光传输设备培训之SDH常用指标测试(ppt 40页).ppt

1、1，TA057901 SDH通用指标测试，2，主要内容光端口，电气端口，错误代码，抖动和漂移概念以及测试原理和方法。目标1，掌握光端口、电端口测试指标概念、测试原理和方法；2、掌握故障性能测试指标概念、测试原理和方法。3、掌握抖动和漂移的概念、测试原理和方法；设备测试原理，3，光纤接口类型：应用领域，国与国之间短距离，光源波长(nm)，1310，1310 1550 1550 1550 1550，光纤类型，g.652，g.652g.652g.652g 系统运行波长选择的限制：模式噪声-传输质量影响光纤衰减-功率减少光纤分布式-代码之间发生干扰，设备测试原理，用于多模式传输的5，1，850nm :

2、用于单模式传输的1310nm:用于光传输的分布式最小值(0分布式)3，110 G.653光纤(色散位移光纤):在1550nm波长窗口中色散性能最好；1550nm波长区域中的光信号在单波高速光信号3、G.655光纤：在1550nm波长窗口中衰减性能最好，具有一些色散；1550nm波长区域中的光信号和DWDM光信号；光纤类型：光纤类型三种类型的光参数：S点光传输参数R点光接收参数S-R之间的光参数，参数指标中规定的标准：衰减，分布式最坏条件，再生段BER110-10，设备测试原理，8，S点参数-发光最大-20dB带宽是A2-A1、设备测试原理、9、S点参数-发光器参数、2、最小边缘模式抑制比(SM

3、SR)、最差反射条件下主纵向模式下的平均光功率P1和最重要边缘模式下的平均光功率P2的比率最小值。 smsr=10lg (P1/p2) 30db，3，消光比EX1，由信号“1”定义的平均发光功率a与信号“0”的平均光功率b比率的最小值。ex=10lg (a/b)，ITU-t建议的远距离ex=10db其他情况下为8.2dB，设备测试原理，10，S点参数-发光机械参数，4，公称光源类型，光发射器使用的激光设备类型：发光二极管lee，5，发射信号波形(安道尔)，设备测试原理，11，R点参数-接收器光参数，BER，接收光功率，A，B，110-10，A点是接收灵敏度点，B点是光电说明：发射器发送的光功率

4、与发送的数据信号的“1”相关，“1”越多，发送的光功率就越大。当传输的数据信号是伪随机序列时，“1”和“0”大约占一半，在这种情况下，光功率被定义为平均发射光功率。，设备测试原理，14，光端口指数1，平均发射光功率测试框图：测试步骤：按上图连接电路；SDH设备的常规输入不需要发送信号。要发送伪随机代码，请执行以下操作：光功率计设置在正在测量的波长上，从光功率计读取平均发射光功率，直到输出功率稳定。设备测试原理，15，光学端口指数2，接收机灵敏度定义：r基准点(光盘IN端口)可达到指定比特率(BER=110-10)的最小平均光功率。设备测试原理，16，光学端口指数2，接收器灵敏度测试阶段：1)按

5、上述图连接电路2)按监控错误代码将测试信号发送到通道级别，SDH分析器PRBS，2M分支输入端口(或线路输入端口)；3)调整光衰减器并逐渐增加衰减值，以使SDH分析器尽可能接近错误代码，但不大于规定的BER(通常BER=10-10)，观察时间为10分钟；4)分离r点，将光衰减器连接到光功率计，读取r点的接收光功率，即接收器灵敏度。设备测试原理，17，光端口指数3，接收器过载功率定义：r基准点(光板IN端口)可达到指定错误代码(BER=10-10)的最大平均光功率。测试方法：相同的接收灵敏度测试方法。摘要：接收器运行的范围有限制。光功率太强可能导致错误代码或损坏收集模块。光功率太弱会产生错误代码

6、或接收哑光。光板接收到的信号不能太强或太弱。只有当接收光电力在一定范围内时，光板才能稳定工作。设备测试原理，18，光端口指示符4，光输入端口允许频率偏移定义：指示光输入端口在接收信号正常时允许输入光信号的最大频率偏移范围。指标要求：再生器的内部振荡器在自由操作模式下，长期频率稳定性不能低于2010(ppm)，下游SDH设备输入部需要这些信号正常工作。测试配置：设备测试原理，19，光学端口指示符4，光学输入端口允许频偏测试阶段：按图连接电路(要执行故障监控的分支通道为环路，同步源设置跟踪线路时钟)。测试接口速度等级SDH分析器(传输)发送相应的测试信号(无频率偏移、抖动)。将测试信号从测试目标设

7、备的输出端口接收到SDH分析器(接收)，并检测错误代码。仪表应该没有警报，错误代码。SDH分析器(发射信号)添加了正频率偏移或负频率偏移(范围20ppm)，在整个过程中测试的设备必须没有错误代码。设备测试原理，20，光纤端口指标5，光纤输出端口AIS速度： (输出频率偏移)定义：在SDH设备丢失输入光纤信号等故障情况下，输出端口向下游发送AIS信号的速度范围。指标：速度偏差在20ppm以内。设备测试原理，21，测试配置：配置等光输入端口允许频偏测试。测试阶段：按图连接回路；按照正在测试的接口速度等级，SDH分析器(发射)发送相应的测试信号。将测试信号从测试目标设备输出端口接收到SDH分析器(接

