电子元器件材料检验规范.doc_第1页
电子元器件材料检验规范.doc_第2页
电子元器件材料检验规范.doc_第3页
电子元器件材料检验规范.doc_第4页
电子元器件材料检验规范.doc_第5页
已阅读5页,还剩12页未读 继续免费阅读

下载本文档

版权说明:本文档由用户提供并上传,收益归属内容提供方,若内容存在侵权,请进行举报或认领

文档简介

电子元器件及关键元材料检验规范YH0.473.004状态部门分发号重庆樱花电气开关有限公司重庆樱花电气开关有 限 公 司电子元器件及关键元材料检验规范PCB检验规范YH0.473.004共 15页第1 页1 适应范围适用于本公司所有PCB之检验。2抽样计划依MIL-STD-105E,LEVEL II正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考抽样计划。3允收水准(AQL)严重缺点(CR):0; 主要缺点(MA):0.4; 次要缺点(MI):1.5。4检测设备 放大镜、数字万用表、卡尺5检验要求 检验项目缺陷名称缺陷定义检验标准检验方式线 路线路凸出MAa. 线路凸出部分不得 大于成品最小间距30%。放大镜残铜MAa. 两线路间不允许有残铜。b. 残铜距线路或锡垫不得小于0.1mm。c. 非线路区残铜不可大于2.5mm2.5mm,且不可露铜。放大镜线路缺口、凹洞MAa. 线路缺口、凹洞部分不可大于最小线宽的30%。放大镜断路与短路CRa. 线路或锡垫之间绝不容许有断路或短路之现象。放大镜、万用表线路裂痕MAa. 在线路或线路终端部分的裂痕,不可超过原线宽1/3。放大镜线路不良MAa. 线路因蚀铜不良而呈锯齿状部分不可超过原线宽的 1/3。放大镜线路变形MAa. 线路不可弯曲或扭折。放大镜线路变色MAa. 线路不可因氧化或受药水、异物污染而造成变色。目检线路剥离CRa. 线路必须附着性良好,不可翘起或脱落。目检补线MAa. 补线长度不得大于5mm,宽度为原线宽的80%100%。b. 线路转弯处及BGA内部不可补线。c. C/S面补线路不得超过2处,S/S面补线不得超过1处。放大镜目检板边余量MAa. 线路距成型板边不得少于0.5mm。放大镜刮伤MAa. 刮伤长度不超过6mm,深度不超过铜铂厚度的1/3。放大镜孔孔塞MAa. 零件孔不允许有孔塞现象。目检孔黑MAa. 孔内不可有锡面氧化变黑之现象。目检变形MAa. 孔壁与锡垫必须附着性良好,不可翘起,变形或脱落。目检描 写描 校旧底图总号底图总号资 料 来 源编 制签 字校 对标准化日 期提出部门审 定标志处数更改文件号签名日期批 准重庆樱花电气开关有 限 公 司电子元器件及关键元材料检验规范YH0.473.004PCB检验规范共 15页第2 页检验项目缺陷名称缺陷定义检验标准检验方式PAD,RING锡垫氧化MAa. 锡垫不得有氧化现象。目检锡垫缺口MAa. 锡垫之缺口、凹洞、露铜等,不得大于单一锡垫之总面积1/4。目检、放大镜锡垫压扁MAa. 锡垫之锡面厚度力求均匀,不可有锡厚压扁之现象或造成间距不足。目检锡垫MAa. 锡垫不得脱落、翘起、短路。目检防焊线路防焊脱落、起泡、漏印。MAa. 线路防焊必须完全覆盖,不可脱落、起泡、漏印,而造成沾锡或露铜之现象。目检防焊色差MI a. 防焊漆表面颜色在视觉上不可有明显差异。目检防焊异物MIa. 防焊面不可沾附手指纹印、杂质或其他杂物而影响外观。目检防焊刮伤MAa. 不伤及线路及板材(未露铜)之防焊刮伤,长度不可大于 15mm,且C/S面不可超过2条,S/S面不可超过1条。目检防焊补漆MAa. 补漆同一面总面积不可大于30mm2,C/S面不可超过3 处;S/S面不可超过2处且每处面积不可大于20mm2 。补漆应力求平整,全面色泽一致,表面不得有杂质或涂料不均等现象。目检防焊气泡MAa. 防焊漆面不可内含气泡而有剥离之现象。目检防焊漆残留MAa. 金手指、SMT PAD&光学定位点不可有防焊漆。目检防焊剥离MAa. 以3M scotch NO.600 0.5宽度胶带密贴于防焊面,密贴长度约25mm,经过30秒,以90度方向垂直拉起,不可有脱落或翘起之现象。目检外观 内层黑(棕)化MAa. 内层采用黑化处理,黑化不足或黑化不均,不可超过单面总面积0.5%(棕化亦同)。目检空泡&分层MAa.空泡和分层完全不允许。目检板角撞伤MAa. 因制作不良或外力撞击而造成板边(角)损坏时,则 依成型线往内推不得大于0.5mm或板角以45度最大 值1.3mm为允收上限。目检章记MAa. 焊锡面上应有制造厂之UL号码、生产日期、Vendor Mark;生产日期YY(年)、WW(周)采用蚀刻方式标示。目检尺寸MAa. 四层板及金手指的板子,量板子最厚的部分(铜箔及镀金处)厚度为1.60mm0.15mm,板长和宽分别参考不同Model的SPEC。卡尺描 写描 校旧底图总号底图总号签 字日 期标志处数更改文件号签名日期标志处数更改文件号签名日期重庆樱花电气开关有 限 公 司电子元器件及关键元材料检验规范PCB检验规范YH0.473.004共 15页第3 页检验项目缺陷名称缺陷定义检验标准检验方式丝印文字清晰度MIa. 