电子元器件材料检验规范标准书

文件类别文件编号LNPZBZ01文件版本10制定部门品质部制定日期制定人员物料检验规范修改日期/页次1OF11元器件检验规范批准记录拟制审核批准修改记录次数版本升级记录修改时间修改类别修改页次修改内容简述修改人员审核批准1生效时间2生效时间3生效时间4生效时间5生效时间一PCB检验规范1目的作为IQC检验PCB物料之依据。2适用范围适用于本公司所有之PCB检验。3抽样计划依MILSTD105E，LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考抽样计划。4职责供应商负责PCB品质之管制执行及管理，IQC负责供应商之管理及进料检验。5允收水准（AQL）严重缺点CR0主要缺点MA04次要缺点MI156参考文件1IPCA600E,ACCEPTABILITYOFPRINTEDCIRCUITSBOARDS2IPCR700C,REWORKMETHODS主要缺点MA04次要缺点MI155参考文件无检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAA根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。B包装必须采用防静电包装，否则不可接受。目检数量检验MAA实际包装数量与LABEL上的数量是否相同,若不同不可接受；B实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检点数外观检验MAAMARKING错或模糊不清难以辨认不可接受；B来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受；C本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受；D元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔，其面积不超过05MM2,且未露出基质,可接受；否则不可接受；EPIN氧化生锈，或上锡不良，均不可接受；F元件脚弯曲，偏位,缺损或少脚，均不可接受；目检或10倍以上的放大镜检验时，必须佩带静电带。备注凡用于真空完全密闭方式包装的IC，由于管理与防护的特殊要求不能现场打开封装的，IQC仅进行包装检验，并加盖免检印章；该IC在SMT上拉前IQC须进行拆封检验。拆封后首先确认包装袋内的湿度显示卡20RH对应的位置有没有变成粉红色，若已变为粉红色则使用前必须按供应商的要求进行烘烤。（三）贴片元件检验规范电容,电阻,电感1目的便于IQC人员检验贴片元件类物料。2适用范围适用于本公司所有贴片元件（电容,电阻,电感）之检验。3抽样计划依MILSTD105E，LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考抽样计划。4允收水准（AQL）严重缺点CR0主要缺点MA04次要缺点MI155参考文件LCR数字电桥操作指引数字万用表操作指引检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAA根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。B包装必须采用防静电包装，否则不可接受。目检数量检验MAA实际包装数量与LABEL上的数量是否相同,若不同不可接受；实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检点数外观检验MAAMARKING错或模糊不清难以辨认不可接受；B来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受；C本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受；D元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔，其面积不超过05MM2,且未露出基质,可接受；否则不可接受；EPIN氧化生锈，或上锡不良，均不可接受；目检10倍以上的放大镜检验时，必须佩带静电带。电性检验MA元件实际测量值超出偏差范围内LCR测试仪数字万用表检验时，必须佩带静电带。二极管类型检测方法LED选择数字万用表的二极管档，正向测量，LED需发出与要求相符的颜色的光，而反向测量不发光；否则该二极管不合格。注有标记的一端为负极。其它二极管选择数字万用表的二极管档，正向测量，读数需小于1，而反向测量读数需无穷大；否则该二极管不合格。注有颜色标记的一端为负极。备注抽样计划说明对于CHIP二极管，执行抽样计划时来料数量以盘为单位，样本数也以盘为单位；从抽检的每盘中取35PCS元件进行检测；AQL不变。检验方法见LCR数字电桥测试仪操作指引和数字万用表操作指引。（四）插件用电解电容1目的作为IQC人员检验插件用电解电容类物料之依据。2适用范围适用于本公司所有插件用电解电容之检验。3抽样计划依MILSTD105E，LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考抽样计划。4允收水准（AQL）严重缺点CR0主要缺点MA04次要缺点MI155参考文件LCR数字电桥操作指引、数字电容表操作指引。检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAA根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。目检数量检验MAA实际包装数量与LABEL上的数量是否相同,若不同不可接受；B实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检点数外观检验MAA极性等标记符号印刷不清，难以辨认不可接受；B电解电容之热缩套管破损、脱落，不可接受；C本体变形，破损等不可接受；DPIN生锈氧化，均不可接受。目检可焊性检验MAAPIN上锡不良，或完全不上锡不可接受。将PIN沾上现使用之合格的松香水，再插入小锡炉5秒钟左右后拿起观看PIN是否100良好上锡；如果不是则拒收实际操作每LOT取510PCS在小锡炉上验证上锡性尺寸规格检验MAA外形尺寸不符合规格要求不可接受。卡尺若用于新的MODEL，需在PCB上对应的位置进行试插电性检验MAA电容值超出规格要求则不可接受。用数字电容表或LCR数字电桥测试仪量测（五）晶体类检验规范1目的作为IQC人员检验晶体类物料之依据。2适用范围适用于本公司所用晶体之检验。3抽样计划依MILSTD105E，LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考抽样计划。4允收水准（AQL）严重缺点CR0主要缺点MA04次要缺点MI155参考文件数字频率计操作指引检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAA根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。目检数量检验MAA实际包装数量与LABEL上的数量是否相同,若不同不可接受；B实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检点数外观检验MAA字体模糊不清，难以辨认不可接受；B有不同规格的晶体混装在一起，不可接受；C元件变形，或受损露出本体等不可接受；DPIN生锈氧化、上锡不良，或断PIN，均不可接受。目检每LOT取510PCS在小锡炉上验证上锡性电性检验MAA晶体不能起振不可接受；B测量值超出晶体的频率范围则不可接受。测试工位和数字频率计电性检测方法晶体检测方法32768KHZ16934MHZ25000MHZ在好的样板的相应位置插上待测晶体,再接通电源开机在正常开机后，用调试好的数字频率计测量晶体，看测量的频率是否在规格范围内，若不能开机或测量值不在规格范围内，则该晶体不合格。24576MHZ在好的样板的相应位置插上待测晶体、CPU、内存条等，再接通电源开机，看能否正常开机显示；在正常开机显示后，用调试好的数字频率计测量晶体，看测量的频率是否在规格范围内，若不能开机显示或测量值不在规格范围内，则该晶体不合格。（六）三极管检验规范1目的作为IQC人员检验三极管类物料之依据。2适用范围适用于本公司所有三极管之检验。3抽样计划依MILSTD105E，LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考抽样计划。4允收水准（AQL）严重缺点CR0主要缺点MA04次要缺点MI155参考文件无检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MAA根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。B包装必须采用防静电包装，否则不可接受。目检数量检验MAA实际包装数量与LABEL上的数量是否相同,若不同不可接受；B实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检点数外观检验MAAMARKING错或模糊不清难以辨认不可接受；B来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受；C本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受；D元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔，其面积不超过05MM2,且未露出基质,可接受；否则不可接受；EPIN氧化生锈，或上锡不良，均不可接受。目检10倍以上的放大镜检验时，必须佩带静电带。电性检验无七排针主要缺点MA04次要缺点MI155参考文件无检验项目缺陷属性缺陷描述检验方式备注包装检验MA根据来料送检单核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。目检数量检验MAA实际包装数量与LABEL上的数量是否相同,若不同不可接受；实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。目检点数外观检验MAAMARKING错或模糊不能辩认；B塑料与针脚不能紧固连接；C塑料体破损，体脏，变形，明显色差，划伤，缩水；D过锡炉后塑料体外观变色，变形，脱皮E针脚拧结，弯曲，偏位,缺损，断针或缺少；F针脚高低不平、歪针、针氧化、生锈G针