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文档简介

1、LLCR 測試原理,Upright Gao,Content,1.LLCR 定義 2.測試原理 3.失效模式,LLCR定義,CR : Contact Resister 測試條件一般使用 DC5V 1A or 0.1A LLCR : Low Level Contact Resister 測試條件 DC20mV 0.1A以下,使用LLCR測試之原因,1.任何金屬表面可能有 a.灰塵 b.氧化物 c.油污 等 雜質 , 當兩金屬表面接觸後該介質會影響電流之流 通 , 一般稱之為接觸電阻 . 2. 為確保 Connector 在任何環境及使用條件皆可導通故以低電壓 ( 20mV 以下 ) 低電流 (0.

2、1A以下 )測試接觸電阻 , 稱之 LLCR ( 因以太大之電壓、電流測試時 , 火花會將該層介質打穿 ),測試原理,利用 V = I x R R = V / I,I,V,定電流,+,-,R,I,以 4 線式量測,探針,端子,接觸點,測試原理,以 4 線式量測,接線,探針電阻,LLCR,探針電阻,端子材料電阻,Rp1,Rp2,Rp3,Rp4,RCR,測試原理,Rp1,Rp2,Rp3,Rp4,RCR,I1,I,Vm,VCR = I1 x RCR,VCR =VRP2 + VRM + VRP4,I2,內阻Rm=106歐姆,Rm,測試原理,VCR =VRP2 + VRM + VRP4 VRM =VCR

3、 - VRP2 - VRP4 因為 RM = 10 6 10 7 歐姆 RP2 , PR4 RP2 & PR4 I1 I I2 0 所以 VRM VCR 量測值 R = VRM / I,測試原理,失效模式 A,VCR =VRP2 + VRM + VRP4 VRM =VCR - VRP2 - VRP4 如果 RP2 , PR4 100k 歐姆 VRM VCR,探針或接頭老舊,失效模式 B,探針,端子,接觸點,一根探針接兩條測試線,接線,失效模式 B,探針電阻,LLCR,探針電阻,端子材料電阻,Rp1,Rp3,RCR,失效模式 B,Rp1,Rp3,RCR,V,I,內阻Rm=106歐姆,Rm,I1,I2,I3,失效模式 B,因為 RM (RP1 + RCR + RP3 ) 所以 I3 0 I2 = I1 V = I x ( RP1 +

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