對其充電, 經過T2以后, Ic0. 此時可量回准確的阻值. 故遇到R/C的情形, 釆用定電流源測試時, 須加DELAY TIME.且電容越大,延遲要更久,才能得到准確值.,7,2020/6/22,當C較大(級以上)時,當C較大(級以上)時, 若仍釆用定電流源方式, 則電容會將電流源分流,直至電容充飽時才成斷路, 這樣會消耗太久測量時間. 此時改以電壓源(0.2VDC)對電容充電, 迅速將電容加至0.2VDC (斷路), 再量回電流Ix值, 即可求得Rx,( RX = 0.2VDC/IX ),在TR-518F系列测试仪中,選擇MODE2: HIGH SPEED FOR R

4、/C , 再加适量延時即可。,8,2020/6/22,EXAMPLE：, 如果在被測電阻RX的相關電路中有電容存在 , 如FIGURE 10示 . 通過設置虛地隔離點,可以提高測試速度, 見FIGURE 11, 12 .,9,2020/6/22,Comparation：,10,2020/6/22,RX / D ( FIGURE 6 ),推而廣之,電阻與帶PN結的零件并聯.( 包括D, ZEN, TR, FET, IC , etc ).,11,2020/6/22,MODE 0 MODE 1,假設 RX = 2k 若 IS = 500A 則 VR = IS * R = 500 * 10-6(A)

5、* 2 * 103() = 1(V) 此時D已導通, 將Rx兩端限壓至約0.7V. 那么RM = 0.7(V) / (500 * 10-6(A) = 1.4 * 103() = 1.4k Rx .,此時, 要改以低一檔電流源測試. 在TR-518F系列测试仪中為MODE1. 若 IS = 50A 則 VR = IS * R = 50 * 10-6(A) * 2 * 103() =0.1(V) 此時D仍處于截止狀態, 故可量得正確的Rx值. 即 R M = 0.1(V) / (50 * 10-6(A) = 2 * 103() = 2(K) = Rx .,结论：釆用低一檔電流源,可避免D的“限壓”

6、.,12,2020/6/22,另外,互換高低點(HI-PINLO-PIN). 即IS從DIODE的陰極注入, 亦可避免D的“限壓”. 互換高低點不可行的情況可能出現在以下連接電路.,13,2020/6/22,RX/D/C,而對于RX/D/C, 見FIGURE 7 .在TR-518F系列测试仪中,選擇MODE2: HIGH SPEED FOR R/C ,因電壓源為0.2VDC, 故D仍處于截止狀態, 亦可避開D的“限壓”.,14,2020/6/22,RX / L ( FIGURE 13 ),15,2020/6/22,RX / L,若仍以電流源量測Rx. 由于L的暫態為由“OPEN”至“SHORT

7、”,其暫態時間不易控制, 而穩態時電感相當于“SHORT”,將電流源完全分流, 致Vx0, 此時, 須以AC來測量, 使得L呈現一阻抗值(愈大愈好). 再利用相位差即可計算出Rx, 見 FIGURE 14 .,16,2020/6/22,四點測量,適用于小電阻的精確測量. ( 如為兩點測量,則RM = RAB RX ),17,2020/6/22,電容測試,由OSC分別產生1kHZ / 10kHZ / 100kHZ / 1MHZ 的AC輸出信號, 其振幅均為固定(40mVrms) (FIGURE 16 ) VS / IX = XC =1 / ( jCX )= 1 / ( 2f CX ) 量回IX

8、的振幅, 即可求得CX .,18,2020/6/22,DC法 (3F以上),對于大電容, 若使用上述AC電壓源模式測試時, 將需要較低頻率來測試,從而增加ICT的測試時間. 另外,大電容交流阻抗很小, 如此無法判斷電容內部是否有短路發生.,19,2020/6/22,此時須以DC測量, 見FIGURE 17 . 測試順序 (FIGURE 18 ):,在被測電容上加載定電流, 然后通過測量其積分電壓, 計算其電容值.,20,2020/6/22,CX / C,CM = CX + C CX,21,2020/6/22,CX / R ( FIGURE 19 ),釆用AC常規法, 則因R的分流會使CM CX

