光时域反射仪(OTDR)使用方法简谈

1、光时域反射仪（光时域反射仪（OTDR） 使用方法简介使用方法简介 -安捷伦E6000C OTDR简介简介 OTDR是一个工具，可用于： 1、测量光纤长度、熔接点损耗 2、测量接头和连接器的位置 3、测量光纤的光学特性 4、查找断裂或不正确弯曲的位置 OTDR全称为光时域反射仪，反射仪是指 它测量的是反射光信号，时域是指它测量 反射往返的时间。 OTDROTDR测试原理测试原理 OTDR所测得的衰减曲线是由瑞利散射的光信号放大处理 而成。 瑞利散射：用电筒照射一玻璃杯清水，光会透过水杯， 如果照射一杯浊水，浊水中将出现亮点。光纤的玻璃材料 中存在不均匀微粒，由这些微粒产生的散射现象成为瑞丽 散射

2、。 衰减特性曲线 DB OT DR 光纤1光纤2 熔接点 (a)、(e)菲涅耳峰 (b)自身衰减曲线 (c)熔接损耗 (d)光纤微弯 OTDR包含一个光发射机（激光器）和一个光接 收器 光发射机向光纤中发射光的短脉冲串，此光中 的大部分通过光纤进行传输，由于光纤的杂质反 射（瑞丽散射等）及折射，使得部分光返回至发 射端，回到OTDR的反射光被称为后向分散。 靠近OTDR端的后向分散最先到达发送端，而距 离较远的后向分散最后则需要较长的时间，距 OTDR的距离与后向分散返回所需要的时间成正比。 OTDR测试原理测试原理 测量后向分散测量后向分散 光接收器测量相对于时间的后向分散。光 会因为反射、

3、折射和吸收而损耗，所以后向 分散随着光纤的距离延伸而降低。后向分散 的功率随着距离的变化在OTDR上显示为一条 曲线图，垂直轴表示功率，水平轴表示距离。 这个曲线图称为轨迹。 P d 后向分散功率（P）相对于距离（d） 对于理想的OTDR和直的、无瑕疵的光纤而言，该轨迹是一条 从左到右向下倾斜的直线。 该轨迹偏离直线的地方被称为事件。 事件有两类：反射事件反射事件和非反射事件非反射事件。 反射事件是指光纤中的一个可产生多于正常反射光的改变。 当光纤中有一个干净的断裂，并且光纤的断裂面与空气的接 触面如同镜子一样，这时，在光纤的断裂面就会出现一个反射 事件。 当两个光纤没有紧密的接在一起时，例如

4、在机械接头或使用 连接器时，也能出现反射事件。 测量后向分散测量后向分散 反射事件 由于光被反射，并且一些光损耗在间隙的空气中， 不能继续沿着光纤前行，所以此事件后的后向分散将 降低。基于此原因，反射事件也被称为反射损耗。 光纤涂层中的裂纹也可产生反射事件。 测量后向分散测量后向分散 非反射事件：指光纤中导致光的损耗的一个改变。 当两个光纤熔和在一起（光纤融接），没有完全对齐时或光纤弯 曲半径过小时，也可产生非反射事件。 非反射事件 非反射事件也被称作为损耗。 测量后向分散测量后向分散 在光纤的接头处，第二个光纤的后向分散比第一个高，它将在轨 迹上产生一个上升，被称为获得者（伪增益）。 伪增益

5、 伪增益：光在光纤中传输，功率与距离成反比，距离越长，功率 越小，衰减越大，因此，在光纤中传输，不可能存在增益。但在 OTDR测试过程中，往往会有部分反射峰出现增益，显示为负值， 我们称此为伪增益。 测量后向分散测量后向分散 光纤的开始和结束： 在光纤连接到OTDR（连接器处）和光纤结束的地方， 会有许多额外的光被反射。 具有前面和结束反射的轨迹 光纤结束后的噪声实际上就是由OTDR接收器的电噪声 导致的。 测量后向分散测量后向分散 伪增益的来源伪增益的来源 无衰耗0.3dB 接头衰耗 AB -0.5dB AB 0.5dB 真实衰耗 = (-0.5 + 0.5) / 2 = 0.0dB 真实的

6、熔接衰耗 = (-0.2 + 0.8) / 2 = 0.3dB A B -0.2dB A B 0.8dB 测量后向分散测量后向分散 如果光纤是断裂的，则光纤结束将不会是镜面，因此光 不能正常反射。 断裂点 测量后向分散测量后向分散 分辨率和噪声分辨率和噪声 脉冲宽度是指OTDR发送到光纤中的光脉冲串的长度。 脉冲宽度越长，光纤中的功率越大，OTDR能测量到的光 纤就越长。 因此，要测量长光纤，则需要使用更长的脉冲宽度以增 大光功率，并使用动态模式降低噪声级。 要检查靠在一起的事件，可使用较小的脉冲宽度和分辨 率模式以增大测量分辨率，它是轨迹清晰度的数量。 分辨率也受测量跨度的影响。被测光纤的总

7、长度越长， 分辨率越低。 距离：距离： OTDR通过测量反射往返的时间来计算距离。 使用精确的光纤中的光速是很重要的，光纤中的光 速通过折射率给定。 在真空中，光速为300 000公里/秒，在玻璃中，光 速大约为200 000公里/秒。 距离=（时间）X（真空中的光速）/（光纤折射率） 光纤的折射率由光纤生产商提供。 确保所测量光纤的折射率是正确的，以保证轨迹上 的距离是精确的。 光纤的测试方法一般为两点法和四点法，衰减系数、 损耗和长度均用两点法测试，熔接点损耗则用四点法测 试。 1、衰减系数： 单位公里光纤的自身衰减，衰减值/被测长度，它不包 含施工中的任何附件损耗（微弯、接续损耗等）。单