所有文字,符号均需清晰且能辨认,文字上线条中断程度以可辨认该文字为主。目检重影或漏印MAa. 文字,符号不可有重影或漏印目检印错MAa. 极性符号、零件符号及图案不可印错目检文字脱落MAa.文字不可有溶化或脱落之现象。目检文字覆盖锡盘MAa.文字油墨不可覆盖锡盘。目检焊锡性焊锡性MAa.镀层不可有翘起或脱落现象且焊锡性应良好,用供应商提供的试锡板分别过回流炉和波峰焊,上锡不良的点不可大于单面锡点数的0.3%目检描 写描 校旧底图总号底图总号签 字日 期标志处数更改文件号签名日期标志处数更改文件号签名日期重庆樱花电气开关有 限 公 司电子元器件及关键元材料检验规范IC类(包括CPU)检验规范YH0.473.004共 15页第4 页1 适应范围适用于本公司所有IC之检验。2抽样计划依MIL-STD-105E,LEVEL II正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考抽样计划。3允收水准(AQL)严重缺点(CR):0; 主要缺点(MA):0.4; 次要缺点(MI):1.5。4检验要求 检验项目缺陷属性检验标准检验方式包装检验MAa. 根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。b. 包装必须采用防静电包装,否则不可接受。目检数量检验MAa. 实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受;b. 实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检点数外观检验MAa. Marking错或模糊不清难以辨认不可接受;b. 来料品名错,或不同规格的混装,均不可接受;c. 本体变形,或有肉眼可见的龟裂等不可接受;d. 元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔,其面积不超过0.5mm2,且未露出基质, 可接受;否则不可接受;e. Pin氧化生锈,或上锡不良,均不可接受;f. 元件脚弯曲,偏位, 缺损或少脚,均不可接受;目检(检验时,必须佩带静电带)说明:凡用于真空完全密闭方式包装的IC,由于管理与防护的特殊要求不能现场打开封装的,IQC仅进行包装检验,并加盖免检印章;该IC在SMT上拉前IQC须进行拆封检验。拆封后首先确认包装袋内的湿度显示卡20%RH对应的位置有没有变成粉红色,若已变为粉红色则使用前必须按供应商的要求进行烘烤。描 写描 校旧底图总号底图总号签 字日 期标志处数更改文件号签名日期标志处数更改文件号签名日期重庆樱花电气开关有 限 公 司电子元器件及关键元材料检验规范插件&贴片(电容,电阻,电感、二极管)检验规范YH0.473.004共 15页第5 页1 适应范围适用于本公司所有插件&贴片(电容,电阻,电感、二极管)之检验。2抽样计划依MIL-STD-105E,LEVEL II正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考抽样计划。3允收水准(AQL)严重缺点(CR):0; 主要缺点(MA):0.4; 次要缺点(MI):1.5。4检测设备放大镜、数字万用表、LCR数字电桥5检验要求 检验项目缺陷属性检验标准检验方式包装检验MAa. 根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是 否都正确,任何有误,均不可接受。b. 包装必须采用防静电包装,否则不可接受。目检数量检验MAa. 实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受;实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检 点数外观检验MAa. Marking错或模糊不清难以辨认不可接受;b. 来料品名错,或不同规格的混装,均不可接受;c. 本体变形,或有肉眼可见的龟裂等不可接受;d. 元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔,其面积不超过0.5mm2,且未露出基质, 可接受;否则不可接受;e. Pin氧化生锈,或上锡不良,均不可接受; 目检放大镜电性检验MAa. 元件实际测量值超出偏差范围内.(检验时,必须佩带静电带)LCR测试仪数字万用表二极管类型检 测 方 法LED 选择数字万用表的二极管档,正向测量,LED需发出与要求相符的颜色的光,而反向测量不发光;否则该二极 管不合格。 注:有标记的一端为负极。其它二极管 选择数字万用表的二极管档,正向测量,读数需小于1,而反向测量读数需无穷大;否则该二极管不合格。 注:有颜色标记的一端为负极。备注 抽样计划说明:对于CHIP二极管,执行抽样计划时来料数量以盘为单位,样本数也以盘为单位;从抽检的每盘中取35pcs元件进行检测;AQL不变。