实验一组合逻辑电路设计(含门电路功能测试)_第1页
实验一组合逻辑电路设计(含门电路功能测试)_第2页
实验一组合逻辑电路设计(含门电路功能测试)_第3页
实验一组合逻辑电路设计(含门电路功能测试)_第4页
全文预览已结束

下载本文档

版权说明：本文档由用户提供并上传，收益归属内容提供方，若内容存在侵权，请进行举报或认领

文档简介

1、.实验一组合逻辑电路设计（含门电路功能测试）一、实验目的1.掌握常用门电路的逻辑功能2.掌握小规模集成电路设计组合逻辑电路的方法3.掌握组合逻辑电路的功能测试方法二、实验设备与器材数字电路试验箱双踪示波器稳压电源数字多用表74LS20二 4 输入与非门74LS00四 2 输入与非门74LS10三 3 输入与非门三、实验原理TTL 集成逻辑电路种类繁多，使用时应对选用的器件做简单逻辑功能检查，保证实验的顺利进行。测试门电路逻辑功能有静态测试和动态测试两种方法。静态测试时， 门电路输入端加固定的高（ H ）、低电平，用示波器、万用表、或发光二极管（LED ）测出门电路的输出响应。动态测试时，门电路

2、的输入端加脉冲信号，用示波器观测输入波形与输出波形的同步关系。.下面以 74LS00 为例，简述集成逻辑门功能测试的方法。74LS00 为四输入2 与非门，电路图如 3-1 所示。 74LS00 是将四个二输入与非门封装在一个集成电路芯片中，共有14 条外引线。使用时必须保证在第14 脚上加 +5V电压，第7 脚与底线接好。整个测试过程包括静态、动态和主要参数测试三部分。表 3-1 74LS00 与非门真值表ABC0010111011101.门电路的静态逻辑功能测试静态逻辑功能测试用来检查门电路的真值表，确认门电路的逻辑功能正确与否。实验时， 可将 74LS00 中的一个与非门的输入端 A 、B 分别作为输入逻辑变量，加高、低电平，观测输出电平是否符合 74LS00 的真值表（表 3-1 ）描述功能。测试电路如图 3-2 所示。试验中 A、 B 输入高、低电平，由数字电路实验箱中逻辑电平产生电路产生，输入 F 可直接插至逻辑电平只是电路的某一路进行显示。.仿真示意2.门电路的动态逻辑功能测试动态测试用于数字系统运行中逻辑功能的检查，测试时， 电路输入串行数字信号，用示波器比较输入与输出信号波形，以此来确定电路的功能。实验时，与非门输入端A 加一频率为1kHz的脉冲信号Vi ，如图 3-3 所示，另一端加上开关信号，观测F

人人文库> 全部分类> 行业资料 > 管理策划

温馨提示

  • 1. 本站所有资源如无特殊说明，都需要本地电脑安装OFFICE2007和PDF阅读器。图纸软件为CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.压缩文件请下载最新的WinRAR软件解压。
  • 2. 本站的文档不包含任何第三方提供的附件图纸等，如果需要附件，请联系上传者。文件的所有权益归上传用户所有。
  • 3. 本站RAR压缩包中若带图纸，网页内容里面会有图纸预览，若没有图纸预览就没有图纸。
  • 4. 未经权益所有人同意不得将文件中的内容挪作商业或盈利用途。
  • 5. 人人文库网仅提供信息存储空间，仅对用户上传内容的表现方式做保护处理，对用户上传分享的文档内容本身不做任何修改或编辑，并不能对任何下载内容负责。
  • 6. 下载文件中如有侵权或不适当内容，请与我们联系，我们立即纠正。
  • 7. 本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。

最新文档

评论

0/150

提交评论