位置度平面度测量

1、、1、位置平面度的定义标记和测量，陈世民的制作，张光明的指导，目录，提高认识达到统一二公差基础知识三位置度的定义标记和测量，提高认识达到统一，连接器设置修订中位置平面度的标记和测量是重点和难点。 目前，D/T工程部件保持部及台北对位置平面度的显示和测量尚未达到统一的认识。 以MINI PCI 4.0H的客户图为例，从8月9日到8月29日，D/T与台北发送了10次以上的电子邮件。 其中讨论的要点之一是位置的标记。 本报告是为了提高和统一对位置平面度的认识而制作的。 BACK，二公差基础知识，(一)公差实际尺寸相对于理论尺寸的允许变化范围，即从实际尺寸减去理论尺寸得到的差在公差允许范围内的话，那个

2、尺寸合格。 例如，对于30.000.05，如果实际测量的尺寸为30.03，则30.03-30.00=0.03在-0.050.05的范围内，因此该尺寸合格。 公差定义是公差尺寸和测量的依据。二公差基础知识、(二)基准为了修正或参考目的而在实体上设定虚线平面柱轴等，是通过与这些工件上其他形状的位置的几何关系而正确确立的。 因为基准曲面基准表单是用于建立基准的实际工件的曲面或表单，所以曲面或表单仍然精确，并且符号-A-、二公差基础知识、基准符号形位公差符号的位置在一个尺寸之下、二公差基础知识、 基准符号形位公差符号的配置2体的延长线3尺寸的延长线、尺寸线的延长线、体的延长线、二公差基础知识(3)公差

3、的分类1尺寸公差控制体尺寸2形状公差直线度圆筒度线轮廓度曲面轮廓度3位置公差位置公差(位置对称度同心度)偏差公差(圆偏差全偏差)、二公差基础知识、(4) (5)公差原则1 .独立原则模式上给出的几何公差与尺寸公差无关，分别满足功能要求的公差原则。 这个原则是几何公差和尺寸公差相互关系的基本原则。 二公差基础知识，2 .关联原则2-1 .在测量最大实体原则时取得被测量要素的最大实体的公差原则下图所示的左图是尺寸表示右图是实测时能够取得的值，二公差基础知识，2-2 .在测量最小实体原则时取得被测量要素的最小实体的公差原则，包含原则，则该几何公差的值应用于实际的形状尺寸的变化以0.6 B-T-B C

4、ONN W/POST 40P(M )的孔规格设定修正为例，其端子公差由二公差基础知识、端子的尺寸公差和位置公差可知，由于端子容许的变动范围在以其理论位置为中心对称的0.32的包含面内， 孔规格设定修正时公差如下设定的其公差带图如下：二公差基础知识、尺寸公差为-0.02即尺寸为0.28时的位置公差为0.04、其尺寸公差为0.02即尺寸为0.32时的位置公差为0。 在任何情况下，该孔的实际轮廓总是位于关于理论位置对称的0.32的包含平面内。 BACK，三位置度的定义尺寸和测量，(1)位置度定义了一体型的轴线或中心平面相对于真实位置的可允许变动的范围，即一体型的轴线或中心平面的实际位置相对于理论位置

5、的可允许变动范围。 定义轴或中心曲面的意思是避免成形大小的影响。 三位置的标记和测量，(二)位置的三要素1 .基准2 .理论位置值3 .位置公差，三位置的标记和测量，(三)位置公差带位置公差带将理论位置、位置公差带、三位度的标记和测定、(四)位置的标记和测定4-1.0.6 B-T-B CONN W/POST(M) 40P位置的标记和测定两组中归零，首先测定左柱宽1.00，然后第一次组中归零(右柱宽) 测量到右柱两侧的距离14.2514.95，以第二次设定中归零、3中心线左边的第二个端子为例，实际尺寸D1(0.82)D2(1.02 )由于位置公差，de=ABS (da-dt )=ABS (d1d

6、2)/2 -。 DE表示实际偏差，abs表示绝对值，Da表示实际位置尺寸，Dt表示对于理论位置尺寸不同的端子，在它们的理论位置尺寸不同的测定时，测定者必须自己进行修正，三位置度的尺寸和测定、注意位置度没有正负的分量，但在这里是区别其方向的式中的D1D2Dt 此外，也可以根据上式提出其他的测量方法，但是个人建议采用上述的方法，三位位置的标记和测量、de=ABS (da-dt )=ABS (d1d2)/2-dt )=ABS (d1dt ) (dt-dt ) back、三位置4-2.IDE 44P垂直位置标记和测量、如图所示，IDE 44P端子在垂直方向上具有以下特征的列数少(只有2列)每列的端子数

7、多(达到22PIN )长度的值是端子材料厚度值以下列端子为例介绍其测量方法。 如果测量三位数的尺寸和测量、方柱的垂直方向上的1.70的实际尺寸，则将中心设为零，向下偏移2.00，然后设为零，三位数的尺寸和测量、 3分别找到位置向上和向下偏移的最大端子，测量该端子的上下面的距离，测量端子的实际材料厚度值de1=d1- t/2=0. 15-0.20/2=0. 05 de2=d2- t/2=0. 17-0.20 /，4-3.mini PCI 相对于MINI PCI 4.0H存在的两个位置的程度，一个是端子锡脚的位置的程度，该位置的程度以POST为基准控制端子锡脚和PCB基板的组合的位置的程度公差0.

8、18， 另一种是对于端子接触区域的位置的程度为KEY的第一个位置，其尺寸方式统一，对于第二个位置，第三个位置的尺寸和测量，第一个尺寸方式直接测量，用该方式测量时，对于直接124个端子接触区域，一个一个地测量其位置，这是因为端子接触区域包含在主体内部三位置的尺寸和测量、第二尺寸方式间接测量，由于端子通过材料成型插入到主体槽中的槽控制端子的平面度，因此只需控制KEY相对于POST的位置，就能根据端子锡脚相对于POST的位置来控制端子接触区域相对于KEY的位置，其测量误差直接测量为推荐这样的标注方法。 BACK、三位置的标记和测定、4-4 .位置的其他标记和测定、BACK、三位置的标记和测定、该位置

9、的公差带是以理论位置为中心的直径0.30的圆，对每个端子测定水平位置Th和垂直位置Tv后，满足式Th Tv0.15 、BACK、四平面度的定义尺寸和测量，(1)平面度的定义曲面轮廓度一个面可以单向或双向轮廓均匀位移的区域。 平面度其实是曲面轮廓度的特例。在连接器设定修正中，将端子站的脚和TAB (或LATCH )的表面视为一体，相对于PCB的表面要求0.1mm以内的平行区域内，因此，通常将这三者的曲面轮廓度称为平面度。四平面度的定义标记及测量，(二)平面度的测量标准，如上图测量平面度时，以P1P2P3等不同平面为基准测量的平面度值也明显不同。 在这些基准面中，只有以最终载置面或接合面为基准测定的平面度为被测定面的有效平面度值。 四平面度的尺寸和测量、(三)平面度的尺寸和测量除了如下图所示在测量平面度时将其轮廓变化范围限制在0.10mm的公差带范围以外，还必须限制该公差带的倾斜角度。 在连接器设定修正中，通过限制该公差带的位置来限制其倾斜角度。 下面以0.6 B-T-B(M