数电实验报告书

数电实验报告书Tag内容描述：<p>1、数字电路实验报告 实验一 组合逻辑电路分析 一试验用集成电路引脚图 74LS00集成电路 74LS20集成电路 四2输入与非门 双4输入与非门 二实验内容 1.实验一 自拟表格并记录: A B C D Y A B C D Y 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 1 0 1 0 0 1 0 0 0 1 0 0。</p><p>2、实验一 门电路逻辑功能及测试 1、 实验目的 1、熟悉门电路逻辑功能。 2、熟悉数字电路学习机及示波器使用方法。 2、 实验仪器及材料 1、双踪示波器 2、器件 74LS00 二输入端四与非门 2片 74LS20 四输入端双与非门 1片 74LS86 二输入端四异或门 1片 74LS04 六反相器 1片 3、 预习要求。</p><p>3、模拟电子技术实验指导书 周明编写 实验一 实验台、万用表、示波器和信号发生器的使用 内容：略 实验二 单级交流放大器（一） 一、 实验目的 1、学习晶体管放大电路静态工作点的测试方法，进一步理解电路元件参数对静 态工作点的影响，以及调整静态工作点的方法。 2、进一步熟悉常用电子仪器的使用方法。 二、实验设备 1、实验台 2、示波器 3、计算机 4、数字万用表 三、预习要求 1、熟悉单。</p><p>4、1 / 27数电模电实验报告模拟电子技术实验指导书周明编写实验一 实验台、万用表、示波器和信号发生器的使用内容：略实验二 单级交流放大器一、 实验目的1、学习晶体管放大电路静态工作点的测试方法，进一步理解电路元件参数对静 态工作点的影响，以及调整静态工作点的方法。 2、进一步熟悉常用电子仪器的使用方法。二、实验设备1、实验台 2、示波器 3、计算机 4、数字万用表2 / 27三、预习要求1、熟悉单管放大电路，掌握不失真放大的条件。 2、了解负载变化对放大倍数的影响。四、实验内容及步骤实验前校准示波器。 1、测量并计算静态工作。</p><p>5、实验一 晶体管共射放大电路一、实验目的1、 学习共射放大电路的参数的选取方法。2、 学习放大电路静态工作点的测量与调整，了解静态工作点对放大电路性能的影响。3、 学习放大电路的电压放大倍数和最大不失真输出电压的分析方法。4、 学习放大电路输入输出电阻的测量方法以及频率特性的分析方法。二、实验内容1、 确定并调整放大电路的静态工作点。2、 确定放大电路的电压放大倍数Av和最大不失真输出电压Vomax。（1） RL=无穷（开路）；（2） RL=3k欧姆。3、 观察饱和失真和截止失真，并测出相应的集电极静态电流。4、 测量放大电路的输入。</p><p>6、数字电路实验 数字电路实验报告 实验一 组合逻辑电路分析 一 试验用集成电路引脚图 74LS00集成电路 74LS20集成电路 四2输入与非门 双4输入与非门 二 实验内容 1 实验一 自拟表格并记录 A B C D Y A B C D Y 0 0 0 0。</p><p>7、数字电子技术实验报告姓 名： * 班 级： *888 学 号： 2014*8 指导老师： * 编制时间： 2016.06.10 北京联合大学实验一 基本集成逻辑门电路功能分析一、实验目的1理解TTL和CMOS普通门电路的参数含义。2掌握TTL和CMOS普通门电路的使用方法。3掌握分析普通门电路逻辑功能的一般方法。4理解TTL和CMOS普通门电路参数的一般分析方法。二、实验元器件双四输入与非门 74LS001片六反相器 74LS041片电阻 3001只三、实验内容（一） TTL双四输入与非门74L。</p><p>8、数字电学实验报告 作者： 3354335433335433543354335433543334334333433334334333343333333344: 2 个人收藏，非商业用途 数字电子技术实验报告(二) 学院：大数据与信息工程学院专业：电子信息科学与技术班： 姓名 学生身份证 实验组 实验时间 2015年4月22日 实验项目名称 组合逻辑电路(半加法器、全加器) 1.实验目的 1.掌握组。</p><p>9、实验2 组合逻辑电路（半加器全加器及逻辑运算）一、实验目的1.掌握组合逻辑电路的功能测试。2.验证半加器和全加器的逻辑功能。3.学会二进制数的运算规律。二、实验仪器及材料1.Dais或XK实验仪一台2.万用表一台3.器件： 74LS00 三输入端四与非门3片74LS86 三输入端四与或门1片。</p><p>10、河北科技大学实验报告一、实验目的（1）掌握常用门电路的逻辑功能，熟悉其外形及引脚排列图。（2）熟悉三态门的逻辑功能及用途。（3）掌握TTL、CMOS电路逻辑功能的测试方法。二、实验仪器与元器件（1）直流稳压电源1台（2）集成电路74LS00四2输入与非门1片74LS86四2输入异或门1片74S644232输入与或非门1片74LS125四总线缓冲门（TS）1片CD4011四2输入与非门1片三、实验内容及步骤1常用集成门电路逻辑功能的测试在数字实验板上找到双列直插式集成芯片74LS00和74LS86。按图进行连线。测试各电路的逻辑功能，并将输出结果记入表中。门电路测试。</p>