描 写描 校旧底图总号底图总号签 字日 期标志处数更改文件号签名日期标志处数更改文件号签名日期重庆樱花电气开关有 限 公 司电子元器件及关键元材料检验规范插件用电容检验规范YH0.473.004共 15页第6 页1 适应范围适用于本公司所有插件用电容之检验。2抽样计划依MIL-STD-105E,LEVEL II正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考抽样计划。3允收水准(AQL)严重缺点(CR):0; 主要缺点(MA):0.4; 次要缺点(MI):1.5;4检测设备卡尺、数字万用表、LCR数字电桥5检验要求 检验项目缺陷属性检验标准检验方式包装检验MAa. 根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。目检数量检验MAa. 实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受;b. 实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检 点数外观检验MAa. 极性等标记符号印刷不清,难以辨认不可接受;b. 电解电容之热缩套管破损、脱落,不可接受;c. 本体变形,破损等不可接受;d.Pin生锈氧化,均不可接受。目检可焊性检验MAa.Pin上锡不良,或完全不上锡不可接受。(将PIN沾上现使 用之合格的松香水,再插入小锡炉5秒钟左右后拿起观看PIN是否100%良好上锡;如果不是则拒收)实际操作尺寸规格检验MAa. 外形尺寸不符合规格要求不可接受。卡尺电性检验MAa. 电容值超出规格要求则不可接受。LCR数字电桥描 写描 校旧底图总号底图总号签 字日 期标志处数更改文件号签名日期标志处数更改文件号签名日期重庆樱花电气开关有 限 公 司电子元器件及关键元材料检验规范三极管检验规范YH0.473.004共 15页第7 页1 适应范围适用于本公司所有三极管之检验。2抽样计划依MIL-STD-105E,LEVEL II正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考抽样计划。3允收水准(AQL)严重缺点(CR):0; 主要缺点(MA):0.4; 次要缺点(MI):1.5。4检测设备放大镜5检验要求 检验项目缺陷属性检验标准检验方式包装检验MAa. 根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。b. 包装必须采用防静电包装,否则不可接受。目检数量检验MAa. 实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受;b. 实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检 点数外观检验MAa. Marking错或模糊不清难以辨认不可接受;b. 来料品名错,或不同规格的混装,均不可接受;c. 本体变形,或有肉眼可见的龟裂等不可接受;d. 元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔,其面积不超过0.5mm2,且未露出基质, 可接受;否则不可接受;e. Pin氧化生锈,或上锡不良,均不可接受。目检放大镜描 写描 校旧底图总号底图总号签 字日 期标志处数更改文件号签名日期标志处数更改文件号签名日期重庆樱花电气开关有 限 公 司电子元器件及关键元材料检验规范排针&插槽(座) 检验规范YH0.473.004共 15页第8 页1 适应范围适用于本公司所有排针&插槽(座)之检验。2抽样计划依MIL-STD-105E,LEVEL II正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考抽样计划。3允收水准(AQL)严重缺点(CR):0; 主要缺点(MA):0.4; 次要缺点(MI):1.5。4检测设备 卡尺5检验要求 检验项目缺陷属性检验标准检验方式包装检验MAa. 根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否 都正确,任何有误,均不可接受。目检数量检验MAa. 实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受;实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检 点数外观检验MAa. Marking错或模糊不能辩认;b. 塑料与针脚不能紧固连接;c. 塑料体破损,体脏,变形,明显色差,划伤,缩水;d. 过锡炉后塑料体外观变色,变形,脱皮;e. 针脚拧结,弯曲,偏位, 缺损,断针或缺少;f. 针脚高低不平、歪针、针氧化、生锈;g. 针脚端部成蘑菇状影响安装.目检安装检验MAa. 针脚不能与标准PCB顺利安装;b. 针脚露出机板长度小于0.5mm或大于2.0mm;卡尺描 写描 校旧底图总号底图总号签 字日 期标志处数更改文件号签名日期标志处数更改文件号签名日期重庆樱花电气开关有 限 公 司电子元器件及关键元材料检验规范可控硅检验规范YH0.473.004共 15页第9页1 适应范围适用于本公司所有可控硅之检验。