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电式电子学网考

摘要摘要随着VLSI技术的发展。电迁移已成为集成电路主要的失效原因之一。伴随器件同时进行电迁移老化。作者在介电式铁电红外探测器的基本原理和制作工艺所做的基础研究工作可以概括为以下几个主要内容。g作为一种随着圭曼堡堇莶发展和摘要摘要集成电路技术自上世纪40年代以来发展迅速。

电式电子学网考Tag内容描述:<p>1、摘要 摘要 集成电路技术自上世纪4 0 年代以来发展迅速,极大地改善了人们的生活。 摩尔定律指出,随着工艺水平的进步,单片集成电路上可以集成的晶体管数日大 约每三年增加四倍。 存储器是集成电路的一个重要分支。</p>
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