ETSys-Map在线薄膜测量系统和在线薄膜测量系统价格

联系我们请登录： 南北仪器查询优惠价格及更多产品请百度查询 ETSys-Map在线薄膜测量系统和在线薄膜测量系统价格ETSys-Map在线薄膜测量系统标题：ETSys-Map在线薄膜测量系统ETSys-Map是针对高端纳米薄膜研发和质量控制领域中大面积样品检测专门设计的在线薄膜测量系统。 ETSys-Map用于对1.4m * 1.1m及以上的大面积样品进行在线检测。可测量光滑平面基底上的纳米薄膜，包括单层或多层纳米薄膜样品的膜层厚度、折射率n和消光系数k；并可同时测量块状材料的折射率n和消光系数k。可测量样品上指定区域的样品参数以及样品表面的均一性分布。 ETSys-Map融合量拓科技在高精度激光椭偏仪的先进技术和产品设计方面的经验，性能卓越。 特点: 微米量级的全面积扫描精度 先进的系统设计，能够使探头到达样品上每个点，扫描精度达到微米量级。 原子层量级的膜厚分析精度 采用非接触、无破坏性的椭偏测量技术，对纳米薄膜达到极高的测量准确度和灵敏度，膜厚测量灵敏度可达到0.0.厂家：南北仪器市场价格：优惠价格：百度搜索联系EM12-PV 精致型多入射角激光椭偏仪（光伏专用）标题：EM12-PV 精致型多入射角激光椭偏仪（光伏专用）EM12-PV是采用量拓科技先进的测量技术，针对中端精度需求的光伏太阳能电池研发和质量控制领域推出的精致型多入射角激光椭偏仪。 EM12-PV用于测量绒面单晶硅或多晶硅太阳电池表面减反膜的厚度以及在632.8nm下的折射率n。也可测量光滑平面材料上的单层或多层纳米薄膜的膜层厚度，以及在632.8nm下折射率n和消光系数k。 EM12-PV融合多项量拓科技专利技术，采用一体化样品台技术，兼容测量单晶和多晶太阳电池样品。一键式多线程操作软件，使得仪器操作简单安全。 特点： 粗糙绒面纳米薄膜的测量 先进的光能量增强技术、低噪声的探测器件以及高信噪比的微弱信号处理方法，实现了对粗糙表面散射为主和极低反射率为特征的绒面太阳电池表面纳米镀层的检测。 次纳米量级的高灵敏度和准确度 国际先进的采.厂家：南北仪器市场价格：优惠价格：百度搜索联系EMPro-PV 极致型多入射角激光椭偏仪（光伏专用）标题：EMPro-PV 极致型多入射角激光椭偏仪（光伏专用）EMPro-PV是针对光伏太阳能电池高端研发和质量控制领域推出的极致型多入射角激光椭偏仪。 EMPro-PV用于测量绒面单晶硅或多晶硅太阳电池表面减反膜镀层的厚度以及在632.8nm下的折射率n。也可测量光滑平面材料上的单层或多层纳米薄膜的膜层厚度，以及在632.8nm下折射率n和消光系数k。 EMPro-PV融合多项量拓科技专利技术，采用一体化样品台技术，兼容测量单晶和多晶太阳电池样品，并实现二者的轻松转换。一键式多线程操作软件，使得仪器操作简单安全。 特点： 粗糙绒面纳米薄膜的高灵敏测量 先进的光能量增强技术、低噪声的探测器件以及高信噪比的微弱信号处理方法，实现了对粗糙表面散射为主和极低反射率为特征的绒面太阳电池表面镀层的高灵敏检测。 原子层量级的极高灵敏度和准确度 国际先进的.厂家：南北仪器市场价格：优惠价格：百度搜索联系EM13 LD系列多入射角激光椭偏仪标题：EM13 LD系列多入射角激光椭偏仪EM13LD 系列是采用量拓科技先进的测量技术，针对普通精度需求的研发和质量控制领域推出的多入射角激光椭偏仪。 EM13LD系列采用半导体激光器作为光源，可在单入射角度或多入射角度下对样品进行准确测量。可用于测量单层或多层纳米薄膜样品的膜层厚度、折射率n和消光系数k；也可用于同时测量块状材料的折射率n和消光系数k；亦可用于实时测量纳米薄膜动态生长中膜层的厚度、折射率n和消光系数k。多入射角度设计实现了纳米薄膜的绝对厚度测量。 EM13LD系列采用了量拓科技多项专利技术。 特点： 次纳米的高灵敏度 国际先进的采样方法、稳定的核心器件、高质量的制造工艺实现并保证了能够测量极薄纳米薄膜，膜厚精度可达到0.5nm。 3秒的快速测量 国际水准的仪器设计，在保证精度和准确度的同时，.厂家：南北仪器市场价格：优惠价格：百度搜索联系EM01-RD 多入射角激光椭偏仪标题：EM01-RD 多入射角激光椭偏仪特别声明： EM01-RD多入射角激光椭偏仪（研发级）已升级至EMPro31 极致型多入射角激光椭偏仪，主要升级内容包括： 单次测量速度提高3倍; 新的仪器外形; 整体稳定性增强. 纳米薄膜高端研发领域专用的多入射角激光椭偏仪，用于纳米薄膜的厚度、折射率n、消光系数k等参数的测量。适用于光面或绒面纳米薄膜测量、块状固体参数测量、快速变化的纳米薄膜实时测量等不同的应用场合。采用量拓科技多项专利技术，仪器操作具有个性化定制功能，方便使用。 特点： 高精度、高稳定性 一体化集成设计 快速、高精度样品方位对准