2抽样计划要求全检。3允收水准(AQL)严重缺点(CR):0; 主要缺点(MA):0.4; 次要缺点(MI):1.5。4检测设备耐压测试仪5检验要求 检验项目缺陷属性检验标准检验方式包装检验MAa. 根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否 都正确,任何有误,均不可接受。目检数量检验MAa. 实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受;实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检 点数外观检验MAa. Marking错或模糊不清难以辨认不可接受;b. 来料品名错,或不同规格的混装,均不可接受;c. 本体变形,或有肉眼可见的龟裂等不可接受;d. 元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔,其面积不超过0.5mm2,且未露出基质, 可接受;否则不可接受;e. Pin氧化生锈,或上锡不良,均不可接受。目检电性检验MIa. 反向重复峰值电压(VRRM)、断态重复峰值电压(VDRM)1750V(DC)可接受;否则不可接受;耐压测试仪描 写描 校旧底图总号底图总号签 字日 期标志处数更改文件号签名日期标志处数更改文件号签名日期重庆樱花电气开关有 限 公 司电子元器件及关键元材料检验规范变压器检验规范YH0.473.004共 15页第10 页1 适应范围适用于本公司所有变压器之检验。2抽样计划依MIL-STD-105E,LEVEL II正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考抽样计划。3允收水准(AQL)严重缺点(CR):0; 主要缺点(MA):0.4; 次要缺点(MI):1.5。4检测设备数字万用表、耐压测试仪5检验要求 检验项目缺陷属性检验标准检验方式包装检验MAa. 根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否 都正确,任何有误,均不可接受。目检数量检验MAa. 实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受;实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检 点数外观检验MAa. Marking错或模糊不能辩认;b. 来料规格型号错,均不可接受;c. 塑料与针脚不能紧固连接;d. 塑料体破损,体脏,变形,明显色差,划伤,缩水;e. 过锡炉后塑料体外观变色,变形,脱皮;f. 针脚拧结,弯曲,偏位, 缺损,断针或缺少;g. 针脚高低不平、歪针、针氧化、生锈;h. 针脚端部成蘑菇状影响安装.目检尺寸规格检验MAa. 外形尺寸不符合规格要求不可接受。卡尺安装检验MAa. 针脚不能与标准PCB顺利安装;b. 针脚露出机板长度小于0.5mm或大于2.0mm;电性检验MAa. 空载电压检测满足设计要求可接受;否则不可接受;b. 初级与次级、初级与铁芯间耐压2000V/2S不击穿可接受;否则不可接受;c. 次级与铁芯间耐压1000V/2S不击穿可接受;否则不可接受;数字万用表耐压测试仪描 写描 校旧底图总号底图总号签 字日 期标志处数更改文件号签名日期标志处数更改文件号签名日期重庆樱花电气开关有 限 公 司电子元器件及关键元材料检验规范金属壳体检验规范YH0.473.004共 15页第11 页1 适应范围适用于本公司所有金属壳体之检验。2抽样计划依MIL-STD-105E,LEVEL II正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考抽样计划。3允收水准(AQL)严重缺点(CR):0; 主要缺点(MA):0.4; 次要缺点(MI):1.5。4检测设备卡尺、螺丝刀5检验要求 检验项目缺陷属性检验标准检验方式数量检验MAa. 实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检 点数外观检验MAa. Marking错或模糊不能辩认;b. 壳体内外表面都应进行涂覆处理,涂覆层的色泽均匀美观,附着力强并且没有划痕,缺角及凹凸不平等损伤。c. 所用铁皮厚度为1mm目检卡尺紧固性MAa. 所有螺钉及铆钉联结的零件均紧固可靠,不得松动。目 测螺丝刀尺寸规格检验MAa. 外形尺寸不符合设计要求不可接受。卡尺描 写描 校旧底图总号底图总号签 字日 期标志处数更改文件号签名日期标志处数更改文件号签名日期重庆樱花电气开关有 限 公 司电子元器件及关键元材料检验规范塑料壳体检验规范YH0.473.004共 15页第12 页1 适应范围适用于本公司所有塑料壳体之检验。2抽样计划依MIL-STD-105E,LEVEL II正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考抽样计划。