8、位为： DB/KM。 衰减系数一般在光缆未铺设情况下测试，如进厂验货时。 衰减系数用两点法测试： 第一点放在光纤前端，但在熔接点后，以避开前端附加 损耗。 第二点放在光纤末端，避开末端附加损耗（菲涅耳峰）。 光纤测试方法简介：光纤测试方法简介： 2、两点损耗 两点损耗用来测量一段光纤任意两点间的损耗，是指光在光 纤中传输所有的累计损耗。 两点损耗是用两点法来测试： 第一点放在被测光纤段的起点， 第二点放在被测光纤短的末端。 3、长度 长度是指光纤的长度，即纤芯长度。因热胀冷缩及抗弯曲因 素，纤芯比光缆略长。 长度同样是用两点法来测试： 第一点放在被测光纤的起点， 第二点放在被测光纤的末端。 光

9、纤测试方法简介：光纤测试方法简介： 4、熔接点损耗 熔接点损耗是指两段光纤接续时产生的损耗。通常用 四点法测试。 第一点放在熔接点左侧光纤平滑段前端。 第二点放在熔接点左侧光纤平滑段末端，熔接点附近。 第三点放在熔接点右侧，光纤平滑段前端，熔接点附近。 第四点放在熔接点右侧，光纤平滑段末端。 光纤测试方法简介：光纤测试方法简介： 注意事项： 在操作OTDR仪表时，需对仪表进行相应设置，如距离 量程、脉宽、标记方法（TPALSA）。 距离量程分自动和具体值选项，自动是在被测光纤长 度不确定请况下；具体值是根据被测光纤长度，设定其 值为长度的两倍，便于观察。 脉宽也分为自动和具体值选项，自动是根据

10、设置的距 离量程，自动设置合适的脉宽。具体值为长距离量程设 置宽的脉宽，高分辨率下设置窄的脉宽。 标记方法： TPA： 两个标记点之间的损耗，一般用于微观的测量。 LSA：宏观的测量，用于事件的分析。 光纤测试方法简介：光纤测试方法简介： 运行运行/停止键停止键 安捷伦安捷伦E6000 OTDRE6000 OTDR简介简介 方向键方向键 软键（确认键）软键（确认键） 帮助键帮助键 显示屏显示屏 电池盖电池盖 正面正面 侧面侧面 开关 软驱及外置 存储器接口 RS232打印接口 测试光模块 测试光接口 扩展插槽 安捷伦安捷伦E6000 OTDRE6000 OTDR简介简介 开关开关 外接电源外接

11、电源 灰度灰度亮度亮度 软驱软驱 扩展外存扩展外存 光接口光接口 卡销卡销 安捷伦安捷伦E6000 OTDRE6000 OTDR简介简介 安捷伦E6000 操作界面 简单介绍简单介绍OTDROTDR测量步骤（一）测量步骤（一） 简单介绍简单介绍OTDROTDR测量步骤（二）测量步骤（二） 一一对应一一对应 简单介绍简单介绍OTDROTDR测量步骤（三）测量步骤（三） 简单介绍简单介绍OTDROTDR测量步骤（四）测量步骤（四） 按键运行测试按键运行测试 简单介绍简单介绍OTDROTDR测量步骤（五）测量步骤（五） 运行灯亮运行灯亮 简单介绍简单介绍OTDROTDR测量步骤（六）测量步骤（六）

12、简单介绍简单介绍OTDROTDR测量步骤（七）测量步骤（七） 损耗损耗 反射峰反射峰 事件表事件表 简单介绍OTDR测量步骤（八） 简单介绍简单介绍OTDROTDR测量步骤（九）测量步骤（九） 简单介绍简单介绍OTDROTDR测量步骤（十）测量步骤（十） 简单介绍简单介绍OTDROTDR测量步骤（十一）测量步骤（十一） 简单介绍简单介绍OTDROTDR测量步骤（十二）测量步骤（十二） 简单介绍简单介绍OTDROTDR测量步骤（十三）测量步骤（十三） 简单介绍简单介绍OTDROTDR测量步骤（十四）测量步骤（十四） 简单介绍OTDR测量步骤（十五） OTDROTDR测量曲线图解测量曲线图解 30

13、ns 1980ns 7620ns 3860ns 960ns 480ns 240ns 120ns 曲线最光滑但盲区最大 使用中等脉宽获得了较好 的盲区和清晰的曲线 最短的盲区但噪声很大 脉冲宽度与盲区图解 965m 3,165ft 540m 1,773ft 7620ns 960ns 120ns 长脉宽长脉宽 中脉宽中脉宽 短脉宽短脉宽 3,000 950 250 盲区 OTDROTDR测量曲线图解测量曲线图解 距离精度距离精度 光缆敷设时可能不直或上下左右偏离路由. 每一光纤在光缆内是松弛的，且在接头盒内有不同长度的盘留。 测试距离较短:沿着地面. 测试距离较接近:沿着光缆. 测试距离较长:光纤长度 OTDR测量光纤长度 ! 断点位置 OTDROTDR