现代材料分析方法

现代材料分析方法Tag内容描述：<p>1、第一章1. X射线学有几个分支？每个分支的研究对象是什么？答：X射线学分为三大分支：X射线透射学、X射线衍射学、X射线光谱学。X射线透射学的研究对象有人体，工件等，用它的强透射性为人体诊断伤病、用于探测工件内部的缺陷等。X射线衍射学是根据衍射花样，在波长已知的情况下测定晶体结构，研究与结构和结构变化的相关的各种问题。X射线光谱学是根据衍射花样，在分光晶体结构已知的情况下，测定各种物质发出的X射线的波长和强度，从而研究物质的原子结构和成分。2. 试计算当管电压为50 kV时，X射线管中电子击靶时的速度与动能，以及所发。</p><p>2、现代材料分析方法期末试卷 1一、单项选择题（每题 2 分，共 10 分） 1成分和价键分析手段包括【 b 】 （a）WDS、能谱仪（EDS）和 XRD （b）WDS、EDS 和 XPS （c）TEM、WDS 和 XPS （d）XRD、FTIR 和 Raman 2分子结构分析手段包括【 a 】 （a）拉曼光谱（Raman）、核磁共振（NMR）和傅立叶变换红外光谱（FTIR） （b） NMR、FTIR 和 WDS （c）SEM、TEM 和 STEM（扫描透射电镜） （d） XRD、FTIR 和 Raman 3表面形貌分析的手段包括【 d 】 （a）X 射线衍射（XRD）和扫描电镜（SEM） (b) SEM 和透射电镜（TEM） (c) 波谱仪（WDS）和 X 射线光。</p><p>3、材料分析测试技术材料分析测试技术 部分课后答案部分课后答案 太原理工大学太原理工大学 材料物理材料物理 0901 0901 除夕月除夕月 1-1 计算计算 0.071nm(MoK)和和 0.154nm(CuK)的的 X-射线的振动频率和能量。射线的振动频率和能量。 =c/=3*108/(0.071*10-9)=4.23*1018S-1 E=h=6.63*10-34*4.23*1018=2.8*10-15 J =c/=3*108/(0. 154*10-9)=1.95*1018S-1 E=h=6.63*10-34*2.8*1018=1.29*10-15 J 1-2 计算当管电压为计算当管电压为 50kV 时，电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连时，电子在与靶碰撞时的速度与动能以及所发射的连 续谱。</p><p>4、材料现代分析方法试题3（参考答案）一、基本概念题（共10题，每题5分）1什么是光电效应？光电效应在材料分析中有哪些用途？答：光电效应是指：当用X射线轰击物质时 ，若X射线的能量大于物质原子对其内层电子的束缚力时，入射X射线光子的能量就会被吸收，从而导致其内层电子被激发，产生光电子。材料分析中应用光电效应原理研制了光电子能谱仪和荧光光谱仪，对材料物质的元素组成等进行分析。2什么叫干涉面？当波长为的X射线在晶体上发生衍射时，相邻两个（hkl）晶面衍射线的波程差是多少？相邻两个HKL干涉面的波程差又是多少？答：晶面间。</p><p>5、现代材料分析方法考试范围（主要参考教材：材料分析方法，周玉 主编，机械工业出版社）一 材料X射线衍射分析（全部内容）二 材料电子显微分析（全部内容）三 材料物理性能分析1 热学性能分析2 膨胀分析3 电性能分析4 磁性能分析材料学考试范围（主要参考教材：材料科学基础，潘金生，清华大学出版社）该书除第12章（马氏体。</p><p>6、第五章 原子力显微镜 Atomic Force Microscope __ AFM,原于力显微镜与前几种显微镜相比有明显不同，它用一个微小的探针来“摸索”微观世界. AFM超越了光和电子波长对显微镜分辨率的限制，在立体三维上观察物质的形貌，并能获得探针与样品相互作用的信息典型AFM的侧向分辨率(x，y方向)可达到2nm，垂直分辩牢(Z方向)小于0.1 nmAFM具有操作客易、样品准备简单、操作环境不受限制、分辨率高等优点。,第15章,其他显微分析方法,一、原子力显微镜原理,AFM的原理较为简单，它是用微小探针“摸索”样品表面来获得信息如图3.1所示，当针尖接近样品时。</p><p>7、第七章 热分析技术,热分析是在程序温度控制下测量物质的物理性质与温度关系的一类技术 。如释放出结晶水和挥发性物质，热量的吸收或释放，增重或失重，发生热-力学变化和热物理性质和电学性质变化等。,程序控制温度：指用固定的速率加热或冷却。 物理性质物理性质：包括物质的质量、温度、热焓、尺寸、机械。,7.1 热分析简史 7.2 差热分析基本原理 7.3 差示扫描量热分析 7.4 热重分析 7.5 差热分析的定性和定量鉴定,第七章 热分析技术,第七章 热分析技术,7.1 热分析简史 1780 年，英国的Higgins 使用天平研究石灰粘结剂和生石灰受热重量变。</p><p>8、第三章衍射原理与分析,内蒙古工业大学材料科学与工程学院李鹏飞,第三章衍射原理与分析,3-1晶体学知识回顾3-2劳埃方程式简介3-3简单点阵的衍射分析3-4复杂点阵的衍射分析,3-1晶体学知识回顾,均匀性：晶体内部各个部分。</p><p>9、精选 现代材料分析方法 教学大纲 一 基本信息 课程名称 现代材料分析方法 课程编号 MEEN3306 英文名称 Modern Characterization of materials 课程类型 专业基础课 总学时 32 理论学时 22 实验学时 10 实践学时 学分 2 预修课程 材料科学基础 适用对象 材控专业 课程简介 200字左右 现代材料分析方法 是材料成型及控制工程专业的一门必修课。</p><p>10、现代材料分析方法教学大纲 一、基本信息 课程名称 现代材料分析方法 课程编号 MEEN3306 英文名称 Modern Characterization of materials 课程类型 专业基础课 总学时 32 理论学时 22 实验学时 10 实践学时 学分 2 预修课程 材料科学基础 适用对象 材控专业 课程简介 （200字左右） 现代材料分析方法是材料成型及控制工程专业的一门必修。</p><p>11、第三篇 电子显微分析技术,本部分的主要目的： 介绍透射电镜分析、扫描电镜分析、表面成分分析及相关技术的基本原理，了解透射电镜样品制备和分析的基本操作和步骤，掌握扫描电镜在材料研究中的应用技术。在介绍基本原理的基础上，侧重分析技术的应用！,主要要求： 1)掌握透射电镜分析、扫描电镜分析和表面分析技术及其在材料研究领域的应用； 2）了解电子与物质的交互作用以及电磁透镜分辨率的影响因素； 3）了解透射电。</p>