军品ate测试

军品ate测试Tag内容描述：<p>1、13 13 ATE测试原理 一简介 在线测试机 IN CIRCUIT TESTER 是经由量测电路板上所有零件 包括电阻 电容 电感 二极体 电晶体 FET SCR LED 和IC等 检测出电路板产品的各种缺点诸如 线路短路 断路 缺件 错件 零件不良或装。</p><p>2、ATE測試系統操作使用注意事項 ATE Autotestequipment 自動測試設備 ATE的組成 架構 1 4 ACSOURCE ATE最底層 提供測試用之各種形態交流電壓 ATE的組成 架構 2 4 Poweranalyzer 功率分析儀 Model 6632 Model 6630 ATE。</p><p>3、赛盛技术赛盛技术 你身边的技术专家你身边的技术专家版权所有 侵权必究 www.ses- 赛盛技术赛盛技术 你身边的技术专家你身边的技术专家版权所有 侵权必究 www.ses- 军品军品EMC 技术技术 深圳市赛盛技术有限公司深圳市赛盛技术有限公司 赛盛技术赛盛技术 你身边的技术专家你身边的技术专家版权所有 侵权必究 www.ses- 目录目录 ?EMC重要性重要性 ?常见常见EMC。</p><p>4、,ATE自动测试基本知识,1、ATE简单说明2、测试界面及操作说明3、ATE的测试工艺要求,.,1、ATE是为公司电话机的机芯功能测试设计开发的功能测试仪。,一、简介,2、它能自动循环测试电话机的振铃、CID来电显示(包括FSK和DTMF两种格式)、免提发、受话，手柄发、受话，拨号等功能。,3、这一部仪器以工控机为基础，内建A/D、I/O卡，外加自己开发的接口控制电路，一台工控机可以带两个接。</p><p>5、技术交流 内存ATE测试,2007年 3月,服务客户，精益求精,概 览,ATE测试和ATE测试设备 ATE测试设备特点 HP83K/T5592简介 ATE测试简介,ATE测试,什么是ATE测试？ ATE 是 Automated Test Equipment 的简称，即自动测试设备，它是对内存条或SDRAM芯片的品质进行检测的测试设备。 ATE 测试 即使用自动测试设备对内存条或SDRAM芯片的品质进行测试。,ATE测试,ATE 的工作原理：,ATE测试设备,高档的ATE测试设备有： Verigy公司的93K系统 Advantest公司的T5581/T5585/T5592系统 KINGTIGER公司的KT2A PRO系统 特点： 精度高 速度快 完整的电性能、功能和。</p><p>6、ATE測試系統操作使用注意事項,1,ATE(Autotestequipment),自動測試設備,2,ATE的組成(架構)1/4,ACSOURCE(ATE最底層提供測試用之各種形態交流電壓),3,ATE的組成(架構)2/4,Poweranalyzer(功率分析儀),Model:6632,Model。</p><p>7、技术交流内存ATE测试,2007年3月,服务客户，精益求精,概览,ATE测试和ATE测试设备ATE测试设备特点HP83K/T5592简介ATE测试简介,ATE测试,什么是ATE测试？ATE是AutomatedTestEquipment的简称，即自动测试设备，它是对内存。</p><p>8、ATE自动测试基本知识,1、ATE简单说明2、测试界面及操作说明3、ATE的测试工艺要求,1、ATE是为公司电话机的机芯功能测试设计开发的功能测试仪。,一、简介,2、它能自动循环测试电话机的振铃、CID来电显示(包括FSK和DTMF两种格式)、免提发、受话，手柄发、受话，拨号等功能。,3、这一部仪器以工控机为基础，内建A/D、I/O卡，外加自己开发的接口控制电路，一台工控机可以带两个接口控制电。</p><p>9、,1,技术交流内存ATE测试,2007年3月,服务客户，精益求精,.,2,概览,ATE测试和ATE测试设备ATE测试设备特点HP83K/T5592简介ATE测试简介,ATE测试,什么是ATE测试？ATE是AutomatedTestEquipment的简称，即自动测试设备，它是对内存条或SDRAM芯片的品质进行检测的测试设备。ATE测试即使用自动测试设备对内存条或SDRAM芯片的品质进行测试。</p><p>10、ATE自动测试基本知识,1、ATE简单说明2、测试界面及操作说明3、ATE的测试工艺要求,1,1、ATE是为公司电话机的机芯功能测试设计开发的功能测试仪。,一、简介,2、它能自动循环测试电话机的振铃、CID来电显示(包括FSK和DTMF两种格式)、免提发、受话，手柄发、受话，拨号等功能。,3、这一部仪器以工控机为基础，内建A/D、I/O卡，外加自己开发的接口控制电路，一台工控机可以带两个接口控。</p><p>11、63 2010 年 2 月 第 2 期 电子测试 ELECTRONIC TEST Feb 2010 No 2 63 基于ATE的DSP测试方法 轩涛 北京自动测试技术研究所 北京 100088 摘要 本文以TI公司的DSP5509A为例 介绍了在ATE上开发DSP芯片的测试程序的思路。</p>