9、 .,相位分離法 ( FIGURE 20 ),22,2020/6/22,電感測試, AC法 ( FIGURE 21 ) FIGURE 21 AC信號源與電容同. VS / IX = XL =jLX= 2f LX 量回IX振幅, 即可求得LX,23,2020/6/22, DC法,此時, 電感相當于一個非常小的電阻, 在TR-518F系列测试仪中, 將TYPE設為R,即將其當作小電阻測試, 這樣亦可測出電感的漏件和斷路情形, 但對于內部短接則不可測出, 比如TRANSFORMER內部相鄰的兩匝線圈因絕緣不良而短接或者線圈匝數改變, 如仍以R方式, 則無法測試, 此時仍須用L方式較為有效. R方式可

10、作為電感的一種輔助測試方式.,24,2020/6/22,LX / R ( FIGURE 22 ),相位分離法 ( FIGURE 23 ),25,2020/6/22,DIODE,D ( 各種零件的PN結, 包括D, ZEN,LED,TR, FET, SCR,TRIAC, PHOTO COUPLER, IC , etc ).,測試範圍:,26,2020/6/22,齊納二極體(ZENER)的齊納電壓.,對于大于10V的齊納電壓, 當錯成齊納電壓為10V以下的齊納二極體時,應在可測之列. TR-518FR的最大测试电压则为48V。,對于TR-518F，TR-518FE测试仪, 由于系統最大僅提供10V

11、以下電壓, 故齊納電壓的測試範圍為0.010V.,27,2020/6/22,LED,此時, 將ACT_V及STD_V均設為2V或更高, 這樣可看到LED發光. 不然, 要適當延時, 亦可看見發光.,28,2020/6/22, 電容極性測試,測試方式: 以可程式電壓源, 對電容充電,直至充飽后, 再測量正向漏電流. 正常情況下,反向漏電流會很大.據此可測插反情形. 但實際中, 由于大量主,被動元件對電流的分流作用, 對電容的極性測試比較有限, 須小心試之 。,電容極性測試的另一方法是三端測試, 須在上方加一探針觸及殼體. 在電容的正負極加載直流電壓, 至充飽后測量殼體電壓. 由于正負極與殼體間的

12、阻抗差異, 故對于插反的電容所測量到的殼體電壓會與正確時不同. 據此可判別電容的極性.,29,2020/6/22,DX / D,如FIGURE 24示, 兩個二極體(推而廣之,指PN結)異向并聯, 這時正,反兩方向所測量到的電壓均約為0.7V. 如以單步測試, 則可能出現其中一顆DIODE漏件(或開路)或插反不可測的情況,故須釆用正,反向雙步測試.這樣,如有一顆漏件或插反, 則兩步當中必有一步測量結果遠大于0.7V. 而對于同向并聯,雖然漏件(或開路)必不可測,但增加一步反向測試,則插反必可以測.,請注意: 釆用正,反向雙步測試有時甚至可偵出D錯件或元件不良.因此,建議在編制測試資料時,所有二極體均釆用正,反向雙步測試.方法如下: 按CTRL+ENTER插入一步後,分別將Stand_V設置為9.9V, MODE為1, RPT為5/D, 如并聯大電容,則要足夠延時. 再按F8得Meas_V,然后以Meas_V修改Stand_V,設+/-Lm%為2030(不提倡使用-1),30,2020/6/22,DX / D,31,2020/6/22,DX / C ( FIGURE 25 ),測試方式: 以可程式電壓源加載電流, 對電容進行充電,在充飽后測量其電壓. TR-518F系列测试仪提供MODE0 ( 3mA ); MODE1 ( 20 f