8、收)。分离输入光信号时，SDH分析器(接收)必须接收AIS信号。SDH分析器(接收)读取AIS的速率。设备测试原理，22，抖动和漂移定义：抖动和漂移与系统的时序特性有关。定时抖动(抖动)表示数字信号的特定时间(例如，最佳采样时间)相对于理想时间位置的短时间偏差。所谓短时间偏差是指变更频率高于10Hz的相位变更。漂移表示数字信号的特定时刻的理想时间位置的长偏离，所谓长度表示波动频率小于10Hz的相位变化。设备测试原理，23，抖动性能规范：1)输入抖动容限：输入抖动容限分为两个输入抖动容限：PDH输入端口(分支)和STM-N输入端口(线路端口)。a，对于PDH输入端口，该输入端口在防止设备生成错误

9、代码时可承受的最大输入抖动值。b，线路端口(STM-N)输入抖动容限定义为正弦峰值抖动值，从而导致照明设备的功率成本为1dB。此参数用于允许SDH网络元素相互连接，以包含传输STM-N信号时父网络元素生成的输出抖动。设备测试原理，24，抖动和漂移性能2)输出抖动类似于输入抖动容差，分为PDH分支和STM-N线路端口。定义为设备输入没有抖动时端口输出的最大抖动。SDH设备的PDH分支端口的输出抖动必须确保SDH网络元素的PDH业务能够承受接收此PDH信号的设备。STM-N线路端口的输出抖动必须使接收此STM-N信号的SDH网络元素能够承受。设备测试原理，25，抖动和漂移性能3) PDH/SDH网

10、络边界中的指针调整和映射会生成SDH的固有抖动，因此，为了调节这些抖动，我们将使用贴图抖动和组合抖动来描述这些抖动。映射抖动是指在SDH设备的PDH分支端口上输入不同频率偏移的PDH信号，在STM-N信号上未发生指针调整时，设备的PDH分支端口输出PDH分支信号的最大抖动。组合抖动是指在SDH设备线路端口上输入符合G.783标准的指针测试序列信号。此时，当SDH设备调整指针以相应地更改输入信号频率偏移时，设备的PDH分支端口上作为输出信号测量的最大抖动是设备的组合抖动。设备测试原理，26，抖动和漂移指示器4)抖动传输函数抖动传输特性通过对输入STM-N信号抖动的设备输出抖动的抑制功能(即抖动增

11、益)来控制线路系统的抖动积累，从而防止系统抖动的快速积累。抖动传输函数定义了设备输出的STM-N信号的抖动和设备输入的STM-N信号的抖动的比率取决于指示抖动频率的频率的关系。设备测试原理，27，电气端口指示符1，输入端口允许频率偏移定义：接收信号正常时电气输入端口可输入的最大频率偏移范围指示符要求：|50| ppm(参见g.703.1，8.1，9.1，12.1)测试配置b)从PDH/SDH分析器发件人(或模式发生器)发送符合G.703标准的衰退电缆，将PDH/SDH分析器输出信号频率调整到相应的规格值，接收方应没有错误代码。设备测试原理，29，电气端口指示器2，PDH输入端口抖动容限：为了确

12、保通信设备的正常运行，传输设备必须容忍信号传输过程中可能发生的最大抖动方法：PDH/SDH分析器发件人(或模式发生器)发送符合G.703标准的衰退电缆，PDH/SDH分析器输出信号抖动，设备测试原理，30，电气端口指示器3，PDH输出抖动：为了确保通信设备的正常运行，传输设备输出信号的抖动值不应大于接收端设备的最大抖动容差。方法：从PDH/SDH分析器发件人(或模式发生器)发送侧G.703规格的衰退电缆，调整PDH/SDH分析器以确定输出抖动值，而不在输出信号中使用抖动振幅。设备测试原理，31，定义错误性能指标：错误代码是指接收、判断、重新生成后，数字代码流中的特定位发生错误，从而损害传输信息

13、的质量。错误性能度量：衡量64kb/s的传统错误性能度量(G.821)是完全连接的数字参考电路在27500km的错误性能，基于位错误条件。传输网络的波特率越来越高，以位为单位测量系统的错误性能就受到限制。当前高比特率(2M和2M以上的电路)通道的错误性能是按ITU-T G.826建议和M.2100建议以块为单位测量的代码块(B1、B2、B3监视是错误块)，生成基于块的参数集。这些参数的含义是，设备测试原理，32，错误性能指标错误块块的比特中发生传输错误时，该块称为错误块。错误块秒(ES)和错误块秒速率(ESR)将每秒遇到一个或多个错误块的时间视为错误块秒。指定测量期间内发生的错误区块秒总数，称

14、为错误区块秒与可用总时间的比率。设备测试原理，33，致命故障块秒(SES)和致命故障块秒速率(SESR)如果在特定秒内包含30%以上的故障块，或至少发生一个严重故障时段(SDP)，则将该秒视为严重故障块秒。其中，严重扰动周期是指在测量4个连续块时间或1毫秒(两者中的较长时间)对应的时间段内，所有连续块的位错误率10-2或信号丢失。测量期间内发生的SES总可用时间与总可用时间的比率称为严重错误区块秒比率(SESR)。严重故障块秒通常是脉冲干扰导致的突然故障块，因此SESR通常反映出设备的抗干扰能力。设备测试原理、34、错误性能指标后台错误块(BBE)和后台错误块率(BBER)将不可用时间和SES中发生的错误块减去为后台错误块(BBE)。BBE与SES时段中不可用时间和所有块数之和后的总块数(BBER)之比。如果此测量时间较长，BBER通常反映设备内部有关采用设备的性能稳定性的错误情况。电气故障代码测试配置：设备测试原理，35，测试步骤1)按上图连接电路。2)模式生成器根据测试的系统接口速度等级选择相应的PRBS，向测试目标系统输入端口发送测试信号。(3) 24小时后，在测试仪表中读取测试结果(打印)。电气代号测试配置：设备测试原理，36，保护切换测试保护切换标准为以下之一：(1)信号丢失(LOS) (2)帧丢失(LOF) (3)警报