3允收水准(AQL)严重缺点(CR):0; 主要缺点(MA):0.4; 次要缺点(MI):1.5。4检测设备卡尺、螺丝刀、2.5mm测试棒5检验要求 检验项目缺陷属性检验标准检验方式数量检验MAa. 实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检 点数外观检验MAa. Marking错或模糊不能辩认;b. 壳体内外表面都应色泽均匀美观,附着力强并且没有划痕,缺角及凹凸不平等损伤。目检防护等级测试MAa. 大于低于IP30不可接受。2.5mm测试棒紧固性MAa. 所有金属紧固件或金属支持件的镀层有牢固的附着力,不得起皮或脱落现象。目 测螺丝刀尺寸规格检验MAa. 外形尺寸不符合设计要求不可接受。卡尺机械强度测试MAa. 将产品放置在垂直高度为1M的桌子上,自由跌落在水泥地面上。每个面测试2次,共跌落12次,要求超额分配不可有明显变形破裂,但允许出现直接按压即恢复的裂开;描 写描 校旧底图总号底图总号签 字日 期标志处数更改文件号签名日期标志处数更改文件号签名日期重庆樱花电气开关有 限 公 司电子元器件及关键元材料检验规范磁保持继电器检验规范YH0.473.004共 15页第13 页1 适应范围适用于本公司所有磁保持继电器之检验。2抽样计划依MIL-STD-105E,LEVEL II正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考抽样计划。3允收水准(AQL)严重缺点(CR):0; 主要缺点(MA):0.4; 次要缺点(MI):1.5。4检测设备卡尺、螺丝刀5检验要求 检验项目缺陷属性检验标准检验方式包装检验MAa. 根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否 都正确,任何有误,均不可接受。目检数量检验MAa. 实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受;实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检 点数外观检验MAa. Marking错或模糊不能辩认;b. 来料规格型号错,均不可接受;c. 塑料壳与针脚不能紧固连接;d. 塑料壳破损,体脏,变形,明显色差,划伤,缩水;e. 针脚高低不平、歪针、针氧化、生锈;目检尺寸规格检验MAa. 外形尺寸不符合规格要求不可接受。卡尺安装检验MAa. 针脚不能与标准PCB顺利安装;b. 针脚露出机板长度小于0.5mm或大于2.0mm;卡尺电性检验MAa. 接触电阻2m,满足要求可接受;否则不可接受;b. 线圈电阻:DC9V/5410%满足要求可接受;否则不可接受;c. 介质耐压:线圈与触点间耐压4000V/2S,触点与触点间耐压1500V/2S不击穿可接受;否则不可接受;数字万用表、耐压测试仪、接地电阻测试仪描 写描 校旧底图总号底图总号签 字日 期标志处数更改文件号签名日期标志处数更改文件号签名日期重庆樱花电气开关有 限 公 司电子元器件及关键元材料检验规范显示器检验规范YH0.473.004共 15页第14 页1 适应范围适用于本公司所有显示器之检验。2抽样计划依MIL-STD-105E,LEVEL II正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考抽样计划。3允收水准(AQL)严重缺点(CR):0; 主要缺点(MA):0.4; 次要缺点(MI):1.5。4检测设备卡尺5检验要求 检验项目缺陷属性检验标准检验方式包装检验MAa. 根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是 否都正确,任何有误,均不可接受。b. 包装必须采用防静电包装,否则不可接受。目检数量检验MAa. 实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受

温馨提示

  • 1. 本站所有资源如无特殊说明,都需要本地电脑安装OFFICE2007和PDF阅读器。图纸软件为CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.压缩文件请下载最新的WinRAR软件解压。
  • 2. 本站的文档不包含任何第三方提供的附件图纸等,如果需要附件,请联系上传者。文件的所有权益归上传用户所有。
  • 3. 本站RAR压缩包中若带图纸,网页内容里面会有图纸预览,若没有图纸预览就没有图纸。
  • 4. 未经权益所有人同意不得将文件中的内容挪作商业或盈利用途。
  • 5. 人人文库网仅提供信息存储空间,仅对用户上传内容的表现方式做保护处理,对用户上传分享的文档内容本身不做任何修改或编辑,并不能对任何下载内容负责。
  • 6. 下载文件中如有侵权或不适当内容,请与我们联系,我们立即纠正。
  • 7. 本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。

评论

0/150

提交评论